DE102012214205A1 - Verfahren zum zerstörungsfreien Prüfen von Bauteilen mittels Lock-In-Bilderzeugung - Google Patents
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Abstract
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum zerstörungsfreien Prüfen von Bauteilen mittels Lock-In-Bilderzeugung mit den Schritten Anregen des Bauteils mit einem Energieimpuls während eines ersten Teils einer Periode, Bereitstellen einer Kamera mit einer aus Pixeln (x, y) gebildeten Detektormatrix, Messen einer vorgegebenen Anzahl n von Intensitätswerten Fxyij pro Periode j für jeden Pixel (x, y), Erzeugen von n gemittelten Intensitätswerten <Fxyi> für jeden Pixel (x, y) durch Mitteln über N Perioden, Bestimmen jeweils eines Helligkeitswerts Hi für jeden Laufindex i durch Aufsummieren der zum Laufindex i erzeugten gemittelten Intensitätswerte <Fxyi> einer vorgegebenen Gruppe von Pixeln (x, y) der Detektormatrix, Ermitteln des Laufindex imin mit dem geringsten Helligkeitswert Hi,min, Verschieben des Laufindex i zweier Korrelationsfunktionen, K 0°i und K –90°i , Gewichten der gemittelten Intensitätswerte <Fxyi> mit den beiden verschobenen Korrelationsfunktionen und Darstellen der gewichteten gemittelten Intensitätswerte als zwei aus den Pixeln (x, y) aufgebaute Ergebnisbilder, S0° und S–90°
Description
- Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum zerstörungsfreien Prüfen von Bauteilen mittels Lock-In-Bilderzeugung.
- Nach dem Stand der Technik ist das zerstörungsfreie Prüfen mittels Lock-In-Bilderzeugung bekannt. Dabei wird ein Bauteil periodisch mittels Energieimpulsen angeregt. Eine Kamera wird mit der Periode der Anregung synchronisiert. Die Kamera erzeugt dadurch eine vorgegebene Anzahl n von Bildern Fij des Bauteils pro Periode j. Für jede Periode j werden die Bilder Fij mit einer Korrelationsfunktion Ki multipliziert und die dabei erhaltenen Produkte aufsummiert. Man spricht dabei auch von einer Gewichtung der einzelnen Bilder. Die Summe der Werte der Korrelationsfunktion über eine komplette Periode hinweg muss dazu gleich Null sein. Die Gewichtung dient der Korrektur eines Offset-Werts, das heißt der Beseitigung eines konstanten Grundpegels. Der formelmäßige Zusammenhang lautet:
- Bei einer Zweiphasen-Lock-In-Messung, werden unabhängig voneinander zwei Gewichtungen mit zwei Korrelationsfunktionen, K
0° / i –90° / i 0° / j –90° / j - Diese Mittelung führt zu einer Verminderung des Rauschens.
- In einem weiteren Schritt kann nach dem Stand der Technik aus den Ergebnisbildern, S0° und S–90°, ein Amplitudenbild, Samp, und ein Phasenbild, Sph, berechnet werden.
- Eine derartige Lock-In-Bilderzeugung wird beispielsweise bei der Lock-In-Thermographie durchgeführt, welche aus "Lock-in Thermography, Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials" von O. Breitenstein, W. Warta und M. Langenkamp (Springer-Verlag Berlin Heidelberg, 2. Auflage, 2010) bekannt ist.
- Die Ergebnisbilder, S0° und S–90°, bzw. das Amplitudenbild Samp und das Phasenbild Sph sind nicht besonders genau.
- Aufgabe der Erfindung ist es, die Nachteile nach dem Stand der Technik zu beseitigen. Insbesondere soll ein Verfahren angegeben werden, welches genauere Ergebnisbilder erzielt.
- Diese Aufgabe wird durch die Merkmale des Anspruchs 1 gelöst. Zweckmäßige Ausgestaltungen ergeben sich aus den Merkmalen der Ansprüche 2 bis 11.
