DE102014114808A1 - Elektronikmodul und Verfahren zur Herstellung eines Elektronikmoduls - Google Patents
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- H01L2224/45099—Material
- H01L2224/451—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
- H01L2224/45138—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
- H01L2224/45147—Copper (Cu) as principal constituent
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- H01L2224/48155—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being arranged next to each other, e.g. on a common substrate the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
- H01L2224/48157—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being arranged next to each other, e.g. on a common substrate the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
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- H01L2224/48227—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
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- H01L2224/48472—Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a wedge bond the other connecting portion not on the bonding area also being a wedge bond, i.e. wedge-to-wedge
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- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73251—Location after the connecting process on different surfaces
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- H01L2224/732—Location after the connecting process
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- H01L2224/8338—Bonding interfaces outside the semiconductor or solid-state body
- H01L2224/83399—Material
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- H01L2224/83417—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 400°C and less than 950°C
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- H01L2224/83438—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
- H01L2224/83447—Copper [Cu] as principal constituent
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- H01L2224/838—Bonding techniques
- H01L2224/83801—Soldering or alloying
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- H01L2224/838—Bonding techniques
- H01L2224/8384—Sintering
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- H01L2224/83—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
- H01L2224/838—Bonding techniques
- H01L2224/8385—Bonding techniques using a polymer adhesive, e.g. an adhesive based on silicone, epoxy, polyimide, polyester
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- H01L2224/84—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a strap connector
- H01L2224/842—Applying energy for connecting
- H01L2224/84201—Compression bonding
- H01L2224/84205—Ultrasonic bonding
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- H01L2224/848—Bonding techniques
- H01L2224/84801—Soldering or alloying
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- H01L2224/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
- H01L2224/852—Applying energy for connecting
- H01L2224/85201—Compression bonding
- H01L2224/85205—Ultrasonic bonding
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- H01L2224/8538—Bonding interfaces outside the semiconductor or solid-state body
- H01L2224/85399—Material
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- H01L2224/85417—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 400°C and less than 950°C
- H01L2224/85424—Aluminium (Al) as principal constituent
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Abstract
Ein Aspekt der Erfindung betrifft ein Elektronikmodul (100) mit einem Modulgehäuse (6) und einem elektrisch leidenden Anschlusselement (7). Das Anschlusselement (7) weist einen ersten Abschnitt (71) und einen zweiten Abschnitt (72) auf, sowie einen Schaft (70) zwischen dem ersten Abschnitt (71) und dem zweiten Abschnitt (72). Das Anschlusselement (7), das im Bereich des Schaftes (80) mit einer nicht-metallischen Beschichtung (8) versehen ist, ist zusammen mit der Beschichtung (8) im Bereich des Schaftes (70) in das Modulgehäuse (6) eingespritzt ist, so dass das Anschlusselement (7) in dem Modulgehäuse (6) fixiert ist.
Description
- Die Erfindung betrifft ein Elektronikmodul und ein Verfahren zum Herstellen eines Elektronikmoduls.
- Anschlusskontakte von Elektronikmodulen werden häufig in ein Gehäuse des Moduls eingespritzt. Hierbei kann es bedingt durch Schrumpfung des Gehäusekunststoffes und durch unterschiedliches thermisches Ausdehnungsverhalten von Anschlusskontakt und Gehäuse zur Ausbildung von Spalten kommen, so dass der Anschlusskontakt nicht mehr fest in dem Gehäuse sitzt.
- Wenn der in das Gehäuse eingespritzte Anschlusskontakt bei der Herstellung des Elektronikmoduls mit einem anderen Leiterelement des herzustellenden Elektronikmoduls durch Ultraschallschweißen verbunden werden soll, ist während des Schweißvorgangs eine Relativbewegung zwischen dem Anschlusskontakt und dem Leiterelement erforderlich. Hierzu wird von den Verbindungspartnern, also dem Anschlusskontakt und dem Leiterelement, einer in Schwingung versetzt, während der andere in Ruhe bleibt. Durch die Relativbewegung in Kombination mit einer die Verbindungspartner aneinander pressenden Anpresskraft entsteht eine Schweißverbindung, durch die die Verbindungspartner fest miteinander verbunden sind.
- Um reproduzierbare Prozessergebnisse zu erhalten, ist generell eine möglichst spielfreie Fixierung der Anschlusskontakte im Modulgehäuse wünschenswert. Die Festigkeit der Fixierung muss dabei umso höher sein, je höher die während des Ultraschallschweißprozesses erforderliche Ultraschall-Leistung ist.
- Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht darin, ein Elektronikmodul und ein Verfahren zu Herstellung eines ein Gehäuse aufweisenden Elektronikmoduls bereitzustellen, bei dem ein elektrischer Anschlusskontakt des Elektronikmoduls eine allenfalls geringe Beweglichkeit gegenüber dem Gehäuse besitzt.
- Diese Aufgaben werden durch ein Elektronikmodul gemäß Patentanspruch 1 bzw. durch ein Verfahren zur Herstellung eines Elektronikmoduls gemäß Patentanspruch 11 gelöst. Ausgestaltungen und Weiterbildungen der Erfindung sind Gegenstand von Unteransprüchen.
