DE102023133075A1

DE102023133075A1 - Anzeigevorrichtung und ansteuerverfahren dafür

Info

Publication number: DE102023133075A1
Application number: DE102023133075.6A
Authority: DE
Inventors: Mookyoung Hong; Minho CHO
Original assignee: LG Display Co Ltd
Current assignee: LG Display Co Ltd
Priority date: 2022-12-28
Filing date: 2023-11-27
Publication date: 2024-07-04
Also published as: CN118262640A; KR20240104912A; US20240221553A1; TW202427447A

Abstract

Eine Anzeigevorrichtung kann eine Anzeigetafel mit mehreren Unterpixeln, einen Datentreiber, der zum Anlegen eines Datensignals an die mehreren Unterpixel ausgelegt ist, einen Gate-Treiber, der zum Anlegen eines Gate-Signals an die mehreren Unterpixel ausgelegt ist, eine Zeitsteuerung, die dazu ausgelegt ist, Steuersignale an den Datentreiber und den Gate-Treiber auszugeben, und einen Leistungs-Controller, der dazu ausgelegt ist, einen der Anzeigetafel zugeordneten Defekt zu detektieren und ein Defektsignal zu erzeugen und auszugeben, das einem Typ des detektierten Defekts entspricht, umfassen. Die Zeitsteuerung speichert defektbezogene Informationen, die dem Defektsignal zugeordnet sind.

Description

Diese Anmeldung beansprucht die Priorität der Koreanischen Patentanmeldung Nr. 10-2022-0187619 , die am 28. Dezember 2022 eingereicht wurde und deren Inhalt hier durch Bezugnahme vollständig mit aufgenommen ist.
HINTERGRUND DER ERFINDUNG
Gebiet der Erfindung
Die Erfindung bezieht sich auf eine Anzeigevorrichtung und ein Ansteuerverfahren dafür. Erörterung des Standes der Technik
In letzter Zeit haben Anzeigevorrichtungen, die selbstleuchtende organische Leuchtdioden (OLEDs) nutzen, aufgrund ihrer Vorteile wie schneller Ansprechzeit, hoher Lichtausbeute, Helligkeit und weiter Betrachtungswinkel an Aufmerksamkeit gewonnen.
Diese Anzeigevorrichtungen umfassen Unterpixel, die aus organischen Leuchtdioden (OLEDs) und Ansteuertransistoren bestehen, die in einem Matrixformat auf der Anzeigetafel angeordnet sind und die Helligkeit der ausgewählten Unterpixel durch Abtastsignale steuern, die auf der Abstufung der Daten basieren.
Diese Anzeigevorrichtungen weisen verschiedene Signalleitungen und Signalübertragungsstrukturen auf, um ihren Betrieb zu erleichtern.
Wenn Defekte wie Unterbrechungen oder Kurzschlüsse in den Signalleitungen sowie Probleme mit der Verbindung und dem Bonden der Signalübertragungsstrukturen auftreten, kann es bei diesen Anzeigevorrichtungen zu einem Tafelbrand-Phänomen kommen, das zu Funktionsstörungen und Schäden an der Anzeigetafel führen kann.
Daher besteht ein dringender Bedarf, alle Defekte, die zu dem Tafelbrand-Phänomen führen, proaktiv zu detektieren, bevor das Tafelbrand-Phänomen auftritt.
Darüber hinaus besteht der Bedarf, die detektierten Defekte, die das Tafelbrand-Phänomen verursachen können, genau zu identifizieren und wirksam zu behandeln. Durch eine solche Behandlung können bei Auftreten von Defekten umgehend geeignete Maßnahmen ergriffen werden.
ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG
Die Offenbarung hat die Aufgabe, Anzeigevorrichtungen und Ansteuerverfahren dafür bereitzustellen, die das Tafelbrand-Phänomen verhindern oder reduzieren können, indem jegliche detektierten Defekte wirksam behandelt werden, nachdem der Defekt detektiert wurde.
Ausführungsformen der Erfindung stellen Anzeigevorrichtungen und Ansteuerungsverfahren dafür bereit, die Defekte wirksam behandeln können, indem sie die Ursache (z. B. den Typ) von Defekten bestimmen, Defektsignale basierend auf der Ursache des Defekts erzeugen und die Defektsignale in einer Defektbehandlungseinheit speichern.
Ausführungsformen der Erfindung schaffen Anzeigevorrichtungen und Ansteuerungsverfahren dafür, die es Anwendern ermöglichen, den Zeitpunkt des Auftretens und die Ursache von Defekten leicht zu erkennen.
Die Aufgabe wird durch die Merkmale der unabhängigen Ansprüche gelöst. Bevorzugte Ausführungsformen sind in den abhängigen Ansprüchen angegeben.
Gemäß einem Aspekt wird eine Anzeigevorrichtung geschaffen, die umfasst: eine Anzeigetafel, auf der mehrere Unterpixel angeordnet sind, einen Datentreiber, der zum Anlegen einer Datenspannung an die mehreren Unterpixel ausgelegt ist, einen Gate-Treiber, der zum Anlegen eines Gate-Signals an die mehreren Unterpixel ausgelegt ist, einen Leistungs-Controller, der dazu ausgelegt ist, einen Defekt der Anzeigetafel zu detektieren und je nach Typ des detektierten Defekts ein Defektsignal zu erzeugen und auszugeben.
Gemäß einem weiteren Aspekt wird eine Anzeigevorrichtung geschaffen, die umfasst: eine Anzeigetafel, auf der mehrere Unterpixel angeordnet sind, einen Datentreiber, der zum Anlegen von Datenspannung an die mehreren Unterpixel ausgelegt ist, und einen Gate-Treiber, der zum Anlegen eines Gate-Signals an die mehreren Unterpixel ausgelegt ist, einen Leistungs-Controller, der dazu ausgelegt ist, einen Defekt der Anzeigetafel zu detektieren und ein Defektsignal mit einer Wellenform zu erzeugen und auszugeben, die je nach Typ des detektierten Defekts unterschiedlich ist, und eine Zeitsteuerung (timing controller), der dazu ausgelegt ist, Informationen über das Defektsignal in einem Speicher zu speichern.
Gemäß einem weiteren Aspekt wird eine Anzeigevorrichtung geschaffen, die umfasst: ein Anzeigetafel, die mehrere Unterpixel aufweist, die zum Anzeigen von Bildern ausgelegt sind; einen Datentreiber und/oder einen Gate-Treiber, der dazu ausgelegt ist, ein Datensignal oder Gate-Signal an die mehreren Unterpixel anzulegen; einen eine Zeitsteuerung, die dazu ausgelegt ist, Steuersignale an den Datentreiber und/oder den Gate-Treiber auszugeben; und einen Leistungs-Controller, der dazu ausgelegt ist, einen der Anzeigetafel zugeordneten Defekt zu detektieren und ein Defektsignal, das einem Typ des detektierten Defekts entspricht, zu erzeugen und an die eine Zeitsteuerung auszugeben, wobei die eine Zeitsteuerung dazu ausgelegt ist, das Defektsignal zu analysieren und den Typ des detektierten Defekts basierend auf einem Ergebnis der Analyse zu erkennen.
Im Folgenden sind optionale Merkmale bereitgestellt, die unabhängig voneinander oder in Kombination oder Unterkombination mit den oben genannten Aspekten der Offenbarung kombiniert werden können.
In einer oder mehreren Ausführungsformen kann der Leistungs-Controller das Defektsignal so erzeugen, dass es je nach Typ des Defekts unterschiedliche Impulszahlen aufweist.
In einer oder mehreren Ausführungsformen kann die Anzeigevorrichtung einen Speicher umfassen, der zum Speichern der dem Defektsignal zugeordneten defektbezogenen Informationen ausgelegt ist.
In einer oder mehreren Ausführungsformen kann die eine Zeitsteuerung dazu ausgelegt sein, defektbezogene Informationen zu speichern, die dem Defektsignal zugeordnet sind.
In einer oder mehreren Ausführungsformen können die dem Defektsignal zugeordneten Informationen jedes Mal, wenn ein Defektsignal empfangen wird, durch die eine Zeitsteuerung aktualisiert werden.
In einer oder mehreren Ausführungsformen kann die eine Zeitsteuerung dazu ausgelegt sein, das Defektsignal zu analysieren und den Typ des detektierten Defekts basierend auf einem Ergebnis der Analyse zu identifizieren.
In einer oder mehreren Ausführungsformen können die Informationen über das Defektsignal die Impulszahlen, den Zeitpunkt des Auftretens des Defektsignals und/oder den Typ des Defekts umfassen.
In einer oder mehreren Ausführungsformen kann die eine Zeitsteuerung den Typ des Defekts basierend auf der Impulszahl identifizieren.
In einer oder mehreren Ausführungsformen kann der Leistungs-Controller den Defekt basierend auf einem Erfassungswert für die Anzeigetafel, einem Stromwert, der entsprechend einem Spannungswert des Gate-Signals gemessen wird, und Abschaltinformationen, die von dem Leistungs-Controller erzeugt werden, und/oder einem internen Branddetektionssignal, das in den Leistungs-Controller eingegeben wird, detektieren.
In einer oder mehreren Ausführungsformen kann der Leistungs-Controller eine Defektdetektionseinheit, die dazu ausgelegt ist, den Defekt zu detektieren und ein Branddetektionssignal auszugeben, das je nach Typ des detektierten Defekts unterschiedlich ist, und eine Defektsignal-Erzeugungseinheit, die dazu ausgelegt ist, das Defektsignal entsprechend dem Branddetektionssignal auszugeben, umfassen.
In einer oder mehreren Ausführungsformen kann die eine Zeitsteuerung den Speicher umfassen, der ein nichtflüchtiges Speichermedium umfasst.
In einer oder mehreren Ausführungsformen kann die eine Zeitsteuerung eine Defektbehandlungseinheit umfassen, die dazu ausgelegt ist, die Informationen über das Defektsignal in dem Speicher zu speichern.
In einer oder mehreren Ausführungsformen kann die eine Zeitsteuerung eine Defektbehandlungseinheit umfassen, um die Anzeigetafel je nach Typ des basierend auf einer Impulszahl des Defektsignals identifizierten Defekts zu steuern.
In einer oder mehreren Ausführungsformen kann der Leistungs-Controller das Defektsignal an die eine Zeitsteuerung und ein externes Hostsystem ausgeben.
In einer oder mehreren Ausführungsformen kann die eine Zeitsteuerung dazu ausgelegt sein, das Defektsignal zu analysieren und/oder den Typ des detektierten Defekts basierend auf einem Ergebnis der Analyse zu erkennen.
In einer oder mehreren Ausführungsformen kann der Leistungs-Controller dazu ausgelegt sein, jedes Mal ein Defektsignal zu erzeugen, wenn ein bestimmter Defekt oder eine der Anzeigetafel zugeordnete Anomalie auftritt, um so mehrere Defektsignale auszugeben.
In einer oder mehreren Ausführungsformen können die mehreren Defektsignale je nach Typ der Defekte unterschiedliche Wellenformen aufweisen und/oder die unterschiedlichen Wellenformen Signale mit unterschiedlichen Impulszahlen umfassen.
Ein Ansteuerverfahren für eine Anzeigevorrichtung einer Ausführungsform der Erfindung steuert die Anzeigevorrichtung an, die eine Anzeigetafel, auf der mehrere Unterpixel angeordnet sind, einen Datentreiber, der Datenspannung an die mehreren Unterpixel anlegt, einen Gate-Treiber, der ein Gate-Signal an die mehreren Unterpixel anlegt, einen Leistungs-Controller, der eine Ansteuerspannung an die Anzeigetafel anlegt, und eine Zeitsteuerung, die den Betrieb des Datentreibers und des Gate-Treibers steuert, umfasst.
In einer oder mehreren Ausführungsformen kann das Verfahren umfassen: Detektieren eines Defekts der Anzeigetafel durch den Leistungs-Controller, Ausgeben eines Defektsignals mit einer Wellenform, die je nach Typ des detektierten Defekts unterschiedlich ist, durch den Leistungs-Controller und Speichern von Informationen über das Defektsignal in dem Speicher durch die eine Zeitsteuerung.
