DE102005014627A1 - Flashspeicher, Halbleiterbauelement, Seitenpuffer und Schaltung für einen Flashspeicher - Google Patents
Flashspeicher, Halbleiterbauelement, Seitenpuffer und Schaltung für einen Flashspeicher Download PDFInfo
- Publication number
- DE102005014627A1 DE102005014627A1 DE102005014627A DE102005014627A DE102005014627A1 DE 102005014627 A1 DE102005014627 A1 DE 102005014627A1 DE 102005014627 A DE102005014627 A DE 102005014627A DE 102005014627 A DE102005014627 A DE 102005014627A DE 102005014627 A1 DE102005014627 A1 DE 102005014627A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- bit lines
- overlap
- orthogonal direction
- wise manner
- page buffers
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000000872 buffer Substances 0.000 title abstract 4
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/26—Sensing or reading circuits; Data output circuits
- G11C16/28—Sensing or reading circuits; Data output circuits using differential sensing or reference cells, e.g. dummy cells
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/24—Bit-line control circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/26—Sensing or reading circuits; Data output circuits
Landscapes
- Read Only Memory (AREA)
Abstract
Die Erfindung bezieht sich auf einen Flashspeicher mit einem ersten Seitenpuffer (PB0), welcher ein erstes Bitleitungspaar (BL0_E, BL0_O) umfasst, und mit einem zweiten Seitenpuffer (PB1), welcher ein zweites Bitleitungspaar (BL1_E, BL1_O) umfasst, wobei jeder Seitenpuffer eine Schaltung (22) für hohe Spannung zum Auswählen einer der Bitleitungen der Bitleitungspaare und eine Niedrigspannungsschaltung (26) zum Abtasten der Speicherzellendaten über die ausgewählte Bitleitung beinhaltet, auf ein zugehöriges Halbleiterbauelement, auf einen zugehörigen Seitenpuffer und auf eine Schaltung für einen Flashspeicher. DOLLAR A Erfindungsgemäß umfasst wenigstens einer der Seitenpuffer einen Schalttransistor (LT4), welcher mit einer Abtastleitung (SO0, SO1) verbunden ist, wobei die Abtastleitungen des ersten und zweiten Seitenpuffers stufenweise versetzt angeordnet sind, so dass sie in einer Richtung orthogonal zu den Bitleitungen nicht überlappen. DOLLAR A Verwendung z. B. für Flashspeicher in Multimediaanwendungen.
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2004-0020424 | 2004-03-25 | ||
KR1020040020424A KR100543474B1 (ko) | 2004-03-25 | 2004-03-25 | 감지 라인들 사이의 커플링 노이즈로 인한 읽기 에러를방지할 수 있는 플래시 메모리 장치 |
US10/915,555 US7190618B2 (en) | 2004-03-25 | 2004-08-11 | Semiconductor device for reducing coupling noise |
US10/915,555 | 2004-08-11 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE102005014627A1 true DE102005014627A1 (de) | 2005-10-20 |
DE102005014627B4 DE102005014627B4 (de) | 2009-07-09 |
Family
ID=35034292
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE102005014627A Active DE102005014627B4 (de) | 2004-03-25 | 2005-03-24 | Flashspeicher und Halbleiterbauelement |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4772350B2 (de) |
CN (1) | CN100568389C (de) |
DE (1) | DE102005014627B4 (de) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100666184B1 (ko) * | 2006-02-02 | 2007-01-09 | 삼성전자주식회사 | 하부 비트라인들과 상부 비트라인들이 전압제어블락을공유하는 3-레벨 불휘발성 반도체 메모리 장치 |
US7817470B2 (en) | 2006-11-27 | 2010-10-19 | Mosaid Technologies Incorporated | Non-volatile memory serial core architecture |
KR20120136533A (ko) * | 2011-06-09 | 2012-12-20 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 장치 및 이의 동작방법 |
CN103700400B (zh) * | 2012-09-28 | 2017-10-31 | 上海华虹集成电路有限责任公司 | 用于Flash EEPROM的数据锁存电路 |
CN107437427B (zh) * | 2017-08-07 | 2020-06-23 | 上海兆芯集成电路有限公司 | 读取电路和读取方法 |
KR20210059081A (ko) * | 2019-11-13 | 2021-05-25 | 유니텍 메모리 테크놀로지 리미티드 | 낸드 플래시 메모리의 비트라인 스위치 회로 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4170604B2 (ja) * | 2001-04-18 | 2008-10-22 | 株式会社東芝 | 不揮発性半導体メモリ |
KR100399353B1 (ko) * | 2001-07-13 | 2003-09-26 | 삼성전자주식회사 | 시분할 감지 기능을 구비한 불 휘발성 반도체 메모리 장치및 그것의 읽기 방법 |
JP4004811B2 (ja) * | 2002-02-06 | 2007-11-07 | 株式会社東芝 | 不揮発性半導体記憶装置 |
KR100562508B1 (ko) * | 2003-12-01 | 2006-03-21 | 삼성전자주식회사 | 비트 라인의 고전압이 누설되는 것을 막아주는 불휘발성반도체 메모리 장치 |
-
2005
- 2005-03-16 JP JP2005076030A patent/JP4772350B2/ja active Active
- 2005-03-24 DE DE102005014627A patent/DE102005014627B4/de active Active
- 2005-03-25 CN CNB2005100592556A patent/CN100568389C/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN100568389C (zh) | 2009-12-09 |
DE102005014627B4 (de) | 2009-07-09 |
JP2005276422A (ja) | 2005-10-06 |
CN1674158A (zh) | 2005-09-28 |
JP4772350B2 (ja) | 2011-09-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TW200632910A (en) | Semiconductor integrated circuit device | |
DE102005014627A1 (de) | Flashspeicher, Halbleiterbauelement, Seitenpuffer und Schaltung für einen Flashspeicher | |
TW200636974A (en) | Semiconductor device and method for controlling operation thereof | |
TW200518317A (en) | Memory cell structure | |
ATE544154T1 (de) | Verfahren und vorrichtung für eine blinde sram- zelle | |
US7723867B2 (en) | Power gating of circuits | |
JP4832232B2 (ja) | 半導体集積回路装置及び電子装置 | |
DE60308183D1 (de) | Pufferanordnung für speicher | |
TW200634843A (en) | Page buffer circuit of flash memory device | |
TW200737222A (en) | Sense amplifier circuit in semiconductor memory device and driving method thereof | |
TW200520209A (en) | Nonvolatile semiconductor memory | |
TW200620824A (en) | High voltage switching circuit of a NAND type flash memory device | |
DE50308471D1 (de) | Wort- und bitleitungsanordnung für einen finfet- halbleiterspeicher | |
TWI266338B (en) | Output circuit of SRAM | |
ATE417348T1 (de) | Hochspannungs-treiberschaltung mit schneller leseoperation | |
JP2007036216A5 (de) | ||
TW200610268A (en) | Level shifter and method thereof | |
WO2007014117A3 (en) | Non-volatile memory | |
US11670347B2 (en) | Semiconductor memory device with power gating circuit for data input/output control block and data input/output block and semiconductor system including the same | |
TW200606955A (en) | Semiconductor storage device | |
JP2007206681A5 (de) | ||
TW200625337A (en) | Semiconductor memory device capable of switching from multiplex method to non-multiplex method | |
DE602005027285D1 (de) | MRAM mit hoher Stromdichte | |
KR20180051592A (ko) | 전력 게이팅 디바이스들 및 방법들 | |
TW200507288A (en) | A semiconductor memory device including the MOS transistor comprising the floating gate and the control gate |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8364 | No opposition during term of opposition |