- Ein erster Aspekt betrifft ein Elektronikmodul mit einem Modulgehäuse und einem elektrisch leidenden Anschlusselement. Das Anschlusselement weist einen ersten Abschnitt und einen zweiten Abschnitt auf, sowie einen Schaft zwischen dem ersten Abschnitt und dem zweiten Abschnitt. Der Schaft ist mit einer nicht-metallischen Beschichtung versehen. Das Anschlusselement ist zusammen mit der Beschichtung im Bereich des Schaftes in das Modulgehäuse eingespritzt, so dass das Anschlusselement in dem Modulgehäuse fixiert ist.
- Ein zweiter Aspekt betrifft ein Verfahren, mit dem ein Elektronikmodul hergestellt wird, das unter anderem gemäß dem ersten Aspekt ausgebildet sein kann. Bei dem Verfahren wird ein elektrisch leitendes Anschlusselement bereitgestellt, das einen ersten Abschnitt und einen zweiten Abschnitt, einen Schaft zwischen dem ersten Abschnitt und dem zweiten Abschnitt, sowie zumindest im Bereich des Schafts eine nicht-metallische Beschichtung. Weiterhin wird ein Modulgehäuse hergestellt. Hierbei wird das mit der Beschichtung versehene Anschlusselement mit einem das Modulgehäuse bildenden Material umspritzt. Im Innenraum des Modulgehäuses wird ein Leiterelements angeordnet, und es wird im Bereich des ersten Abschnitts eine elektrisch leitende Verbindung zwischen dem Leiterelement und dem Anschlusselement hergestellt.
- Diese sowie weitere Aspekte der Erfindung werden nachfolgend anhand von Ausführungsbeispielen unter Bezugnahme auf die beigefügten Figuren erläutert. Es zeigen:
-
1 einen Querschnitt durch ein Anschlusselement. -
2 das Anschlusselement gemäß1 nach dem Aufbringen einer Beschichtung. -
3 einen Querschnitt durch einen Abschnitt eines Modulgehäuses, in das das mit der Beschichtung versehene Anschlusselement gemäß2 eingespritzt ist. -
4 einen Querschnitt durch ein Modulgehäuse, in das mehrere jeweils mit einer Beschichtung versehene Anschlusselemente gemäß3 eingespritzt sind. -
5 einen Querschnitt durch eine Elektronikbaugruppe, die einen Schaltungsträger aufweist. -
6 einen Querschnitt durch ein eine massive Bodenplatte aufweisendes Elektronikmodul, das das Modulgehäuse gemäß4 sowie den Schaltungsträger gemäß5 aufweist und bei dem ein Bonddraht an das Anschlusselement geschweißt ist. -
7 einen Querschnitt durch ein Anschlusselement. -
8 das Anschlusselement gemäß7 nach dem Aufbringen einer Beschichtung. -
9 einen Querschnitt durch einen Abschnitt eines Modulgehäuses, in das das mit der Beschichtung versehene Anschlusselement gemäß8 eingespritzt ist. -
10 einen Querschnitt durch ein Modulgehäuse, in das mehrere jeweils mit einer Beschichtung versehene Anschlusselemente gemäß9 eingespritzt sind. -
11 einen Querschnitt durch eine Elektronikbaugruppe, die einen Schaltungsträger aufweist. -
12 einen Querschnitt durch ein eine massive Bodenplatte aufweisendes Elektronikmodul, das das Modulgehäuse gemäß10 sowie den Schaltungsträger gemäß11 aufweist und bei dem ein Anschlusselement im Bereich seines ersten Abschnitts an eine Leiterbahn des Schaltungsträgers geschweißt ist. -
13 einen Querschnitt durch ein Elektronikmodul, das einen Schaltungsträger aufweist, wobei ein Bonddraht an ein Anschlusselement geschweißt ist. -
14 einen Querschnitt durch ein Elektronikmodul, das einen Schaltungsträger aufweist und bei dem ein Anschlusselemente jeweils im Bereich seines ersten Abschnitts an eine Leiterbahn des Schaltungsträgers geschweißt ist. -
15A –15C verschiedene Schritte eines Verfahrens zur Herstellung eines beschichteten Anschlusselements. -
16A –16D verschiedene Schritte eines weiteren Verfahrens zur Herstellung eines beschichteten Anschlusselements. - Die Darstellung in den Figuren ist nicht maßstäblich. Sofern nicht anders angegeben, bezeichnen in den Figuren gleiche Bezugszeichen gleiche oder gleichwirkende Elemente.
