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Die
Erfindung betrifft eine Thyristoranordnung mit einem Thyristor,
insbesondere mit einem Thyristor mit Zündstufenstruktur, der einen
integrierten Schutzwiderstand aufweist, welcher in der p-dotierten
Basis des Thyristors angeordnet ist, sowie ein Verfahren zur Herstellung
einer solchen Thyristoranordnung.
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Die
Zündstufenstruktur
eines derartigen Thyristors umfasst eine oder mehrere aufeinanderfolgend
angeordnete Zündstufen,
die ein kontrolliertes Einschalten des Thyristors gewährleisten.
Um die Zündstufenstruktur
beim Einschalten des Thyristors nicht zu zerstören, ist ein Schutzwiderstand
vorgesehen, der aus einem Abschnitt der p-dotierten Basis gebildet
und daher in den Halbleiterkörper
integriert ist. Ein solcher Schutzwiderstand ist beispielsweise
aus der
DE 199 47
036 C1 bekannt. Der den Schutzwiderstand bildende Abschnitt
der p-dotierten
Basis wird im Folgenden auch als Widerstandszone bezeichnet.
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Derartige
Schutzwiderstände
sind allerdings stark temperaturabhängig. Diese Temperaturabhängigkeit
ist bei Temperaturen unter 400 K im Wesentlichen durch die Beweglichkeit
der Ladungsträger
in der Widerstandszone bestimmt. Da die Anzahl der im Halbleiterkörper des
Thyristors erzeugten Phononen mit zunehmender Temperatur steigt
und da die Ladungsträger
der Widerstandszone an Phononen gestreut werden, kommt es mit zunehmender
Temperatur zu einer Abnahme der Beweglichkeit der Ladungsträger im Halbleiterkörper und
insbesondere auch in der Widerstandszone, was mit einer Erhöhung des
elektrischen Widerstands der Widerstandszone einher geht.
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Ein
gegenläufiger
Effekt besteht darin, dass mit zunehmender Temperatur im Halbleiterkörper des Thyristors,
insbesondere in der Widerstandszone, immer mehr thermische Ladungsträger erzeugt
werden, was zu einem Absinken des Widerstandswertes insbesondere
in der Widerstandszone führt.
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Beide
Effekte überlagern
sich, so dass bei Temperaturen von typischerweise unter 400 K der
Einfluss der Phononenstreuung, bei Temperaturen über 400 K der Einfluss der
thermisch erzeugten Ladungsträger überwiegt,
so dass der elektrische Widerstand der Widerstandszone mit zunehmender
Temperatur bis etwa 400 K zunimmt und mit zunehmender Temperatur
für Temperaturen
größer 400
K abnimmt.
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Durch
die thermische Abhängigkeit
des Schutzwiderstandes ist es schwierig, den Einschaltstrom in der
Zündstufenstruktur
beim Zünden
des Thyristors auf einen definierten Wert zu begrenzen. Insbesondere
bei sehr hohen Temperaturen kann es zu einer Zerstörung der
Zündstufenstruktur
beim Einschalten des Thyristors kommen, wenn der den Zündstrom
begrenzende elektrische Schutzwiderstand der Widerstandszone unter
einen zulässigen
Minimalwert sinkt. Dies gilt vor allem dann, wenn die den Schutzwiderstand
bildende Widerstandszone infolge ihrer hohen Temperatur in den Zustand
der Eigenleitung übergeht.
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Gemäß der
DE 196 40 311 A1 besteht
eine Möglichkeit,
die Temperaturabhängigkeit
eines in der p-dotierten Basis eines Thyristors angeordneten Schutzwiderstands
zu reduzieren, in der Erzeugung von Streuzentren im Bereich der
Widerstandszone, beispielsweise durch die Bestrahlung der Widerstandszone
mit Heliumionen, bei gleichzeitiger Anhebung der Dotierungskonzentration
im Bereich der Widerstandzone.
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Um
jedoch eine spürbare
Reduktion der Temperaturabhängigkeit
zu erreichen, sind relativ hohe Bestrahlungsdosen erforderlich.
Allerdings können
die Bestrahlungsdosen nicht beliebig hoch gewählt werden, da andererseits
der Leckstrom des Thyristors zu stark ansteigen würde.
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Aus
der
US 3,683,306 ist
ein temperaturkompensierter Halbleiterwiderstand bekannt, der als
Abschnitt eines Halbleiterkörpers
ausgebildet ist. Der Halbleiterwiderstand weist elektrisch inaktive
neutrale Fremdstoffe auf, die die Temperaturabhängigkeit des elektrischen Widerstandes
des Halbleiterwiderstandes herabsetzen.
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Die
US 5,488,103 A zeigt
einen Widerstandsschaltkreis mit einem ersten und einem zweiten
Widerstand, die zueinander parallel oder in Reihe geschaltet sind
und die unterschiedliche Temperaturkoeffizienten aufweisen, so dass
der resultierende Gesamtwiderstand einen geringeren Temperaturkoeffizienten
aufweist als die Einzelwiderstände.
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Aus
der
DE 100 53 957
A1 ist ein Halbleiterwiderstand und aus der
US 4,243,998 sind Thyristoren bekannt,
bei denen eine Kompensation der Temperaturabhängigkeit der Leitfähigkeit
eines bestimmten Halbleiterbereichs durch einen zweiten zu diesem
Halbleiterbereich in Serie geschalteten Widerstand erfolgt.
