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Hintergrund der Erfindung
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Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf das Konzept zum Feststellen einer Beeinträchtigung einer durch einen Regelkreis bereitgestellten geregelten Spannung, wie es insbesondere eingesetzt werden kann, um einen Verlust sicherheitsrelevanter Daten vermeiden zu können.
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In elektronischen Schaltungen werden im Allgemeinen verschiedene stabile Spannungen benötigt. Um diese verschiedenen Spannungsniveaus zur Verfügung stellen zu können, werden unter anderem Spannungsregler eingesetzt. Durch Freilegung von Metallbahnen eines internen Spannungsversorgungsnetzes einer elektronischen Schaltung durch Präparation und anschließendes Kontaktieren mit Hilfe einer sogenannten Probe-Nadel und eines sogenannten Spike-Generators können Störungen in Form von Spannungsspitzen bzw. Spikes auf einer internen geregelten Spannung der elektronischen Schaltung induziert werden. Spannungsspitzen auf der internen geregelten Spannung können beispielsweise zu Fehlfunktionen eines mit der elektronischen Schaltung verknüpften Systems führen, wodurch sicherheitsrelevante Daten verloren gehen können. Beispielsweise können im Bereich der Kryptographie fehlerhafte Ergebnisse eines Verschlüsselungsalgorithmus durch äußere Einflüsse ggf. im Abgleich mit einem korrekten Resultat sicherheitsrelevante Schlüssel offen legen.
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Eine Kontaktierung der internen Spannungsversorgung einer elektronischen Schaltung mit einer Probe-Nadel während eines Spike-Angriffs auf ein System verlangt das Einprägen einer VDDint entspricht. Dadurch, dass ein Angreifer in der Regel mit der eingeprägten DC-Spannung VProbe nicht exakt das Spannungsniveau VDDint der internen geregelten Spannung trifft, wird in ein Regelsystem des internen Spannungsreglers eingegriffen, welches daraufhin mit einem dauerhaften Ist-Wert > Sollwert bzw. Ist-Wert < Sollwert reagiert.
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Auswirkungen einer induzierten Spannungsspitze auf eine interne geregelte Versorgungsspannung können detektiert werden, indem beispielsweise zwei aus einer externen Versorgungsspannung der elektronischen Schaltung abgeleitete Spannungen verglichen werden. Dabei wird beispielsweise eine Spannung durch kapazitive Einkopplung von Spannungsspitzen der internen geregelten Versorgungsspannung beeinflusst.
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Aus
DE 103 27 285 A1 und
US 2002/0135339 A1 sind jeweils Vorrichtungen zum Festellen einer Beeinträchtigung einer durch einen Regelkreis bereitgestellten geregelten Spannung bekannt, bei denen jeweils die geregelte Spannung selbst, also die Ausgangsgröße, überwacht wird.
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Aus
EP 0 589 374 A1 ist eine Vorrichtung bekannt, mit der allgemein eine Frequenz eines Ausgangssignals eines Regelkreises überwacht werden kann.
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Bei diesen Vorgehensweisen ist jedoch eine eindeutige Unterscheidung zwischen legitimen Lastwechseln, welche durch das System verursacht werden, und tatsächlich induzierten Spikes sehr schwer möglich bzw. nur mit einem großen Sicherheitsabstand zu realisieren. Damit ist eine Abhängigkeit der Empfindlichkeit eines Spannungsspitzendetektors von einer internen Chipkapazität, einem Floor-Plan und der Applikation gegeben.
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Aus der
WO 2004/092 861 A1 ist ein Spannungsregelsystem bekannt, bei dem ein Regelsignal mit einem Referenzsignal verglichen wird und basierend auf dem Vergleich ein Steuersignal erzeugt wird.
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Zusammenfassung der Erfindung
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Gemäß Ausführungsbeispielen schafft die vorliegende Erfindung eine Vorrichtung zum Feststellen einer Beeinträchtigung einer durch einen Regelkreis bereitgestellten geregelten Spannung mit einer Einrichtung zum Überwachen einer zeitlichen Änderung der Stellgröße des Regelkreises und einer Einrichtung zur Erzeugung eines Benachrichtigungssignals, wenn die Stellgröße oder die zeitliche Änderung außerhalb eines Toleranzbereiches um einen Normalwert liegt.