-
1 zeigt einen Querschnitt durch ein elektrisch leitendes Anschlusselement7 . Das Anschlusselement7 weist einen ersten Abschnitt71 auf, einen zweiten Abschnitt72 , sowie einen Schaft70 , der den ersten Abschnitt71 und den zweiten Abschnitt72 elektrisch leitend miteinander verbindet und in diesem Sinne zwischen dem ersten Abschnitt71 und dem zweiten Abschnitt72 angeordnet ist. Wie dargestellt kann es sich bei dem ersten Abschnitt71 und/oder dem zweiten Abschnitt72 , jeweils optional, um ein Ende des Anschlusselements7 handeln. - Grundsätzlich kann ein Anschlusselement
7 aus einem beliebigen, elektrisch leitenden Material, beispielsweise einem beliebigen Metall oder einer beliebigen Metall-Legierung bestehen. Zum Beispiel kann ein Anschlusselement7 vollständig oder zu wenigstens 90 Atom% aus einem der folgenden Metalle bestehen: Kupfer; Aluminium; Gold; Silber; Eisen, Eisenwerkstoffe, oder es kann vollständig oder zu wenigstens 90 Atom% aus einer Legierung mit wenigstens zwei der genannten Metalle bestehen. - Zur Herstellung eines Anschlusselements
7 kann z. B. ein ebenes Blech gestanzt und danach optional abgewinkelt werden. Beliebige andere Herstellungsverfahren können jedoch ebenso eingesetzt werden. - Auf das vorgefertigte Anschlusselement
7 oder ein Vorprodukt des Anschlusselements7 wird dann eine Beschichtung8 aufgebracht, was im Ergebnis in2 gezeigt ist. Bei der Beschichtung8 kann es sich insbesondere um eine nicht-metallische Beschichtung handeln. Die Beschichtung8 kann beispielsweise eines der folgenden Materialien aufweisen oder aus einem der folgenden Materialien, insbesondere Kunststoff, bestehen: einem Thermoplasten, einem Duroplasten; einem Elastomer, einer Polymerlegierung, einem geschäumten Material, einem Lack. Als Beschichtungsverfahren eignen sich zum Beispiel durch Kunststoffbeschichtungsverfahren (beispielsweise Pulverbeschichten = Pulverlackieren), Lackieren, Drucken, Tauchen, oder Aufkleben der Beschichtung auf das Anschlusselement7 . - Das Aufbringen der Beschichtung
8 erfolgt zumindest im Bereich des Schaftes70 . Da die Abschnitte71 und72 später zur Herstellung elektrisch leitender Verbindungen dienen, muss die Beschichtung8 in diesen Bereichen jeweils eine Aussparung aufweisen, so dass das Anschlusselement7 dort frei liegt. - Eine Beschichtung
8 kann aus nur genau einer Schicht bestehen, wie sie vorangehend erläutert wurde, oder aber aus zwei oder mehr Teilschichten, die aufeinander auf das Anschlusselement7 aufgebracht werden. Die einzelnen Teilschichten können dabei jeweils aus einem beliebigen (verschiedenen oder identischen) der erläuterten Materialien bestehen, und/oder jeweils mit einem beliebigen (verschiedenen oder identischen) der erläuterten Verfahren auf das Anschlusselement7 aufgebracht werden. - Das mit der Beschichtung
8 versehene Anschlusselement7 wird dann während eines Spritzgießprozesses, mit dem ein Modulgehäuse6 hergestellt wird, mit dem Material zur Herstellung des Modulgehäuses6 umspritzt. Im Ergebnis ist das mit der Beschichtung8 versehene Anschlusselement7 fest in das Modulgehäuse6 eingespritzt, was in3 dargestellt ist. - Wie mit der vorliegenden Erfindung festgestellt wurde, neigt eine solche Anordnung nicht oder in einem wesentlich geringeren Maß zur Spaltbildung als dies der Fall wäre, wenn das unbeschichtete Anschlusselement
7 – wie bei entsprechenden herkömmlichen Anordnungen – ohne Beschichtung8 in das Modulgehäuse6 eingespritzt wäre. Damit einhergehend besitzt das Anschlusselement7 gegenüber dem Modulgehäuse6 eine wesentlich geringere relative Beweglichkeit, als dies bei einer entsprechenden herkömmlichen Anordnung der Fall wäre. Die Beschichtung8 übernimmt die Funktion eines Haftvermittlers zwischen dem Anschlusselement7 und dem Modulgehäuse6 und sie gleicht Spalte aus, die ansonsten bei Schrumpfungsprozessen entstehen würden. - Um die Haftung zwischen der Beschichtung
8 und dem herzustellenden Modulgehäuse6 zu erhöhen, kann die Beschichtung8 so ausgebildet sein, dass sie vor dem Spritzgießvorgang, mit dem das Modulgehäuse6 hergestellt wird, an ihrer dem Anschlusselement7 abgewandten Außenseite7a eine hohe Oberflächenrauheit aufweist, was in2 schematisch dargestellt ist. - Das fertige Modulgehäuse
6 kann dielektrisch sein. Es kann optional einen Glasfaseranteil aufweisen, beispielsweise von wenigstens10 Volumen% oder von wenigstens 20 Volumen%, und/oder einen Flammhemmer, beispielsweise einen halogenbasierten Flammhemmer, einen Stickstoffbasierten Flammhemmer, einen organo-phosphor-basierten Flammhemmer, einem anorganischen Flammhemmer. - Weiterhin kann die Beschichtung