In einer oder mehreren Ausführungsformen kann das Defektsignal so erzeugt werden, dass es je nach Typ des Defekts unterschiedliche Impulszahlen aufweist.
In einer oder mehreren Ausführungsformen können die Informationen über das Defektsignal die Impulszahl, einen Zeitpunkt des Auftretens des Defektsignals und/oder einen Typ des Defekts umfassen.
In einer oder mehreren Ausführungsformen kann das Verfahren ferner ein Identifizieren des Typs des Defekts durch die Zeitsteuerung auf Basis der Impulszahl umfassen.
In einer oder mehreren Ausführungsformen kann das Detektieren des Defekts ein Detektieren des Defekts basierend auf einem Erfassungswert für die Anzeigetafel, einem Stromwert, der entsprechend einem Spannungswert des Gate-Signals gemessen wird, Abschaltinformationen von dem Leistungs-Controller erzeugt werden, und/oder einem internen Branddetektionssignal, das in den Leistungsregler eingegeben wird, umfassen.
In einer oder mehreren Ausführungsformen kann das Verfahren ferner ein Ausgeben des Defektsignals durch den Leistungs-Controller an ein externes Hostsystem umfassen.
KURZBESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
Die Erfindung wird anhand der nachstehenden genauen Beschreibung und der beigefügten Zeichnungen, die nur zur Veranschaulichung dienen und daher die Erfindung nicht einschränken, besser verständlich; es zeigen:

1 ein Systemkonfigurationsdiagramm einer Anzeigevorrichtung einer Ausführungsform der Erfindung;
2 eine Darstellung eines Beispiels einer Implementierung einer Anzeigevorrichtung einer Ausführungsform der Erfindung;
3 eine Darstellung, die eine Unterpixelkonfiguration einer Anzeigevorrichtung einer Ausführungsform der Erfindung zeigt;
4 eine Darstellung, die ein Beispiel einer Unterpixelkonfiguration und einer Kompensationsschaltung einer Anzeigevorrichtung einer weiteren Ausführungsform der Erfindung zeigt;
5 eine Darstellung, die ein Schwellenspannungs-Erfassungsverfahren für einen Ansteuertransistor einer Anzeigevorrichtung einer Ausführungsform der Erfindung zeigt;
6 eine Darstellung, die ein Beweglichkeitserfassungsverfahren für einen Ansteuertransistor einer Anzeigevorrichtung einer Ausführungsform der Erfindung zeigt;
7 eine Darstellung, die die Erfassungszeitvorgabe einer Anzeigevorrichtung einer Ausführungsform der Erfindung zeigt;
8 eine Darstellung, die einen Zustandsprüfungsprozess unter Verwendung eines Schnittstellensignals zwischen einer Zeitsteuerung und integrierten Quellansteuerschaltungen in einer Anzeigevorrichtung einer Ausführungsform der Erfindung zeigt;
9 eine Darstellung, die ein Beispiel einer Gate-Spannungsübertragung in einer Anzeigevorrichtung einer Ausführungsform zeigt;
10 eine Darstellung zur Erläuterung eines Tafelbrand-Phänomens in einer Anzeigevorrichtung einer Ausführungsform;
11 eine Darstellung, die ein System zum Verhindern oder Reduzieren eines Tafelbrand-Phänomens in einer Anzeigevorrichtung einer Ausführungsform der Erfindung zeigt;
12 eine Darstellung, die ein Defektdetektionsverfahren in einem System zum Verhindern von Tafelbrand-Phänomenen einer Anzeigevorrichtung einer Ausführungsform der Erfindung zeigt;
13 eine Darstellung, die ein Beispiel einer Übereinstimmungsbeziehung zwischen Defekttypen und Signalen für Branddetektion und -schutz (BDP-Signalen) in einem System zum Verhindern von Tafelbrand-Phänomenen einer Anzeigevorrichtung einer Ausführungsform der Erfindung zeigt;
14 eine Darstellung, die ein Beispiel von Defektsignalen zeigt, die BDP-Signalen in einem System zum Verhindern von Tafelbrand-Phänomenen einer Anzeigevorrichtung einer Ausführungsform der Erfindung entsprechen; und
15 ein Ablaufdiagramm, das ein Ansteuerverfahren für eine Anzeigevorrichtung einer Ausführungsform der Erfindung zeigt.

GENAUE BESCHREIBUNG DER AUSFÜHRUNGSFORMEN
Nachfolgend werden Ausführungsformen der Erfindung anhand der beigefügten Zeichnungen beschrieben. Wenn in der Schrift eine Komponente (oder ein Bereich, eine Schicht, ein Teil usw.) als „auf“, „verbunden mit“ oder „gekoppelt mit“ einer anderen Komponente bezeichnet wird, bedeutet dies, dass sie direkt mit der anderen Komponente verbunden/gekoppelt sein kann oder eine oder mehrere dritte Komponenten dazwischen angeordnet sein können.
Die gleichen Bezugszeichen beziehen sich auf die gleichen Komponenten. Darüber hinaus sind in den Zeichnungen die Dicke, Proportionen und Abmessungen der Komponenten zur effektiven Beschreibung des technischen Inhalts übertrieben dargestellt. Der Ausdruck „und/oder“ soll eine oder mehrere Kombinationen umfassen, die durch zugeordnete Komponenten definiert werden können.
Die Begriffe „erste/r/s“, „zweite/r/s“ usw. werden zur Beschreibung verschiedener Komponenten verwendet, die Komponenten sollen jedoch nicht durch diese Begriffe eingeschränkt werden. Die Begriffe dienen ausschließlich der Unterscheidung einer Komponente von einer anderen Komponente und legen möglicherweise keine Reihenfolge oder Abfolge fest. Beispielsweise kann eine erste Komponente als zweite Komponente bezeichnet werden und ebenso kann die zweite Komponente als erste Komponente bezeichnet werden, ohne den Rahmen der Erfindung zu verlassen. Die hier verwendeten Singularformen sollen auch die Pluralformen einschließen, sofern der Kontext nicht eindeutig etwas anderes angibt.
Begriffe wie „unten“, „niedriger“, „oben“, „höher“ usw. werden verwendet, um die Beziehung der in den Zeichnungen dargestellten Komponenten zu beschreiben. Die Begriffe sind relative Konzepte und werden anhand der in der Zeichnung angegebenen Richtung beschrieben.
Es versteht sich ferner, dass die Begriffe „umfassen“, „haben“, „aufweisen“ und dergleichen das Vorhandensein der angegebenen Merkmale, Zahlen, Schritte, Operationen, Komponenten, Teile oder einer Kombination davon spezifizieren sollen, jedoch nicht das Vorhandensein oder die Möglichkeit eines oder mehrerer anderer Merkmale, Zahlen, Schritte, Operationen, Komponenten, Teile oder Kombinationen davon ausschließen sollen.
Ferner sind alle Komponenten jeder Anzeigevorrichtung aller Ausführungsformen der Erfindung betriebstechnisch gekoppelt und konfiguriert.
1 ist ein Systemkonfigurationsdiagramm einer Anzeigevorrichtung 100 einer Ausführungsform der Erfindung und 2 ist eine Darstellung, die eine beispielhafte Implementierung der Anzeigevorrichtung 100 einer Ausführungsform der Erfindung zeigt.
Unter Bezugnahme auf 1 umfasst die Anzeigevorrichtung 100 einer Ausführungsform der Erfindung eine Anzeigetafel 110, in der mehrere Unterpixel SP definiert sind, die durch mehrere Datenleitungen DL1 bis DLm und mehrere Gate-Leitungen GL1 bis GLn definiert sind, die darauf in Form einer Matrix angeordnet sind, einen Datentreiber 120 zum Ansteuern der mehreren Datenleitungen DL1 bis DLm, einen Gate-Treiber 130 zum Ansteuern der mehreren Gate-Leitungen GL1 bis GLn und eine Zeitsteuerung 140 zum Steuern des Datentreibers 120 und des Gate-Treibers 130. Hier können m und n jeweils eine positive Zahl sein, beispielsweise eine positive ganze Zahl.
Die Zeitsteuerung 140 liefert verschiedene Steuersignale an den Datentreiber 120 und den Gate-Treiber 130, um den Datentreiber 120 und den Gate-Treiber 130 zu steuern.
Die Zeitsteuerung 140 bestimmt die Zeitvorgabe zum Beginnen des Abtastens in jedem Einzelbild, setzt die aus externen Quellen empfangenen Eingangsvideodaten in das durch den Datentreiber 120 verwendete Datensignalformat um, gibt die umgesetzten Videodaten aus und steuert die Datenansteuerung zu entsprechenden Zeiten, die mit dem Abtastprozess synchronisiert sind.
Der Datentreiber 120 steuert die mehreren Datenleitungen DL1 bis DLm an, indem er Datenspannungen an die mehreren Datenleitungen DL1 bis DLm liefert. Der Datentreiber 120 wird auch als „Quelltreiber“ bezeichnet.
Der Gate-Treiber 130 liefert nacheinander Abtastsignale an die mehreren Gate-Leitungen GL1 bis GLn und steuert dadurch die Gate-Leitungen nacheinander an. Der Gate-Treiber 130 wird auch als „Abtasttreiber“ bezeichnet.
Unter der Steuerung der Zeitsteuerung 140 liefert der Gate-Treiber 130 nacheinander Abtastsignale aus Ein- oder Aus-Spannungen an die mehreren Gate-Leitungen GL1 bis GLn.
Wenn eine bestimmte Gate-Leitung durch den Gate-Treiber 130 eingeschaltet wird, setzt der Datentreiber 120 die empfangenen Videodaten, die in digitaler Form vorliegen, in analoge Datenspannungen um und liefert die analogen Datenspannungen an die mehreren Datenleitungen DL1 bis DLm.
Obwohl in 1 der Datentreiber 120 nur auf einer Seite (z. B. oben oder unten) der Anzeigetafel 110 angeordnet ist, kann er je nach Ansteuerverfahren und Tafelentwurf auch auf beiden Seiten (z. B. oben und unten) der Anzeigepanel 110 oder auf einer anderen Seite der Anzeigepanel 110 positioniert sein.
Obwohl in 1 der Gate-Treiber 130 nur auf einer Seite (z. B. oben oder unten) der Anzeigetafel 110 angeordnet ist, kann er je nach Ansteuerverfahren und Tafelentwurf auch auf beiden Seiten (z. B. oben und unten) der Anzeigepanel 110 oder auf einer anderen Seite der Anzeigepanel 110 positioniert sein.
Die Zeitsteuerung 140 empfängt verschiedene Zeitvorgabesignale einschließlich vertikaler Synchronisationssignale, horizontaler Synchronisationssignale, Eingabedaten-Freigabesignale und Taktsignale zusammen mit den eingegebenen Videodaten aus einer externen Quelle (z. B. einem Hostsystem).
Um den Datentreiber 120 und den Gate-Treiber 130 zu steuern, erzeugt die Zeitsteuerung 140 verschiedene Steuersignale basierend auf den Zeitvorgabesignalen wie z. B. vertikalen Synchronisationssignalen, horizontalen Synchronisationssignalen, Eingangsdaten-Freigabesignalen (DE) und Taktsignalen und gibt die erzeugten Signale an den Datentreiber 120 und den Gate-Treiber 130 aus.
Beispielsweise gibt die Zeitsteuerung 140 verschiedene Gate-Steuersignale GCS einschließlich eines Gate-Startimpulssignals, eines Gate-Schiebetaktsignals und eines Gate-Ausgabe-Freigabesignals aus, um den Gate-Treiber 130 zu steuern.
Die Zeitsteuerung 140 gibt außerdem verschiedene Datensteuersignale DCS einschließlich eines Quellstartimpulssignals, eines Quellabtasttaktsignals und eines Quellenausgabe-Freigabesignals aus, um den Datentreiber 120 zu steuern.