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Aus
Duclos, R.A., Neilson, J. M. S.: "Thyristors with polysilicon shunt resistors" in RCA Technical
notes, 1985, Mar. 21, TN-No. 1365, Seiten 1 bis 6, ist ein Thyristor
mit einem externen Widerstand bekannt, der zwischen den n-dotierten Emitter
und die p-dotierte Basis des Thyristors geschaltet ist.
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Die
US 3,445,687 zeigt einen
gesteuerten Gleichrichter, in dem eine erste p-dotierte Schicht,
eine erste n-dotierte Schicht, eine zweite p-dotierte Schicht und
eine zweite n-dotierte Schicht aufeinanderfolgend angeordnet sind.
Die zweite p-dotierte
Schicht und die zweite n-dotierte Schicht weisen jeweils eine Elektrode auf,
zwischen die ein einstellbarer Wi derstand geschaltet ist. Die erste
p-dotierte Schicht und die zweite n-dotierte Schicht weisen jeweils
einen Anschluss auf, der zur äußeren Kontaktierung
aus einem den Gleichrichter umgebenden Gehäuse herausgeführt ist.
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Aus
der US 2004/0031545 A1 ist ein Leistungshalbleiterbauelement bekannt,
das beispielsweise als Thyristor ausgebildet sein kann und das in
einem Gehäuse
angeordnet ist. Aus dem Gehäuse
sind mehrere Anschlüsse
des Leistungshalbleiterbauelements herausgeführt.
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Es
ist die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, die Temperaturabhängigkeit
eines Schutz widerstands in einem Thyristor zu verringern, sowie
ein Verfahren bereitzustellen, mit dem die Temperaturabhängigkeit
eines Schutz widerstands in einem Thyristor verringert wird.
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Diese
Aufgabe wird durch eine Thyristoranordnung gemäß den Ansprüchen 1 und 16 bzw. durch ein Verfahren
zur Herstellung einer Thyristoranordnung gemäß Anspruch 22 gelöst. Vorteilhafte
Ausführungsformen
und Weiterbildungen der Erfindung sind Gegenstand von Unteransprüchen.
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Eine
erfindungsgemäße Thyristoranordnung
umfasst einen Thyristor mit einem Halbleiterkörper, in dem in einer vertikalen
Richtung aufeinanderfolgend ein p-dotierter Emitter, eine n-dotierte Basis, eine
p-dotierte Basis sowie ein n-dotierter Hauptemitter angeordnet sind.
In einer zur vertikalen Richtung senkrechten lateralen Richtung
r erstreckt sich eine in der p-dotierten Basis angeordnete Widerstandszone
mit einem vorgegebenen elektrischen Widerstand. Der Ausdruck "lateral" schließt dabei
auch den Begriff "radial" mit ein, der bevorzugt
bei rotationssymmetrisch oder zumindest im Wesentlichen rotationssymmetrisch
aufgebauten Thyristoren häufig
Verwendung findet.
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Ein
typischerweise außerhalb
des Halbleiterkörpers
angeordneter, externer Widerstand ist elektrisch zu der Widerstandszo ne
parallel geschaltet, wobei der externe Widerstand zumindest in einem
bestimmten Temperaturbereich einen Temperaturkoeffizienten aufweist,
dessen Betrag kleiner ist als der Betrag des Temperaturkoeffizienten
der Widerstandszone in dem bestimmten Temperaturbereich.
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Durch
diese Parallelschaltung entsteht ein Gesamtwiderstand, der eine
geringere Temperaturabhängigkeit
zeigt als der Widerstand der Widerstandszone, sofern der externe
Widerstand hinsichtlich seines Temperaturverhaltens und/oder hinsichtlich
seiner Anordnung geeignet gewählt
ist.
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Der
Halbleiterkörper
weist Anschlussstellen auf, an denen der externe Widerstand angeschlossen
ist. Dabei kann der externe Widerstand auf dem Halbleiterkörper angeordnet
und fest mit diesem verbunden sein. Ebenso kann der externe Widerstand
jedoch auch in einer Kammer eines Gehäuses angeordnet sein, das den Halbleiterkörper umschließt, wobei
der externe Widerstand zur Kontaktierung des Halbleiterkörpers an
den Halbleiterkörper,
beispielsweise unter Verwendung von Federkontakten, lediglich angedrückt ist.
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Gemäß einer
weiteren bevorzugten Ausführungsform
der Erfindung kann ein Thyristor, der derartige Anschlussstellen
aufweist und dessen Halbleiterkörper
von einem Gehäuse
umschlossen ist, mit Anschlusskontakten versehen sein, die aus dem
Gehäuse
herausgeführt
und mit jeweils einer der Anschlussstellen elektrisch leitend verbunden
sind. Somit besteht die Möglichkeit,
einen außerhalb
des Gehäuses
angeordneten externen Widerstand an die Anschlusskontakte anzuschließen. Dadurch
ist es beispielsweise möglich,
den externen Widerstand an individuelle Bedürfnisse, z.B. an einen bei
einer bestimmten Anwendung auftretenden Betriebstemperaturbereich
des Thyristors, anzupassen. Ebenso kann ein auf diese Weise außerhalb
des Gehäuses
angeordneter externer Widerstand durch zusätzliche Maßnahmen gekühlt oder auf eine definierte Temperatur
gebracht werden.
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Gemäß einem
weiteren Aspekt der Erfindung ist der externe Widerstand thermisch
vom Halbleiterkörper
weitestgehend entkoppelt und damit temperaturunabhängig.