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Somit weisen Ausführungsbeispiele der Erfindung den Vorteil auf, dass ein Spike-Angriff auf eine elektronische Schaltung durch die Überwachung einer Stellgröße des Spannungsregelkreises sehr zuverlässig detektiert werden kann. Der Spike-Angriff wird durch das Beobachten des Regelmechanismus erkannt und nicht durch das Beobachten der Auswirkung auf die interne geregelte Spannung. Somit können fehlerprovozierende Angriffe, die zum Verlust sicherheitsrelevanter Daten führen können, leichter und zuverlässiger erkannt werden und somit Schutzmechanismen ausgelöst werden, um den Verlust der Daten zu verhindern.
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Kurzbeschreibung der Figuren
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Bevorzugte Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung werden nachfolgend Bezug nehmend auf die beiliegenden Zeichnungen näher erläutert. Es zeigen:
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1 ein schematisches Blockdiagramm eines Regelkreises mit einer Vorrichtung zum Feststellen einer Beeinträchtigung einer durch den Regelkreis bereitgestellten Regelgröße, gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung;
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2 ein Blockdiagramm einer Schaltung zum Bereitstellen einer geregelten Spannung mit einer Vorrichtung zum Feststellen einer Beeinträchtigung der durch den Regelkreis bereitgestellten geregelten Spannung, gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung; und
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3 eine schematische Darstellung eines zeitlichen Ablaufs eines Spike-Angriffs mit einer eingeprägten DC-Spannung VProbe < VDDint und VProbe > VDDint und dem entsprechenden zeitlichen Verhalten der Stellgrößen des Regelkreises.
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Detaillierte Beschreibung der Erfindung
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Bezüglich der nachfolgenden Beschreibung sollte beachtet werden, dass bei den unterschiedlichen Ausführungsbeispielen gleiche oder gleich wirkende Funktionselemente gleiche Bezugszeichen aufweisen und somit die Beschreibungen dieser Funktionselemente in den verschiedenen, in den nachfolgend dargestellten Ausführungsbeispielen untereinander austauschbar sind.
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1 zeigt ein schematisches Blockdiagramm eines Regelkreises 100, an dessen Eingang eine Führungsgröße bzw. ein Sollwert 102 anliegt. Einen Ausgang des Regelkreises 100 bildet eine Regelgröße bzw. ein Istwert 104. Die Regelgröße 104 wird mit der Führungsgröße 102 in einer Vergleichseinrichtung bzw. einem Komparator 108 verglichen, wodurch am Ausgang des Komoparators 108 eine Stellgröße 110 bewirkt wird. Die Stellgröße 110 bildet einen Eingang einer erfindungsgemäßen Vorrichtung 120 zum Feststellen einer Beeinträchtigung der durch den Regelkreis 100 bereitgestellten Regelgröße 104 mit einer Einrichtung 122 zum Überwachen der Stellgröße 110 des Regelkreises 100 und einer Einrichtung 124 zur Erzeugung eines Benachrichtigungssignals 126, wenn die Stellgröße 110 oder ein Parameter der Stellgröße 110, z. B. eine zeitliche Änderung derselben, außerhalb eines Toleranzbereichs um einen Normalwert liegt. Des Weiteren bildet die Stellgröße 110 einen Eingang einer Regelstrecke 130, um die Regelstrecke 130 bzw. ein Steuerelement der Regelstrecke 130 in geeigneter Weise zu steuern. Einen weiteren Eingang der Regelstrecke 130 bildet eine Störgröße 132. An einem Ausgang liefert die Regelstrecke 130 die Regelgröße bzw. den Istwert 104.
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Als Stellgröße 110 kann dabei jedes in dem Regelkreis 100 auftretende Signal betrachtet werden, das einen Einfluss auf ein Steuerelement der Regelstrecke 130 bewirkt, wobei das Steuerelement die zu regelnde Größe 104 ausgibt.
