DE102006062666A1 - Halbleiterspeicherbauelement und Zugriffs- und Auffrischungsverfahren - Google Patents

Halbleiterspeicherbauelement und Zugriffs- und Auffrischungsverfahren Download PDF

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Abstract

Die Erfindung bezieht sich auf ein Halbleiterspeicherbauelement, das verschiedene Auffrischungsbetriebsmodi aufweist, und auf korrespondierende Verfahren zum Zuweisen eines Zugriffsrechts für einen geteilt genutzen Speicherbereich und zum Auffrischen von verschiedenen Speicherbereichen. Ein erfindungsgemäßes Halbleiterspeicherbauelement umfasst eine Mehrzahl von Eingabe-/Ausgabeports (100a, 100b) zum Eingeben von Befehlssignalen für einen ersten oder zweiten Modusauffrischungsvorgang, ein Speicherfeld (190), das einen geteilt genutzten Speicherbereich aufweist, auf den über wenigstens zwei der Mehrzahl von Eingabe-/Ausgabeports zugreifbar ist, wobei das Speicherfeld in eine Mehrzahl von verschiedenen Speicherbereichen aufgeteilt ist, und einen Erteilungssteuerblock (300) zum Zuweisen eines Zugriffsrechts, um in Reaktion auf ein externes Befehlssignal auf den geteilt genutzten Speicherbereich zuzugreifen, wobei der Erteilungssteuerblock Erteilungssteuersignale erzeugt, um das Zugriffsrecht für den Zugriff auf den geteilt genutzten Speicherbereich mit Vorrang dem Eingabe-/Ausgabeport zur Eingabe der Befehlssignale für den ersten Modusauffrischungsvorgang zuzuweisen. Verwendung z. B. in der DRAM-Technologie.

Description

  • Die Erfindung bezieht sich auf ein Halbleiterspeicherbauelement, das verschiedene Auffrischungsbetriebsmodi aufweist, und auf korrespondierende Verfahren zum Zuteilen eines Zugriffsrechts, um auf einen geteilt genutzten Speicherbereich zuzugreifen, und zum Auffrischen von verschiedenen Speicherbereichen.
  • Wie allgemein bekannt ist, kann eine Speicherzelle in einem dynamischen Speicher mit direktem Zugriff (DRAM) einen Auswahltransistor und einen Datenspeicherkondensator aufweisen. Der DRAM ist als Halbleiterspeicherbauelement zur Erhöhung der Integrationsdichte in einem Halbleitersubstrat weit verbreitet. Der DRAM erfordert eine periodische Auffrischung, um Ladungen in DRAM-Zellen nachzuladen, da Ladungen über den Speicherkondensator und den Auswahltransistor entweichen. Entsprechend erfordert ein Halbleiterspeicherbauelement, wie ein DRAM, Schaltungen, die eine Auffrischungssteuerschaltung zum Steuern von allen Vorgängen umfassen, die von der Auffrischung betroffen sind.
  • Es gibt bekannte Verfahren, die zum Auffrischen von Speicherzellen in einem Halbleiterspeicherbauelement, wie einem DRAM, weit verbreitet sind. Zuerst werden in einem Nur-RAS-Auffrischungs(„ROR")-Verfahren Zellen nur durch Freigabe eines Zeilenadressenabtast(RAS)-Signals aufgefrischt, während ein Spaltenadressenabtast(CAS)-Signal auf einem Vorladepegel gehalten wird. Für den Auffrischungsvorgang müssen einem Speicherbauelement externe Auffrischungsadressen zur Verfügung gestellt werden, und Adressenbusse, die mit dem Speicherbauelement verbunden sind, dürfen während des Auffrischungsvorgangs nicht für andere Zwecke verwendet werden.
  • Es gibt ein automatisches Auffrischungsverfahren als ein anderes Auffrischungsverfahren. Das automatische Auffrischungsverfahren wird auch als CAS-vor-RAS(„CBR")-Auffrischungsverfahren bezeichnet. Während eines normalen Modus, wenn auf Speicherzellen zugegriffen wird, wird ein externes RAS-Signal mit Vorrang vor einem externen CAS-Signal freigegeben. Andererseits wird während des automatischen Auffrischungsverfahrens ein CAS-Signal mit Vorrang vor einem RAS-Signal freigegeben, um einen Auffrischungsmodus zu erkennen. Das bedeutet, dass das CAS-Signal zuerst einen niedrigen Pegel annimmt, bevor das RAS-Signal einen niedrigen Pegel annimmt, so dass der Auffrischungsvorgang ausgeführt wird. Bei diesem Verfahren werden Auffrischungsadressen durch einen Auffrischungsadressenzähler im DRAM intern erzeugt und der Auffrischungsadressenzähler kann nicht extern gesteuert werden.
  • Gegenwärtig stellt ein DRAM einen Selbstauffrischungsmodus zur Verfügung, um eine Strommenge zu reduzieren, die während des Auffrischungsvorgangs verbraucht wird. Eine Startperiode ist in diesem Modus gleich wie diejenige im automatischen Auffrischungsverfahren. Insbesondere kann, wenn die CAS- und RAS-Signale während einer vorbestimmten Zeitspanne (z. B. 100 μs) beide in einem aktiven Zustand gehalten werden (z. B. auf einem niedrigen Pegel), ein Selbstauffrischungsvorgang ausgeführt werden, in dem in allen Speicherzellen gespeicherte Daten während einer vorgegebenen Auffrischungsperiode unter Verwendung eines Auffrischungszeitgebers gelesen und verstärkt werden und dann in die Speicherzellen zurückgespeichert werden. Während dieses Vorgangs werden normale Vorgänge (z. B. Lese- und Schreibvorgänge) unterbrochen. Bei dem Selbstauffrischungsverfahren führen der Auffrischungszeitgeber und ein Auffrischungsadressenzähler im DRAM unter Verwendung ihrer Taktsignale automatisch die erforderlichen Auffrischungsvorgänge aus, ohne externe Taktsignale zu verwenden. Solche Auffrischungstechniken sind in den Patentschriften US 4.809.233 , 4.939.695 , 4.943.960 und 5.315.557 offenbart.
  • Es existiert kein Problem, wenn das Halbleiterspeicherbauelement, das den Auffrischungsvorgang ausführt, einen Eingabe-/Ausgabeport umfasst, der eine Anzahl von Eingabe-/Ausgabeanschlusssätzen umfasst, um mit einem externen Prozessor zu kommunizieren. Das bedeutet, dass in einem solchen Einzelport-Speicherbauelement auf alle Speicherbänke, die ein Speicherfeld bilden, über einen Port zugegriffen wird. Ein Auffrischungsvorgang wird ebenfalls gemäß Befehlssignalen ausgeführt, die über den Port eingegeben werden.
  • Mit der jüngeren Entwicklung der Mobiltechnologie wurde ein Multiport-Halbleiterspeicherbauelement vorgestellt, das einen Dualport aufweist. In dem Multiport-Halbleiterspeicherbauelement wird eine Kommunikation über eine Mehrzahl von Prozessoren ausgeführt, und auf eine Mehrzahl von Speicherzellen kann gleichzeitig über eine Mehrzahl von Eingabe-/Ausgabeports zugegriffen werden. Im Multiport-Halbleiterspeicherbauelement ist der Auffrischungsmodus in einem geteilt genutzten Speicherbereich jedoch problematisch, auf den über die Mehrzahl von Eingabe-/Ausgabeports zugegriffen wird. Wenn beispielsweise der Selbstauffrischungsvorgang über einen Eingabe-/Ausgabeport ausgeführt wird, der ein Zugriffsrecht für den Zugriff auf den geteilt genutzten Speicherbereich aufweist, kann auf den geteilt genutzten Speicherbereich nicht über andere Eingabe-/Ausgabeports zugegriffen werden. Daher besteht ein Bedarf an einer effizienten Auffrischungs- und Zugriffsrechtszuweisung über jeden Eingabe-/Ausgabeport.
  • Als technisches Problem liegt der Erfindung die Bereitstellung eines Halbleiterspeicherbauelements sowie korrespondierender Zugriffsrechtszuweisungs- und Auffrischungsverfahren zugrunde, die in der Lage sind, die oben erwähnten Unzulänglichkeiten des Standes der Technik zu reduzieren oder zu vermeiden, und insbesondere eine effiziente Zugriffsrechtszuweisung und ein effizientes Auffrischen von verschiedenen Speicherbereichen und/oder eines geteilt genutzten Speicherbereichs ermöglichen.
  • Die Erfindung löst dieses Problem durch die Bereitstellung eines Halbleiterspeicherbauelements mit den Merkmalen des Patentanspruchs 1 oder 2, eines Zugriffsrechtszuweisungsverfahrens mit den Merkmalen des Patentanspruchs 11 und eines Verfahrens zum Auffrischen von Speicherbereichen mit den Merkmalen des Patentanspruchs 14. Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen angegeben.
  • Mit einer solchen Konfiguration des Halbleiterspeicherbauelements und der korrespondierenden Zugriffs- und Auffrischungsverfahren ist es möglich, die Effizienz eines normalen Betriebs und eines Auffrischungsbetriebs insbesondere im Hinblick auf einen geteilt genutzten Speicherbereich zu erhöhen.