8 aus einem vom Material des Modulgehäuses6 verschiedenen Material bestehen. - Grundsätzlich kann die Anzahl der mit einer Beschichtung
8 versehenen, in ein Modulgehäuse6 eingespritzten Anschlusselemente7 beliebig gewählt werden. -
4 zeigt einen Querschnitt durch ein Gehäuse6 für ein Elektronikmodul, in das mehrere jeweils mit einer Beschichtung8 versehene Anschlusselemente7 eingespritzt wurden. Die ersten Abschnitte71 sind dabei jeweils im Inneren des Gehäuses6 angeordnet, wohingegen die zweiten Abschnitte72 jeweils aus dem Modulgehäuse6 herausragen. -
5 zeigt einen Querschnitt durch eine Elektronikbaugruppe. Diese einen Schaltungsträger2 auf. Auf dem Schaltungsträger2 ist ein Halbleiterchip1 angeordnet. - Der optionale Halbleiterchip
1 kann ein beliebiges elektronisches Bauelement enthalten, zum Beispiel einen MOSFET (Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor), einen IGBT (Insulated Gate Bipolar Transistor), einen Thyristor, einen JFET (Junction Field Effect Transistor), einen HEMT (High Electron Mobility Transistor), eine Diode, etc., alternativ oder zusätzlich auch ein oder mehrere beliebige andere aktive oder passive elektronische Bauelemente. Der Halbleiterchip1 weist einen Halbleiterkörper10 auf, sowie, jeweils optional, eine obere Chipmetallisierung11 und eine untere Chipmetallisierung12 . - Der ebenfalls optionale Schaltungsträger
2 weist einen dielektrischen Isolationsträger20 auf, auf den eine obere Metallisierungsschicht21 aufgebracht ist, sowie eine optionale untere Metallisierungsschicht22 . Sofern eine obere und eine untere Metallisierungsschicht21 ,22 vorhanden sind, befinden sich diese auf einander entgegengesetzten Seiten des Isolationsträgers20 . Die obere Metallisierungsschicht21 kann bei Bedarf strukturiert sein, so dass sie Leiterbahnen aufweist, die beispielsweise zur elektrischen Verschaltung und/oder zur Chipmontage genutzt werden können. Der dielektrische Isolationsträger20 kann dazu verwendet werden, die obere Metallisierungsschicht21 und die untere Metallisierungsschicht22 elektrisch voneinander zu isolieren. - Bei dem Schaltungsträger
2 kann es sich um ein Keramiksubstrat handeln, bei dem der Isolationsträger20 als dünne Schicht ausgebildet ist, die Keramik aufweist oder aus Keramik besteht. Als Materialien für die obere Metallisierungsschicht21 und, soweit vorhanden, die untere Metallisierungsschicht eignen sich elektrisch gut leitende Metalle wie beispielsweise Kupfer oder Kupferlegierungen, Aluminium oder Aluminiumlegierungen, aber auch beliebige andere Metalle oder Legierungen. Sofern der Isolationsträger20 Keramik aufweist oder aus Keramik besteht, kann es sich bei der Keramik beispielsweise um Aluminiumoxid (Al2O3) oder Aluminiumnitrid (AlN) oder Zirkoniumoxid (ZrO2) handeln, oder um eine Mischkeramik, die neben zumindest einer der genannten Keramikmaterialien noch wenigstens ein weiteres, von diesem verschiedenes Keramikmaterial aufweist. Zum Beispiel kann ein Schaltungsträger2 als DCB-Substrat (DCB = Direct Copper Bonding), als DAB-Substrat (DAB = Direct Aluminum Bonding), als AMB-Substrat (AMB = Active Metal Brazing) oder als IMS-Substrat (IMS = Insulated Metal Substrate) ausgebildet sein. Die obere Metallisierungsschicht21 und, soweit vorhanden, die untere Metallisierungsschicht22 können, unabhängig voneinander, jeweils eine Dicke im Bereich von 0,05 mm bis 2,5 mm aufweisen. Die Dicke des Isolationsträgers20 kann z. B. im Bereich von 0,1 mm bis 2 mm liegen. Größere oder kleinere als die angegebenen Dicken sind jedoch ebenfalls möglich. - Bei der gezeigten Elektronikbaugruppe ist der Halbleiterchip
1 mittels einer ersten Verbindungsschicht41 stoffschlüssig und optional auch elektrisch leitend mit dem Schaltungsträger2 verbunden. Hierzu grenzt die erste Verbindungsschicht41 sowohl an den Halbleiterchip1 (hier beispielhaft an dessen untere Chipmetallisierung12 ) als auch an den Schaltungsträger2 (hier beispielhaft an dessen obere Metallisierungsschicht21 ) an. Bei der ersten Verbindungsschicht41 kann es sich zum Beispiel um eine gesinterte Schicht, um eine Lotschicht oder um eine Klebeschicht handeln, wobei letztere je nach den Erfordernissen der zu realisierenden Schaltung elektrisch isolierend oder elektrisch leitend sein kann. Die erste Verbindungsschicht41 kann optional so ausgebildet sein, dass sie bei einer Temperatur von 180°C fest ist. Soweit die erste Verbindungsschicht41 aufschmelzbar ist, kann sie demgemäß einen Schmelzpunkt von über 180°C aufweisen. - Weiterhin kann die Elektronikbaugruppe optional eine Bodenplatte