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Ein Angriff auf die Regelschleife 100 wird durch die Störgröße 132 modelliert. Der Angriff wird nun erfindungsgemäß durch Beobachten des Regelmechanismus bzw. durch Beobachten der Stellgröße 110 erkannt. Die Regelgröße bzw. der Istwert 104 ist gemäß der vorliegenden Erfindung eine durch die Regelschleife 100 geregelte Spannung.
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Der Komparator 108 vergleicht Führungsgröße 102 und Regelgröße 104 und gibt an seinem Ausgang abhängig davon ein Signal als Stellgröße 110 aus. Gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung weist der Komparator 108 einen Differenzverstärker auf. Die Regelstrecke 130 weist gemäß Ausführungsbeispielen als Steuerelemente eine Ladungspumpe und einen Regeltransistor auf. Abhängig von der Führungsgröße 102 und Regelgröße 104 gibt der Differenzverstärker wenigstens ein Steuersignal aus, um eine VCO-Frequenz (VCO = Voltage Controlled Oscillator) der Ladungspumpe entweder zu erniedrigen oder zu erhöhen, wobei die VCO-Frequenz wiederum eine Steuerspannung für den Regeltransistor steuert. Die Einrichtung 122 zum Überwachen überwacht gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung eine zeitliche Änderung bzw. eine Frequenz des wenigstens einen Steuersignals bzw. der Stellgröße und veranlasst die Einrichtung 124 zur Erzeugung eines Benachrichtigungssignals 126 ein Benachrichtigungssignal zu erzeugen, wenn die Frequenz der wenigstens einen Stellgröße außerhalb eines Toleranzbereichs um einen Normalwert liegt, insbesondere unter einer unteren Grenzfrequenz liegt.
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Gemäß einem weiteren Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung kann als Stellgröße die von einer dem Differenzverstärker nachgeschalteten Ladungspumpe bereitgestellte Steuerspannung des Regeltransistors betrachtet werden. Die Einrichtung zum überwachen überwacht gemäß diesem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung die Steuerspannung bzw. die Stellgröße selbst und veranlasst die Einrichtung zur Erzeugung eines Benachrichtigungssignals ein Benachrichtigungssignal zu erzeugen, wenn die Stellgröße selbst außerhalb eines Toleranzbereichs um einen Normalwert liegt.
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Gemäß einem weiteren Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung liefert ein von der Vergleichseinrichtung 108 umfasster Differenzverstärker an seinem Ausgang direkt eine Steuerspannung als Stellgröße 110 für einen von der Regelstrecke 130 umfassten Regeltransistor, um eine geregelte Spannung bereitstellen zu können. Die Einrichtung 122 zum Überwachen überwacht gemäß diesem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung die Steuerspannung bzw. die Stellgröße 110 selbst und veranlasst die Einrichtung 124 zur Erzeugung eines Benachrichtigungssignals 126 ein Benachrichtigungssignal zu erzeugen, wenn die Stellgröße 110 selbst außerhalb eines Toleranzbereichs um einen Normalwert liegt.
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Durch die Überwachung der Stellgröße 110 bzw. einer zeitlichen Änderung der Stellgröße 110 des Regelkreises 100 wird also auf den Zustand des Regelkreises 100 geschlossen und damit festgestellt, ob ein von der durch den Regelkreises 100 intern geregelten Spannung 104 versorgtes System extern über eine Probe-Nadel versorgt wird. Gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung kann dazu die Einrichtung 122 zum Überwachen der Stellgröße 110 einen digitalen Zähler umfassen, um beispielsweise eine Frequenz der Stellgröße 110 bestimmen zu können. Dadurch wird eine Beobachtung der internen geregelten Spannung bzw. der Regelgröße 104 selbst überflüssig, womit man unabhängig von einer Bewertung einer Änderung der internen Versorgungsspannung bzw. der Regelgröße 104 wird.
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Ein bevorzugtes Ausführungsbeispiel einer Vorrichtung zum Feststellen einer Beeinträchtigung einer durch einen Regelkreis bereitgestellten geregelten Spannung gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung soll im Nachfolgenden anhand von 2 näher erläutert werden.