  • Vorteilhafte Ausführungsformen der Erfindung sind in den Zeichnungen dargestellt und werden nachfolgend beschrieben. Es zeigen:
  • 1 ein schematisches Blockdiagramm eines Halbleiterspeicherbauelements,
  • 2 ein Blockdiagramm eines Befehlpfads für einen geteilt genutzten Speicherbereich aus 1,
  • 3 ein Blockdiagramm eines Zeilenadressenpfads aus 1,
  • 4 ein Blockdiagramm eines Erteilungssteuerblocks aus 1,
  • 5 ein Schaltbild einer ersten Auswahleinheit aus 2,
  • 6 ein Schaltbild einer zweiten Auswahleinheit aus 3,
  • 7 ein Schaltbild einer Ausführungsform des Erteilungssteuerblocks aus 4 und
  • 8 bis 11 Zeitablaufdiagramme zur Darstellung eines Ausführungsbeispiels der Funktionsweise des Speicherbauelements gemäß 1.
  • Wie aus 1 ersichtlich ist, ist ein Halbleiterspeicherbauelement gemäß einem Ausführungsbeispiel der Erfindung ein Dualport-Halbleiterspeicherbauelement, das ein Beispiel eines Multiport-Halbleiterspeicherbauelements ist. Das Bauelement umfasst ein Speicherfeld 190, eine erste Portsteuereinheit 100a zum Steuern von Signalen, die über einen ersten Eingabe-/Ausgabeport eingegeben/ausgegeben werden, eine zweite Portsteuereinheit 100b zum Steuern von Signalen, die über einen zweiten Eingabe-/Ausgabeport eingegeben/ausgegeben werden, der sich vom ersten Eingabe-/Ausgabeport unterscheidet, und einen Erteilungssteuerblock (GCB) 300.
  • Das Speicherfeld 190 ist in eine Mehrzahl von verschiedenen Speicherbereichen aufgeteilt. Es wird angenommen, dass das Speicherfeld, wie in einem typischen Halbleiterspeicherbauelement, in vier Speicherbänke 190a, 190b, 190c und 190d aufgeteilt ist. Zudem können die vier Speicherbänke 190a, 190b, 190c und 190d in erste, zweite und dritte Speicherbereiche klassifiziert werden. Zudem wird vorausgesetzt, dass ein Zugriffspfad PA1 so gesetzt ist, dass auf den ersten Speicherbereich, die Bank A 190a, nur über den ersten Eingabe-/Ausgabeport zugegriffen werden kann, Zugriffspfade PA3 und PA4 sind so gesetzt, dass auf den zweiten Speicherbereich, die Bank C 190c und die Bank D 190d, nur über den zweiten Eingabe-/Ausgabeport zugegriffen werden kann, und Zugriffspfade PA2 und PA5 sind so gesetzt, dass auf den dritten Speicherbereich, die Bank B 190b, über den ersten Eingabe-/Ausgabeport und den zweiten Eingabe-/Ausgabeport zugegriffen werden kann. Die Zugriffspfade PA2 und PA5 auf den dritten Speicherbereich, die Bank B 190b, werden vom Erteilungssteuerblock 300 gesteuert. Im Speicherfeld 190 kann der Fachmann leicht andere Zugriffspfade aufbauen. Durch die Erfindung wird ein Halbleiterspeicherbauelement umfasst, in dem wenigstens einige der Speicherbereiche im Speicherfeld als geteilt genutzte Speicherbereiche festgelegt sind.
  • Die erste Portsteuereinheit 100a umfasst einen ersten Eingabe-/Ausgabeport und Steuerschaltungen zum Steuern eines Befehlssignals, eines Adressensignals, eines Datensignals und dgl., die über den ersten Eingabe-/Ausgabeport eingegeben/ausgegeben werden. Die zweite Portsteuereinheit 100b umfasst einen zweiten Eingabe-/Ausgabeport und Steuerschaltungen zum Steuern eines Befehlssignals, eines Adressensignals, eines Datensignals und dgl., die über den zweiten Eingabe-/Ausgabeport eingegeben/ausgegeben werden.
  • Der Erteilungssteuerblock 300 weist in Reaktion auf ein externes Befehlssignal ein Zugriffsrecht (oder eine Zugriffserteilung) auf den geteilt genutzten Speicherbereich auf. Der Erteilungssteuerblock 300 erzeugt Erteilungssteuersignale, um vorzugsweise ein Zugriffsrecht (eine Zugriffserteilung) für den Zugriff auf den geteilt genutzten Speicherbereich einem Eingabe-/Ausgabeport zuzuordnen, über den Befehlssignale für einen ersten Modusauffrischungsvorgang eingegeben werden. Der Erteilungssteuerblock 300 weist das Zugriffsrecht durch Steuern der Zugriffspfade PA2 und PA5 des geteilt genutzten Speicherbereichs, der Bank B 190b, entsprechend den Erteilungssteuersignalen dem ersten Eingabe-/Ausgabeport oder dem zweiten Eingabe-/Ausgabeport zu. Die Zugriffspfade PA2 und PA5 umfassen einen Befehlssignalpfad, einen Datenpfad und einen Adressenpfad zwischen den Eingabe-/Ausgabeports und dem geteilt genutzten Speicherbereich.
  • Wenn der Auffrischungsvorgang in einem zweiten Modus über den Eingabe-/Ausgabeport ausgeführt wird, der das Zugriffsrecht hat, erzeugt der Erteilungssteuerblock 300 ein Erteilungssteuersignal, um ein Zugriffsrecht für den Zugriff auf den geteilt genutzten Speicherbereich einem anderen Eingabe-/Ausgabeport zuzuordnen, mit dem der Auffrischungsvorgang mit Vorrang vor dem externen Befehlssignal im ersten Modus ausgeführt wird.
  • Hierbei kann der erste Modus ein automatischer Auffrischungsmodus sein und der zweite Modus kann ein Selbstauffrischungsmodus sein.
  • 2 zeigt einen Befehlspfad für Befehlssignale, welche die Zugriffspfade PA2 und PA5 für die geteilt genutzte Speicherbank in 1 bilden. Wie in 2 dargestellt ist, wird ein erstes Befehlssignal CMD_1, das über einen ersten Eingabe-/Ausgabeport eingegeben wird, in einem ersten Eingabepuffer 110a gepuffert und zu einer ersten Auswahleinheit 130 übertragen. Zudem wird ein zweites Befehlssignal CMD_2, das über einen zweiten Eingabe-/Ausgabeport eingegeben wird, in einem zweiten Eingabepuffer 120a gepuffert und zur ersten Auswahleinheit 130 über tragen. Die erste Auswahleinheit 130 wählt in Reaktion auf das Erteilungssteuersignal, das durch den Erteilungssteuerblock 300 erzeugt wird, entweder das erste Befehlssignal CMD_1 oder das zweite Befehlssignal CMD_2 aus und überträgt das ausgewählte Befehlssignal an einen Befehlsinterpretierer 140 für die geteilt genutzte Bank, die Bank B. Auf diese Weise bestimmt die erste Auswahleinheit 130, ob und von welchem Eingabe-/Ausgabeport ein Befehlssignal für den Betrieb der geteilt genutzten Speicherbank verwendet wird.
  • Der Befehlsinterpretierer 140 für die Bank B analysiert empfangene Befehlssignale. Das bedeutet, dass der Befehlsinterpretierer 140 bestimmt, ob das empfangene Befehlssignal ein Aktivsignal ACTIVE, ein Vorladesignal PRECHARGE oder ein Auffrischungssignal REFRESH ist, und es überträgt. Anschließend werden Funktionen gemäß den Befehlssignalen ausgeführt. Die Vorgänge gemäß den Befehlssignalen sind die gleichen wie in herkömmlichen DRAM-Schaltkreisen.
  • 3 ist ein schematisches Blockdiagramm, das einen Zeilenadressenpfad und einen Auffrischungspfad für jede Speicherbank aus 1 zeigt. Wie aus 3 ersichtlich ist, umfassen ein Zeilenadressenpfad und ein Auffrischungspfad in einem Halbleiterspeicherbauelement gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung einen ersten und einen zweiten Eingabepuffer 110b und 120b, einen ersten und einen zweiten Zeilenadressenvordecoder 150a und 150b, einen ersten, zweiten und dritten Auffrischungszähler 160a, 160b und 160c, eine zweite Auswahleinheit 170, A-Bank- bis D-Bank-Zeilendecoder 180a, 180b, 180c und 180d und A- bis D-Speicherbänke 190a, 190b, 190c und 190d.
  • Der erste Eingabepuffer 110b puffert eine Zeilenadresse, die über den ersten Eingabe-/Ausgabeport eingegeben wird und überträgt die Zeilenadresse an den ersten Zeilenadressenvordecoder 150a. Die Zeilenadresse, die in den ersten Eingabepuffer 110b eingegeben wird, kann eine Zeilenadresse für die Bank A oder eine Zeilenadresse für die Bank B sein, die eine geteilt genutzte Bank ist. Der erste Eingabepuffer 110b weist die gleiche Bezeichnung wie der erste Eingabepuffer 110a aus 2 auf. Der erste Eingabepuffer 110a aus 2 ist jedoch ein Befehlspuffer und der erste Eingabepuffer 110b ist ein Adresseneingabepuffer. Die ersten Eingabepuffer 110a und 110b können die gleiche Schaltkreisstruktur aufweisen und können aus einem Pufferschaltkreis aufgebaut sein.