Unter Bezugnahme auf 2 kann der Datentreiber 120 mindestens eine integrierte Quellansteuerschaltung SDIC umfassen, um die mehreren Datenleitungen DL1 bis DLm anzusteuern.
Jede integrierte Quellansteuerschaltung (SDIC) kann mit den Bondstellen der Anzeigetafel 110 unter Verwendung von bandautomatisierter Bondtechnik (TAB-Technik) oder Chip-auf-Glas-Technik (COG-Technik) verbunden sein oder direkt auf der Anzeigetafel 110 angeordnet sein, oder, in einigen Fällen je nach spezifischer Konfiguration in die Anzeigetafel 110 integriert sein. Darüber hinaus kann jede integrierte Quellansteuerschaltung SDIC unter Verwendung eines Chip-auf-Film-Verfahrens (COF-Verfahrens) implementiert sein und auf einem sourceseitigen Film FS montiert sein, der mit der Anzeigetafel 110 verbunden ist, wie es in 2 gezeigt ist.
Jede integrierte Quellansteuerschaltung SDIC kann Komponenten wie ein Schieberegister, eine Latch-Schaltung, einen Digital/Analog-Umsetzer (DAC) und einen Ausgabepuffer umfassen.
Jede integrierte Quellansteuerschaltung SDIC kann in einigen Fällen einen Analog/DigitalUmsetzer ADC aufweisen.
Der Gate-Treiber 130 kann mindestens eine integrierte Gate-Ansteuerschaltung GDIC umfassen, um die mehreren Gate-Leitungen GL1 bis GLn anzusteuern. Jede integrierte Gate-Ansteuerschaltung GDIC kann unter Verwendung von bandautomatisierter Bondtechnik (TAB-Technik) oder Chip-auf-Glas-Technik (COG-Technik) mit der Bondstelle der Anzeigetafel 110 verbunden sein oder durch Implementierung als Gate-in-Tafel-Typ (GIP) direkt auf der Anzeigetafel 110 angeordnet sein oder in einigen Fällen in die Anzeigetafel 110 integriert sein. Ferner kann jeder integrierte Gate-Ansteuerschaltung GDIC mit einem Chip-auf-Film-Verfahren (COF-Verfahren) implementiert sein, bei dem sie auf einem gateseitigen Film FG montiert wird, die mit der Anzeigetafel 110 verbunden ist, wie es in 2 gezeigt ist. Jede integrierte Gate-Ansteuerschaltung kann Komponenten wie ein Schieberegister und einen Pegelschieber aufweisen.
In einer Ausführungsform der Erfindung kann die Anzeigevorrichtung 100 mindestens eine Quell-Leiterplatte S-PCB für den Schaltungsanschluss mindestens einer integrierten Quellansteuerschaltung SDIC und eine Steuer-Leiterplatte C-PCB zum Montieren von Steuerkomponenten und verschiedenen elektrischen Vorrichtungen aufweisen. Die mindestens eine Quell-Leiterplatte S-PCB kann mindestens eine integrierte Quellansteuerschaltung SDIC aufnehmen oder kann mit dem einen oder den mehreren quellseitigen Filmen FS verbunden sein, auf dem mindestens eine integrierte Quellansteuerschaltung SDIC montiert ist.
Die Steuer-Leiterplatte C-PCB kann die Zeitsteuerung 140 zum Steuern des Betriebs des Datentreibers 120 und des Gate-Treibers 130 und einen Leistungs-Controller zum Zuführen verschiedener Spannungen oder Ströme an die Anzeigetafel 110, den Datentreiber 120 und den Gate-Treiber 130 oder zum Steuern der Zufuhr verschiedener Spannungen oder Ströme umfassen. Die mindestens eine Quell-Leiterplatte S-PCB und die Steuer-Leiterplatte C-PCB können über mindestens ein flexibles Flachkabel FFC1 elektrisch miteinander verbunden sein.
Die Anzeigevorrichtung 100 kann neben der mindestens einen Quell-Leiterplatte S-PCB und der Steuerleiterplatte C-PCB auch eine Haupt-Leiterplatte M-PCB zum Aufnehmen eines Haupt-Controllers M-CON und anderer Komponenten umfassen. Die Haupt-Leiterplatte M-PCB kann über mindestens ein flexibles Flachkabel FFC2 mit der Steuer-Leiterplatte C-PCB verbunden sein. Die Quell-Leiterplatte S-PCB, die Steuer-Leiterplatte C-PCB und/oder die Haupt-Leiterplatte M-PCB können in einer einzigen Leiterplatte integriert sein.
Jedes auf der Anzeigetafel 110 angeordnete Unterpixel SP kann aus Schaltungskomponenten wie Transistoren bestehen. Beispielsweise kann jedes Unterpixel SP eine organische Leuchtdiode OLED und einen Ansteuertransistor zum Betreiben der organischen Leuchtdiode OLED umfassen. Die Typen, Konfigurationen und Mengen der Schaltungskomponenten, aus denen jedes Unterpixel SP besteht, können je nach den gewünschten Funktionen und dem Entwurfsansatz variieren.
3 ist eine Darstellung, die ein Beispiel einer Konfiguration eines Unterpixels SP einer Anzeigevorrichtung 100 einer Ausführungsform der Erfindung zeigt. Beispielsweise kann die Konfiguration des Unterpixel SP von 3 auf jedes Unterpixel SP in der Anzeigevorrichtung von 1-2 oder in einer beliebigen anderen Anzeigevorrichtung der Erfindung angewendet werden.
Unter Bezugnahme auf 3 umfasst das Unterpixel der Anzeigevorrichtung 100 einer Ausführungsform der Erfindung eine organische Leuchtdiode OLED, einen Ansteuertransistor DRT, der die organische Leuchtdiode OLED ansteuert, einen Schalttransistor SWT, der eine Datenspannung an den Gate-Knoten (zweiten Knoten N2) des Ansteuertransistors DRT überträgt, und einen Speicherkondensator Cstg, der die Datenspannung, die einer Videosignalspannung entspricht, oder die entsprechende Spannung für eine Einzelbilddauer aufrechterhält.
Die organische Leuchtdiode OLED kann eine erste Elektrode (z. B. Anodenelektrode), eine organische Schicht und eine zweite Elektrode (z. B. Kathodenelektrode) umfassen, kann aber auch andere Konfigurationen haben.
Der Ansteuertransistor DRT steuert die organische Leuchtdiode OLED an, indem er der organischen Leuchtdiode OLED Ansteuerstrom zuführt. Der erste Knoten N1 des Ansteuertransistors DRT kann mit der ersten Elektrode der organischen Leuchtdiode OLED elektrisch verbunden sein und kann der Source-Knoten oder der Drain-Knoten sein. Der zweite Knoten N2 ist mit dem Source-Knoten oder dem Drain-Knoten des Schalttransistors SWT elektrisch verbunden und kann der Gate-Knoten sein. Der dritte Knoten N3 kann mit einer Ansteuerspannungsleitung DVL zum Zuführen einer Hochpotential-Ansteuerspannung EVDD elektrisch verbunden sein und kann der Drain-Knoten oder der Source-Knoten sein.
Der Schalttransistor SWT ist elektrisch zwischen die entsprechende Datenleitung DL und den zweiten Knoten N2 des Ansteuertransistors DRT geschaltet und wird durch ein Abtastsignal SCAN gesteuert, das über die entsprechende Gate-Leitung empfangen und an dessen Gate-Knoten angelegt wird. Der Schalttransistor SWT wird durch das Abtastsignal SCAN eingeschaltet und kann die über die Datenleitung DL zugeführte Datenspannung Vdata an den zweiten Knoten N2 des Ansteuertransistors DRT übertragen.
Der Speicherkondensator Cstg kann elektrisch zwischen einen ersten Knoten N1 und den zweiten Knoten N2 des Ansteuertransistors DRT geschaltet sein. Der Speicherkondensator Cstg kann ein externer Kondensator, der absichtlich außerhalb des Ansteuertransistors DRT konstruiert ist, und nicht ein interner Kondensator wie parasitäre Kondensatoren (z. B. Cgs und Cgd), die zwischen dem ersten Knoten N1 und dem zweiten Knoten N2 des Ansteuertransistors DRT vorhanden sind, sein.
In der Anzeigevorrichtung 100 einer Ausführungsform der Erfindung kann es mit zunehmender Ansteuerzeit jedes Unterpixels SP zu einer Verschlechterung von Schaltungskomponenten wie den organischen Leuchtdioden OLED und dem Ansteuertransistor DRT kommen. Dadurch können sich die intrinsischen Kennwerte der Schaltungskomponenten ändern. Diese Kennwerte können die Schwellenspannung und Beweglichkeit des Ansteuertransistors DRT und die Schwellenspannung der organischen Leuchtdiode OLED umfassen. Solche Änderungen der Kennwerte der Schaltungskomponenten können zu Schwankungen der Leuchtdichte der entsprechenden Unterpixel führen, was zu einer Verringerung der Gleichmäßigkeit der Helligkeit in der Anzeigetafel 110 und einer Verschlechterung der Bildqualität führen kann.
Um dieses Problem anzugehen, bietet die Anzeigevorrichtung 100 der Erfindung eine Erfassungsfunktionalität, um die Kennwerte oder Änderungen in den Kennwerten der Schaltungskomponenten zu erfassen, und eine Kompensationsfunktionalität, um die Abweichungen der Kennwerte zwischen Schaltungskomponenten basierend auf der Erfassungsergebnissen zu kompensieren. Diese Konfiguration wird nun unter Bezugnahme auf 4 diskutiert.
4 ist eine Darstellung, die ein Beispiel einer Unterpixelkonfiguration und einer Kompensationsschaltung der Anzeigevorrichtung 100 einer weiteren Ausführungsform der Erfindung zeigt. Als Beispiel kann die Unterpixelkonfiguration von 4 auf jedes Unterpixel SP in einer beliebigen Anzeigevorrichtung der Erfindung angewendet werden.
Unter Bezugnahme auf 4 kann jedes in der Anzeigetafel 110 dieser Ausführungsform der Erfindung angeordnete Unterpixel zusätzlich zu der organischen Leuchtdiode OLED, dem Ansteuertransistor DRT, dem Schalttransistor SWT und dem Speicherkondensator Cstg einen Erfassungstransistor SENT umfassen.
Der Erfassungstransistor SENT kann elektrisch zwischen den ersten Knoten N1 des Ansteuertransistors DRT und eine Referenzspannungsleitung RVL, die eine Referenzspannung Vref liefert, geschaltet sein und kann durch ein Erfassungssignal SENSE als eine Art Abtastsignal gesteuert werden, das an dem Gate-Knoten davon anliegt. Der Erfassungstransistor SENT wird als Antwort auf das Erfassungssignal SENSE eingeschaltet und legt die über die Referenzspannungsleitung RVL zugeführte Referenzspannung Vref an den ersten Knoten N1 des Ansteuertransistors DRT an. Der Erfassungstransistor SENT kann auch als einer der Spannungserfassungspfade für den ersten Knoten N1 des Ansteuertransistors DRT dienen.
In einer Ausführungsform der Erfindung können das Abtastsignal SCAN und das Erfassungssignal SENSE separate Gate-Signale sein. In diesem Fall können das Abtastsignal SCAN und das Erfassungssignal SENSE über unterschiedliche Gate-Leitungen an die Gate-Knoten des Schalttransistors SWT bzw. des Erfassungstransistors SENT angelegt werden. In einer weiteren Ausführungsform der Erfindung können das Abtastsignal SCAN und das Erfassungssignal SENSE das gleiche Gate-Signal sein. In diesem Fall können das Abtastsignal SCAN und das Erfassungssignal SENSE gemeinsam über dieselbe Gate-Leitung an die Gate-Knoten sowohl des Schalttransistors SWT als auch des Erfassungstransistors SENT angelegt werden.
Der Ansteuertransistor DRT, der Schalttransistor SWT und der Erfassungstransistor SENT können jeweils als n-Typ- oder p-Typ-Transistor implementiert sein.