- Nach Maßgabe der Erfindung ist ein Verfahren mit den folgenden Schritten vorgesehen:
- a) Anregen des Bauteils mit einem Energieimpuls während eines ersten Teils einer Periode, welche eine Periodendauer T aufweist,
- b) Bereitstellen einer Kamera mit einer aus Pixeln (x, y) gebildeten Detektormatrix,
- c) Messen einer vorgegebenen Anzahl n von Intensitätswerten Fxyij pro Periode j für jeden Pixel (x, y), wobei i ein von 1 bis n laufender Laufindex für die Abfolge der Messungen der Intensitätswerte Fxyij zum Pixel (x, y) innerhalb der Periode j ist, wobei i,j,n ∈ N sind, und wobei n ≥ 4 ist.
- d) Erzeugen von n gemittelten Intensitätswerten <Fxyi> für jeden Pixel (x, y) durch Mitteln über N Perioden gemäß der Formel
- e) Bestimmen jeweils eines Helligkeitswerts Hi für jeden Laufindex i durch Aufsummieren der zum Laufindex i erzeugten gemittelten Intensitätswerte <Fxyi> einer vorgegebenen Gruppe von Pixeln (x, y) der Detektormatrix,
- f) Ermitteln des Laufindex imin mit dem geringsten Helligkeitswert Hi,min,
- g) Verschieben des Laufindex i zweier Korrelationsfunktionen, K
0° / i –90° / i 0° / i,verschoben –90° / i,verschoben - h) Gewichten der gemittelten Intensitätswerte <Fxyi> mit der Korrelationsfunktion K
0° / i,verschoben –90° / i,verschoben 0° / xy –90° / xy - i) Darstellen der gewichteten gemittelten Intensitätswerte, S
0° / xy –90° / xy - Der Erfindung liegt die Erkenntnis zu Grunde, dass die beiden korrelierten Lock-In-Bilder, S
0° / j –90° / j - Eine Verminderung des Rauschens erfolgt beim erfindungsgemäßen Verfahren bereits durch das Mitteln über verschiedene Perioden im Schritt d). Ein konstanter Grundpegel (Offset) wird durch die Gewichtung im Schritt h) beseitigt.
- Nach einer vorteilhaften Ausgestaltung wird zusätzlich zur Anzahl n eine Zeitkonstante τ, die zwischen dem Messen des Intensitätswerts Fxyij und dem Messen des Intensitätswerts Fxy(i+1)i verstreicht, als konstanter Wert vorgegeben. Die Periodendauer T ergibt sich dann aus dem Zusammenhang T = nτ.
- Alternativ kann auch die Periodendauer T fest vorgegeben werden. Moderne Kameras erlauben es, die Zeit τ auf die Vorgabe einer bestimmten Anzahl n an Messungen pro Periode und einer bestimmten Periodendauer T hin gemäß T = nτ anzupassen.
- Das erfindungsgemäße Verfahren kann selbstverständlich anstatt der gewählten Formulierung auch unter der Verwendung anderer Größen formuliert werden. Der Laufindex i ist äquivalent zu einer Phase φ bzw. zu einer Zeit t. Es giltbzw.wobei n die Kreiszahl ist. Daher kann das erfindungsgemäße Verfahren auf die Phase φ bzw. die Zeit t anstatt auf den Laufindex i bezogen werden. Weiterhin können eine Verzögerung γ und/oder ein Zeitversatz Δt einbezogen werden, welche sich als γ = imin – 1 bzw. Δt = γ·τ berechnen lassen.