3 aufweisen, mit der der mit dem Halbleiterchip1 bestückte Schaltungsträger2 mittels einer zweiten Verbindungsschicht42 stoffschlüssig und optional auch elektrisch leitend verbunden ist. Hierzu grenzt die zweite Verbindungsschicht42 sowohl an den Schaltungsträger2 (hier: an dessen untere Metallisierungsschicht22 ) als auch an die Bodenplatte3 an. Bei der zweiten Verbindungsschicht42 kann es sich zum Beispiel um eine gesinterte Schicht, um eine Lotschicht oder um eine Klebeschicht handeln, wobei letztere elektrisch isolierend oder elektrisch leitend sein kann. Zur Herstellung einer solchen Anordnung kann der Schaltungsträger2 wie erläutert mit einem Halbleiterchip1 vorbestückt und danach mit der Bodenplatte3 verbunden werden. Bei der Bodenplatte3 kann es sich beispielsweise um eine Metallplatte aus oder mit einem thermisch gut leitenden Material wie beispielsweise Kupfer oder Aluminium handeln. Die Bodenplatte3 kann außerdem eine dünne, beispielsweise galvanisch erzeugte Oberflächenbeschichtung (z. B. aus Nickel) aufweisen, um die Oxidation zu verhindern und die Lötbarkeit zu verbessern. Ebenso kann die Bodenplatte3 aus einem Metallmatrixkompositmaterial (MMC = metal matrix composite) bestehen. - Zur Herstellung eines Elektronikmoduls
100 kann eine vorgefertigte Elektronikbaugruppe, wie Sie bezugnehmend auf5 erläutert wurde, mit einem Modulgehäuse6 verbunden werden, in das wie vorangehend erläutert wenigstens ein mit einer Beschichtung8 versehenes Anschlusselement7 eingespritzt wurde, was im Ergebnis in6 gezeigt ist. Sofern die Elektronikbaugruppe einen Halbleiterchip1 aufweist, wird dieser dabei im Immenraum des Modulgehäuses6 angeordnet. - Um die Elektronikbaugruppe elektrisch leitend mit der oder den Anschlusselementen
7 zu verbinden, können Bonddrähte5 verwendet werden. Die Bonddrähte5 sind hierzu jeweils mit einem Anschlusselement7 an einer Bondstelle B2 bzw. B3 im Bereich des ersten Abschnitts71 des betreffenden Anschlusselements7 verschweißt. Die jeweilige Schweißverbindung kann durch Ultraschallschweißen (Drahtbonden) hergestellt werden. Hierbei kann der Bonddraht5 unmittelbar, d.h. ohne Verwendung eines zusätzlichen Verbindungsmittels wie beispielsweise eines Lotes oder eines elektrisch leitenden Klebers, mit dem Anschlusselement7 verschweißt sein. Die betreffende Verbindung kann also lot- und/oder klebstofffrei sein. - Wie weiterhin beispielhaft gezeigt ist, kann ein solcher Bonddraht
5 an einer Bondstelle B1 mit der oberen Chipmetallisierung11 verschweißt sein, oder an einer Bondstelle B4 mit der oberen Metallisierungsschicht21 . Auch hierbei kann der Bonddraht5 unmittelbar, d.h. ohne Verwendung eines zusätzlichen Verbindungsmittels wie beispielsweise eines Lotes oder eines elektrisch leitenden Klebers, mit der obere Chipmetallisierung11 bzw. mit der oberen Metallisierungsschicht21 verschweißt sein. Die betreffende Verbindung kann also lot- und/oder klebstofffrei sein. - Bei dem gezeigten Beispiel sind die obere Chipmetallisierung
11 und die untere Chipmetallisierung12 jeweils mit einem anderen der Anschlusselemente7 elektrisch leitend verbunden. Hierdurch können die obere Chipmetallisierung11 und die untere Chipmetallisierung12 über die zweiten Abschnitte72 von der Außenseite des Elektronikmoduls100 her elektrisch kontaktiert werden. Grundsätzlich können jedoch mit Hilfe von Anschlusselementen7 , die wie erläutert mit einer Beschichtung8 versehen und in eine Modulgehäuse6 eingespritzt sind, dazu genutzt werden, beliebige elektrische Potentiale und/oder Signale zwischen dem Inneren des Modulgehäuses6 und dem Äußeren des Modulgehäuses6 zu übertragen. - Optional kann in das Modulgehäuse
6 eine dielektrische Vergussmasse (nicht gezeigt), beispielsweise ein Silikongel oder eine beliebige andere dielektrische Vergussmasse, eingefüllt werden, um die Isolationsfestigkeit des Elektronikmoduls100 zu erhöhen und/oder um in dem Elektronikmodul100 verbaute Komponenten vor Feuchtigkeit oder Verschmutzung zu schützen. Eine solche Vergussmasse kann sich dann ausgehend von der Bodenplatte3 bis über den Halbleiterchip1 hinaus oder gar bis über sämtliche Bonddrähte5 hinaus erstrecken. - Die