  • Der zweite Eingabepuffer 120b puffert eine Zeilenadresse, die über den zweiten Eingabe-/Ausgabeport eingegeben wird, und überträgt die Zeilenadresse an den zweiten Zeilenadressenvordecoder 150b. Die Zeilenadresse, die in den zweiten Eingabepuffer 120b eingegeben wird, kann eine Zeilenadresse für die Bank C und die Bank D oder eine Zeilenadresse für die Bank B sein, die eine geteilt genutzte Bank ist. Der zweite Eingabepuffer 120b weist die gleiche Bezeichnung wie der zweite Eingabepuffer 120a aus 2 auf. Der zweite Eingabepuffer 120a aus 2 ist jedoch ein Befehlspuffer und der zweite Eingabepuffer 120b ist ein Adresseneingabepuffer. Die zweiten Eingabepuffer 120a und 120b können die gleiche Schaltkreisstruktur aufweisen und können aus einem Pufferschaltkreis aufgebaut sein. Die Pufferschaltkreise 110b und 120b können im Wesentlichen durch dem Fachmann allgemein bekannte Schaltungen implementiert werden.
  • Der erste Zeilenadressenvordecoder 150a decodiert die über den ersten Eingabepuffer 110b empfangene Zeilenadresse vor. Der erste Zeilenadressenvordecoder 150a ist ebenfalls aus einer dem Fachmann allgemein bekannten Schaltung aufgebaut. Der zweite Zeilenadressenvordecoder 150b decodiert die über den zweiten Eingabepuffer 120b empfangene Zeilenadresse vor. Der zweite Zeilenadressenvordecoder 150b ist ebenfalls aus einer dem Fachmann allgemein bekannten Schaltung aufgebaut.
  • Der A-Bank-Zeilendecoder 180a decodiert die Zeilenadresse für die Bank A, die über den ersten Zeilenadressenvordecoder 150a empfangen wird, und gibt eine Wortleitung frei, die mit einer gewünschten Speicherzelle in der Bank A 190a verbunden ist. Der B-Bank-Zeilendecoder 180b decodiert die Zeilenadresse für die Bank B, die über den ersten Zeilenadressenvordecoder 150a oder den zweiten Zeilenadressenvordecoder 150b empfangen wird, und gibt eine Wortleitung frei, die mit einer gewünschten Speicherzelle in der Bank B 190b verbunden ist. Der C-Bank-Zeilendecoder 180c oder der D-Bank-Zeilendecoder 180d decodiert die Zeilenadresse für die Bank C oder die Zeilenadresse für die Bank D, die über den zweiten Zeilenadressenvordecoder 150b empfangen wird, und gibt eine Wortleitung frei, die mit einer gewünschten Speicherzelle in der Bank C 190c oder der Bank D 190d verbunden ist.
  • Der erste Auffrischungszähler 160a ist zum Erzeugen einer Auffrischungsadresse der Bank A 190a und ist normalerweise aus einem asynchronen m-Bit-Zähler aufgebaut. Der zweite Auffrischungszähler 160b ist zum Erzeugen einer Auffrischungsadresse der Bank C 190c und der Bank D 190d und ist normalerweise aus einem asynchronen m-Bit-Zähler aufgebaut. Der dritte Auffrischungszähler 160c ist zum Erzeugen einer Auffrischungsadresse der Bank B 190b, welche die geteilt genutzte Speicherbank ist, und kann aus einem asynchronen m-Bit-Zähler aufgebaut sein. Das Bereitstellen des dritten Auffrischungszählers 160c als getrennter Auffrischungszähler, welcher Eingabe-/Ausgabeports der Bank 190b zugewiesen ist, anstelle der Auffrischungszähler (z. B. dem ersten und zweiten Auffrischungszähler 160a und 160b), um die Bank B 190b aufzufrischen, dient dazu, ein Überlappen oder Überspringen der Auffrischung einer speziellen Adresse zu verhindern. Es sei beispielsweise angenommen, dass der erste Eingabe-/Ausgabeport ein Zugriffsrecht (eine Zugriffserteilung) für den Zugriff auf die Bank B hat und alle Speicherbänke im automatischen Auffrischungsmodus sind. In diesem Fall führt, wenn der Selbstauffrischungsbefehl über den ersten Port eingegeben wird, die Bank A 190a die Ausführung der Selbstauffrischung fort. Entsprechend einer Ausführungsform der Erfindung wechselt jedoch das Zugriffsrecht (die Zugriffserteilung), und die Bank B 190b wird in einem automatischen Auffrischungsmodus über den zweiten Eingabe-/Ausgabeport aufgefrischt. Wenn ein Auffrischungsadressensignal über den zweiten Auffrischungszähler 160b eingegeben wird, wird die Bank B nicht richtig aufgefrischt, und eine Speicherzelle kann in einer überlappenden Weise aufgefrischt oder nicht aufgefrischt werden. Um dieses Problem zu vermeiden, ist der getrennte dritte Auffrischungszähler 160c erforderlich.
  • Die zweite Auswahleinheit 170 arbeitet in Reaktion auf die Erteilungssteuersignale, die vom Erteilungssteuerblock 300 aus 1 erzeugt werden. Die zweite Auswahleinheit 170 wählt die B-Bankadresse, die den ersten Zeilenadressenvordecoder 150a passiert, oder die B-Bankadresse aus, die den zweiten Zeilenadressenvordecoder 150b passiert, und überträgt die ausgewählte B-Bankadresse an den B-Bank-Zeilendecoder 180b. In anderen Worten ausgedrückt, die zweite Auswahleinheit 170 bestimmt, über welchen Eingabe-/Ausgabeport die Zeilenadresse empfangen wird, die an den B-Bank-Zeilendecoder 180b übertragen wird, und steuert den Adressenpfad. Wenn der Auffrischungsvorgang durchgeführt wird, wählt die zweite Auswahleinheit 170 die Auffrischungsadresse nicht vom ersten Auffrischungszähler 160a oder vom zweiten Auffrischungszähler 160b aus, sondern überträgt die Auffrischungsadresse vom dritten Auffrischungszähler 160c zum B-Bank-Zeilendecoder 180b.
  • Der Spaltenadressenpfad kann vom Fachmann unter Bezugnahme auf 2 leicht eingerichtet werden, so dass hier auf eine Beschreibung verzichtet wird. Der Spaltenadressenpfad kann leichter aufgebaut werden, da kein Auffrischungszähler erforderlich ist.
  • Während Beispiele der Auffrischungssteuerschaltungen die ersten Eingabepuffer 110a und 110b, die zweiten Eingabepuffer 120a und 120b und die Auffrischungszähler 160a, 160b und 160c umfassen, wie oben ausgeführt ist, können zusätzliche Auffrischungssteuerschaltungen zur Verfügung gestellt werden, wie ein Selbstauffrischungszeitgeber, der aus einem Zähler aufgebaut ist, der in Reaktion auf ein Selbstauffrischungsmodussignal ein Selbstauffrischungsperioden-Impulssignal erzeugt, das mit einer vorgegebenen Selbstauffrischungsperiode korrespondiert. Zudem können alle Schaltungen, die für eine Auffrischung erforderlich sind, einschließlich Schaltungen zum Erzeugen eines Auffrischungsfreigabesignals, in einem Auffrischungsmodus zur Verfügung gestellt werden, und weiter kann eine Steuerschaltung zum Steuern eines Eintritts in einen Selbstauffrischungsmodus zur Verfügung gestellt werden.
  • 4 zeigt eine vorteilhafte Realisierung des Erteilungssteuerblocks 300 aus 1. Wie aus 4 ersichtlich ist, arbeitet der Erteilungssteuerblock 300 in Reaktion auf Steuersignale MRSET_1P und MRSET_2P, die durch ein externes Befehlssignal erzeugt werden, um ein Zugriffsrecht (eine Zugriffserteilung) für die Bank B 190b zu ändern, und in Reaktion auf Signale PSELF_1P und PSELF_2P, die einen Selbstauffrischungsmodus anzeigen, der durch den ersten Eingabe-/Ausgabeport und den zweiten Eingabe-/Ausgabeport durchgeführt wird. Der Erteilungssteuerblock 300 erzeugt Erteilungssteuersignale GRANT_1 und GRANT_2, um ein Zugriffsrecht (eine Zugriffserteilung) für die Bank B 190b in Reaktion auf die Signale MRSET_1P, MRSET_2P, PSELF_1P und PSELF_2P zu steuern. Dies wird beschrieben, wenn die Schaltkreisstruktur aus 7 erklärt wird.
  • 5 ist ein Schaltbild einer vorteilhaften Realisierung der ersten Auswahleinheit 130 aus 2. Die erste Auswahleinheit 130 umfasst in die sem Beispiel Inverter IN2, IN4, IN6, IN8, IN10, IN12 und IN14, PMOS-Transistoren P1, P2, P3 und P4 und NMOS-Transistoren N1, N2, N3 und N4, wie in 5 dargestellt ist.