- Das Verschieben des Laufindex i der Korrelationsfunktionen führt zu einem Verschieben der Phase der Korrelationsfunktionen. Die Korrelationsfunktionen werden derart verschoben, dass deren Startwert (i = 1 bzw. φ = 0 bzw. t = 0) mit dem gemittelten Bild des geringsten Helligkeitswerts korreliert wird. Die Gesamtheit der gemittelten Intensitätswerte <Fxyi> aller Pixel (x, y) zu einem bestimmten Laufindex i wird dabei als gemitteltes Bild bezeichnet. Das Minimum der phasengleichen Korrelationsfunktion K
0° / i - Bei der Lock-In-Bilderzeugung kann es sich um Lock-In-Thermographie handeln. Dabei kann als Kamera eine Infrarotkamera eingesetzt werden. Bei der Lock-In-Thermographie kann die durch das Bauteil emittierte Infrarotstrahlung bildhaft dargestellt werden. Auf eine Anregung durch einen Energieimpuls hin erwärmt sich das Bauteil in verschiedenen Bereichen unterschiedlich schnell bzw. unterschiedlich stark. Entsprechend emittiert das Bauteil von diesen verschiedenen Bereichen unterschiedlich starke Infrarotstrahlung. Eine übermäßige Erwärmung in einem Bereich ist ein Hinweis auf das Vorhandensein eines Materialdefekts. Somit können durch das Auswerten bzw. Betrachten von Thermographiebildern Rückschlüsse auf die Qualität des Bauteils gezogen werden.
- Der Energieimpuls kann ein Stromimpuls, Lichtimpuls oder Temperaturimpuls sein. Lock-In-Thermographie, bei der ein Stromimpuls als Anregung verwendet wird, nennt man Dark-Lock-In-Thermographie (DLIT). Entsprechend nennt man Lock-In-Thermographie, bei der ein Lichtimpuls als Anregung verwendet wird, Illuminated-Lock-In-Thermographie (ILIT). Bei diesen Varianten führt der Stromimpuls bzw. Lichtimpuls zu einer Erwärmung des Bauteils, welche besonders stark an Materialdefekten zu beobachten ist. Bei der Anregung durch einen Temperaturimpuls können durch die Ausbreitung des Temperaturimpulses Rückschlüsse auf die Beschaffenheit des Bauteils gezogen werden.
- Vorzugsweise werden pro Periode j für jeden Pixel (x, y) zumindest 360 Intensitätswerte Fxyij gemessen. Das heißt, vorzugsweise ist n ≥ 360. Dadurch wird eine gute zeitliche Auflösung des Anregungsverhaltens des Bauteils erreicht. Nach einer besonders bevorzugten Ausgestaltung werden zumindest 3600 Intensitätswerte Fxyij pro Periode j für jeden Pixel (x, y) gemessen.
- Für jeden Pixel (x, y) und jeden Laufindex i kann ein gemittelter Intensitätswert <Fxyi> gespeichert werden. Im Gegensatz zum Stand der Technik werden die n einzelnen Intensitätswerte einer ersten Periode j1 für jeden Pixel (x, y) nicht aufsummiert. Stattdessen können die n einzelnen Intensitätswerte der ersten Periode j1 für jeden Pixel (x, y) unabhängig voneinander gespeichert werden. Die jeweils im Laufindex i übereinstimmenden Intensitätswerte Fxyij, der weiteren Perioden j' können jeweils zum Inhalt des diesem Laufindex i zugeordneten Speichers addiert werden. Anstelle des gemittelten Intensitätswerts <Fxyi> kann also auch direkt die Summe über alle gemessenen Perioden (Σ
N / j=1 N / j=1 -
- Weiterhin kann der Laufindex imax mit dem höchsten Helligkeitswert ermittelt werden. Aus den gemittelten Intensitätswerten des Laufindex imax mit dem höchsten Helligkeitswert und den gemittelten Intensitätswerten des Laufindex imin mit dem geringsten Helligkeitswert kann eine absolute Temperaturdifferenz berechnet werden.
- Die weitere Vorgehensweise kann gemäß dem Stand der Technik erfolgen. Insbesondere können ein Amplitudenbild SAmp und ein Phasenbild SPh aus den zwei Ergebnisbildern, S0° und S90°, berechnet werden. Durch die genaueren Ergebnisbilder kommt es bei der Anwendung des erfindungsgemäßen Verfahrens zu zuverlässigeren Ergebnissen.