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Weiterhin
können
der externe Widerstand und die Widerstandzone zumindest in einem
bestimmten Temperaturbereich, z.B. zwischen 300 K und 450 K Temperaturkoeffizienten
mit unterschiedlichen Vorzeichen aufweisen, was insbesondere bei
einer thermischen (Rest-)Kopplung zwischen dem externen Widerstand
und der Widerstandszone eine verringerte Temperaturabhängigkeit
des Schutzwiderstandes in dem betrachteten Temperaturbereich bewirken
kann. Bevorzugt ist bei dem externen Widerstand ein positiver Temperaturkoeffizient
in dem betrachteten Temperaturbereich anzuzielen.
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Ändern die
Temperaturkoeffizienten des Gesamtwiderstandes und der internen
Widerstandszone mit zunehmender Temperatur ihr Vorzeichen, so tritt
der Vorzeichenwechsel beim Temperaturkoeffizienten des Gesamtwiderstandes
vorzugsweise bei einer höheren
Temperatur ein als der Vorzeichenwechsel beim Temperaturkoeffizienten
der internen Widerstandszone.
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Bevorzugte
Ausführungsformen
eines erfindungsgemäßen Thyristors
werden nachfolgend anhand der beigefügten Figuren näher erläutert. In
den Figuren zeigen:
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1 einen
Abschnitt einer erfindungsgemäßen Thyristoranordnung
mit einem zu einer Widerstandszone parallel geschalteten externen
Widerstand im Querschnitt,
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2 den
Verlauf des Widerstandswertes eines Schutzwiderstandes, der gemäß 1 durch
eine Parallelschaltung zwischen einem externen Widerstand und einer
Widerstandszone gebildet ist, in Abhängigkeit von der Temperatur
im Vergleich zum Verlauf des Wi derstandswertes eines herkömmlichen,
lediglich aus einer Widerstandszone gebildeten Schutzwiderstandes
in Abhängigkeit
von der Temperatur,
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3 eine
erfindungsgemäße Thyristoranordnung,
bei dem Teilchen in die Widerstandszone und in einen unterhalb der
Widerstandszone angeordneten Abschnitt der n-dotierten Basis durch
Bestrahlen eingebracht werden, im Querschnitt,
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4 einen
Abschnitt einer erfindungsgemäßen Thyristoranordnung,
bei der ein als Schichtwiderstand ausgebildeter und zu der Widerstandszone
elektrisch parallel geschalteter externer Widerstand auf dem Halbleiterkörper angeordnet
und fest mit diesem verbunden ist, im Querschnitt,
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5a einen
Abschnitt einer erfindungsgemäßen Thyristoranordnung,
bei der ein als Schichtwiderstand ausgebildeter, nicht fest mit
dem Halbleiterkörper
verbundener externer Widerstand zu einer Widerstandszone elektrisch
parallel geschaltet ist, im Querschnitt,
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5b einen
Querschnitt durch eine Thyristoranordnung gemäß 5a, die
in einem Gehäuse
angeordnet ist,
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6a einen
Querschnitt durch einen in einem Gehäuse angeordnete erfindungsgemäße Thyristoranordnung,
die aus dem Gehäuse
herausgeführte
Anschlusskontakte aufweist, mittels denen ein externer Widerstand
parallel zur Widerstandszone anschließbar ist, und
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6b einen
vergrößerten Abschnitt
der Thyristoranordnung gemäß 6a im
Querschnitt.
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In
den Figuren bezeichnen gleiche Bezugszeichen gleiche Teile mit gleicher
Bedeutung.
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1 zeigt
einen Abschnitt einer erfindungsgemäßen Thyristoranordnung mit
einem Thyristor im Querschnitt. Der Thyristor ist gemäß einer
bevorzugten Ausführungsform
rotationssymmetrisch oder im Wesentlichen rotationssymmetrisch um
eine Achse A-A' aufgebaut.
Er umfasst einen Halbleiterkörper 1,
bei dem in einer vertikalen Richtung aufeinanderfolgend ein stark
p-dotierter Emitter 8, eine schwach n-dotierte Basis 7,
eine p-dotierte Basis 6 sowie ein stark n-dotierter Hauptemitter 5 aufeinanderfolgend
angeordnet sind. Eine Emitterelektrode 9 kontaktiert den
stark n-dotierten Hauptemitter 5. Die p-dotierte Basis 6 umfasst
p-dotierte Abschnitte 61, 64, einen stark p-dotierten
Abschnitt 62 sowie einen schwach p-dotierten Abschnitt 63.
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Der
p-dotierte Abschnitt 64 wiederum umfasst einen nachfolgend
auch als Widerstandszone bezeichneten Abschnitt 65, dessen
lateral effektiver Widerstand durch Anwendung geeigneter Maßnahmen
auch höher
sein kann als derjenige, der sich ergeben würde, wenn der spezifische Widerstand
der Zone 65 dem der Zone 64 entspräche. Solche
Maßnahmen
können
außer
einer lokalen Erhöhung
des spezifischen Widerstandes z.B. das Entfernen eines oberflächennahen
Bereiches der Widerstandszone 65 oder die lokale Bestrahlung
der Widerstandszone 65 mit Teilchen sein. Da der Halbleiterkörper 1 bevorzugt
rotationssymmetrisch um die Achse A-A' ausgebildet ist, weist die Widerstandszone 65 bevorzugt
ebenfalls eine Rotationssymmetrie um die Achse A-A' auf.
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In 1 ist
symbolisch ein elektrischer Widerstand 29 dargestellt,
der den elektrischen Gesamtwiderstand R.int der Widerstandszone 65 repräsentiert.