  • Wie aus 5 ersichtlich ist, wird die erste Auswahleinheit 130 durch die Erteilungssteuersignale GRANT_1 und GRANT_2 gesteuert, die vom Erteilungssteuerblock 300 aus 4 erzeugt werden. Wenn beispielsweise das erste Erteilungssteuersignal GRANT_1 für die Zuweisung einer Erteilung an den ersten Eingabe-/Ausgabeport auf einem „hohen" Pegel ist, und das zweite Erteilungssteuersignal GRANT_2 für die Zuweisung einer Erteilung an den zweiten Eingabe-/Ausgabeport auf einem „niedrigen" Pegel ist, wird der nachfolgende Vorgang ausgeführt. Das bedeutet, dass der PMOS-Transistor P1 und der NMOS-Transistor N2 leitend geschaltet sind, wenn das erste Erteilungssteuersignal GRANT_1 auf einem „hohen" Pegel ist. Entsprechend arbeitet ein Inverterschaltkreis, der den NMOS-Transistor N1 und den PMOS-Transistor P2 umfasst, und ein Befehlssignal CMD_1, das über den ersten Eingabe-/Ausgabeport eingegeben wird, wird als ein Befehlssignal CMD_S für den geteilt genutzten Speicherbereich ausgegeben. Da das zweite Erteilungssteuersignal GRANT_2 auf einem „niedrigen" Pegel ist, werden zudem der PMOS-Transistor P3 und der NMOS-Transistor N4 sperrend geschaltet, und ein Befehlssignal CMD_2, das über den zweiten Eingabe-/Ausgabeport eingegeben wird, wird gesperrt. Auf diese Weise wird eine Erteilung als ein Zugriffsrecht für den Zugriff auf die Bank B 190b als ein geteilt genutzter Speicherbereich dem ersten Eingabe-/Ausgabeport zugeordnet.
  • Wenn das zweite Erteilungssteuersignal GRANT_2 für die Zuweisung einer Erteilung an den zweiten Eingabe-/Ausgabeport auf einem „hohen" Pegel ist und das erste Erteilungssteuersignal GRANT_1 für die Zuweisung einer Erteilung an den ersten Eingabe-/Ausgabeport auf einem „niedrigen" Pegel ist, wird als nächstes der nachfolgende Vorgang aus geführt. Das bedeutet, dass der PMOS-Transistor P3 und der NMOS-Transistor N4 leitend geschaltet sind, wenn das zweite Erteilungssteuersignal GRANT_2 auf einem „hohen" Pegel ist. Entsprechend arbeitet ein Inverterschaltkreis, der den NMOS-Transistor N3 und den PMOS-Transistor P4 umfasst, und das Befehlssignal CMD_2, das über den zweiten Eingabe-/Ausgabeport eingegeben wird, wird als das Befehlssignal CMD_S für den geteilt genutzten Speicherbereich ausgegeben. Da das erste Erteilungssteuersignal GRANT_1 auf einem „niedrigen" Pegel ist, werden zudem der PMOS-Transistor P1 und der NMOS-Transistor N2 sperrend geschaltet, und das Befehlssignal CMD_1, das über den ersten Eingabe-/Ausgabeport eingegeben wird, wird gesperrt. Auf diese Weise wird eine Erteilung als ein Zugriffsrecht für den Zugriff auf die Bank B 190b als ein geteilt genutzter Speicherbereich dem zweiten Eingabe-/Ausgabeport zugeordnet.
  • Da die in 5 dargestellte erste Auswahleinheit 130 ein Ausführungsbeispiel ist, kann sie auch aus einem Schaltkreis aufgebaut sein, der in der Lage ist, die oben beschriebene Funktionsweise auszuführen.
  • 6 zeigt die Konfiguration einer vorteilhaften Realisierung der zweiten Auswahleinheit 170 aus 3. Die zweite Auswahleinheit 170 umfasst in diesem Ausführungsbeispiel NAND-Schaltkreise NA170 und NA172, Inverter IN170, IN172, IN174, IN176, IN177, IN178 und IN179, PMOS-Transistoren P170, P172, P174, P176, P178 und P179 und NMOS-Transistoren N170, N172, N174, N176, N178 und N179, wie in 6 dargestellt ist.
  • Wie aus 6 ersichtlich ist, wird die zweite Auswahleinheit durch die Erteilungssteuersignale GRANT_1 und GRANT_2 gesteuert, die vom Erteilungssteuerblock 300 aus 4 erzeugt werden. Ein Auffrischungsfreigabesignal PRFHB weist während eines Auffrischungsvorgangs ei nen „niedrigen" Pegel und während anderer Vorgänge einen „hohen" Pegel auf.
  • Die zweite Auswahleinheit 170 arbeitet wie folgt: Wenn das erste Erteilungssteuersignal GRANT_1 für die Zuweisung einer Erteilung an den ersten Eingabe-/Ausgabeport auf einem „hohen" Pegel ist und das zweite Erteilungssteuersignal GRANT_2 für die Zuweisung einer Erteilung an den zweiten Eingabe-/Ausgabeport auf einem „niedrigen" Pegel ist und wenn eine Auffrischung nicht freigegeben ist, ist das erste Erteilungssteuersignal GRANT_1 auf einem „hohen" Pegel, und das Auffrischungsfreigabesignal PRFHB ist auf einem „hohen" Pegel. Entsprechend ist die Ausgabe des NAND-Schaltkreises NA170 auf einem „niedrigen" Pegel, und der PMOS-Transistor P170 und der NMOS-Transistor N172 sind leitend geschaltet. Entsprechend arbeitet ein Inverterschaltkreis, der den NMOS-Transistor N170 und den PMOS-Transistor P172 umfasst, und ein Adressensignal Add_1, das über den ersten Eingabe-/Ausgabeport eingegeben wird, wird als ein Adressensignal für den geteilt genutzten Speicherbereich ausgegeben. Da das zweite Erteilungssteuersignal GRANT_2 auf einem „niedrigen" Pegel ist, sind zudem der PMOS-Transistor P174 und der NMOS-Transistor N176 sperrend geschaltet, und das Adressensignal Add_2, das über den zweiten Eingabe-/Ausgabeport eingegeben wird, ist gesperrt. Auf diese Weise wird eine Erteilung als ein Zugriffsrecht für den Zugriff auf die Bank B 190b als ein geteilt genutzter Speicherbereich dem ersten Eingabe-/Ausgabeport zugeordnet. Da das Auffrischungsfreigabesignal PRFHB auf einem „hohen" Pegel ist, sind zudem der PMOS-Transistor P178 und der NMOS-Transistor N179 sperrend geschaltet, und ein Auffrischungsadressensignal Add_S, das über den dritten Auffrischungszähler (160c aus 3) ausgegeben wird, wird gesperrt.
  • Wenn das zweite Erteilungssteuersignal GRANT_2 auf einem „hohen" Pegel ist und das erste Erteilungssteuersignal GRANT_1 auf einem „niedrigen” Pegel ist und das Auffrischungsfreigabesignal PRFHB auf einem „niedrigen" Pegel ist, arbeitet die zweite Auswahleinheit 170 als nächstes wie folgt. Das bedeutet, dass eine Ausgabe des NAND-Schaltkreises NA172 auf einem „niedrigen" Pegel ist, wenn das zweite Erteilungssteuersignal GRANT_2 auf einem „hohen" Pegel ist und das Auffrischungsfreigabesignal PRFHB auf einem „niedrigen" Pegel ist. Entsprechend sind der PMOS-Transistor P174 und der NMOS-Transistor N176 leitend geschaltet. Ein Inverterschaltkreis, der den NMOS-Transistor N174 und den PMOS-Transistor P176 umfasst, arbeitet, und das Adressensignal Add_2, das über den zweiten Eingabe-/Ausgabeport eingegeben wird, wird als ein Adressensignal für den geteilt genutzten Speicherbereich ausgegeben. Da das erste Erteilungssteuersignal GRANT_1 auf einem „niedrigen" Pegel ist, werden zudem der PMOS-Transistor P170 und der NMOS-Transistor N172 sperrend geschaltet, und das Adressensignal Add_1, das über den ersten Eingabe-/Ausgabeport eingegeben wird, wird gesperrt. Auf diese Weise wird eine Erteilung als ein Zugriffsrecht für den Zugriff auf die Bank B 190b als ein geteilt genutzter Speicherbereich dem zweiten Eingabe-/Ausgabeport zugeordnet. Da das Auffrischungsfreigabesignal PRFHB auf einem „hohen" Pegel ist, werden zudem der PMOS-Transistor P178 und der NMOS-Transistor N179 sperrend geschaltet, und ein Auffrischungsadressensignal Add_S, das über den dritten Auffrischungszähler (160c aus 3) ausgegeben wird, wird gesperrt.
  • Wenn das Auffrischungsfreigabesignal PRFHB auf einem „niedrigen" Pegel freigegeben ist, wird als nächstes nur das Auffrischungsadressensignal Add_S, das über den dritten Auffrischungszähler (160c aus 3) ausgegeben wird, unabhängig von den Erteilungssteuersignalen GRANT_1 und GRANT_2 unbedingt an den geteilt genutzten Speicherbereich ausgegeben, so dass eine Auffrischung ausgeführt wird.
  • Da die in 6 dargestellte zweite Auswahleinheit 170 ein Ausführungsbeispiel ist, kann sie aus irgendeinem Schaltkreis aufgebaut sein, der in der Lage ist, die oben beschriebene Funktionsweise auszuführen.