- Nachfolgend werden Ausgestaltungen der Erfindung anhand der Zeichnungen näher erläutert. Es zeigen:
-
1 Auftragung der Anregungsleistung P(t) und der zeitabhängigen Korrelationsfunktion K0°(t) innerhalb einer Periode nach dem Stand der Technik, -
2 Auftragung des Helligkeitswerts Hi gegen die Zeit t innerhalb einer Periode, -
3 Auftragung der Anregungsleistung P(t) und der verschobenen zeitabhängigen Korrelationsfunktion K0° / verschoben -
4 Flussdiagramm zu einem das erfindungsgemäße Verfahren verwirklichenden Programm. -
1 zeigt eine Auftragung der Anregungsleistung P(t) und der zeitabhängigen Korrelationsfunktion K0°(t) innerhalb einer Periode nach dem Stand der Technik. Die Anregung erfolgt durch einen Energieimpuls der konstanten Leistung P0 während der ersten Hälfte der Periode. In der zweiten Hälfte der Periode erfolgt keine Anregung. -
- Nach dem Stand der Technik werden die Bilder Fij der Periode j mit der Korrelationsfunktion K
0° / i 1 ist die zeitabhängige Korrelationsfunktiondargestellt. Die Korrelationsfunktion K0° / i - Korrelationsfunktion K0°(t) für die Zeitmultipliziert. In
1 sind 18 Werte der Korrelationsfunktion (K0° / i - Nach dem Stand der Technik erfolgt analog eine Gewichtung mit einer (nicht dargestellten) zweiten Korrelationsfunktion K
–90° / i - Erfindungsgemäß werden zuerst die Bilder Fij für jeden Laufindex i jeweils pixelweise über alle Perioden gemittelt. Die dabei erhaltenen gemittelten Bilder Fi weisen ein stark vermindertes Rauschen auf. Dadurch ist es möglich, aus jedem gemittelten Bild Fi einen Helligkeitswert Hi zu bestimmen und zuverlässig das gemittelte Bild Fi,min mit dem geringsten Helligkeitswert Hi,min auszuwählen.
-
2 zeigt die einzelnen aus den gemittelten Bildern Fi ermittelten Helligkeitswerte Hi, welche gemäß ihres Laufindex i gegen die Zeit auftragen sind. Zusätzlich zeigt2 eine glatte Funktion R(t), welche die Antwort des zu prüfenden Bauteils auf die Anregung durch den Energieimpuls der Leistung P0 (siehe3 ) veranschaulicht. Bei der Lock-In-Thermographie ist die Funktion R(t) z. B. ein Maß für die detektierbare Infrarotstrahlung, welche das Bauteil, z. B. ein photovoltaisches Modul, emittiert. Zwischen der Anregung und der Emission von Infrarotstrahlung kann es wegen der vergleichsweise langsamen Wärmeleitung zu einer zeitlichen Verzögerung kommen. Entsprechend weist beispielshaft gemäß2 die Funktion R(t) eine Phasenverschiebung von etwa 3τ gegenüber der Anregungsleistung P(t) auf. Die Funktion R(t) wird im hier gezeigten Fall (n = 18) nicht als Messergebnis erhalten. Bei einer hinreichend großen Anzahl n nähert sich die Auftragung der Helligkeitswerte Hi aber idealerweise dieser Funktion an. - Gemäß dem in
2 gezeigten Beispiel wird der geringste Helligkeitswert Hi,min für i = 4 bzw. t = 3τ bestimmt. -
3 zeigt eine Auftragung der Anregungsleistung P(t) und der verschobenen zeitabhängigen Korrelationsfunktion K0° / verschoben 1 erläutert. - Nach dem erfindungsgemäßen Verfahren wird die zeitabhängige Korrelationsfunktion K0°(t) im Beispiel nach
3 um 3τ nach rechts verschoben. Es ergibt sich die verschobene zeitabhängige KorrelationsfunktionDie gemittelten Bilder Fi werden dann mit der verschobenen Korrelationsfunktion K0° / i,verschoben 0° / i,verschoben 0° / verschoben - Gemittelte Bilder Fi, deren Laufindex i in einem Abschnitt zwischen imin undliegt, werden mit einem positiven Wert der verschobenen Korrelationsfunktion K
0° / i,verschoben 2 als Funktion R(t) veranschaulicht. Die verschobene zeitabhängige Korrelationsfunktion K0° / verschoben - Weiterhin erfolgt nach dem erfindungsgemäßen Verfahren analog eine Gewichtung mit einer (nicht dargestellten) zweiten verschobenen zeitabhängigen Korrelationsfunktion, K
–90° / verschoben –90° / verschoben - Die beim erfindungsgemäßen Verfahren erhaltenen Ergebnisbilder, S0° und S–90°, sind wegen der erläuterten Phasenkorrektur genauer. Entsprechend sind auch das aus S0° und S–90° berechnete Amplitudenbild SAmp und Phasenbild Sph genauer. Es kann eine zuverlässigere und genauere Auswertung durchgeführt werden.