7 bis9 zeigen ein weiteres Beispiel für ein Anschlusselement7 , das wie erläutert mit einer Beschichtung8 (8 ) versehen und danach in ein Modulgehäuse6 eingespritzt wird (9 ). Hierzu können dieselben Verfahren und Materialien eingesetzt werden, wie sie vorangehend bereits erläutert wurden.10 zeigt ein Modulgehäuse6 , in das beispielhaft mehrere solcher mit jeweils einer Beschichtung8 versehenen Anschlusselemente7 eingespritzt sind. -
11 zeigt einen Querschnitt durch eine Elektronikbaugruppe, deren Aufbau dem Aufbau der bereits unter Bezugnahme auf5 erläuterten Elektronikbaugruppe entspricht. Ergänzend ist ein Bonddraht5 vorgesehen, der die obere Chipmetallisierung11 elektrisch leitend mit einer Leiterbahn verbindet, die durch einen Abschnitt der oberen Metallisierungsschicht21 gebildet ist. Hierzu ist der Bonddraht5 an einer Bondstelle B1 elektrisch leitend an die obere Chipmetallisierung11 gebondet, sowie an einer weiteren Bondstelle B5 an die obere Metallisierungsschicht21 . - Der Halbleiterchip
1 ist an der unteren Chipmetallisierung12 mittels einer Verbindungsschicht41 auf dieselbe Weise stoffschlüssig und elektrisch leitend mit einem weiteren Abschnitt der oberen Metallisierungsschicht21 verbunden, wie der Halbleiterchip1 gemäß5 mit der oberen Metallisierungsschicht21 . - Zur Herstellung eines Elektronikmoduls
100 kann eine vorgefertigte Elektronikbaugruppe, wie Sie bezugnehmend auf11 erläutert wurde, mit einem Modulgehäuse6 verbunden werden, in das wie vorangehend erläutert wenigstens ein mit einer Beschichtung8 versehenes Anschlusselement7 eingespritzt wurde, was im Ergebnis in12 gezeigt ist. Sofern die Elektronikbaugruppe einen Halbleiterchip1 aufweist, wird dieser dabei im Immenraum des Modulgehäuses6 angeordnet. - Um die Elektronikbaugruppe elektrisch leitend mit der oder den Anschlusselementen
7 zu verbinden, werden deren ersten Abschnitte71 an einer Schweißstelle S1 bzw. S2 im Bereich des ersten Abschnitts71 des betreffenden Anschlusselements7 mit der oberen Metallisierungsschicht21 verschweißt. Die jeweilige Schweißverbindung kann durch Ultraschallschweißen (Drahtbonden) hergestellt werden. Hierbei kann das betreffende Anschlusselement7 unmittelbar, d.h. ohne Verwendung eines zusätzlichen Verbindungsmittels wie beispielsweise eines Lotes oder eines elektrisch leitenden Klebers, mit der oberen Metallisierungsschicht21 verschweißt sein. Die betreffende Verbindung kann also lot- und/oder klebstofffrei sein. - Während bei den bisher erläuterten Elektronikbaugruppen die Schaltungsträger
2 jeweils auf einer massiven Bodenplatte3 angeordnet waren, welche bei den Elektronikmodul100 gemäß den6 und12 die Unterseite des Elektronikmoduls bildet, besitzen die in den13 und14 gezeigten Elektronikmodule100 keine derartige Bodenplatte3 . Hier bildet jeweils die untere Metallisierungsschicht22 die Unterseite des Elektronikmoduls100 . Im Übrigen gelten für den Aufbau des Elektronikmoduls100 gemäß13 die Ausführungen zu dem Elektronikmodul100 gemäß6 , und für den Aufbau des Elektronikmoduls100 gemäß14 die Ausführungen zu dem Elektronikmodul100 gemäß12 . Während der Schaltungsträger2 bei den Elektronikmodulen100 gemäß den6 und12 in das jeweilige Modulgehäuse6 eingesetzt ist, ist das Modulgehäuse6 bei den Elektronikmodulen100 gemäß den13 und14 auf den Schaltungsträger2 aufgesetzt. - Sofern bei einem Elektronikmodul
100 , das keine massive Bodenplatte3 aufweist, eine dielektrische Vergussmasse (in den13 und14 nicht gezeigt), beispielsweise ein Silikongel oder eine beliebige andere dielektrische Vergussmasse, eingefüllt ist, um die Isolationsfestigkeit des Elektronikmoduls100 zu erhöhen und/oder um in dem Elektronikmodul100 verbaute Komponenten vor Feuchtigkeit oder Verschmutzung zu schützen, kann sich eine solche Vergussmasse ausgehend vom Schaltungsträger2 bis über den Halbleiterchip1 hinaus oder gar bis über sämtliche Bonddrähte5 hinaus erstrecken. - Bei den vorangehend erläuterten Elektronikmodulen
100 kann ein Bonddraht5 grundsätzlich aus einem beliebigen Drahtmaterial bestehen. Insbesondere ein Bonddraht5 , der, wie in den6 und13 gezeigt, durch Ultraschallschweißen im Bereich eines ersten Abschnitts71 unmittelbar an ein Anschlusselement7 geschweißt ist, kann vollständig oder zu wenigstens 90 Atom% aus Kupfer bestehen. - Weiterhin kann ein Bonddraht