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In
einem Abschnitt 71 der schwach n-dotierten Basis 7 erstreckt
sich diese zwischen den Abschnitten 61 und 63 der
p- dotierten Basis 6 weiter
in Richtung der Vorderseite 19 des Halbleiterkörpers 1 in
die p-dotierte Basis 6 hinein als in den übrigen Bereichen
der n-dotierten Basis 7. Zwischen den Abschnitten 61 und 63 der p-dotierten
Basis 6 und dem abschnitt 71 der n-dotierten Basis 7 ist
jeweils ein gekrümmter
pn-Übergang
ausgebildet, so dass die Durchbruchfeldstärke im Zentrum (r=0) des Thyristors
eher erreicht wird als in den übrigen
Bereichen des Thyristors. Der zwischen den Abschnitten 61, 62 und 63 der
p-dotierten Basis 6 und der schwach n-dotierten Basis 7 ausgebildete
pn-Übergang
wird im Folgenden auch als Durchbruchstruktur 10 bezeichnet.
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Infolge
der beschriebenen Geometrie der Durchbruchstruktur 10 und
dem damit verbundenen Verlauf des elektrischen Feldes zündet der
Thyristor bei in Vorwärtsrichtung
anliegender und ansteigender Spannung zunächst im Bereich der Durchbruchstruktur 10.
Des Weiteren kann eine Zündung
des Thyristors auch dadurch erreicht werden, dass in den Bereich
der Durchbruchstruktur 10 Licht, insbesondere Infrarotlicht,
auf die Vorderseite 19 des Halbleiterkörpers 1 eingestrahlt
wird. Dadurch ist es möglich,
den Thyristor mit Licht zu zünden.
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Um
ein kontrolliertes Einschalten des Thyristors zu erreichen, sind
in lateraler Richtung r zwischen der Durchbruchstruktur 10 und
dem n-dotierten Hauptemitter 5 eine oder mehrere Zündstufen
angeordnet. In 1 sind beispielhaft vier Zündstufen 11, 12, 13, 14 dargestellt.
Die erste 11, zweite 12, dritte 13 und
vierte 14 Zündstufe
sind ausgehend von der Durchbruchstruktur 10 in Richtung
des stark n-dotierten Hauptemitters 5 aufeinanderfolgend
angeordnet.
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Jede
der Zündstufen 11, 12, 13, 14 umfasst
einen in die p-dotierte
Basis 6 eingebetteten, stark n-dotierten Zündstufen-Emitter 51,
der eine auf der Vorderseite 19 des Halbleiterkörpers 1 angeordnete
Zündstufen-Elektrode 91 kontaktiert.
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Die
Widerstandszone 65 ist beispielhaft in der lateralen Richtung
r zwischen der zweiten und der dritten Zündstufe 12 bzw. 13 angeordnet.
Ein außerhalb
des Halbleiterkörpers 1 angeordneter
externer Widerstand 30 mit einem Widerstandswert R.ext
ist elektrisch zu der Widerstandszone 65 parallel geschaltet.
Zur elektrischen Kontaktierung der Widerstandszone 65 mit
dem externen Widerstand 30 sind am Halbleiterkörper 1 eine
erste Anschlussstelle 31 und eine zweite Anschlussstelle 32 vorgesehen.
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Durch
die Parallelschaltung der Widerstandszone
65 und des externen
Widerstands
30 entsteht ein Gesamt-Schutzwiderstand R.ges.,
der sich wie folgt berechnet:
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Der
Wert R.ges des gesamten Schutzwiderstandes beträgt bei Raumtemperatur (293
K) bevorzugt zwischen 10 Ω und
500 Ω,
besonders bevorzugt zwischen 80 Ω und
120 Ω.
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Damit
lässt sich
bei einem vorgegebenem Wert R.ges des Schutzwiderstandes sowie bei
einem bestimmten Wert R.int, vorzugsweise zwischen 20 Ω und 1000 Ω, des Widerstandes
der Widerstandszone 65 aus Gleichung (1) der erforderliche
Wert R.ext des externen Widerstandes 30 ermitteln.
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Unter
der Voraussetzung, dass in einem bestimmten Temperaturbereich der
Betrag der Temperaturempfindlichkeit des externen Widerstands 30 kleiner
ist als der Betrag der Temperaturempfindlichkeit der Widerstandszone 65,
so weist auch der Gesamtwiderstand R.ges eine Temperaturempfindlichkeit
auf, die kleiner ist als die Temperaturempfindlichkeit der Widerstandszone 65.
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2 zeigt
den Verlauf eines auf diese Weise gebildeten elektrischen Gesamtwiderstandes
R.ges in Abhängigkeit
von der Temperatur im Vergleich zum Verlauf eines lediglich durch
eine Widerstandszone gebildeten Schutzwiderstandes.
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Eine
gestrichelte erste Kurve 21 zeigt den Verlauf des Widerstandswertes
R.int einer Widerstandszone eines Thyristors gemäß dem Stand der Technik, d.h.
bei dem der Schutzwiderstand lediglich aus der Widerstandszone gebildet
ist, in Abhängigkeit
von der Temperatur. Die erste Kurve 21 ist normiert auf
den Widerstandswert R bei Raumtemperatur (293 K).
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In
dem dargestellten Temperaturintervall, das sich in dem vorliegenden
Ausführungsbeispiel
von einer Minimaltemperatur mit 293 K (Raumtemperatur) bis zu einer
Maximaltemperatur von 460 K erstreckt, steigt der Widerstand R.int
der Widerstandszone bis zu einer Temperatur von ca. 410 K an und
fällt dann
mit weiter steigender Temperatur wieder ab. Das Verhältnis zwischen
dem Maximalwert des Widerstandes R.int der Widerstandzone in dem
Temperaturintervall und ihrem Minimalwert bei Raumtemperatur (293
K) des Widerstands R.int in dem betrachteten Temperaturintervall
beträgt
dabei annähernd
1,8.