- Das erfindungsgemäße Verfahren kann zur Qualitätssicherung von Dünnschichtsolarzellen eingesetzt werden. Die Solarzelle wird dabei entweder durch Strompulse, welche an die Anschlüsse der Solarzelle angelegt werden, oder durch ein gepulstes Bestrahlen mit sichtbarem Licht angeregt. Mittels einer Infrarotkamera werden Bilder von der Oberfläche der Solarzelle aufgenommen. Anhand der von der Oberfläche der Solarzelle emittierten Wärmestrahlung kann festgestellt werden, wo Verluste auftreten. Auftretende Verluste sind ein Hinweis auf Defekte.
- Das erfindungsgemäße Verfahren kann durch ein auf einem Computer ausgeführtes Programm verwirklicht werden. Das Programm wird in
4 durch ein Flussdiagramm veranschaulicht. Das Programm kann Vorgaben von einem Benutzer, von der Kamera oder aus einem Speicher beziehen. Unter den Vorgaben können sich eine Bildgröße der aus Pixeln (x, y) aufgebauten Bilder, die Anzahl n der pro Periode aufzunehmenden Bilder Fij, die Gesamtperiodenzahl N und die Zeitkonstante τ bzw. die Periodendauer T befinden. Das Programm veranlasst im Schritt S1 das periodische Ein- und Ausschalten eines Energieimpulses der Leistung P0. Das Einschalten wird in jeder Periode j zur Zeit t = T(j – 1) und das Abschalten zur Zeitvorgenommen, wobei j von 1 bis N läuft. Zeitlich korreliert mit der Periode des Energiepulses erfolgt das Aufnehmen von Bildern F1 mit der Kamera (S2). Die Bilder F1 werden zu den Zeiten t = τ(i – 1) + T(j – 1) aufgenommen, wobei i von 1 bis n und j von 1 bis N läuft. Alle jeweils zu demselben Laufindex i aufgenommenen Bilder F1 werden pixelweise aufsummiert (ΣN / j=1 - Die Summe Σ
N / j=1 - Durch Teilen der Summe durch die Gesamtperiodenzahl N wird für jeden Laufindex i ein pixelweise gemitteltes Bild (F1) erzeugt (S4). Beim Schritt S5 wird für jedes gemittelte Bild (Fi) ein Helligkeitswert Hi bestimmt. Der Helligkeitswert Hi kann die Summe der Intensitätswerte aus einer vorgegebenen Gruppe von Pixeln (x, y) sein. Beim Schritt S6 wird der Laufindex imin mit dem geringsten Helligkeitswert Hi,min ermittelt. Beim Schritt S7 werden die Korrelationsfunktionen K
0° / i –90° / i 0° / i,verschoben –90° / i,verschoben 0° / i,verschoben - K
–90° / i,verschoben - ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
- Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
- Zitierte Nicht-Patentliteratur
-
- ”Lock-in Thermography, Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials” von O. Breitenstein, W. Warta und M. Langenkamp (Springer-Verlag Berlin Heidelberg, 2. Auflage, 2010) [0006]
Claims (11)
- Verfahren zum zerstörungsfreien Prüfen von Bauteilen mittels Lock-In-Bilderzeugung mit folgenden Schritten: a) Anregen des Bauteils mit einem Energieimpuls während eines ersten Teils einer Periode, welche eine Periodendauer T aufweist, b) Bereitstellen einer Kamera mit einer aus Pixeln (x, y) gebildeten Detektormatrix, c) Messen einer vorgegebenen Anzahl n von Intensitätswerten Fxyij pro Periode j für jeden Pixel (x, y), wobei i ein von 1 bis n laufender