  • 7 zeigt ein Ausführungsbeispiel des Erteilungssteuerblocks 300 aus 4. Wie aus 7 ersichtlich ist, umfasst der Erteilungssteuerblock 300 in diesem Ausführungsbeispiel eine Befehlssteuereinheit 310 und eine Selbstauffrischungssteuereinheit 320. Die Befehlssteuereinheit 310 umfasst Inverter IN310, IN311, IN312, IN313, IN314, IN315, IN316, IN317, IN318 und IN319, PMOS-Transistoren P310 und P312 und NMOS-Transistoren N310 und N312, wie in 7 dargestellt ist.
  • Die Befehlssteuereinheit 310 wird durch Steuersignale MRSET_1P und MRSET_2P gesteuert, die von einem Erteilungswechselbefehlssignal erzeugt werden. Wenn das Erteilungswechselbefehlssignal beispielsweise an den ersten Eingabe-/Ausgabeport angelegt wird, wird das erste der Steuersignale MRSET_1P und MRSET_2P zu einem Autoimpulssignal. Das bedeutet, dass das erste Steuersignal MRSET_1P zu einem Autoimpulssignal wird, das auf einem „niedrigen" Pegel gehalten wird und dann während einer vorbestimmten Zeitspanne auf einem „hohen" Pegel gehalten wird. Wenn das Erteilungswechselbefehlssignal an den zweiten Eingabe-/Ausgabeport angelegt wird, wird das zweite der Steuersignale MRSET_1P und MRSET_2P zu einem Autoimpulssignal. Das bedeutet, dass das zweite Steuersignal MRSET_2P zu einem Autoimpulssignal wird, das auf einem „niedrigen" Pegel gehalten wird und dann während einer vorbestimmten Zeitspanne auf einem „hohen" Pegel gehalten wird und dann auf einen „niedrigen" Pegel zurückgesetzt wird.
  • Wenn das zweite Steuersignal MRSET_2P auf einem „niedrigen" Pegel gehalten wird und zu diesem Zeitpunkt das erste Steuersignal MRSET_1P ein Autoimpulssignal mit einem „hohen" Pegel während einer vorbestimmten Zeitspanne wird, wird der PMOS-Transistor P310 während der vorbestimmten Zeitspanne leitend geschaltet. Entsprechend nimmt ein Ausgabeknoten A der Befehlssteuereinheit 310 einen „hohen" Pegel an. Zudem wird der NMOS-Transistor N312 während einer vorbestimmten Zeitspanne leitend geschaltet, und ein Knoten B nimmt einen „niedrigen" Pegel an. Der Knoten A wird durch einen Zwischenspeicherschaltkreis, der die Inverter IN312 und IN313 umfasst, auf einem „hohen" Pegel gehalten, und der Knoten B wird durch einen Zwischenspeicherschaltkreis, der die Inverter IN317 und IN318 umfasst, auf einem „niedrigen" Pegel gehalten. Der Pegel der Knoten A und B wird gehalten, bis das Erteilungswechselsignal an den zweiten Eingabe-/Ausgabeport angelegt wird und das zweite Steuersignal MRSET_2P zu einem Autoimpulssignal wird.
  • Wenn das erste Steuersignal MRSET_1P auf einem „niedrigen" Pegel gehalten wird und zu diesem Zeitpunkt das zweite Steuersignal MRSET_2P zu einem Autoimpulssignal mit einem „hohen" Pegel während einer vorbestimmten Zeitspanne wird, wird der NMOS-Transistor N310 während der vorbestimmten Zeitspanne leitend geschaltet und entsprechend wird der Knoten A der Befehlssteuereinheit 310 auf einen „niedrigen" Pegel geändert. Zudem wird der PMOS-Transistor P312 während der vorbestimmten Zeitspanne leitend geschaltet. Entsprechend nimmt der Knoten B einen „hohen" Pegel an. Der Knoten A wird durch den Zwischenspeicherschaltkreis, der die Inverter IN312 und IN313 umfasst, auf einem „niedrigen" Pegel gehalten, und der Knoten B wird durch den Zwischenspeicherschaltkreis, der die Inverter IN317 und IN318 umfasst, auf einem „hohen" Pegel gehalten. Der Pegel der Knoten A und B wird gehalten, bis das Erteilungswechselsignal an den ersten Eingabe-/Ausgabeport angelegt wird und das erste Steuersignal MRSET_1P zum Autoimpulssignal wird.
  • Die Selbstauffrischungssteuereinheit 320 umfasst NOR-Schaltkreise NO320, NO322, NO324 und NO326, einen NAND-Schaltkreis NA320, Inverter IN320, IN321, IN322, IN323, IN324, IN325, IN326, IN327 und IN328, PMOS-Transistoren P320, P322, P324 und P326 und NMOS-Transistoren N320, N322, N324 und N326, wie in 7 dargestellt ist.
  • Die Selbstauffrischungssteuereinheit 320 wird durch die Signale PSELF_1P und PSELF_2P gesteuert, die den Selbstauffrischungsmodus anzeigen. Es sei angenommen, dass ein Selbstauffrischungsbefehl über den ersten Eingabe-/Ausgabeport eingegeben wird und die Selbstauffrischung durchgeführt wird, wenn das erste Selbstauffrischungsmodussignal PSELF_1P auf einem „hohen" Pegel ist. Das bedeutet, dass angenommen wird, dass der erste Eingabe-/Ausgabeport in einem Selbstauffrischungsmodus ist. Zudem wird angenommen, dass ein Selbstauffrischungsbefehl über den zweiten Eingabe-/Ausgabeport eingegeben wird und die Selbstauffrischung durchgeführt wird, wenn das zweite Selbstauffrischungsmodussignal PSELF_2P auf einem „hohen" Pegel ist. Das bedeutet, dass angenommen wird, dass der zweite Eingabe-/Ausgabeport in einem Selbstauffrischungsmodus ist.
  • Die Selbstauffrischungssteuereinheit 320 steuert die Erteilungssteuersignale GRANT_1 und GRANT_2 mit Vorrang vor dem Ausgabesignal der Befehlssteuereinheit 310. Das bedeutet, dass, auch wenn die Befehlssteuereinheit 310 ein Signal ausgibt, um eine Erteilung dem ersten Eingabe-/Ausgabeport zuzuweisen, eine Erteilung dem zweiten Eingabe-/Ausgabeport zugewiesen wird, wodurch die automatische Auffrischung durchgeführt wird, wenn der erste Eingabe-/Ausgabeport in den Selbstauffrischungsmodus eintritt. Das gleiche geschieht in einem umgekehrten Fall. Wenn die Signale PSELF_1P und PSELF_2P, die den Selbstauffrischungsmodus anzeigen, jedoch auf einem „hohen" Pegel sind, wird der Erteilungswechsel grundlegend gesperrt. Dies ist dadurch begründet, dass die NMOS-Transistoren N322 und N326 und die PMOS-Transistoren P320 und P324, welche die Selbstauffrischungssteuereinheit 320 bilden, alle sperrend geschaltet sind. Wenn die Signa le PSELF_1P und PSELF_2P auf einem „niedrigen" Pegel sind, wird die Erteilung nicht durch die Selbstauffrischungssteuereinheit 320 geändert, sondern durch die Befehlssteuereinheit 310. Hierbei arbeitet die Befehlssteuereinheit 310, auch wenn die Erteilung durch die Selbstauffrischungssteuereinheit 320 geändert wird. Wenn das Erteilungswechselbefehlssignal erneut eingegeben wird, werden die logischen Pegel am Knoten A und am Knoten B geändert. Das bedeutet, dass die logischen Pegel des Knotens A und des Knotens B kontinuierlich entsprechend dem Erteilungswechselbefehlssignal aktualisiert werden.
  • In 7 wechselt der Erteilungssteuerblock 300 die Erteilung innerhalb des Halbleiterspeicherbauelements während des Selbstauffrischungsvorgangs. Wenn das Halbleiterspeicherbauelement so implementiert ist, dass die Erteilung geändert wird, bevor es in die Selbstauffrischung eintritt, umfasst es eventuell nur die Befehlssteuereinheit 310, ohne dass die Selbstauffrischungssteuereinheit 320 erforderlich ist.
  • Da der in 7 dargestellte Erteilungssteuerblock 300 ein Ausführungsbeispiel ist, kann er aus irgendeinem Schaltkreis aufgebaut sein, der in der Lage ist, die oben beschriebene Funktionsweise auszuführen.
  • Die Funktionsweise eines Halbleiterspeicherbauelements, das den Erteilungssteuerblock 300 gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung umfasst, wird nun unter Bezugnahme auf die 8 bis 11 beschrieben, welche die Funktionsweise des Speicherbauelements zeigen, das den Erteilungssteuerblock 300 gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung umfasst.
  • In 8 ist das Bauelement in einem normalen Betriebsmodus, in dem angenommen wird, dass der erste Eingabe-/Ausgabeport und der zweite Eingabe-/Ausgabeport nicht in einem Selbstauffrischungsmodus sind.
  • Das bedeutet, dass das erste und zweite Selbstauffrischungsmodussignal PSELF_1P und PSELF_2P auf einem „niedrigen" Pegel sind.