Unter Bezugnahme auf 4 kann die Anzeigevorrichtung 100 einer Ausführungsform der Erfindung ferner eine Erfassungseinheit 310 zum Messen von Spannungen, um Unterpixel-Kennwerte (z. B. Kennwerte des Ansteuertransistors DRT und der organischen Leuchtdiode OLED) oder Änderungen der Kennwerte zu erfassen, und zum Ausgeben von Erfassungsdaten einschließlich Erfassungswerten, die durch Umsetzen der gemessenen Spannungen in digitale Werte erhalten werden, an einen Speicher (oder eine Speichereinheit) 320 zum Speichern der Erfassungsdaten und eine Kompensationseinheit 330 zum Durchführen von Kompensationsprozessen zum Analysieren der Unterpixel-Kennwerte oder Änderungen der Unterpixel-Kennwerte basierend auf den Erfassungsdaten und zum Kompensieren jeglicher Kennwertabweichungen zwischen Unterpixeln umfassen.
Die Erfassungseinheit 310 kann so ausgelegt sein, dass sie mindestens einen Analog/DigitalUmsetzer (ADC) aufweist. Der mindestens eine Analog/Digital-Umsetzer (ADC) kann je nach Fall oder Konfiguration in der integrierten Quellansteuerschaltung SDIC enthalten sein oder außerhalb der integrierten Quellansteuerschaltung SDIC positioniert sein. Die von der Erfassungseinheit 310 ausgegebenen Erfassungsdaten können beispielsweise ein Datenformat für symmetrische Signalübertragung mit niedriger Spannung (LVDS-Datenformat) haben.
Die Kompensationseinheit 330 kann je nach Fall oder Konfiguration intern oder extern in die Zeitsteuerung 140 aufgenommen sein.
In einer Ausführungsform der Erfindung kann die Anzeigevorrichtung 100 (z. B. die SDIC) einen ersten Schalter SW1, der die Versorgung der Referenzspannungsleitung RVL mit der Referenzspannung Vref steuert, um den Erfassungsbetrieb zu steuern, und einen zweiten Schalter SW2, der die Verbindung zwischen der Referenzspannungsleitung RVL und der Erfassungseinheit 310 schaltet, aufweisen.
Wenn der erste Schalter SW1 eingeschaltet ist, wird die Referenzspannung Vref an die Referenzspannungsleitung RVL angelegt. Die der Referenzspannungsleitung RVL zugeführte Referenzspannung Vref kann über den eingeschalteten Erfassungstransistor SENT an den ersten Knoten N1 des Ansteuertransistors DRT angelegt werden.
Wenn die Spannung an dem ersten Knoten N1 des Ansteuertransistors DRT einen Spannungszustand erreicht, der die Unterpixeleigenschaften widerspiegelt, kann sich die Spannung auf der Referenzspannungsleitung RVL auch in einem Spannungszustand befinden, der die Unterpixeleigenschaften widerspiegelt. In diesem Fall kann die die Unterpixeleigenschaften widerspiegelnde Spannung auf den auf der Referenzspannungsleitung RVL ausgebildeten Leitungskondensator geladen werden. Mit anderen Worten kann dann, wenn der Erfassungstransistor SENT eingeschaltet ist, die Spannung an dem ersten Knoten N1 des Ansteuertransistors DRT gleich der Spannung sein, die auf den auf der Referenzspannungsleitung RVL ausgebildeten Leitungskondensator geladen wird.
Wenn die Spannung an dem ersten Knoten N1 des Ansteuertransistors DRT einen Spannungszustand erreicht, der die Unterpixeleigenschaften widerspiegelt, kann der zweite Schalter SW2 eingeschaltet werden, wodurch die Erfassungseinheit 310 mit der Referenzspannungsleitung RVL verbunden werden kann. Dementsprechend kann die Erfassungseinheit 310 die Spannung der Referenzspannungsleitung RVL in dem Spannungszustand erfassen, der die Unterpixeleigenschaften widerspiegelt. In diesem Zusammenhang wird die Referenzspannungsleitung RVL auch als „Erfassungsleitung“ bezeichnet. Das heißt, die Erfassungseinheit 310 erfasst die Spannung an dem ersten Knoten N1 des Ansteuertransistors DRT.
Diese Referenzspannungsleitung RVL kann beispielsweise eine Leitung pro Unterpixelspalte oder pro zwei oder mehr Unterpixelspalten angeordnet sein. Wenn beispielsweise ein Pixel aus vier Unterpixeln (z. B. rotes Unterpixel, weißes Unterpixel, grünes Unterpixel, blaues Unterpixel) besteht, kann die Referenzspannungsleitung RVL ein Leitung pro Pixelspalte angeordnet sein, die vier Unterpixelspalten (z. B. rote Unterpixelspalte, weiße Unterpixelspalte, grüne Unterpixelspalte, blaue Unterpixelspalte) umfasst.
Im Fall des Erfassens der Schwellenspannung des Ansteuertransistors DRT kann die von der Erfassungseinheit 310 erfasste Spannung ein Spannungswert (Vdata-Vth oder Vdata-ΔVth) sein, der die Schwellenspannung (Vth) oder die Schwellenspannungsschwankung (ΔVth) des Ansteuertransistors DRT enthält. Im Fall des Erfassens der Beweglichkeit des Ansteuertransistors DRT kann die von der Erfassungseinheit 310 erfasste Spannung hingegen ein Spannungswert sein, der die Beweglichkeit des Ansteuertransistors DRT repräsentiert.
Nachfolgend erfolgen kurze Beschreibungen des Schwellenspannungs-Erfassungsvorgangs und des Beweglichkeits-Erfassungsvorgangs für den Ansteuertransistor DRT (z. B. aus 4) einer Ausführungsform der Erfindung.
Dabei ist 5 eine Darstellung zur Erläuterung eines Schwellenspannungs-Erfassungsverfahrens für einen Ansteuertransistor einer Anzeigevorrichtung 100 einer Ausführungsform der Erfindung.
Unter Bezugnahme auf 5 werden dann, wenn der Schwellenspannungs-Erfassungsvorgang für den Ansteuertransistor DRT eingeleitet wird, der erste Knoten N1 und der zweite Knoten N2 des Ansteuertransistors DRT jeweils mit der Referenzspannung Vref und der Datenspannung Vdata für die Schwellenspannungserfassung initialisiert. Wenn anschließend der erste Schalter SW1 (z. B. in 4) ausgeschaltet wird, wird der erste Knoten N1 des Ansteuertransistors DRT schwebend. Dadurch steigt die Spannung an dem ersten Knoten N1 des Ansteuertransistors DRT.
Die Spannung an dem ersten Knoten N1 des Ansteuertransistors DRT steigt bis zur Sättigung an, wodurch die Größe des Spannungsanstiegs allmählich abnimmt. Die Sättigungsspannung an dem ersten Knoten N1 des Ansteuertransistors DRT kann der Differenz zwischen der Datenspannung Vdata und der Schwellenspannung Vth oder der Differenz zwischen der Datenspannung Vdata und der Schwellenspannungsschwankung ΔVth entsprechen.
Sobald die Spannung an dem ersten Knoten N1 des Ansteuertransistors DRT in die Sättigung gelangt, wird die Sättigungsspannung durch die Erfassungseinheit 310 erfasst.
Die von der Erfassungseinheit 310 erfasste Spannung Vsen kann die Spannung, die durch Subtrahieren der Schwellenspannung Vth von der Datenspannung Vdata (Vdata-Vth) erhalten wird, oder die Spannung, die durch Subtrahieren der Schwellenspannungsschwankung ΔVth von der Datenspannung Vdata (Vdata-ΔVth) erhalten wird, sein.
6 ist eine Darstellung, die ein Beweglichkeitserfassungsverfahren für einen Ansteuertransistor einer Anzeigevorrichtung 100 einer Ausführungsform der Erfindung zeigt.
Unter Bezugnahme auf 6 werden beim Einleiten des Beweglichkeitserfassungsvorgangs der erste Knoten N1 und der zweite Knoten N2 des Ansteuertransistors DRT (z. B. in 4) jeweils mit der Referenzspannung Vref und der Datenspannung Vdata für die Beweglichkeitserfassung initialisiert.
Anschließend wird der erste Schalter SW1 ausgeschaltet, wodurch der erste Knoten N1 des Ansteuertransistors DRT schwebend wird. In diesem Fall kann der Schalttransistor SWT ausgeschaltet werden, wodurch auch der zweite Knoten N2 des Ansteuertransistors DRT schweben kann. Im Ergebnis beginnt die Spannung an dem ersten Knoten N1 des Ansteuertransistors DRT anzusteigen. Die Spannungsanstiegsrate während eines bestimmten Zeitraums an dem ersten Knoten N1 des Ansteuertransistors DRT, die durch den Spannungsanstiegsbetrag ΔV angegeben wird, hängt von der Strombelastbarkeit, d. h. der Beweglichkeit, des Ansteuertransistors DRT ab. Beispielsweise weist ein Ansteuertransistor DRT mit höherer Strombelastbarkeit (Beweglichkeit) einen steileren Spannungsanstieg an dem ersten Knoten N1 auf, was zu einem größeren Spannungsanstieg ΔV während des angegebenen Zeitraums führt.
Nachdem die Spannung an dem ersten Knoten N1 des Ansteuertransistors DRT für die vorbestimmte Zeitdauer angestiegen ist, erfasst die Erfassungseinheit 310 die erhöhte Spannung an dem ersten Knoten N1 (d. h. die Spannung auf der Referenzspannungsleitung RVL steigt zusammen mit dem Spannungsanstieg an dem ersten Knoten N1 des Ansteuertransistors DRT).
Basierend auf dem oben beschriebenen Schwellenspannungs- und/oder Beweglichkeits-Erfassungsvorgang setzt die Erfassungseinheit 310 die erfasste Spannung Vsen in einen digitalen Wert um, erzeugt Erfassungsdaten, die den umgesetzten digitalen Wert (Erfassungswert) enthalten, und gibt sie aus. Die von der Erfassungseinheit 310 ausgegebenen Erfassungsdaten können in dem Speicher 320 gespeichert oder an die Kompensationseinheit 330 geliefert werden.
Die Kompensationseinheit 330 kann die Kennwerte (z. B. Schwellenspannung und Beweglichkeit) des Ansteuertransistors DRT innerhalb des entsprechenden Unterpixels oder Änderungen an den Kennwerten basierend auf den in dem Speicher 320 gespeicherten oder von der Erfassungseinheit 310 gelieferten Erfassungsdaten bestimmen und einen Kennwert-Kompensationsprozess durchführen.
Hier können sich die Änderungen der Kennwerte des Ansteuertransistors DRT auf die Änderung der aktuellen Erfassungsdaten im Vergleich zu den vorherigen Erfassungsdaten oder auf die Änderung der aktuellen Erfassungsdaten im Vergleich zu den Referenzerfassungsdaten beziehen.
Durch den Vergleich der Kennwerte oder Änderungen der Kennwerte zwischen den Ansteuertransistoren DRT kann die Kompensationseinheit 330 die Abweichungen der Kennwerte zwischen den Ansteuertransistoren DRT bestimmen. Wenn sich die Änderungen der Kennwerte des Ansteuertransistors DRT auf die Änderung der aktuellen Erfassungsdaten im Vergleich zu den Referenzerfassungsdaten beziehen, ist es möglich, die Abweichungen der Kennwerte (d. h. Unterpixel-Leuchtdichteabweichungen) zwischen den Ansteuertransistoren DRT basierend auf den Änderungen der Kennwerte der Ansteuertransistoren DRT zu bestimmen.
Der Kennwert-Kompensationsprozess kann einen SchwellenspannungsKompensationsprozess zum Kompensieren der Schwellenspannung des Ansteuertransistors DRT und einen Beweglichkeits-Kompensationsprozess zum Kompensieren der Beweglichkeit des Ansteuertransistors DRT umfassen.