Laufindex für die Abfolge der Messungen der Intensitätswerte Fxyij zum Pixel (x, y) innerhalb der Periode j ist, wobei i,j,n ∈ N sind, und wobei n ≥ 4 ist. d) Erzeugen von n gemittelten Intensitätswerten <Fxyi> für jeden Pixel (x, y) durch Mitteln über N Perioden gemäß der Formele) Bestimmen jeweils eines Helligkeitswerts Hi für jeden Laufindex i durch Aufsummieren der zum Laufindex i erzeugten gemittelten Intensitätswerte <Fxyi> einer vorgegebenen Gruppe von Pixeln (x, y) der Detektormatrix, f) Ermitteln des Laufindex imin mit dem geringsten Helligkeitswert Hi,min, g) Verschieben des Laufindex i zweier Korrelationsfunktionen, K
0° / i –90° / i 0° / i,verschoben –90° / i,verschoben 0° / i,verschoben –90° / i,verschoben 0° / xy –90° / xy 0° / xy –90° / xy - Verfahren nach Anspruch 1, wobei zusätzlich zur Anzahl n eine Zeit τ, die zwischen dem Messen des Intensitätswerts Fxyij und dem Messen des Intensitätswerts Fxy(i+1)j verstreicht, als konstanter Wert vorgegeben wird.
- Verfahren nach Anspruch 1, wobei zusätzlich zur Anzahl n die Periodendauer T fest vorgegeben wird.
- Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei es sich bei der Lock-In-Bilderzeugung um Lock-In-Thermographie handelt.
- Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei der Energieimpuls ein Stromimpuls, Lichtimpuls oder Temperaturimpuls ist.
- Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei zumindest 180 Intensitätswerte Fxyij pro Periode j für jeden Pixel (x, y) gemessen werden.
- Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei für jeden Pixel (x, y) und jeden Laufindex i ein gemittelter Intensitätswert <Fxyi> gespeichert wird.
- Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei der Laufindex imax mit dem höchsten Helligkeitswert ermittelt wird.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE201210214205 DE102012214205B4 (de) | 2012-06-18 | 2012-08-09 | Verfahren zum zerstörungsfreien Prüfen von Bauteilen mittels Lock-In-Bilderzeugung |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102012210231.0 | 2012-06-18 | ||
DE102012210231 | 2012-06-18 | ||
DE201210214205 DE102012214205B4 (de) | 2012-06-18 | 2012-08-09 | Verfahren zum zerstörungsfreien Prüfen von Bauteilen mittels Lock-In-Bilderzeugung |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE102012214205A1 true DE102012214205A1 (de) | 2013-12-19 |
DE102012214205B4 DE102012214205B4 (de) | 2014-05-08 |
Family
ID=49668063
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE201210214205 Expired - Fee Related DE102012214205B4 (de) | 2012-06-18 | 2012-08-09 | Verfahren zum zerstörungsfreien Prüfen von Bauteilen mittels Lock-In-Bilderzeugung |
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R012 | Request for examination validly filed | ||
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R018 | Grant decision by examination section/examining division | ||
R020 | Patent grant now final | ||
R020 | Patent grant now final |
Effective date: 20150210 |
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