  • Wie aus 8 ersichtlich ist, entsprechen Anfangswerte Werten, wenn eine Erteilung Gr(2) in Reaktion auf ein externes Erteilungswechselbefehlssignal EXTERNAL GRANT dem zweiten Eingabe-/Ausgabeport zugewiesen wird. Im Erteilungssteuerblock 300 wird der Knoten A auf einem „niedrigen" Pegel gehalten, und der Knoten B wird auf einem „hohen" Pegel gehalten. Zudem wird das erste Erteilungssteuersignal GRANT_1P auf einem „niedrigen" Pegel gehalten, und das zweite Erteilungssteuersignal GRANT_2P wird auf einem „hohen" Pegel gehalten.
  • Wenn das externe Erteilungswechselbefehlssignal EXTERNAL GRANT, das anordnet, eine Erteilung dem ersten Eingabe-/Ausgabeport zuzuweisen, als Gr(1) erzeugt wird, wird ein Befehlssignal GRANT CMD über den ersten Eingabe-/Ausgabeport eingegeben. Entsprechend wird das erste Steuersignal MRSET_1P zu einem Autoimpulssignal und wird in den Erteilungssteuerblock 300 eingegeben. Da das zweite Steuersignal MRSET_2P auf einem „niedrigen" Pegel gehalten wird, wechselt der Knoten A auf einen „hohen" Pegel und wird dort gehalten, und der Knoten B wechselt auf einen „niedrigen" Pegel und wird dort gehalten. Da das erste und zweite Selbstauffrischungsmodussignal PSELF_1P und PSELF_2P auf einem „niedrigen" Pegel sind, wird das erste Erteilungssteuersignal GRANT_1 auf einen „hohen" Pegel gewechselt und dort gehalten, und das zweite Erteilungssteuersignal GRANT_2 wird auf einen „niedrigen" Pegel gewechselt und dort gehalten. Entsprechend wird die Erteilung dem ersten Eingabe-/Ausgabeport durch die erste Auswahleinheit 130 und die zweite Auswahleinheit 170 zugewiesen, die durch das erste Erteilungssteuersignal GRANT_1 und das zweite Erteilungssteuersignal GRANT_2 gesteuert werden.
  • Wenn das externe Erteilungswechselbefehlssignal EXTERNAL GRANT, das anordnet, die Erteilung dem zweiten Eingabe-/Ausgabeport zuzuweisen, als Gr(2) erzeugt wird, wird ein Befehlssignal GRANT CMD über den zweiten Eingabe-/Ausgabeport eingegeben. Entsprechend wird das zweite Steuersignal MRSET_2P zu einem Autoimpulssignal und wird in den Erteilungssteuerblock 300 eingegeben. Da das erste Steuersignal MRSET_1P auf einem „niedrigen" Pegel gehalten wird, wechselt der Knoten A auf einen „niedrigen" Pegel und wird dort gehalten, und der Knoten B wechselt auf einen „hohen" Pegel und wird dort gehalten. Da das erste und zweite Selbstauffrischungsmodussignal PSELF_1P und PSELF_2P auf einem „niedrigen" Pegel sind, wird das erste Erteilungssteuersignal GRANT_1 auf einen „niedrigen" Pegel geändert und dort gehalten, und das zweite Erteilungssteuersignal GRANT_2 wird auf einen „hohen" Pegel geändert und dort gehalten. Entsprechend wird die Erteilung dem zweiten Eingabe-/Ausgabeport durch die erste Auswahleinheit 130 und die zweite Auswahleinheit 170 zugewiesen, die durch das erste Erteilungssteuersignal GRANT_1 und das zweite Erteilungssteuersignal GRANT_2 gesteuert werden.
  • 9 zeigt einen Prozess, wenn eine Erteilung dem ersten Eingabe-/Ausgabeport zugewiesen wird und der erste Eingabe-/Ausgabeport in den Selbstauffrischungsmodus eintritt. Wie aus 9 ersichtlich ist, wird eine Erteilung Gr(1) in Reaktion auf das externe Erteilungswechselbefehlssignal EXTERNAL GRANT anfänglich dem ersten Eingabe-/Ausgabeport zugewiesen. Im Erteilungssteuerblock 300 wird der Knoten A auf einem „hohen" Pegel gehalten, und der Knoten B wird auf einem „niedrigen" Pegel gehalten. Zudem wird das erste Erteilungssteuersignal GRANT_1P auf einem „hohen" Pegel gehalten, und das zweite Erteilungssteuersignal GRANT_2P wird auf einem „niedrigen" Pegel gehalten. Hierbei wird die Erteilung Gr(1) in Reaktion auf ein Signal INTERNAL GRANT auch dem ersten Eingabe-/Ausgabeport zugeordnet. Das Signal INTERNAL GRANT bezieht sich auf eine Erteilung, die durch ei nen internen Betrieb des Halbleiterspeicherbauelements mit Vorrang zum externen Erteilungswechselbefehlssignal EXTERNAL GRANT extern vom Halbleiterspeicherbauelement bestimmt wird.
  • Der erste Eingabe-/Ausgabeport und der zweite Eingabe-/Ausgabeport sind in einem automatischen Auffrischungsmodus A/R. Entsprechend wird die Bank B 190b, die dem geteilt genutzten Speicherbereich entspricht, im automatischen Auffrischungsmodus A/R 1 durch den ersten Eingabe-/Ausgabeport aufgefrischt.
  • Ein Prozess, wenn der erste Eingabe-/Ausgabeport dann in den Selbstauffrischungsmodus S/R eintritt, wird nun beschrieben. Wenn der erste Eingabe-/Ausgabeport in den Selbstauffrischungsmodus S/R eintritt, wird das erste Selbstauffrischungsmodussignal PSELF_1P auf einen „hohen" Pegel geändert, während der Knoten A auf einem „hohen" Pegel gehalten wird und der Knoten B auf einem „niedrigen" Pegel gehalten wird. Das zweite Selbstauffrischungsmodussignal PSELF_2P wird in einem „niedrigen" Zustand gehalten.
  • Da das erste Selbstauffrischungsmodussignal PSELF_1P auf einem „hohen" Pegel ist und das zweite Selbstauffrischungsmodussignal PSELF_2P auf einem „niedrigen" Pegel ist, wechselt das erste Erteilungssteuersignal GRANT_1 auf einen „niedrigen" Pegel und wird dort gehalten, und das zweite Erteilungssteuersignal GRANT_2 wechselt auf einen „hohen" Pegel und wird dort gehalten, unabhängig von den logischen Zuständen der Knoten A und B.
  • Entsprechend wird eine Erteilung Gr(2) intern dem zweiten Eingabe-/Ausgabeport durch die erste Auswahleinheit 130 und die zweite Auswahleinheit 170 zugewiesen, die durch das erste Erteilungssteuersignal GRANT_1 und das zweite Erteilungssteuersignal GRANT_2 gesteuert werden. Dadurch wird die Bank B 190b, die dem geteilt genutzten Spei cherbereich entspricht, im automatischen Auffrischungsmodus A/R(2) durch den zweiten Eingabe-/Ausgabeport aufgefrischt.
  • Wenn der erste Eingabe-/Ausgabeport aus dem Selbstauffrischungsmodus S/R entlassen wird und in den automatischen Auffrischungsmodus A/R eintritt, werden der Knoten A und der Knoten B des Erteilungssteuerblocks 300 auf einem logischen Anfangszustand gehalten, und entsprechend wird der Anfangszustand durch die logischen Zustände der Knoten A und B zurückgegeben. Das bedeutet, da der Knoten A auf einem „hohen" Pegel gehalten ist und der Knoten B auf einem „niedrigen" Pegel gehalten ist, dass das erste Erteilungssteuersignal GRANT_1 auf einen „hohen" Pegel wechselt und dort gehalten wird und das zweite Erteilungssteuersignal GRANT_2 auf einen „niedrigen" Pegel wechselt und dort gehalten wird. Entsprechend wird die Erteilung Gr(1) in Reaktion auf das Signal INTERNAL GRANT dem ersten Eingabe-/Ausgabeport zugewiesen. Dadurch wird die Bank B 190b, die dem geteilt genutzten Speicherbereich entspricht, im automatischen Auffrischungsmodus A/R(1) durch den ersten Eingabe-/Ausgabeport aufgefrischt.
  • 10 zeigt einen Prozess, wenn das externe Erteilungswechselbefehlssignal EXTERNAL GRANT eingegeben wird, das anordnet, eine Erteilung Gr(2) während des Selbstauffrischungsmodus aus 9 dem zweiten Eingabe-/Ausgabeport zuzuweisen. Wie aus 10 ersichtlich ist, ist die Erteilung Gr(1) in Reaktion auf das externe Erteilungswechselbefehlssignal EXTERNAL GRANT anfänglich dem ersten Eingabe-/Ausgabeport zugeordnet. In diesem Fall wird der Knoten A des Erteilungssteuerblocks 300 auf einem „hohen" Pegel gehalten, und der Knoten B wird auf einem „niedrigen" Pegel gehalten. Zudem wird das erste Erteilungssteuersignal GRANT_1 auf einem „hohen" Pegel gehalten, und das zweite Erteilungssteuersignal GRANT_2 wird auf einem „niedrigen" Pegel gehalten. Hierbei wird die Erteilung Gr(1) in Reaktion auf das Signal INTERNAL GRANT dem ersten Eingabe-/Ausgabeport zugewie sen. Der erste Eingabe-/Ausgabeport und der zweite Eingabe-/Ausgabeport sind im automatischen Auffrischungsmodus A/R. Entsprechend wird die Bank B 190b, die dem geteilt genutzten Speicherbereich entspricht, im automatischen Auffrischungsmodus A/R 1 durch den ersten Eingabe-/Ausgabeport aufgefrischt. Der erste Eingabe-/Ausgabeport tritt dann in den Selbstauffrischungsmodus S/R ein.