5 außerhalb von Bondstellen einen Leitungsquerschnitt (d.h. quer zur Stromflussrichtung) aufweisen, der wenigstens 7853 µm2 beträgt, oder gar wenigstens 70685 µm2, was bei einem Bonddraht5 mit kreisförmigem Querschnitt einem Nenndurchmesser (d.h. außerhalb von Bondstellen) von wenigstens 100 µm bzw. wenigstens 300 µm entspricht. Alternativ oder zusätzlich kann ein solcher Bonddraht5 auch einen Leitungsquerschnitt von höchstens 785398 µm2 aufweisen, was bei einem Bonddraht5 mit kreisförmigem Querschnitt einem Nenndurchmesser von wenigstens 1000 µm entspricht. - Als Bonddraht
5 werden aber nicht nur Bonddrähte angesehen, die außerhalb von Bondstellen einen kreisförmigen Querschnitt besitzen, sondern auch so genannte Bondbändchen, die einen beliebigen anderen, beispielsweise in etwa rechteckigen, Querschnitt aufweisen. - Entsprechend kann ein Anschlusselement
7 einen Leitungsquerschnitt (d.h. quer zur Stromflussrichtung) aufweisen, der wenigstens 0,25 mm2 oder gar wenigstens 50 mm2 beträgt. - Das Aufbringen der Beschichtung
8 auf ein Anschlusselement7 kann prinzipiell auf verschiedene Weise erfolgen. Beispielsweise kann ein vorgefertigtes einzelnes Anschlusselement7 , wie es beispielsweise anhand der1 und7 erläutert wurde, mit der Beschichtung8 versehen werden. Ebenso ist es möglich, die Beschichtung8 auf ein Vorprodukt aufzubringen, aus dem mehrere Anschlusselemente7 vereinzelt werden. Beispiele für derartige Verfahren werden nachfolgend anhand der15A bis15C und16A bis16D erläutert. - Bei dem anhand der
15A bis15C erläuterten Verfahren wird zunächst als Vorprodukt ein Rohband9 bereitgestellt. Dieses kann beispielsweise aus dem Material oder der Materialkombination der daraus herzustellenden Anschlusselemente7 bestehen.15A zeigt einen Abschnitt eines solchen Rohbandes9 . Auf das Rohband9 wird dann eine Beschichtung8 aufgebracht, was im Ergebnis in9 gezeigt ist, und das beschichtete Rohband9 wird dann in einem oder mehreren Stanzschritten gestanzt, so dass im Ergebnis einzelne, voneinander unabhängige und jeweils bereits mit einer Beschichtung8 versehene Anschlusselemente7 vorliegen, was in15C gezeigt ist. Unmittelbar nach dem Stanzen können die Anschlusselemente7 noch eben sein und nachfolgend gebogen werden, beispielsweise zu einem gewinkelten und mit einer Beschichtung8 versehenen Anschlusselement7 , wie es in den2 und7 gezeigt ist. - Bei dem anhand der
16A bis16D erläuterten Verfahren wird zunächst als Vorprodukt wiederum ein Rohband9 bereitgestellt, wie es bereits bezugnehmend auf15A erläutert wurde, siehe16A . Das Rohband9 wird dann in einem oder mehreren Stanzschritten derart gestanzt, dass im Ergebnis mehrere, noch durch Stege91 miteinander verbundene Anschlusselemente7 in einem Standband vorliegen, wie dies beispielhaft in16B dargestellt ist. Auf die noch durch Stege91 miteinander verbundenen Anschlusselemente7 wird dann eine Beschichtung8 aufgebracht, was im Ergebnis in16C gezeigt ist. In einem weiteren Stanzschritt können die Anschlusselemente7 nach ab- oder durchtrennen der Stege91 vereinzelt werden, so dass jedes der vereinzelten Anschlusselemente7 eine Beschichtung8 aufweist, was im Ergebnis in16D dargestellt ist. Auch hier können die beschichteten Anschlusselemente7 unmittelbar nach dem Beschichten und Vereinzeln noch eben sein und bei Bedarf nachfolgend gebogen werden, beispielsweise zu einem gewinkelten und mit einer Beschichtung8 versehenen Anschlusselement7 , wie es in den2 und7 gezeigt ist. - Unabhängig davon, ob die Beschichtung
8 auf ein bereits vereinzeltes Anschlusselement7 aufgebracht wird, oder auf ein Vorprodukt, aus dem mehrere beschichtete Anschlusselemente7 hergestellt werden, kann die Beschichtung8 bereits so auf das Anschlusselement7 oder das Vorprodukt aufgebracht werden, dass das fertige Anschlusselement7 im ersten Abschnitt71 und/oder im zweiten Abschnitt72 frei liegt. Ebenso ist es jedoch möglich, die Beschichtung8 derart auf das Anschlusselement7 oder das Vorprodukt aufzubringen, dass das Anschlusselement7 , gegebenenfalls nach dem Vereinzeln, auch im ersten und/oder zweiten Abschnitt71 bzw.72 von der Beschichtung8 bedeckt ist und danach im Bereich des ersten und/oder zweiten Abschnitts71 bzw.72 durch teilweises Entfernen der Beschichtung8 freigelegt wird. - Sofern ein Anschlusselement
7 durch Stanzen erzeugt wird, kann die Beschichtung8 vor oder nach dem Stanzen aufgebracht werden, oder zwischen zwei Stanzschritten. Falls ein Anschlusselement7 durch Biegen erzeugt wird, kann die Beschichtung8 vor oder nach dem Biegen aufgebracht werden.