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2 zeigt eine schematische Darstellung eines ICs (IC = Integrated Circuit) bzw. eines Chips 200, welcher einen Regelkreis 100 zur Regelung einer internen geregelten Spannung VDDint aufweist. Der Regelkreis 100 weist einen NMOS-Transistor 202 auf, dessen Drain-Anschluss mit einer externen Versorgungsspannung VDDext verbunden ist. An einem Source-Anschluss des NMOS-Transistors 202 liegt die interne geregelte Spannung VDDint an. Weiterhin ist der Source-Anschluss des NMOS-Transistors 202 mit einem ersten Terminal eines Widerstands 204 verbunden, dessen zweites Terminal mit einem ersten Terminal eines zweiten Widerstands 206 verbunden ist, dessen zweites Terminal auf einem Bezugspotential VSSext liegt. Der Regelkreis 100 weist einen Differenzverstärker 208 mit einem ersten Eingang und mit einem zweiten Eingang auf.
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Am ersten Eingang des Differenzverstärkers 208 liegt eine stabile Referenzspannung an, die beispielsweise von einer sogenannten Bandgap-Schaltung geliefert werden kann. Auf den zweiten Eingang des Differenzverstärkers 208 wird ein Teil der über den aus den beiden Widerständen 204 und 206 bestehenden Spannungsteiler geteilten geregelten internen Spannung VDDint zurückgekoppelt. Der Differenzverstärker 208 weist ferner einen ersten und einen zweiten Ausgang auf, wobei an dem ersten Ausgang ein Up-Signal 210 und an dem zweiten Ausgang des Differenzverstärkers 208 ein Down-Signal 212 bereitgestellt wird. Die beiden Ausgänge des Differenzverstärkers 208 mit dem Up-Signal 210 und dem Down-Signal 212 bilden einen ersten und einen zweiten Eingang einer erfindungsgemäßen Vorrichtung 120 zum Feststellen einer Beeinträchtigung der durch den Regelkreis 100 bereitgestellten geregelten Spannung VDDint.
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In der Vorrichtung 120 werden das Up-Signal 210 und das Down-Signal 212 einer Einrichtung 122 zum Überwachen der beiden Signale zugeführt. Die Einrichtung 122 zum Überwachen weist einen ersten Vergleicher 214 für das Up-Signal 210 und einen zweiten Vergleicher 216 für das Down-Signal 212 auf. Ein Ausgang des ersten Vergleichers 214 und ein Ausgang des zweiten Vergleichers 216 bildet jeweils einen Eingang für eine Einrichtung 124 zur Erzeugung eines Benachrichtigungssignals 126. In dem in 2 dargestellten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung umfasst die Einrichtung 124 zur Erzeugung des Benachrichtigungssignals 126 ein ODER-Gatter 218.
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Das an dem ersten Ausgang des Differenzverstärkers 208 anliegende Up-Signal 210 ist ferner mit einem ersten Eingang einer Ladungspumpe 220 gekoppelt. Das am zweiten Ausgang des Differenzverstärkers 208 anliegende Down-Signal 212 ist mit einem zweiten Eingang der Ladungspumpe 220 gekoppelt. Ein Ausgang der Ladungspumpe 220 ist mit dem Steuer- bzw. Gate-Anschluss des NMOS-Transistors 202 verbunden.
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Mit dem Bezugszeichen 230 ist ein Bereich auf dem Chip bzw. IC 200 gekennzeichnet, bei dem beispielsweise durch Freilegen einer Metallbahn eines internen Versorgungsnetzes des Chips 200 die interne geregelte Versorgungsspannung VDDint zugänglich gemacht wird. Das Bezugszeichen 240 kennzeichnet eine Probe-Nadel eines Spike-Generators 250, mit dem Störungen der internen geregelten Versorgungsspannung VDDint induziert werden sollen. Dabei ist der Spike-Generator 250 in 2 durch ein Ersatzschaltbild dargestellt, das eine Spannungsquelle 252, einen Innenwiderstand 254 und eine Kapazität 256 umfasst.
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Für einen Spike-Angriff auf die interne geregelte Spannung VDDint ist eine konstante Spannungsversorgung VProbe im Bereich der geregelten Spannung VDDint mittels des Spike-Generators 250 nötig. Dieser Sachverhalt ist schematisch im oberen Teil von 3 gezeigt.