  • Wenn der erste Eingabe-/Ausgabeport in den Selbstauffrischungsmodus S/R eintritt, wird das erste Selbstauffrischungsmodussignal PSELF_1P auf einen „hohen" Pegel geändert, während der Knoten A auf einem „hohen" Pegel gehalten wird und der Knoten B auf einem „niedrigen" Pegel gehalten wird. Das zweite Selbstauffrischungsmodussignal PSELF_2P wird in einem „niedrigen" Zustand gehalten.
  • Da das erste Selbstauffrischungsmodussignal PSELF_1P auf einem „hohen" Pegel ist und das zweite Selbstauffrischungsmodussignal PSELF_2P auf einem „niedrigen" Pegel ist, wechselt das erste Erteilungssteuersignal GRANT_1 auf einen „niedrigen" Pegel und wird dort gehalten, und das zweite Erteilungssteuersignal GRANT_2 wechselt auf einen „hohen" Pegel und wird dort gehalten, unabhängig von den logischen Zuständen der Knoten A und B.
  • Entsprechend wird die Erteilung Gr(2) intern dem zweiten Eingabe-/Ausgabeport durch die erste Auswahleinheit 130 und die zweite Auswahleinheit 170 zugewiesen, die durch das erste Erteilungssteuersignal GRANT_1 und das zweite Erteilungssteuersignal GRANT_2 gesteuert werden. Dadurch wird die Bank B 190b, die dem geteilt genutzten Speicherbereich entspricht, im automatischen Auffrischungsmodus A/R(2) durch den zweiten Eingabe-/Ausgabeport aufgefrischt.
  • Anschließend wird das externe Erteilungswechselbefehlssignal EXTERNAL GRANT eingegeben, das anordnet, die Erteilung Gr(2) dem zweiten Eingabe-/Ausgabeport zuzuweisen, während der erste Eingabe- /Ausgabeport im Selbstauffrischungsmodus gehalten wird. In diesem Fall wird das zweite Steuersignal MRSET_2P zu einem Autoimpulssignal und wird in den Erteilungssteuerblock 300 eingegeben. Da das zweite Steuersignal MRSET_2P auf einem „niedrigen" Pegel gehalten wird, wechselt der Knoten A auf einen „niedrigen" Pegel und wird dort gehalten, und der Knoten B wird auf einen „hohen" Pegel aktualisiert und dort gehalten.
  • Die aktualisierten logischen Zustände des Knotens A und des Knotens B beeinflussen nicht die logischen Zustände des ersten Erteilungssteuersignals GRANT_1 und des zweiten Erteilungssteuersignals GRANT_2. Dies liegt daran, dass die logischen Zustände des ersten Selbstauffrischungsmodussignals PSELF_1P und des zweiten Selbstauffrischungsmodussignals PSELF_2P so gesetzt sind, dass sie vorzugsweise den Wechsel der logischen Zustände des ersten Erteilungssteuersignals GRANT_1 und des zweiten Erteilungssteuersignals GRANT_2 beeinflussen. Entsprechend bleiben die logischen Zustände des ersten Erteilungssteuersignals GRANT_1 und des zweiten Erteilungssteuersignals GRANT_1 unverändert, und die Erteilung Gr(2) wird in Reaktion auf das Signal INTERNAL GRANT dem zweiten Eingabe-/Ausgabeport zugewiesen. Demgemäß wird die Bank B 190b, die dem geteilt genutztenen Speicherbereich entspricht, im automatischen Auffrischungsmodus A/R(2) durch den zweiten Eingabe-/Ausgabeport aufgefrischt.
  • Anschließend werden, wenn der erste Eingabe-/Ausgabeport aus dem Selbstauffrischungsmodus S/R entlassen wird und in den automatischen Auffrischungsmodus A/R eintritt, die Knoten A und B des Erteilungssteuerblocks 300 auf dem aktualisierten Zustand gehalten, der sich vom logischen Anfangszustand unterscheidet, und entsprechend wird der aktualisierte logische Zustand verwendet. Das bedeutet, dass das erste Erteilungssteuersignal GRANT_1, da der Knoten A auf einem „niedrigen" Pegel gehalten ist und der Knoten B auf einem „hohen" Pegel gehalten ist, auf einem „niedrigen" Pegel gehalten wird und das zweite Erteilungssteuersignal GRANT_2 auf einem „hohen" Pegel gehalten wird. Entsprechend wird die Erteilung Gr(2) in Reaktion auf das Signal INTERNAL GRANT dem zweiten Eingabe-/Ausgabeport zugewiesen. Demgemäß wird die Bank B 190b, die dem geteilt genutzten Speicherbereich entspricht, im automatischen Auffrischungsmodus A/R(2) durch den zweiten Eingabe-/Ausgabeport aufgefrischt.
  • 11 zeigt einen Prozess, wenn der zweite Eingabe-/Ausgabeport während des Selbstauffrischungsmodus S/R durch den ersten Eingabe-/Ausgabeport aus 9 auch in den Selbstauffrischungsmodus eintritt. Wie aus 11 ersichtlich ist, sind Prozesse vom Anfangsprozess bis zum Prozess des Eintretens in den Selbstauffrischungsmodus S/R durch den ersten Eingabe-/Ausgabeport gleich denjenigen in 9. Das bedeutet, dass das erste Erteilungssteuersignal GRANT_1 auf einen „niedrigen" Pegel wechselt und dort gehalten wird, und das zweite Erteilungssteuersignal GRANT_2 auf einen „hohen" Pegel wechselt und dort gehalten wird, unabhängig von den logischen Zuständen der Knoten A und B.
  • Entsprechend wird die Erteilung Gr(2) in Reaktion auf das Signal INTERNAL GRANT dem zweiten Eingabe-/Ausgabeport durch die erste Auswahleinheit 130 und die zweite Auswahleinheit 170 zugewiesen, die durch das erste Erteilungssteuersignal GRANT_1 und das zweite Erteilungssteuersignal GRANT_2 gesteuert werden. Dadurch wird die Bank B 190b, die dem geteilt genutzten Speicherbereich entspricht, im automatischen Auffrischungsmodus A/R(2) durch den zweiten Eingabe-/Ausgabeport aufgefrischt.
  • Anschließend tritt der zweite Eingabe-/Ausgabeport in den Selbstauffrischungsmodus S/R ein, während der erste Eingabe-/Ausgabeport im Selbstauffrischungsmodus S/R gehalten wird. In diesem Fall sind das erste und zweite Selbstauffrischungsmodussignal PSELF_1P und PSELF_2 beide auf einem „hohen" Pegel, in dem der Erteilungswechsel blockiert ist. Entsprechend wird das erste Erteilungssteuersignal GRANT_1 auf einem vorherigen „niedrigen" Pegel gehalten, und das zweite Erteilungssteuersignal GRANT_2 wird auf einem vorherigen „hohen" Pegel gehalten. Daher wird sogar in diesem Fall die Bank B 190b, die dem geteilt genutzten Speicherbereich entspricht, im automatischen Auffrischungsmodus A/R(2) durch den zweiten Eingabe-/Ausgabeport aufgefrischt.
  • Anschließend werden, wenn der erste Eingabe-/Ausgabeport aus dem Selbstauffrischungsmodus S/R entlassen wird und in den automatischen Auffrischungsmodus A/R eintritt, die Knoten A und B des Erteilungssteuerblocks 300 auf einem logischen Anfangszustand gehalten, und entsprechend wird der Anfangszustand in Reaktion auf die logischen Zustände des Knotens A und des Knotens B zurückgegeben. Das bedeutet, da der Knoten A auf einem „hohen" Pegel gehalten ist und der Knoten B auf einem „niedrigen" Pegel gehalten ist, dass das erste Erteilungssteuersignal GRANT_1 auf einen „hohen" Pegel wechselt und dort gehalten wird, und das zweite Erteilungssteuersignal GRANT_2 auf einen „niedrigen" Pegel wechselt und dort gehalten wird. Entsprechend wird die Erteilung Gr(1) in Reaktion auf das Signal INTERNAL GRANT dem ersten Eingabe-/Ausgabeport zugewiesen. Dadurch wird die Bank B 190b, die dem geteilt genutzten Speicherbereich entspricht, im automatischen Auffrischungsmodus A/R(1) durch den ersten Eingabe/Ausgabeport aufgefrischt.
  • Die in den 8 bis 11 dargestellten Funktionsweisen dienen hauptsächlich dazu, das Halbleiterspeicherbauelement und das zugehörige Verfahren gemäß einer Ausführungsform der Erfindung zu verstehen. Andere Funktionsweisen sind möglich, wie der Fachmann durch die in den 8 bis 11 dargestellten Funktionsweisen leicht versteht.