Claims (16)
- Elektronikmodul mit einem Modulgehäuse (
6 ), sowie mit einem elektrisch leidenden Anschlusselement (7 ), das einen ersten Abschnitt (71 ) aufweist, einen zweiten Abschnitt (72 ), und einen Schaft (70 ) zwischen dem ersten Abschnitt (71 ) und dem zweiten Abschnitt (72 ), wobei der Schaft (70 ) mit einer nicht-metallischen Beschichtung (8 ) versehen ist; und das Anschlusselement (7 ) zusammen mit der Beschichtung (8 ) im Bereich des Schaftes (70 ) in das Modulgehäuse (6 ) eingespritzt ist, so dass das Anschlusselement (7 ) in dem Modulgehäuse (6 ) fixiert ist. - Elektronikmodul nach Anspruch 1 mit einem Schaltungsträger (
2 ), der eine Leiterbahn (21 ) aufweist und der an dem Modulgehäuse (6 ) befestigt ist. - Elektronikmodul nach Anspruch 2, bei dem das Anschlusselement (
7 ) im Bereich des ersten Abschnitts (71 ) an einer ersten Verbindungsstelle (S1, S2) mit der Leiterbahn (21 ) verschweißt ist und dadurch elektrisch leitend mit dieser verbunden ist. - Elektronikmodul nach einem der Ansprüche 2 oder 3 mit einem Bonddraht (
5 ), der in dem Modulgehäuse (6 ) angeordnet ist und der im Bereich des ersten Abschnitts (71 ) an einer zweiten Verbindungsstelle (B2, B3) unmittelbar an das Anschlusselement (7 ) gebondet ist. - Elektronikmodul nach Anspruch 4, bei dem der Bonddraht (
5 ) einen Leitungsquerschnitt von wenigstens 7853 µm2 oder von wenigstens 70685 µm2 aufweist. - Elektronikmodul nach Anspruch 4 oder 5, bei dem der Bonddraht (
5 ) vollständig oder zu wenigstens 90 Atom% aus Kupfer besteht. - Elektronikmodul nach einem der vorangehenden Ansprüche, bei dem das Anschlusselement (
7 ) vollständig oder zu wenigstens 90 Atom% aus einem der folgenden Metalle besteht: Kupfer; Aluminium; Gold; Silber; Eisen; oder vollständig oder zu wenigstens 90 Atom% aus einer Legierung mit wenigstens zwei der folgenden Metalle besteht: Kupfer; Aluminium; Gold; Silber; Eisen. - Elektronikmodul nach einem der vorangehenden Ansprüche, bei dem das Modulgehäuse (
6 ) dielektrisch ist und Folgendes aufweist: einen Glasfaseranteil von wenigstens 10 Volumen% oder von wenigstens 20 Volumen%; und/oder einen Flammhemmer. - Elektronikmodul nach einem der vorangehenden Ansprüche, bei dem die Beschichtung (
8 ) aus einem vom Material des Modulgehäuses (6 ) verschiedenen Material besteht. - Elektronikmodul nach einem der vorangehenden Ansprüche, bei dem die Beschichtung (
8 ) eines der folgenden Materialien aufweist oder aus einem der folgenden Materialien besteht: einem Thermoplasten; einem Duroplasten; eine Elastomer; einer Polymerlegierung; einem Schaummaterial; einem Lack. - Verfahren, mit dem ein Elektronikmodul (
100 ) hergestellt wird, das gemäß einem der vorangehenden Ansprüche ausgebildet ist, wobei das Verfahren folgende Schritte aufweist: Bereitstellen eines elektrisch leitenden Anschlusselements (7 ), das einen ersten Abschnitt (71 ) aufweist, einen zweiten Abschnitt (72 ), einen Schaft (70 ) zwischen dem ersten Abschnitt (71 ) und dem zweiten Abschnitt (72 ), sowie zumindest im Bereich des Schaftes (70 ) eine nicht-metallische Beschichtung (8 ); Herstellen eines Modulgehäuses (6 ), wobei das mit der Beschichtung (8 ) versehene Anschlusselement (7 ) mit einem das Modulgehäuse (6 ) bildenden Material umspritzt wird. Anordnen eines Leiterelements (5 ,21 ) in einem Innenraum des Modulgehäuses (6 ); und Herstellen einer elektrisch leitenden Verbindung zwischen dem Leiterelement (5 ,21 ) und dem Anschlusselement (7 ) im Bereich des ersten Abschnitts (71 ). - Verfahren nach Anspruch 11, bei dem das Herstellen der elektrisch leitenden Verbindung erfolgt, indem das Leiterelement (
5 ,21 ) und das Anschlusselement (7 ) im Bereich des ersten Abschnitts (71 ) durch Ultraschallschweißen unmittelbar miteinander verbunden werden. - Verfahren nach Anspruch 11 oder 12, bei dem das Leiterelement (
5 ,21 ) als Leiterbahn (21 ) eines Schaltungsträgers (2 ) oder als Bonddraht (5 ) ausgebildet ist. - Verfahren nach einem der Ansprüche 11 bis 13, bei dem das Aufbringen der Beschichtung (
8 ) durch eines der folgenden Verfahren erfolgt: Kunststoffbeschichten; Pulverbeschichten; Lackieren; Drucken; Tauchen; Aufkleben. - Verfahren nach einem der Ansprüche 11 bis 14, bei dem die Beschichtung (
8 ) eines der folgenden Materialien aufweist oder aus einem der folgenden Materialien besteht: Kunststoff; einem Thermoplasten; einem Duroplasten; einem Elastomer; einer Polymerlegierung; einem geschäumten Material; einem Lack. - Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, bei dem das Bereitstellen des Anschlusselements (
7 ) folgende Schritte aufweist: Aufbringen der Beschichtung (8 ) auf ein einzelnes, ebenes oder gebogenes Anschlusselement (7 ); oder Aufbringen der Beschichtung (8 ) auf ein Vorprodukt und nachfolgendes Vereinzeln des beschichteten Vorprodukts zu mehreren jeweils beschichteten einzelnen Anschlusselementen (7 ), von denen eines das bereitgestellte Anschlusselement (7 ) bildet.
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