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Im
Vergleich dazu zeigt die zweite, durchgezogene Kurve 22 den
Verlauf des Widerstands R.ges eines Schutzwiderstandes, der aus
einer Widerstandzone und einem zu dieser elektrisch parallel geschalteten
externen Widerstand R.ext gebildet ist. Auch die zweite Kurve 22 wurde
auf den Wert des Gesamtwiderstandes R.ges (293 K) bei Raumtemperatur
normiert. Des Weiteren wurde bei dieser Darstellung angenommen,
dass der Wert R.ext des externen Widerstandes unabhängig von
seiner Temperatur T konstant ist.
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Da
der Schutzwiderstand durch einfaches Parallelschalten eines externen
Widerstandes abgesenkt würde,
wurde im Fall der zweiten Kurve 22 der laterale Widerstand
der internen Widerstandszone soweit erhöht, dass der Wert des Schutzwiderstandes
R.ges bei Raumtemperatur mit dem Widerstandswert des Schutzwiderstandes
R.int bei Raumtemperatur im Fall der ersten Kurve 21 übereinstimmt.
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Wie
der Verlauf der zweiten Kurve 22 zeigt, beträgt in diesem
Fall das Verhältnis
zwischen dem Maximalwert und dem Minimalwert des Widerstands R.ges
in dem bereits oben betrachteten Temperaturintervall von 290 K bis
460 K ca. 1,27, was einer deutlich geringeren Temperaturabhängigkeit
des Schutzwiderstandes entspricht als im Fall der ersten Kurve 21.
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Gemäß einer
bevorzugten Ausführungsform
der Erfindung weicht der Gesamtwiderstand R.ges des externen Widerstandes
und der zu diesem elektrisch parallel geschalteten Widerstandszone
im Temperaturbereich zwischen 300 K und 450 K bevorzugt nicht mehr
als 50%, besonders bevorzugt nicht mehr als 30%, vom Gesamtwiderstand
R.ges bei einer Temperatur von 300 K ab.
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Um
die Wirksamkeit des externen Widerstands hinsichtlich einer Reduzierung
der Temperaturabhängigkeit
des Schutzwiderstandes zu unterstützen und die Temperaturabhängigkeit
des internen Widerstands R.int der Widerstandszone 65 weiter
zu reduzieren, können
in die Widerstandszone 65 Teilchen, beispielsweise Helium-Ionen,
Silizium-Ionen, Elektronen oder andere, vorzugsweise nicht dotierende
Teilchen, eingestrahlt werden. Hierdurch kommt es in den bestrahlten
Bereichen zu Störstellen,
an denen die Ladungsträger
der Widerstandszone gestreut werden, wodurch sich deren Beweglichkeit
reduziert.
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Wie
in 3 dargestellt ist, erfolgt das Einstrahlen von
Teilchen 105 in die Widerstandszone 65 bevorzugt
mittels maskierter Bestrahlung ausgehend von der Vorderseite 19 des
Halbleiterkörpers 1.
Dazu wird eine Maske 100 verwendet, die eine oder mehrere Öffnungen 102 aufweist.
Eine Öffnung 102 der
Maske 100 ist gegenüberliegend
der Widerstandszone 65 angeordnet. Beim Bestrahlungsvorgang
treten Teilchen 105 durch die Öffnung 102 der Maske 100 hindurch
und dringen abhängig
von Ihrer Energie bis zu einer bestimmten Eindringtiefe in den Halbleiterkörper 1 ein
und erzeugen dort die erwähnten
Störstellen.
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Auf
diese Weise ist es möglich,
die Beweglichkeit der Ladungsträger
in der Widerstandszone 65 zu reduzieren, wie dies bereits
aus dem Stand der Technik bekannt ist.
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Darüber hinaus
ist es erfindungsgemäß vorgesehen,
auch in einen unterhalb der Widerstandszone 65 angeordneten
Abschnitt 72 der n-dotierten Basis 7 Teilchen 105 einzustrahlen
und dadurch die Beweglichkeit der Ladungsträger in diesem Abschnitt 72 zu
verringern. Zur Bestrahlung des Abschnitts 72 kann dieselbe
Art von Teilchen 105 verwendet werden, wie sie zur Bestrahlung
der Widerstandszone 65 eingesetzt werden. Besonders geeignet
sind Elektronen, da mit diesen eine besonders hohe Eindringtiefe
erreichbar ist, so dass sich der bestrahlte Bereich 72 gegebenenfalls über die
gesamte Tiefe des Bauelementes bis zum gegenüberliegenden Anodenkontakt
erstrecken kann.
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Die
Bestrahlung der Widerstandszone 65 und des Abschnitts 72 erfolgt
vorzugsweise während
eines einzigen Bestrahlungsschritts. Verschiedene Eindringtiefen
können
beispielsweise durch eine entsprechende Verteilung der Energie der
eingestrahlten Teilchen 105 erreicht werden. Ebenso ist
es möglich,
die Widerstandszone 65 und den Abschnitt 72 nacheinander
in beliebiger Reihenfolge mit gleichen oder unterschiedlichen Teilchen 105 gleicher
oder unterschiedlicher Energie zu bestrahlen.
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Durch
das Einbringen von Teilchen 105 in die Widerstandszone 65 sowie
in den Abschnitt 72 der n-dotierten Basis 7 wird
die Temperaturabhängigkeit
eines durch den Widerstand R.int gebildeten Schutzwiderstandes reduziert.