Der Schwellenspannungskompensationsprozess umfasst ein Berechnen von Kompensationswerten für die Schwellenspannung oder die Schwellenspannungsabweichung (Schwellenspannungsschwankung) und ein Speichern der berechneten Kompensationswerte in dem Speicher 320 oder ein Modifizieren der entsprechenden Videodaten Data unter Verwendung der berechneten Kompensationswerte.
Der Beweglichkeits-Kompensationsprozess umfasst ein Berechnen von Kompensationswerten für die Beweglichkeit oder die Schwellenbeweglichkeitsabweichung (Beweglichkeitsschwankung) und ein Speichern der berechneten Kompensationswerte im Speicher 320 oder ein Modifizieren der entsprechenden Videodaten Data unter Verwendung der berechneten Kompensationswerte.
Die Kompensationseinheit 330 kann die Videodaten Data durch die Schwellenspannungskompensation oder Beweglichkeitskompensation modifizieren und die modifizierten Daten an die entsprechende integrierte Quellansteuerschaltung SDIC innerhalb des Datentreibers 120 liefern. Folglich setzt die integrierte Quellansteuerschaltung SDIC die von der Kompensationseinheit 330 modifizierten Daten über einen Digital/Analog-Umsetzer (DAC) 340 in eine Datenspannung um und liefert die Datenspannung an das entsprechende Unterpixel, was eine tatsächliche Kompensation der Unterpixel-Kennwerte (z. B. Schwellenspannungskompensation und/oder Beweglichkeitskompensation) ermöglicht. Die Unterpixel-Kennwertkompensation trägt dazu bei, Leuchtdichteabweichungen zwischen den Unterpixeln zu reduzieren oder zu verhindern, was zu einer Verbesserung der Gleichmäßigkeit der Leuchtdichte über die Anzeigetafel 110 hinweg und der gesamten Bildqualität führt.
7 ist eine Darstellung, die ein Beispiel einer Erfassungszeitvorgabe einer Anzeigevorrichtung 100 einer Ausführungsform der Erfindung zeigt.
Unter Bezugnahme auf 7 kann die Anzeigevorrichtung 100 ein Erfassen der Kennwerte von Schaltungskomponenten innerhalb jedes Unterpixels der Anzeigetafel 110 durchführen, wenn ein Ausschaltsignal detektiert wird, das als Antwort auf eine Anwendereingabe oder dergleichen erzeugt wird. Dieser Erfassungsprozess, der nach der Erzeugung des Ausschaltsignals stattfindet, kann als „Aus-Erfassung“ bezeichnet werden.
Indes kann die Anzeigevorrichtung 100 einer Ausführungsform der Erfindung ein Erfassen der Kennwerte von Schaltungskomponenten innerhalb jedes Unterpixels bei Detektion eines Einschaltsignals durchführen, jedoch bevor die Anzeigeansteuerung beginnt. Dieser Erfassungsprozess, der stattfindet, nachdem das Einschaltsignal erzeugt wurde, bevor die Anzeige angesteuert wird, kann als „Ein-Erfassung“ bezeichnet werden.
Ferner kann die Anzeigevorrichtung 100 einer Ausführungsform der Erfindung während der Anzeigeansteuerung (z. B. wenn die Anzeigetafel zum Anzeigen von Bildern angesteuert wird) ein Erfassen der Kennwerte von Schaltungskomponenten innerhalb jedes Unterpixels durchführen. Dieser Erfassungsprozess, der während der Anzeigeansteuerung stattfindet, wird als „Echtzeit-Erfassung“ oder „RT-Erfassung“ bezeichnet. Die Echtzeit-Erfassung erfolgt zu jeder Austastzeit zwischen den Aktivzeiten, die durch das vertikale Synchronisationssignal bestimmt werden.
Wenn indes eine oder mehrere der auf der Anzeigetafel 110 angeordneten Signalleitungen (DL, RVL, GL und DVL) unterbrochen sind oder wenn zwei oder mehr Signalleitungen kurzgeschlossen sind, können die Erfassungswerte anormal erhalten werden. Wenn dementsprechend die Differenz zwischen den durch den oben beschriebenen Erfassungsprozess erhaltenen Erfassungswerten und den Referenzerfassungswerten (Erfassungswerten, die erhalten werden, wenn sich die Signalleitungen in einem normalen Zustand befinden) einen vorbestimmten Bereich überschreitet, kann bestimmt werden, dass ein Defekt auf den Signalleitungen vorliegt.
8 ist eine Darstellung, die einen Zustandsprüfungsprozess unter Verwendung eines Schnittstellensignals zwischen einer Zeitsteuerung 140 und den integrierten Quellansteuerschaltungen SDIC1 bis SDIC6 in einer Anzeigevorrichtung einer Ausführungsform der Erfindung zeigt. Zur Vereinfachung der Erklärung wird in diesem Beispiel angenommen, dass der Datentreiber 120 sechs integrierte Quellansteuerschaltungen SDIC1 bis SDIC6 umfasst.
In dieser Ausführungsform der Erfindung umfasst die Anzeigevorrichtung 100 Schnittstellen wie eine erweiterte parallele Schnittstelle (EPI) und eine Schnittstelle für symmetrische Signalübertragung mit niedriger Spannung (LVDS-Schnittstelle) zwischen der Zeitsteuerung 140 und den sechs integrierten Quellansteuerschaltungen SDIC1 bis SDIC6, um die Übertragung von Signalen wie Videodaten, Sensordaten und verschiedenen Steuersignalen zu erleichtern.
Unter Bezugnahme auf 8 sendet die Zeitsteuerung 140 ein Schnittstellensignal über die Schnittstelle an die äußerste integrierte Quellansteuerschaltung SDIC1 unter den sechs integrierten Quellansteuerschaltungen SDIC1 bis SDIC6, um zu bestimmen, ob sich jede der sechs integrierten Quellansteuerschaltungen SDIC1 bis SDIC6 in einem normalen Zustand zum Durchführen von Datenansteuerung befindet.
Die erste integrierte Quellansteuerschaltung SDIC1 kann entweder ein Schnittstellensignal mit hohem Pegel, das ihre Normalität angibt, oder ein Schnittstellensignal mit niedrigem Pegel, das ihre Anormalität angibt, an die nächste SDIC2 senden.
Bei Empfang eines Schnittstellensignals mit niedrigem Pegel von der ersten integrierten Quellansteuerschaltung SDIC1 kann die zweite integrierte Quellansteuerschaltung SDIC2 das Schnittstellensignal mit niedrigem Pegel unabhängig von ihrem eigenen Zustand an die dritte integrierte Quellansteuerschaltung SDIC3 weiterleiten. Wenn hingegen ein Schnittstellensignal mit hohem Pegel von der ersten integrierten Quellansteuerschaltung SDIC1 empfangen wird, kann die zweite integrierte Quellansteuerschaltung SDIC2 entweder ein Schnittstellensignal mit hohem Pegel, das ihre eigene Normalität angibt, oder ein Schnittstellensignal mit niedrigem Pegel, das ihre eigene Anormalität angibt, an die dritte integrierte Quellansteuerschaltung SDIC3 senden. Wenn beispielsweise das Schnittstellensignal mit normalem Pegel (Normalzustand) aus der ersten integrierten Quellansteuerschaltung SDIC1 empfangen wird, leitet die zweite integrierte Quellansteuerschaltung SDIC2 das empfangene Schnittstellensignal mit hohem Pegel nicht weiter, sondern erzeugt ihr eigenes Schnittstellensignal mit hohem Pegel oder Schnittstellensignal mit niedrigem Pegel, das den normalen/anormalen Zustand der zweiten integrierten Quellansteuerschaltung SDIC2 angibt, und sendet dieses Signal an die dritte integrierte Quellansteuerschaltung SDIC3. Dieser Prozess wird in den nachfolgenden integrierten Quellansteuerschaltungen SDIC3, SDIC4, SDIC5 usw. fortgesetzt.
Gemäß dem oben beschriebenen Schnittstellenübertragungsverfahren kann dann, wenn sich alle sechs integrierten Quellansteuerschaltungen SDIC1 bis SDIC6 in einem Normalzustand befinden, die äußerste sechste integrierte Quellansteuerschaltung SDIC6 auf der anderen Seite ein Schnittstellensignal mit hohem Pegel an die Zeitsteuerung 140 ausgeben. Wenn das Schnittstellensignal mit hohem Pegel aus der sechsten integrierten Quellansteuerschaltung SDIC6 empfangen wird, erkennt die Zeitsteuerung 140, dass dies bedeutet, dass sich alle sechs integrierten Quellansteuerschaltungen SDIC1 bis SDIC6 in Normalzuständen befinden und die Datenansteuerung ordnungsgemäß durchführen können.
Gemäß dem oben beschriebenen Schnittstellenübertragungsverfahren kann dann, wenn sich eine der sechs integrierten Quellansteuerschaltungen SDIC1 bis SDIC6 in einem anormalen Zustand befindet, die äußerste sechste integrierte Quellansteuerschaltung SDIC6 auf der anderen Seite ein Schnittstellensignal mit niedrigem Pegel an die Zeitsteuerung 140 ausgeben. Wenn ein solches Signal empfangen wird, erkennt die Zeitsteuerung 140, dass dies bedeutet, dass sich mindestens eine der sechs integrierten Quellansteuerschaltungen SDIC1 bis SDIC6 in einem anormalen Zustand befindet und die Datenansteuerung nicht ordnungsgemäß durchführen kann. Als Variante kann dann, wenn sich eine der fünf integrierten Quellansteuerschaltungen SDIC1 bis SDIC5 in einem anormalen Zustand befindet und ein Schnittstellensignal mit niedrigem Pegel erzeugt, die nächste der sechs integrierten Quellansteuerschaltungen SDIC1 bis SDIC6 ihre eigene Normal/Anormal-Prüfung stoppen und lediglich das empfangene Schnittstellensignal mit niedrigem Pegel an die nächste integrierte Quellansteuerschaltung weiterleiten usw., so dass am Ende die sechste integrierte Quellansteuerschaltung SDIC6 im Wesentlichen das empfangene Schnittstellensignal mit niedrigem Pegel an die Zeitsteuerung 140 weiterleitet.
Ferner kann die Zeitsteuerung 140 ein Schnittstellensignal mit niedrigem Pegel aus der sechsten integrierten Quellansteuerschaltung SDIC6 nicht nur dann, wenn sich mindestens eine der sechs integrierten Source-Treiberschaltungen SDIC1 bis SDIC6 in einem anormalen Zustand befindet, sondern auch dann, wenn die Verbindung des flexiblen Flachkabels FFC1 zwischen der Quell-Leiterplatte S-PCB und der Steuer-Leiterplatte C-PCB fehlerhaft ist oder ein Problem aufweist, empfangen.
In der Schrift kann das Schnittstellensignal (z. B. das oben diskutierte Schnittstellensignal mit niedrigem Pegel oder hohem Pegel) beispielsweise ein Sperrsignal sein.
9 ist eine Darstellung, die ein Beispiel einer Gate-Spannungsübertragung in einer Anzeigevorrichtung 100 einer Ausführungsform der Erfindung zeigt. Zur Vereinfachung der Erläuterung wird als Beispiel angenommen, dass der Gate-Treiber 130 fünf integrierte Gate-Schaltungen GDIC1 bis GDIC5 umfasst, aber auch andere Variationen sind möglich.
Unter Bezugnahme auf 9 gibt der Leistungs-Controller 900 auf der Steuer-Leiterplatte C-PCB die Gate-Spannungen VGH und VGL aus, die für die Gate-Ansteuerung erforderlich sind. Die aus dem Leistungs-Controller 900 ausgegebenen Gate-Spannungen VGH und VGL gelangen über die Steuer-Leiterplatte C-PCB, die Quell-Leiterplatte S-PCB und den quellseitigen Film FS, auf dem sich die integrierte Quellansteuerschaltungen SDICs montiert sind, in die Anzeigetafel 110. Die Gate-Spannungen VGH und VGL, die in die Anzeigetafel 110 gelangen, werden dann über Gate-Spannungsleitungen auf der Anzeigetafel 110 an die fünf integrierten Gate-Schaltungen GDIC1 bis GDIC5 geliefert.