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Der obere Teil von 3 zeigt die interne geregelte Spannung VDDint aufgetragen über der Zeit, wobei die geregelte Spannung VDDint zwei zeitlich sequentiellen Spike-Angriffen ausgesetzt ist. In einem ersten Zeitraum t1 bis t2 wird eine über die freigelegte Metallbahn 232 konstante Spannungsversorgung VProbe angelegt, wobei VProbe leicht höher als die Spannung VDDint ist. In einem Bereich von t3 bis t4 wird umgekehrt eine Spannung VProbe an der freigelegten Metallbahn 232 angelegt, wobei hier VProbe leicht niedriger als die Spannung VDDint ist. Die Differenz von VProbe zu VDDint kann als Störgröße 132 interpretiert werden.
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Im ersten Fall bzw. dem ersten Zeitintervall t1 bis t2 ist VProbe > VDDint, was dazu führt, dass an dem invertierenden Eingang des Differenzverstärkers 208 eine größere Spannung als die von der Bandgap-Schaltung zur Verfügung gestellte Referenzspannung am nicht invertierenden Eingang des Differenzverstärkers 208 anliegt. Da der Differenzverstärker 208 bestrebt ist, seine Eingänge über die Rückkopplungsschleife stets auf gleichem Potential, also dem Referenzpotential, zu halten, ist in dem Zeitintervall t1 bis t2 das Down-Signal 212 des Differenzverstärkers 208 dauerhaft aktiv bzw. das UP-Signal 210 dauerhaft inaktiv. Dieser Zusammenhang ist in 3 mittig dargestellt. Umgekehrt ist in dem Fall VProbe < VDDint bzw. in dem zweiten Zeitintervall t3 bis t4 das Up-Signal 210 des Differenzverstärkers 208 dauerhaft aktiv bzw. das Down-Signal 212 dauerhaft inaktiv.
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Die Aktivität bzw. Inaktivität der Steuersignale bzw. der Stellgrößen 210, 212 bedeutet nun im Frequenzbereich der Stellgröße einen Frequenzanteil, der unterhalb einer minimalen Grenzfrequenz der Steuersignale liegt, die bei einem normalen Regelverhalten der Regelschleife 100 nicht unterschritten wird. Mit dem ersten Vergleicher 214 und dem zweiten Vergleicher 216 kann nun jeweils die Frequenz des UP-Signals 210 bzw. des Down-Signals 212 mit einer jeweils zu tolerierenden unteren Grenzfrequenz fmin verglichen werden. Im Fall eines Unterschreitens der unteren Grenzfrequenz fmin geben die beiden Vergleicher 214 und 216 jeweils eine logische Eins an ihrem Ausgang aus, wobei die beiden Ausgänge die Eingänge des Oder-Gatters 218 bilden. Dies ist schematisch im unteren Teil von 3 dargestellt. Liegt an dem Ausgang des Oder-Gatters 218 eine logische Eins an, so bedeutet dies ein Unterschreiten der unteren Grenzfrequenz fmin von einer der beiden Stellgrößen 210 bzw. 212 und damit einen Spike-Angriff auf die intern geregelte Spannung VDDint.
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Beide Szenarien VProbe > VDDint bzw. VProbe < VDDint bedeuten also einen Eingriff in die Regelung des auf dem Chip bzw. IC 200 befindlichen Spannungsreglers 100, welcher mit Hilfe der an dem ersten Eingang des Differenzverstärkers 208 anliegenden Referenzspannung (beispielsweise aus einer Bandgap-Schaltung) die externe Spannung VDDext auf die interne Chipversorgungsspannung VDDint regelt. Diese Angriffe werden erfindungsgemäß durch die zeitliche Beobachtung einer Stellgröße oder des zeitlichen Verlaufs des Stellgröße des Regelkreises als solche erkannt. Stellgrößen des Regelkreises sind in dem in 2 gezeigten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung die Signale 210 und 212. Da eine Dauer solcher in 3 schematisch gezeigter Spike-Angriffe im Allgemeinen Größenordnungen über einer Zeitkonstante der Regelschleife 100 liegen, kann durch dauerhaftes Über- bzw. Unterschreiten der Stellgröße bzw. einer Frequenz der Stellgröße ein Angriff erkannt werden.