Die Maßnahme,
Teilchen 105 in die Widerstandszone 65 und/oder
in den Abschnitt 72 der n-dotierten Basis 7 einzubringen,
kann in besonders vorteilhafter Weise mit der Verwendung eines externen
Widerstandes, wie er vorstehend detailliert beschrieben ist, kombi niert
werden. Aus Gründen
der Übersichtlichkeit wurde
bei 3 auf die Darstellung eines externen Widerstandes
verzichtet.
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Um
einen externen Widerstand mit einer Widerstandszone elektrisch zu
kontaktieren, sind erfindungsgemäß verschiedene
Varianten vorgesehen. Wie oben erläutert sind zur elektrischen
Kontaktierung der Widerstandszone 65 eine erste Anschlussstelle 31 und
eine zweite Anschlussstelle 32 vorgesehen. Die Anschlussstellen 31, 32 sind
vorzugsweise als Metallisierungen des Halbleiterkörpers 1 ausgebildet
und auf dessen Vorderseite 19 angeordnet. Die Widerstandszone 65 erstreckt
sich in lateraler Richtung r in etwa zwischen den einander zugewandten
Seiten der Anschlussstellen 31, 32.
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Die
Realisierung eines externen Widerstandes lässt sich auf eine Vielzahl
von Varianten realisieren.
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Bei
einer ersten in 4 dargestellten Variante wird
ein vorzugsweise als Schichtwiderstand ausgebildeter externer Widerstand 30 verwendet,
der die erste und die zweite Anschlussstelle 31, 32 elektrisch
miteinander verbindet. Ein derartiger Schichtwiderstand ist bevorzugt
mittels eines Isolators 33 vom Halbleiterkörper 1 beabstandet
und vorteilhafter Weise mit diesem fest verbunden. Der Isolator 33 kann
beispielsweise aus einer Keramik oder einem Oxid gebildet sein.
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Weist
der Widerstand R.ext des externen Widerstandes 30 in einem
bestimmten Temperaturintervall einen Temperaturkoeffizienten auf,
dessen Betrag kleiner ist als der Betrag des Temperaturkoeffizienten
der Widerstandszone 65, so ist es vorteilhaft, den externen
Widerstand 30 thermisch möglichst gut gegenüber dem Halbleiterkörper 1 zu
isolieren.
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Weist
andererseits der externe Widerstand 30 in einem bestimmten
Temperaturintervall einen Temperaturkoeffizienten auf, dessen Betrag
größer ist
als der Betrag des Temperaturkoeffizienten der Widerstandszone 65,
so ist es vorteilhaft, den externen Widerstand 30 thermisch
möglichst
gut leitend mit dem Halbleiterkörper 1 zu
koppeln.
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Ein
externer Widerstand 30 kann beispielsweise durch Aufdampfen,
Sputtern, Abscheiden, Siebdruck oder ähnliche bekannte Verfahren
hergestellt werden. Als Materialien für den externen Widerstand 30 eignen sich
z.B. Konstantan, Manganin, Kohlemassewiderstände, usw. Geeignet ist auch
ein Widerstand auf der Basis von polykristallinem Silizium, da dessen
Widerstand im Allgemeinen einen deutlich geringeren Temperaturkoeffizienten
aufweist als einkristallines Silizium.
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Eine
weitere Variante zur Realisierung eines externen Widerstands 30 ist
in 5a gezeigt. Ebenso wie in 4 wird auch
beim Ausführungsbeispiel
gemäß 6a die
Widerstandszone 65 mittels einer ersten bzw. zweiten Anschlussstelle 31, 32 kontaktiert.
Der externe Widerstand 30 gemäß 5a ist
wie der externe Widerstand 30 gemäß 4 als Schichtwiderstand
ausgebildet.
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Allerdings
ist der externe Widerstand 30 gemäß 5a bevorzugt
als Beschichtung eines Keramikelements 95 ausgeführt, über das
die in dem externen Widerstand 30 anfallende Verlustwärme abgeführt werden
kann. Um den Widerstandswert in der erforderlichen Weise anpassen
zu können,
ist es insbesondere vorgesehen, das Keramikelement 95 mit
einer oder mehreren Einbuchtungen oder dergleichen zu versehen,
um die Fläche, über die
sich die Beschichtung – d.h.
der Widerstand 30 – erstreckt,
zu vergrößern. Des
Weiteren ist es vorgesehen, die Beschichtung mäanderförmig auf der Oberfläche des
Keramikelementes 95 anzuordnen.
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Der
mit dem Keramikelement 95 fest verbundene externe Widerstand 30 ist
mit den Anschlussstellen 31, 32 bevorzugt nicht
fest verbunden, sondern lediglich elektrisch mit diesen kon taktiert.
Insbesondere können
an dem Keramikelement 95 in 5a nicht
näher dargestellte
Federkontakte vorgesehen sein, von denen einer oder mehrere die
erste Anschlussstelle 31 und einer oder mehrere andere
die zweite Anschlussstelle 32 kontaktieren. Die die erste 31 und
die die zweite 32 Anschlussstelle kontaktierenden Federelemente
sind mittels des externen Widerstands 30 elektrisch miteinander
verbunden, so dass der externe Widerstand 30 bei einer
ordnungsgemäßen Kontaktierung
der Federelemente zwischen die Anschlussstellen 31 und 32 geschaltet
ist.
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5b zeigt
eine Übersichtsdarstellung
durch eine nicht maßstäblich dargestellte
Thyristoranordnung mit einem externen Widerstand 30 gemäß 5a.