Jeder der fünf integrierten Gate-Schaltungen GDIC1 bis GDIC5 erzeugt die Gate-Signale SCAN und SENSE basierend auf den empfangenen Gate-Spannungen VGH und VGL und gibt sie aus. Wenn jedoch eine Anomalie bei den Gate-Spannungen VGH und VGL auftritt, kann möglicherweise nicht jede der fünf integrierten Gate-Schaltungen GDIC1 bis GDIC5 eine normale Gate-Ansteuerung durchführen.
Daher kann das Anzeigevorrichtung 100 in einer Ausführungsform der Erfindung das Vorhandensein von Anomalien in den Gate-Spannungen VGH und VGL, die in die Anzeigetafel 110 gelangen, bestimmen. Beispielsweise kann die Anzeigevorrichtung 100 einer Ausführungsform der Erfindung kann Schaltungen wie etwa Komparatoren verwenden, um die Stromstärke zu erfassen, der den Gate-Spannungen VGH und VGL entspricht, wenn sie tatsächlich in die Anzeigetafel 110 eintreten, und die erfasste Stromstärke mit einer Referenzstromstärke zu vergleichen, die der normalen Stromstärke entspricht, um zu bestimmen, ob die Stromstärke, die den Gate-Spannungen VGH und VGL entspricht, die tatsächlich in die Anzeigetafel 110 gelangen, anormal (z. B. Überstrom) ist.
Wenn detektiert wird, dass die den Gate-Spannungen VGH und VGL entsprechende Stromstärke als anormal bestimmt wird, kann dies das Vorhandensein eines Defekts in mindestens einer der Gate-Spannungsleitungen auf der Anzeigetafel 110, dem gateseitigen Film FG, dem quellseitigen Film FS, der Quell-Leiterplatte S-PCB, dem flexiblen Flachkabel FFC1 oder der Steuer-Leiterplatte C-PCB bedeuten.
10 ist eine Darstellung zur Erläuterung eines Tafelbrand-Phänomens in einer Anzeigevorrichtung 100 einer Ausführungsform der Erfindung.
Unter Bezugnahme auf 10 kann es auf der Anzeigetafel 110 der Anzeigevorrichtung 100 zu Tafelbrand-Phänomenen kommen, die durch verschiedene Typen von Defekten verursacht werden können. Das Tafelbrand-Phänomen kann aufgrund verschiedener Defekte auftreten, die ohne Einschränkung darauf Kurzschlüsse oder Schaltungsunterbrechungen in den Signalleitungen DL, GL, DVL, RVL, der Gate-Spannungsverdrahtung usw., die sich auf der Anzeigetafel 110 befinden, Verbindungsfehler zwischen der Anzeigetafel 110 und dem gateseitigen Film FG oder quellseitigen Film FS, eine lose Verbindung des flexiblen Flachkabels FFC1, die zu elektrischen Verbindungsproblemen zwischen der Quell-Leiterplatte S-PCB und der Steuer-Leiterplatte C-PCB führt, eine lose Verbindung des flexiblen Flachkabels FFC2, die zu elektrischen Verbindungsproblemen zwischen der Steuer-Leiterplatte C-PCB und der Haupt-Leiterplatte M-PCB führt, usw. umfassen.
Im Falle solcher Defekte kann es zu einem Tafelbrand-Phänomen bei der Anzeigetafel 110 kommen und es kann sein, dass sie nicht ordnungsgemäß funktioniert. Darüber hinaus kann es zu Fehlfunktionen der Anzeigevorrichtung 100 kommen, die im Extremfall sogar zu Feuer führen können.
Daher ist es erforderlich, die Defekte, die zu dem Tafelbrand-Phänomen führen, proaktiv zu erkennen und zu bewältigen, damit das Tafelbrand-Phänomen nicht auftritt. Darüber hinaus ist auch eine wirksame Behandlung potenzieller Defekte erforderlich, die zu einem Tafelbrand-Phänomen führen könnten. Dies ermöglicht im Falle eines solchen Defekts eine zeitnahe und geeignete Reaktion.
Die Anzeigevorrichtung 100 einer Ausführungsform der Erfindung kann ein Verfahren zum wirksamen Behandeln von Defekten beinhalten, indem bei Detektion eines Defekts ein Signal für Branddetektion und -schutz BDP erzeugt wird, das dem Typ (z. B. der Ursache) des Defekts entspricht.
Im Folgenden werden ein Verfahren und ein System zum Verhindern oder Reduzieren des Tafelbrand-Phänomens einer oder mehrerer Ausführungsformen der Erfindung im Einzelnen beschrieben.
Insbesondere ist 11 eine Darstellung, die ein Beispiel eines Systems zum Verhindern oder Reduzieren des Tafelbrand-Phänomens in einer Anzeigevorrichtung 100 einer Ausführungsform der Erfindung zeigt.
Unter Bezugnahme auf 11 umfasst das System zum Verhindern von Tafelbrand in der Anzeigevorrichtung 100 eine Defektdetektionseinheit 1110, eine Defektsignal-Erzeugungseinheit 1120 und eine Defektverwaltungseinheit 1130. In einer Ausführungsform der Erfindung können die Defektdetektionseinheit 1110 und die Defektsignal-Erzeugungseinheit 1120 in den Leistungs-Controller 900 integriert oder darin bereitgestellt sein. Die Defektverwaltungseinheit 1130 kann in der Zeitsteuerung 140 enthalten sein.
Die Defektdetektionseinheit 1110 detektiert Defekte in der Anzeigevorrichtung 100. Beispielsweise kann die Defektdetektionseinheit 1110 Defekte in den Signalleitungen innerhalb oder außerhalb der Anzeigetafel 110 oder Defekte im Zusammenhang mit der Fehlfunktion der Anzeigetafel 110 detektieren. Darüber hinaus erzeugt die Defektdetektionseinheit 1110 Signale für Branddetektion und -schutz BDPs entsprechend dem Typ der detektierten Defekte und gibt sie aus. In einer Ausführungsform der Erfindung kann die Defektdetektionseinheit 1110 das BDP-Signal an ein externes Hostsystem (z. B. eine externe Vorrichtung, die mit der Anzeigevorrichtung oder dem Leistungs-Controller 900 kommuniziert) ausgeben, z. B. drahtlos.
Insbesondere erzeugt und sendet die Defektsignal-Erzeugungseinheit 1120 Defektsignale DS mit unterschiedlichen Signalwellenformen, die den detektierten Defekten (z. B. Defekttypen) entsprechen. Dabei kann es sich bei den unterschiedlichen Signalwellenformen beispielsweise um Signalwellenformen mit unterschiedlichen Impulszahlen handeln (z. B. Zählung ansteigender Flanken, Zählung von Intervallen mit hohem Pegel/niedrigem Pegel usw.).
Die Defektbehandlungseinheit 1130 kann Informationen im Zusammenhang mit den Defektsignalen DS speichern und verwalten. Die Informationen über das Defektsignal DS können den Auftrittszeitpunkt jedes Defektsignals DS (der z. B. angibt, wann ein Defekt erzeugt oder detektiert wird) und die Wellenform jedes Defektsignals DS (der z. B. einen bestimmten Defekttyp angibt) umfassen. In einer Ausführungsform der Erfindung empfängt die Defektbehandlungseinheit 1130 das Defektsignal DS, analysiert die Wellenform des empfangenen Defektsignals DS, um den Typ des Defekts zu bestimmen oder zu erkennen, und speichert das bestimmte Ergebnis zur Behandlung in dem Speicher 1140. Der Speicher 1140 kann ein nichtflüchtiges Speichermedium sein, das Daten auch dann speichert, wenn die Versorgung der Anzeigevorrichtung ausgeschaltet ist, und er kann beispielsweise als NICHT-UND-Speicher (NAND-Speicher) implementiert sein. Der Speicher 1140 ist jedoch nicht darauf beschränkt und kann von einem anderen Typ sein.
Durch die Verwendung des oben beschriebenen Systems zum Verhindern von Tafelbrand können Anwender der Anzeigevorrichtung 100 oder einer anderen Einrichtung/eines anderen Systems, die/das mit der Anzeigevorrichtung 100 kommunizieren kann, den Zeitpunkt des Auftretens, die Ursache und den Ort von Defekten basierend auf den gespeicherten Informationen oder dem bestimmten Ergebnis der Defektbehandlungseinheit 1130 identifizieren. Dadurch können je nach Typ des detektierten Defekts geeignete Maßnahmen als Antwort auf detektierte Defekte ergriffen werden.
In einer Ausführungsform kann die Defektbehandlungseinheit 1130 eine Ausschaltverarbeitung basierend auf dem erkannten Defekttyp durchführen. Beispielsweise kann die Defektbehandlungseinheit 1130 eine Ausschaltverarbeitung für die Ansteuerspannung EVDD einer organischen Leuchtdiode OLED der Anzeigetafel 110 durchführen. Mittels einer solchen Ausschaltverarbeitung durch die Defektverwaltungseinheit 1130 ist es möglich, das Tafelbrand-Phänomen auf der Anzeigetafel 110 proaktiv zu verhindern oder zu reduzieren.
In einer Ausführungsform der Erfindung können die Defektdetektionseinheit 1110 und die Defektsignal-Erzeugungseinheit 1120 beispielsweise in der Zeitsteuerung 140 auf der Steuer-Leiterplatte C-PCB enthalten sein. Die Defektbehandlungseinheit 1130 kann sich auf der Haupt-Leiterplatte (M-PCB) befinden und in einigen Fällen in die internen Komponenten des Haupt-Controllers (M-CON) auf der Haupt-Leiterplatte (M-PCB) integriert sein.
12 ist eine Darstellung, die ein Defektdetektionsverfahren in einem System zum Verhindern des Tafelbrand-Phänomens einer Anzeigevorrichtung 100 einer Ausführungsform der Erfindung zeigt.
Unter Bezugnahme auf 12 kann die Defektdetektionseinheit 1110 verschiedene Defekte in der Anzeigetafel 110 basierend auf Erfassungswerten, die während der Ein-Erfassung, der Echtzeit-Erfassung oder der Aus-Erfassung der Anzeigetafel 110 erhalten werden, Spannungswerten (z. B. Gate-Spannung wie etwa VGH/VGL) in der Anzeigetafel 110, Stromstärkewerten (z. B. Gate-Spannungsstromstärke) in der Anzeigetafel 110, Informationen über das Auftreten eines Schutzvorgangs (z. B. eines Abschaltvorganges) in dem Leistungs-Controller 900 und/oder einem internen Branddetektionssignal (im Folgenden als INBDP oder INBDP-Signal bezeichnet), das aus der Zeitsteuerung 140 und/oder der Anzeigetafel 110 empfangen wird, detektieren.
Die Defektdetektionseinheit 1110 kann bestimmen, ob der durch Ein-Erfassung, Echtzeit-Erfassung (RT-Erfassung) oder Aus-Erfassung der Anzeigetafel 110 erhaltene Erfassungswert in einen normalen Erfassungswertbereich gefallen ist, und das Auftreten eines Defekts identifizieren, wenn der Erfassungswert außerhalb des normalen Erfassungswertbereichs liegt.
Darüber hinaus kann die Defektdetektionseinheit 1110 den Spannungswert (z. B. Gate-Spannung) oder Stromstärkewert (z. B. Gate-Spannungsstromstärke) in der Anzeigetafel 110 mit einem Referenzspannungswert oder Referenzstromstärkewert vergleichen und dann, wenn eine Abweichung davon detektiert wird, das Auftreten eines Defekts an der entsprechenden Signalleitung, die die Spannung oder die Stromstärke liefert, oder an der Stelle, an der die entsprechende Signalleitung angeordnet ist, identifizieren.