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Abhängig von der Regelarchitektur können unterschiedliche Stellgrößen überwacht werden. Für einen einfachen P-Regler (Proportional-Regler) lässt sich beispielsweise die Steuer- bzw. Gate-Spannung des Regeltransistors 202 der Regelstrecke 130 durch das dauerhafte Unterschreiten einer minimalen oder das dauerhafte Überschreiten einer maximalen Spannung überwachen. Für einen in 2 gezeigten N-Regler mit eigener Ladungspumpe kann beispielsweise auch die VCO-Frequenz (VCO = voltage controlled oscillator) der Ladungspumpe mit einer minimalen Frequenz verglichen werden.
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Wie im Vorhergehenden bereits beschrieben wurde, bildet für die in 2 dargestellte Regelschaltung sowohl das UP-Signal 210 als auch das Down-Signal 212 jeweils eine Stellgröße der Regelschleife. Somit werden für das in 2 dargestellte Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung die UP- und Down-Signale 210 und 212 des Differenzverstärkers 208 bzw. ihre Frequenzen beobachtet.
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Zusammenfassend kann durch das erfindungsgemäße Konzept also ein Spike-Angriff durch das Beobachten eines Regelmechanismus erkannt werden. Durch die Überwachung einer unteren Grenzfrequenz einer Stellgröße des Regelverstärkers, welche die interne Spannung VDDint mit einer Referenzspannung vergleicht, kann auf den Zustand des Regelkreises geschlossen werden und damit festgestellt werden, ob das System extern über eine Nadel und eine Spannungsquelle versorgt wird. Dadurch wird die Beobachtung der internen geregelten Spannung selbst überflüssig, womit man unabhängig von der Bewertung der internen geregelten Spannungsänderung werden kann.
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Das erfindungsgemäße Konzept bietet den Vorteil, dass eine eindeutige Unterscheidung zwischen Lastwechseln, welche durch das System verursacht werden, und tatsächlich induzierten Spikes leichter möglich ist. Damit ist die Empfindlichkeit einer erfindungsgemäßen Schaltung zur Detektion eines Spike-Angriffs unabhängig von der internen Chip-Kapazität, der Floor-Plan und der Applikation.
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Insbesondere wird darauf hingewiesen, dass abhängig von den Gegebenheiten das erfindungsgemäße Schema auch in Software implementiert sein kann. Die Implementierung kann auf einem digitalen Speichermedium, insbesondere einer Diskette oder einer CD mit elektronisch auslesbaren Steuersignalen erfolgen, die so mit einem programmierbaren Computersystem und/oder Mikrocontroller zusammenwirken können, dass das entsprechende Verfahren ausgeführt wird. Allgemein besteht die Erfindung somit auch in einem Computerprogrammprodukt mit auf einem maschinenlesbaren Träger gespeicherten Programmcode zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens, wenn das Computerprogrammprodukt auf einem Rechner und/oder Mikrocontroller abläuft. In anderen Worten ausgedrückt kann die Erfindung somit als ein Computerprogramm mit einem Programmcode zur Durchführung des Verfahrens realisiert werden, wenn das Computerprogramm auf einem Computer und/oder Mikrocontroller abläuft.
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Bezugszeichenliste
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- 100
- Regelkreis
- 102
- Führungsgröße bzw. Sollwert
- 104
- Regelgröße bzw. Istwert
- 108
- Komparator
- 110
- Stellgröße
- 120
- erfindungsgemäße Vorrichtung zum Feststellen einer Beeinträchtigung
- 122
- Einrichtung zum Überwachen der Stellgröße
- 124
- Einrichtung zur Erzeugung eines Benachrichtigungssignals
- 126
- Benachrichtigungssignal
- 130
- Regelstrecke
- 132
- Störgröße
- 200
- Integrierte Schaltung
- 202
- NMOS-Transistor
- 204
- erster Widerstand
- 206
- zweiter Widerstand
- 208
- Differenzverstärker
- 210
- UP-Signal
- 212
- DOWN-Signal
- 214
- erster Vergeicher
- 216
- zweiter Vergleicher
- 218
- ODER-Gatter
- 220
- Ladungspumpe