Der Halbleiterkörper 1 des
Thyristors weist ein Gehäuse auf,
das insbesondere eine Anode 80 und eine Kathode 81 umfasst,
welche bevorzugt aus Kupfer oder einer Kupferlegierung gebildet
sind. Die Anode 80 kontaktiert den p-dotierten Emitter 8 und
die Kathode 81 kontaktiert den n-dotierten Hauptemitter 5.
Des Weiteren weist das Gehäuse
einen Isolator 82 auf, der die Anode 80 und die
Kathode 81 elektrisch voneinander isoliert.
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In
der Kathode 81 ist ein Lichtkanal 89 ausgebildet,
durch den Licht, insbesondere Infrarotlicht, auf die Durchbruchstruktur 10 des
Halbleiterkörpers 1 eintreten
kann. Um das Eintreten von Feuchtigkeit und Schmutz zu verhindern,
ist der Lichtkanal mit einem Lichtfenster 83 abgeschlossen,
das über
einen keramischen Isolator 84 mit der Kathode 81 verbunden
ist. Die Kathode 81, die Vorderseite 19 des Halbleiterkörpers 1,
das Lichtfenster 83 sowie der keramische Isolator 84 umschließen eine
Kammer 90, in der ein oder mehrere Keramikelemente 95 gemäß 6a angeordnet
sein können.
Ein Keramikelement 95 steht mit der Kathode 81 bevorzugt
in gutem thermischen Kontakt, so dass die Verlustwärme des
externen Widerstandes 30 über den Keramikkörper 95 auf
die Kathode 81 abgeführt
werden kann. Das Keramikelement 95 ist dazu bevorzugt mit
der Anode 81 verklebt und steht mit dieser in gutem ther mischen
Kontakt, so dass die anfallende Verlustwärme weiter nach außen abgeführt werden
kann. Das Keramikelement 95 und/oder der externe Widerstand
sind vorzugsweise ringförmig
ausgebildet und rotationssymmetrisch bzgl. der Achse A-A' angeordnet.
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Eine
weitere Variante zur elektrischen Kontaktierung eines externen Widerstands 30 ist
in 6a dargestellt. Auch hier ist der Halbleiterkörper 1 von
einem Gehäuse
umgeben, das im Wesentlichen dieselben Komponenten umfasst wie das
in 5b dargestellte Gehäuse. Anders als bei der in
den 5a und 5b dargestellten
Thyristoranordnung ist jedoch der externe Widerstand 30 außerhalb
des Thyristorgehäuses
angeordnet.
-
Hierzu
ist das Thyristorgehäuse
mit Anschlusskontakten 85, 86 versehen, von denen
der erste Anschlusskontakt 85 die erste Anschlussstelle 31 und
der zweite Anschlusskontakt 86 die zweite Anschlussstelle 32 elektrisch
kontaktiert. Dabei sind die Anschlusskontakte 85, 86 durch
in die Kathode 81 eingebrachte Öffnungen sowie durch Öffnungen
in dem keramischen Isolator 82 nach außen geführt. Die Durchführung der
Anschlusskontakte 85, 86 insbesondere durch die Öffnungen
des keramischen Isolators 82 sind hermetisch dicht ausgebildet,
um das Eindringen von Schmutz und Feuchtigkeit in den Innenraum 92 und
die Kammer 90 des Thyristorgehäuses zu verhindern.
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Der
externe Widerstand 30 kann mit dem aus dem Thyristorgehäuse herausgeführten Anschlusskontakten 85, 86 auf
einfache Weise mittels eines ersten 93 bzw. zweiten 94 Anschlussleiters
verbunden werden. Um den externen Widerstand 30 zu kontaktierten,
können
die nach außen
geführten
Anschlusskontakte 85, 86 z.B. als Steck-, Schraub-,
Klemm- oder Lötkontakte
ausgebildet sein.
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Zur
elektrischen Isolierung ist der erste Anschlussleiter 93 durch
eine Keramikhülse 87 und
der zweite Anschlussleiter 94 durch eine zweite Keramikhülse 88 hindurchgeführt. Die
Keramikhülsen 87, 88 sind
vorzugsweise mit der Anode 81 verklebt und stehen mit dieser
in gutem thermischen Kontakt, so dass anfallende Verlustwärme weiter
nach außen
abgeführt
werden kann.
-
Unabhängig davon,
auf welche der vorangehend beschriebenen Varianten ein externer
Widerstand 30 eines Thyristors realisiert wurde, ist es
vorteilhaft, wenn der externe Widerstand bestimmte Merkmale aufweist.
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Der
elektrische Widerstand eines Halbleiters und damit insbesondere
auch der Widerstandszone eines Thyristors weisen bei höheren Temperaturen
einen negativen Temperaturkoeffizienten auf, d.h. der Widerstand
sinkt mit zunehmender Temperatur.
-
Daher
ist es vorteilhaft, wenn ein externer Widerstand, der entsprechend
den Ausführungen
gemäß 1 zu
einer Widerstandszone parallel geschaltet ist, zumindest über einen
bestimmten Temperaturbereich konstant ist oder einen dem Temperaturkoeffizienten
der Widerstandszone entgegengesetzten Temperaturkoeffizienten aufweist,
so dass der Schutzwiderstand in dem für den Thyristor relevanten
Temperaturbereich möglichst
temperaturunabhängig
ist bzw. nur noch einen verhältnismäßig geringen
positiven Temperaturkoeffizienten aufweist. Zu beachten ist hierbei,
dass sich die Temperaturen des externen Widerstandes und der Widerstandszone
insbesondere abhängig
von Ort und Art der Anbringung des externen Widerstands sowie von
der im Thyristor anfallenden Verlustwärme mehr oder weniger stark
unterscheiden können.