Darüber hinaus kann die Defektdetektionseinheit 1110 das Auftreten eines Unterbrechungs- oder Kurzschlussdefekts basierend auf dem INBDP-Signal bestimmen, das aus der Zeitsteuerung 140 und/oder der integrierte Gate-Ansteuerschaltung GDIC in der Anzeigetafel 110 empfangen wird. Gemäß der Erfindung kann die Defektsignal-Erzeugungseinheit 1120 bestimmen, dass ein Unterbrechungsdefekt (z. B. ein Defekt eines unterbrochenen Stromkreises) aufgetreten ist, wenn das INBDP-Signal einen Pegel unterhalb eines vorbestimmten Normalbereichs aufweist. Wenn das INBDP-Signal hingegen einen Pegel aufweist, der den vorgegebenen Normalbereich überschreitet, kann die Defektsignal-Erzeugungseinheit 1120 bestimmen, dass ein Kurzschlussdefekt (z. B. ein Defekt eines kurzgeschlossenen Stromkreises) aufgetreten ist.
In einer Ausführungsform der Erfindung kann das INBDP-Signal in die Defektsignal-Erzeugungseinheit 1120 eingegeben werden, wenn ein Leitungsdefekt LD basierend auf einem durch Echtzeit-Erfassung (RT-Erfassung) erhaltenen Erfassungswert detektiert wird, wenn ein Sperrsignal (z. B. Sperrsignal mit niedrigem Pegel oder Schnittstellensignal mit niedrigem Pegel) über eine interne Schnittstelle wie die EPI-Schnittstelle detektiert wird, wie es unter Bezugnahme auf 8 beschrieben ist, wenn ein Überstrom in dem Pegelschieber in einer integrierten Gate-Ansteuerschaltung GDIC auftritt oder wenn Risse an den Rändern der Anzeigetafel 110 detektiert werden. Diese Typen von Defekten sind in 13 gezeigt, auf die später noch näher eingegangen wird.
Darüber hinaus kann die Defektdetektionseinheit 1110 das Auftreten eines Abschaltungsdefekts (z. B. Abschaltvorgangsdefekts) bestimmen, wenn ein Leistungsschutzvorgang (z. B. Abschaltung), der von dem Leistungs-Controller 900 oder dem Gammaspannungsgenerator aufgrund verschiedener Ursachen oder anderer Defekte durchgeführt wird, nicht ordnungsgemäß durchgeführt wird oder eine vorgegebene Anzahl von Malen wiederholt wird, was auf das Vorliegen eines Defekts hinweisen kann.
Wie es oben beschrieben ist, kann die Defektdetektionseinheit 1110 verschiedene Typen von Defekten, die zu verschiedenen Zeitvorgaben und an verschiedenen Stellen in der Anzeigevorrichtung 100 auftreten können, effizient detektieren, indem sie verschiedene Verfahren verwendet, um potenzielle Defekte in der Anzeigevorrichtung 100 zu identifizieren.
Dementsprechend kann die Defektdetektionseinheit 1110 dann entsprechende BDP-Signale basierend auf den detektierten Defekttypen ausgeben.
13 ist eine Darstellung, die eine Übereinstimmungsbeziehung zwischen Defekttypen und BDP-Signalen in einem System zum Verhindern von Tafelbrand-Phänomenen einer Anzeigevorrichtung 100 einer Ausführungsform der Erfindung zeigt. Die Defektdetektionseinheit 1110 kann eines der BDP-Signale („BDP“ in der letzten Spalte des Diagramms in 13) an die Defektsignal-Erzeugungseinheit 1120 ausgeben, die wiederum ein Defektsignal DS erzeugt, das dem empfangenen BDP-Signal entspricht.
Unter Bezugnahme auf 11-13 kann die Defektdetektionseinheit 1110 ein 0-tes BDP-Signal, ein Komparator-BDP-Signal oder kein BDP-Signal ausgeben, wenn der detektierte Defekt dadurch verursacht wird, dass der Erfassungswert, der durch Ein-Erfassung, Echtzeit-Erfassung (RT-Erfassung) oder Aus-Erfassung der Anzeigetafel 110 erhalten wird, außerhalb des normalen Erfassungswertbereichs liegt, beispielsweise wenn die EVSS-Spannung einen vorbestimmten Pegel überschreitet.
Darüber hinaus kann die Defektdetektionseinheit 1110 eines von einem ersten bis vierten BDP-Signal VGH1 BDP, VGL1 BDP, VGL2 BDP und VGLUD BDP sowie einem achten BDP-Signal VGH2 BDP ausgeben, wenn der detektierte Defekt dadurch verursacht wird, dass die Stromstärke, die den in dem Gate-Treiber 130 verwendeten Gate-Spannungen VGH und VGL entspricht, den anormalen Strompegel (z. B. Überstromschutz-Pegel OCP-Pegel) überschreitet. Wenn zum Beispiel der Überstrom in der Ausgabe der Leistungsverwaltungs-IC (PMIC) (z. B. VGH, VGL) auftritt, kann die Defektdetektionseinheit 1110 eines der BDP-Signale VGH1 BDP, VGL1 BDP, VGL2 BDP, VGLUD BDP, VGH2 BDP usw. ausgeben.
Genauer oder beispielsweise kann die Defektdetektionseinheit 1110 das erste BDP-Signal VGH1 BDP für den Defekt, der der ersten Hochpotential-Gate-Spannung VGH1 zugeordnet detektiert wird, das zweite BDP-Signal VGL 1 BDP für den Defekt, der der ersten Niederpotential-Gate-Spannung VGL1 zugeordnet detektiert wird, das dritte BDP-Signal VGL2 BDP für den Defekt, der der zweiten Niederpotential-Gate-Spannung VGL2 zugeordnet detektiert wird, das vierte BDP-Signal VGLUD BDP für den Defekt, der der VGLUD-Spannung zugeordnet detektiert wird, und das achte BDP-Signal VGH2 BDP für den Defekt, der der zweiten Hochpotential-Gate-Spannung VGH2 zugeordnet detektiert wird, ausgeben.
Wenn der Defekt durch einen vom Leistungs-Controller 900 durchgeführten Abschaltvorgang (z. B. PMIC-Abschaltung) innerhalb der Anzeigevorrichtung 100 verursacht wird, kann die Defektdetektionseinheit 1110 ein fünftes BDP-Signal (z. B. Abschaltungs-BDP) ausgeben.
Wenn der Defekt durch eine Unterbrechung in den Signalleitungen DL, GL, DVL, RVL, der Gate-Spannungsverdrahtung usw., die in der Anzeigetafel 110 angeordnet sind, verursacht wird, kann die Defektdetektionseinheit 1110 ein sechstes BDP-Signal INBDP (OPEN ausgeben). Wenn beispielsweise ein Leitungsdefekt (LD) basierend auf dem durch Echtzeit-Erfassung (RT-Erfassung) erhaltenen Erfassungswert detektiert wird, wenn ein Sperrsignal (z. B. ein Sperrsignal mit niedrigem Pegel) über eine interne Schnittstelle wie z. B. die EPI-Schnittstelle detektiert wird, wie es in 8 beschrieben ist, wenn ein Überstrom (z. B. OCP) in dem Pegelschieber (der integrierten L/S-Schaltung) in der integrierten Gate-Ansteuerschaltung GDIC oder GIP (Gate-In-Panel-Schaltung) auftritt, oder wenn ein Riss an dem Rand der Anzeigetafel 110 dazu führt, dass die Verdrahtung unterbrochen ist, kann die Defektdetektionseinheit 1110 den Defekt als Unterbrechungsdefekt bestimmen und das sechste BDP-Signal INBDP (OPEN) ausgeben.
Wenn der Defekt durch einen Kurzschluss in Signalleitungen, DL, GL, DVL, RVL, der Gate-Spannungsverdrahtung usw. verursacht wird, kann die Defektdetektionseinheit 1110 ein siebtes BDP-Signal INBDP (SHORT) ausgeben. Wenn beispielsweise aufgrund eines Risses an dem Rand (oder einem anderen Teil) der Anzeigetafel 110 ein Kurzschluss in der Verdrahtung auftritt, kann die Defektdetektionseinheit 1110 das Auftreten eines Kurzschlussdefekts bestimmten und das siebte BDP-Signal INBDP (SHORT) ausgeben.
Wenn der Defekt durch einen Abschaltvorgang verursacht wird, der von dem Leistungs-Controller 900 oder einem Gammaspannungsgenerator in der Anzeigevorrichtung 100 durchgeführt wird, kann die Defektdetektionseinheit 1110 ein neuntes BDP-Signal P-Gamma BDP ausgeben.
Zusammenfassend kann die Defektverwaltungseinheit 1130 durch Bestimmen des Typs des Defekts basierend auf der detektierten Ursache und Erzeugen der entsprechenden BDP-Signale BDP die Ursache des aufgetretenen Defekts anhand der BDP-Signale identifizieren.
14 ist eine Darstellung, die ein Beispiel von Defektsignalen zeigt, die BDP-Signalen in einem System zum Verhindern von Tafelbrand-Phänomenen einer Anzeigevorrichtung 100 einer Ausführungsform der Erfindung entsprechen.
Unter Bezugnahme auf 14 kann die Defektsignal-Erzeugungseinheit 1120 das Defektsignal DS mit unterschiedlichen Impulszahlen (z. B. Zahl ansteigender Flanken und Zahl von Intervallen mit hohem/niedrigem Pegel usw.) basierend auf dem von der Defektdetektionseinheit 1110 empfangenen BDP erzeugen. Die Defektbehandlungseinheit 1130 kann dann das Defektsignal DS analysieren (z. B. die Impulszahl des Defektsignals DS zählen, beispielsweise durch Zählen der Anzahl ansteigender Flanken und/oder Intervalle mit hohem/niedrigem Pegel), um den Defekttyp zu erkennen, und kann dieses Analyseergebnis verwenden, um den Defekt anzugehen. Die Defektbehandlungseinheit 1130 kann alle den Defektsignalen DS zugeordneten Informationen einschließlich der Defektsignale DS, der Zeit des Auftretens/Empfangs/Erzeugens der Defektsignale DS, was jeder Typ des Defektsignals DS darstellt (z. B. Typ des Defekts) usw. entweder intern oder in dem Speicher 1140 speichern und aktualisieren. Solche Informationen können hier als „defektbezogene Informationen“ bezeichnet werden. Die Defektbehandlungseinheit 1130 kann solche defektbezogenen Informationen auch für jedes Defektsignal aktualisieren, die dann von der Defektbehandlungseinheit 1130 abgerufen und verwendet werden können, z. B. zum Vergleich, zur Analyse oder zur Behebung der Defekte.
Beispielsweise kann die Defektsignal-Erzeugungseinheit 1120 das Defektsignal DS, das dem ersten BDP-Signal VGH1 BDP entspricht, mit einem Impuls ausgeben, das Defektsignal DS, das dem zweiten BDP-Signal VGL1 BDP entspricht mit zwei Impulsen ausgeben, das Defektsignal DS, das dem dritten BDP-Signal VGL2 BDP entspricht, mit drei Impulsen ausgeben und das Defektsignal DS, das dem vierten BDP-Signal VGLUD BDP entspricht, mit vier Impulsen ausgeben. Die Defektsignal-Erzeugungseinheit 1120 kann das Defektsignal DS, das dem fünften BDP-Signal Abschaltungs-BDP entspricht, mit fünf Impulsen ausgeben, das Defektsignal DS, das dem sechsten BDP-Signal INBDP (OPEN) entspricht, mit sechs Impulsen ausgeben, das Defektsignal DS, das dem siebten BDP-Signal INBDP (SHORT) entspricht, mit sieben Impulsen ausgeben und das Defektsignal DS, das dem achten BDP-Signal VGH2 BDP entspricht, mit acht Impulsen ausgeben. Die Defektsignal-Erzeugungseinheit 1120 kann zudem das Defektsignal DS, das dem neunten BDP-Signal P-Gamma BDP entspricht, mit neun Impulsen ausgeben. Die Defektsignal-Erzeugungseinheit 1120 kann das Defektsignal DS, das null oder keinem BDP (Komparator-BDP) entspricht, ohne Impuls ausgeben.