  • Wie oben ausgeführt ist, ist es entsprechend der Erfindung möglich, das Zugriffsrecht (die Zugriffserteilung) für den Zugriff auf den geteilt genutzten Speicherbereich gemäß einem Auffrischungsmodus im Vorzug vor dem externen Befehl zu wechseln, wodurch ein effizienter Betrieb des geteilt genutzten Speicherbereichs möglich ist. Das bedeutet, dass ein normaler Lese- oder Schreibbetrieb und ein Auffrischungsbetrieb effizienter ausgeführt werden.
  • ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
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  • Zitierte Patentliteratur
    • - US 4809233 [0005]
    • - US 4939695 [0005]
    • - US 4943960 [0005]
    • - US 5315557 [0005]

Claims (18)

  1. Halbleiterspeicherbauelement umfassend: – eine Mehrzahl von Eingabe-/Ausgabeports (100a, 100b) zum Eingeben von Befehlssignalen für einen ersten oder zweiten Modusauffrischungsvorgang, – ein Speicherfeld (190), das einen geteilt genutzten Speicherbereich aufweist, auf den über wenigstens zwei der Mehrzahl von Eingabe-/Ausgabeports zugreifbar ist, wobei das Speicherfeld in eine Mehrzahl von verschiedenen Speicherbereichen aufgeteilt ist, und – einen Erteilungssteuerblock (300) zum Zuweisen eines Zugriffsrechts, um auf den geteilt genutzten Speicherbereich zuzugreifen, in Reaktion auf ein externes Befehlssignal, wobei der Erteilungssteuerblock Erteilungssteuersignale erzeugt, um das Zugriffsrecht für den Zugriff auf den geteilt genutzten Speicherbereich mit Vorrang dem Eingabe-/Ausgabeport zur Eingabe der Befehlssignale für den ersten Modusauffrischungsvorgang zuzuweisen.
  2. Halbleiterspeicherbauelement umfassend: – ein Speicherfeld (190), das wenigstens in einen ersten, zweiten und dritten Speicherbereich (190a, 190b, 190c, 190d) aufgeteilt ist, und – eine Auffrischungssteuerschaltung (110a, 110b, 120a, 120b, 160a, 160b, 160c) zum Steuern einer Auffrischung des ersten und zweiten Speicherbereichs in einem ersten oder zweiten Modus in Reaktion auf getrennt eingegebene Auffrischungsbefehlssignale und zum Steuern einer Auffrischung des dritten Speicherbereichs im ersten Modus, wenn der erste Speicherbereich und/oder der zweite Speicherbereich im ersten Modus aufgefrischt wird, oder ansonsten im zweiten Modus.
  3. Halbleiterspeicherbauelement nach Anspruch 1 oder 2, wobei das Halbleiterspeicherbauelement ein Dualport-Halbleiterspeicherbauelement ist, das einen ersten und zweiten Eingabe-/Ausgabeport umfasst.
  4. Halbleiterspeicherbauelement nach Anspruch 3 in Verbindung mit Anspruch 1, wobei das Speicherfeld umfasst: – einen ersten Speicherbereich, auf den nur über den ersten Eingabe-/Ausgabeport zugreifbar ist, – einen zweiten Speicherbereich, auf den nur über den zweiten Eingabe-/Ausgabeport zugreifbar ist, und – einen dritten Speicherbereich, auf den über den ersten und den zweiten Eingabe-/Ausgabeport zugreifbar ist.
  5. Halbleiterspeicherbauelement nach einem der Ansprüche 1, 3 und 4, wobei der Erteilungssteuerblock die Erteilungssteuersignale mit Vorrang vor dem externen Befehlssignal erzeugt, um das Zugriffsrecht für den Zugriff auf den geteilt genutzten Speicherbereich einem anderen Eingabe-/Ausgabeport zuzuweisen, über den der Auffrischungsvorgang während des ersten Modus durchgeführt wird, wenn der Auffrischungsvorgang im zweiten Modus über einen Eingabe-/Ausgabeport ausgeführt wird, der das Zugriffsrecht aufweist.
  6. Halbleiterspeicherbauelement nach Anspruch 5, wobei das Halbleiterspeicherbauelement umfasst: – eine erste Auswahleinheit (130) zum Zuteilen von über den ersten Eingabe-/Ausgabeport und den zweiten Eingabe/Ausgabeport eingegebenen Befehlssignalen für einen Zugriff auf den geteilt genutzten Speicherbereich und – eine zweite Auswahleinheit (170) zum Zuteilen von über den ersten Eingabe-/Ausgabeport und den zweiten Eingabe/Ausgabeport eingegebenen Adressensignalen für einen Zugriff auf den geteilt genutzten Speicherbereich, und zum Übertragen einer getrennten Auffrischungsadresse an den geteilt genutzten Speicherbereich während des Auffrischungsvorgangs.
  7. Halbleiterspeicherbauelement nach Anspruch 6, wobei die erste Auswahleinheit in Reaktion auf die Erteilungssteuersignale arbeitet, und die zweite Auswahleinheit in Reaktion auf die Erteilungssteuersignale und das Auffrischungsbetriebssignal arbeitet.
  8. Halbleiterspeicherbauelement nach Anspruch 3 in Verbindung mit Anspruch 2, wobei – auf den ersten Speicherbereich nur über den ersten Eingabe/Ausgabeport zugreifbar ist, – auf den zweiten Speicherbereich nur über den zweiten Eingabe/Ausgabeport zugreifbar ist und – auf den dritten Speicherbereich über den ersten und den zweiten Eingabe-/Ausgabeport zugreifbar ist.
  9. Halbleiterspeicherbauelement nach einem der Ansprüche 2 bis 8, wobei die Auffrischungssteuerschaltung weiter einen getrennten Auffrischungszähler umfasst, um nur den dritten Speicherbereich aufzufrischen.
  10. Halbleiterspeicherbauelement nach einem der Ansprüche 1 bis 9, wobei der erste Modus ein automatischer Auffrischungsmodus ist und der zweite Modus ein Selbstauffrischungsmodus ist.
  11. Verfahren zum Zuweisen eines Zugriffsrechts, um auf einen geteilt genutzten Speicherbereich in einem Multiport-Halbleiterspeicher bauelement zuzugreifen, das wenigstens den geteilt genutzten Speicherbereich umfasst, auf den über wenigstens zwei Eingabe-/Ausgabeports zugreifbar ist, mit folgenden Schritten: – Zuweisen eines Zugriffsrechts, um auf den geteilt genutzten Speicherbereich zuzugreifen, an einen speziellen Eingabe-/Ausgabeport in Reaktion auf ein externes Befehlssignal und – Wechseln des Zugriffsrechts, um auf den geteilt genutzten Speicherbereich zuzugreifen, an einen anderen Eingabe-/Ausgabeport, über den die Auffrischung während eines ersten Modus durchgeführt wird, mit Vorrang vor dem externen Befehlssignal, wenn ein Befehlssignal zum Auffrischen in einem zweiten Modus über den Eingabe-/Ausgabeport eingegeben wird, der das Zugriffsrecht für den Zugriff auf den geteilt genutzten Speicherbereich aufweist.
  12. Verfahren nach Anspruch 11, wobei der erste Modus ein automatischer Auffrischungsmodus ist und der zweite Modus ein Selbstauffrischungsmodus ist.
  13. Verfahren nach Anspruch 11 oder 12, wobei das Halbleiterspeicherbauelement ein Dualport-Halbleiterspeicherbauelement ist, das einen ersten und zweiten Eingabe-/Ausgabeport umfasst.
  14. Verfahren zum Auffrischen von Speicherbereichen in einem Halbleiterspeicherbauelement, das ein Speicherfeld umfasst, das wenigstens in einen ersten, zweiten und dritten verschiedenen Speicherbereich aufgeteilt ist, mit folgenden Schritten: – Auffrischen des ersten und zweiten Speicherbereichs in einem ersten oder zweiten Modus in Reaktion auf getrennt eingegebene Auffrischungsbefehlssignale und – Auffrischen des dritten Speicherbereichs im ersten Modus, wenn der erste Speicherbereich und/oder der zweite Speicherbereich im ersten Modus aufgefrischt wird, und ansonsten Auffrischen des dritten Speicherbereichs im zweiten Modus.
  15. Verfahren nach Anspruch 14, wobei das Halbleiterspeicherbauelement ein Dualport-Halbleiterspeicherbauelement ist, das einen ersten und zweiten Eingabe-/Ausgabeport umfasst.
  16. Verfahren nach Anspruch 15, wobei – auf den ersten Speicherbereich nur über den ersten Eingabe/Ausgabeport zugreifbar ist, – auf den zweiten Speicherbereich nur über den zweiten Eingabe/Ausgabeport zugreifbar ist und – auf den dritten Speicherbereich über den ersten und den zweiten Eingabe-/Ausgabeport zugreifbar ist.
  17. Verfahren nach einem der Ansprüche 14 bis 16, wobei der erste Modus ein automatischer Auffrischungsmodus ist und der zweite Modus ein Selbstauffrischungsmodus ist.
  18. Verfahren nach einem der Ansprüche 14 bis 17, wobei die Auffrischung des dritten Speicherbereichs über einen getrennten Auffrischungszähler ausgeführt wird, um nur den dritten Speicherbereich aufzufrischen.
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