In einer Ausführungsform der Erfindung kann das von der Defektsignal-Erzeugungseinheit 1120 ausgegebene Defektsignal DS im Vergleich zu dem oben genannten Impulssignal eine invertierte Phase aufweisen. Diese Ausführungsform der Erfindung ist jedoch nicht auf diesen Ansatz beschränkt und andere Variationen, wie beispielsweise andere geformte Impulse oder Wellenformen, sind möglich.
15 ist ein Ablaufdiagramm, das ein Ansteuerverfahren einer Anzeigevorrichtung einer Ausführungsform der Erfindung zeigt.
Unter Bezugnahme auf 15 kann das Defektbehandlungsverfahren für eine Anzeigevorrichtung 100 einer Ausführungsform der Erfindung umfassen: Detektieren von Defekten auf den internen oder externen Signalleitungen der Anzeigetafel 110 oder Detektieren von Defekten im Zusammenhang mit der Fehlfunktion der Anzeigetafel 110 in Schritt S2210, Ausgeben entsprechender BDP-Signale BDP für die detektierten Defekte in Schritt S2220, Erzeugen von Defektsignalen DS mit verschiedenen Signalwellenformen abhängig von den BDP-Signalen BDP in Schritt S2230 und Analysieren der Signalwellenform des Defektsignals DS zum Erkennen des Typs des Defekts und Speichern des Erkennungsergebnisses in dem Speicher 1140 zur Behandlung in Schritt S2240.
Das oben beschriebene Defektbehandlungsverfahren kann die Ursache der detektierten Defekte in der Anzeigevorrichtung 100 identifizieren und die Bestimmung des Zeitpunkts und Ortes des Auftretens der Defekte ermöglichen. Dadurch können je nach Typ des Defekts geeignete Maßnahmen als Antwort auf die Defekte ergriffen werden.
Die Anzeigevorrichtungen und Ansteuerungsverfahren dafür gemäß Ausführungsformen der Erfindung können das Tafelbrand-Phänomen verhindern oder reduzieren, indem die detektierten Defekte nach der Defektdetektion effizient behandelt werden.
Die Anzeigevorrichtungen und Ansteuerungsverfahren dafür gemäß Ausführungsformen der Erfindung können Defekte effizient behandeln, indem sie den Typ des Defekts bestimmen, ein Defektsignal erzeugen, das das Auftreten des Defekttyps abhängig von dem bestimmten Typ des Defekts angibt, und das Defektsignal an die Defektbehandlungseinheit senden, damit die Defektbehandlungseinheit oder der Anwender/Administrator den Defekt beheben kann.
Die Anzeigevorrichtungen und Ansteuerungsverfahren dafür gemäß Ausführungsformen der Erfindung können es Anwendern, Administratoren, externen Vorrichtungen usw. ermöglichen, den Zeitpunkt des Auftretens und die Typen von Defekten einfach zu identifizieren, so dass solche Defekte effizient behoben werden können.
Obwohl Ausführungsformen dieser Erfindung vorstehend unter Bezugnahme auf die beigefügten Zeichnungen beschrieben wurden, versteht es sich, dass die oben beschriebene technische Konfiguration dieser Erfindung von Fachleuten auf dem Gebiet in anderen spezifischen Formen implementiert werden kann, ohne das technische Konzept oder wesentliche Merkmale der Erfindung zu ändern. Daher sollte verstanden werden, dass die oben beschriebenen Ausführungsformen beispielhaft sind und in keiner Hinsicht einschränkend sind. Ferner wird der Umfang der Erfindung durch die nachstehend dargelegten Ansprüche und nicht durch die obige genaue Beschreibung definiert. Darüber hinaus sollte klar sein, dass alle Abwandlungen oder Variationen, die sich aus der Bedeutung und dem Umfang der Ansprüche und ihrem Äquivalenzkonzept ergeben, im Umfang dieser Erfindung enthalten sind.
ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
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Zitierte Patentliteratur

KR 1020220187619 [0001]

Claims

Anzeigevorrichtung, die umfasst: eine Anzeigetafel (110), die mehrere Unterpixel (SP) aufweist; einen Datentreiber (120), der dazu ausgelegt ist, ein Datensignal an die mehreren Unterpixel (SP) anzulegen; einen Gate-Treiber (130), der dazu ausgelegt ist, ein Gate-Signal (SCAN, SENSE) an die mehreren Unterpixel (SP) anzulegen; eine Zeitsteuerung (140), die dazu ausgelegt ist, Steuersignale an den Datentreiber (120) und den Gate-Treiber (130) auszugeben; und einen Leistungs-Controller (900), der dazu ausgelegt ist, einen der Anzeigetafel (110) zugeordneten Defekt zu detektieren und ein Defektsignal (DS) gemäß einem Typ des detektierten Defekts zu erzeugen und auszugeben.
Anzeigevorrichtung nach Anspruch 1, die ferner einen Speicher (1140) umfasst, der zum Speichern der defektbezogenen Informationen ausgelegt ist, die dem Defektsignal (DS) zugeordnet sind.
Anzeigevorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, wobei die Zeitsteuerung (140) dazu ausgelegt ist, defektbezogene Informationen zu speichern, die dem Defektsignal (DS) zugeordnet sind; und/oder die Informationen, die dem Defektsignal (DS) zugeordnet sind, jedes Mal, wenn ein Defektsignal (DS) empfangen wird, von der Zeitsteuerung (140) aktualisiert werden; und/oder die Zeitsteuerung (140) dazu ausgelegt ist, das Defektsignal (DS) zu analysieren und den Typ des detektierten Defekts basierend auf einem Ergebnis der Analyse zu identifizieren.
Anzeigevorrichtung nach Anspruch 1, 2 oder 3, wobei der Leistungs-Controller (900) dazu ausgelegt ist, das Defektsignal (DS) je nach Typ des Defekts mit einer unterschiedlichen Wellenform, vorzugsweise mit einer unterschiedlichen Impulszahl, zu erzeugen; und/oder der Leistungs-Controller (900) dazu ausgelegt ist, das Defektsignal (DS) an ein externes Hostsystem auszugeben.
Anzeigevorrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, wobei die in dem Speicher (1140) gespeicherten defektbezogenen Informationen eine Impulszahl des Defektsignals (DS), einen Zeitpunkt des Auftretens des Defektsignals und/oder den Typ des Defekts umfassen.
Anzeigevorrichtung nach Anspruch 4 oder 5, wobei die Zeitsteuerung (140) eine Defektbehandlungseinheit (1130) umfasst, die dazu ausgelegt ist, die Anzeigetafel (110) abhängig von dem Typ des basierend auf einer Impulszahl des Defektsignals (DS) identifizierten Defekts zu steuern.
Anzeigevorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei der Leistungs-Controller (900) dazu ausgelegt ist, den Defekt basierend auf einem Erfassungswert der Anzeigetafel (110), einem Stromstärkewert, der entsprechend einem Spannungswert des Gate-Signals gemessen wird, Abschaltinformationen, die durch den Leistungs-Controller (900) erzeugt werden, und/oder einem in den Leistungs-Controller (900) eingegebenen internen Branddetektionssignal (INBDP) zu detektieren.
Anzeigevorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei der Leistungs-Controller (900) umfasst: eine Defektdetektionseinheit (1110), die dazu ausgelegt ist, den Defekt zu detektieren und ein Branddetektionssignal (BDP) auszugeben, das je nach Typ des detektierten Defekts variiert; und eine Defektsignal-Erzeugungseinheit (1120), die dazu ausgelegt ist, das Defektsignal (DS), das dem Branddetektionssignal (BDP) entspricht, zu erzeugen und auszugeben.
Anzeigevorrichtung nach Anspruch 8, wobei die Zeitsteuerung (140) umfasst: ein nichtflüchtiges Speichermedium (1140) und eine Defektbehandlungseinheit (1130), die dazu ausgelegt ist, dem Defektsignal (DS) zugeordnete defektbezogene Informationen in dem nichtflüchtigen Speichermedium (1140) zu speichern.
Anzeigevorrichtung, die umfasst: eine Anzeigetafel (110), die mehrere Unterpixel (SP) aufweist, die zum Anzeigen von Bildern ausgelegt sind; mindestens einen von einem Datentreiber (130) und einem Gate-Treiber (120), der dazu ausgelegt ist, ein Datensignal oder ein Gate-Signal an die mehreren Unterpixel (SP) anzulegen; eine Zeitsteuerung (140), die dazu ausgelegt ist, Steuersignale an den Datentreiber (130) und/oder den Gate-Treiber (130) auszugeben; und einen Leistungs-Controller (900), der dazu ausgelegt ist, einen der Anzeigetafel (110) zugeordneten Defekt zu detektieren und ein Defektsignal (DS), das einem Typ des detektierten Defekts entspricht, zu erzeugen und an die Zeitsteuerung (140) auszugeben, wobei die Zeitsteuerung (140) dazu ausgelegt ist, das Defektsignal (DS) zu analysieren und den Typ des detektierten Defekts basierend auf einem Ergebnis der Analyse zu erkennen.
Anzeigevorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei der Leistungs-Controller (900) dazu ausgelegt ist, jedes Mal ein Defektsignal (DS) zu erzeugen, wenn ein bestimmter Defekt oder eine bestimmte Anomalie, der/die der Anzeigetafel (110) zugeordnet ist, auftritt, um so mehrere Defektsignale (DS) auszugeben, wobei die mehreren Defektsignale (DS) vorzugsweise je nach Typ der Defekte unterschiedliche Wellenformen aufweisen und/oder die unterschiedlichen Wellenformen Signale mit unterschiedlichen Impulszahlen umfassen.
Verfahren zum Prüfen einer Anzeigevorrichtung (100), die eine Anzeigetafel (110) mit mehreren Unterpixeln (SP), einen Datentreiber (120) zum Anlegen eines Datensignals an die mehreren Unterpixel (SP), einen Gate-Treiber (130) zum Anlegen eines Gate-Signals an die mehreren Unterpixel (SP), einen Leistungs-Controller (900) zum Anlegen einer Ansteuerspannung an die Anzeigetafel (110) und eine Zeitsteuerung (140) zum Steuern des Betriebs des Datentreibers (120) und des Gate-Treibers (130) umfasst, wobei das Verfahren Folgendes umfasst: Detektieren (S2210) eines der Anzeigetafel (110) zugeordneten Defekts durch den Leistungs-Controller (900); Erzeugen und Ausgeben (S2230) eines Defektsignals (DS) mit einer je nach Typ des detektierten Defekts unterschiedlichen Wellenform durch den Leistungs-Controller (900); und Speichern defektbezogener Informationen, die dem Defektsignal (DS) zugeordnet sind, in einem Speicher durch die Zeitsteuerung (140).
Verfahren nach Anspruch 12, wobei das Defektsignal (DS) so erzeugt wird, dass es abhängig von dem Typ des Defekts eine unterschiedliche Impulszahl aufweist und/oder die in dem Speicher (1140) gespeicherten defektbezogenen Informationen eine Impulszahl des Defektsignals, einen Zeitpunkt des Auftretens des Defektsignals und/oder den Typ des Defekts umfassen.
Verfahren nach Anspruch 12 oder 13, das ferner umfasst: Identifizieren des Typs des Defekts durch die Zeitsteuerung (140) basierend auf der Impulszahl des Defektsignals (DS); und/oder Ausgeben des Defektsignals (DS) durch den Leistungs-Controller (900) an ein externes Hostsystem.
Verfahren nach Anspruch 12, 13 oder 14, wobei das Detektieren des Defekts umfasst: Detektieren (S2210) des Defekts basierend auf einem Erfassungswert für die Anzeigetafel (110), einem Stromstärkewert, der entsprechend einem Spannungswert des Gate-Signals gemessen wird, Abschaltinformationen, die durch den Leistungs-Controller (900) erzeugt werden, und/oder einem internen Branddetektionssignal (INBDP), das in den Leistungs-Controller (900) eingegeben wird.