-
Als
externe Widerstände 30 können insbesondere
Widerstände
mit positiven Temperaturkoeffizienten (Kaltleiter) verwendet werden.
Als externe Widerstände 30 eignen
sich beispielsweise Standardleistungswiderstände wie Kohlemassewiderstände. Auch Widerstände auf
der Basis von polykristallinem Silizium sind gut geeignet.
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Die
Temperaturschwankungen eines außerhalb
des Thyristorgehäuses
angeordneten externen Widerstandes können auf einfache Weise dadurch
begrenzt werden, dass der externe Widerstand beispielsweise mittels
Wasser oder Luft gekühlt
wird, oder dass er thermisch mit einem Wärmespeicher hoher Wärmekapazität gekoppelt
wird. Ebenso ist auch eine aktive Kühlung des externen Widerstandes
oder eine Regelung seiner Temperatur, z.B. mittels eines Peltierelementes,
möglich.
-
Dadurch,
dass der externe Widerstand 30 räumlich vom Halbleiterkörper 1 bzw.
vom Gehäuse
des Thyristors beabstandet angebracht werden kann, kann er auch
auf einfache Weise thermisch davon entkoppelt werden. Eine möglicherweise
vorhandene Temperaturabhängigkeit
des externen Widerstands 30 ist damit weniger relevant,
als wenn der externe Widerstand 30 mit dem Gehäuse oder
dem Halbleiterkörper 1 des
Thyristors 1 gekoppelt ist.
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Einen
vergrößerten Ausschnitt
des in 6a dargestellten Thyristors
zeigt 6b. Die erste Anschlussstelle 31 und
die zweite Anschlussstelle 32 sind ringförmig oder
im Wesentlichen ringförmig
ausgebildet. Der erste Anschlussleiter 93 kontaktiert dabei
die erste Anschlussstelle 31, der zweite Anschlussleiter 94 die
zweite Anschlussstelle 32. Die Kontaktierung erfolgt vorzugsweise
mittels nicht näher
dargestellter Federkontakte, wie sie beispielsweise von der Kontaktierung
von Gate-Anschlüssen
eines Thyristors her bekannt sind.
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Bei
allen voranstehenden Ausführungsbeispielen
können
die Anschlusskontakte 31, 32 als auf der Vorderseite 19 des
Halbleiterkörpers 1 angeordnete
Metallisierungen ausgebildet sein. Anstelle eine eigene Metallisierung
für den
der Durchbruchstruktur 10 zugewandten Anschlusskontakt 31 vorzunehmen
(vergleiche hierzu insbesondere 1), kann
auch die Zünd stufen-Elektrode 91 der
der Widerstandszone 65 in Richtung der Durchbruchstruktur 10 nächstgelegenen
Zündstufe 12 oder
eine bereits vorhandene, zur elektrischen Zündung des Thyristors vorgesehene
Gate-Metallisierung verwendet werden.
-
Die
bisher beschriebenen Widerstandszonen wurden beispielhaft als Schutzwiderstand
zur Begrenzung des Stromes einer Zündstufe (Amplifying-Gate-Stufe)
in einem Thyristor dargestellt. Ebenso können jedoch auch andere Abschnitte
des Halbleiterkörpers
eines Thyristors oder eines anderen Halbleiterbauelementes als Widerstandszone
ausgebildet sein, so dass die Temperaturabhängigkeit des elektrischen Widerstandes einer
solchen Widerstandszone in entsprechender Weise mittels eines außerhalb
des Halbleiterkörpers
angeordneten, externen Widerstandes verbessert werden kann.
-
Widerstandszonen
in der p-dotierten Basis von Thyristoren, deren Widerstandswert
von der lateralen Richtung in Bezug auf die Kristallstruktur des
Halbleiterkörpers
abhängt,
werden insbesondere auch dann eingesetzt, um durch die Kristallstruktur
bedingte Unterschiede der Zündausbreitungsgeschwindigkeit
zu kompensieren. Auch die elektrischen Widerstände derartiger Widerstandszonen
zeigen eine Temperaturabhängigkeit,
die mittels eines in der beschriebenen Weise angeordneten externen
Widerstandes verringert werden kann.
-
- 1
- Halbleiterkörper
- 5
- n-dotierter
Hauptemitter
- 6
- p-dotierte
Basis
- 7
- n-dotierte
Basis
- 8
- p-dotierter
Emitter
- 9
- Emitterelektrode
- 10
- Durchbruchstruktur
- 11
- erste
Zündstufe
- 12
- zweite
Zündstufe
- 13
- dritte
Zündstufe
- 14
- vierte
Zündstufe
- 19
- Vorderseite
des Halbleiterkörpers
- 21
- erste
Kurve
- 22
- zweite
Kurve
- 29
- interner
Widerstand
- 30
- externer
Widerstand
- 31
- erste
Anschlussstelle
- 32
- zweite
Anschlussstelle
- 33
- Isolator
- 51
- Zündstufen-Emitter
- 61
- Abschnitt
der p-dotierten Basis
- 62
- Abschnitt
der p-dotierten Basis
- 63
- Abschnitt
der p-dotierten Basis
- 64
- Abschnitt
der p-dotierten Basis
- 65
- Widerstandszone
- 71
- Abschnitt
der n-dotierten Basis
- 72
- Abschnitt
der n-dotierten Basis
-
-
- 80
- Anode
- 81
- Kathode
- 82
- keramischer
Isolator
- 83
- Lichtfenster
- 84
- keramischer
Isolator
- 85
- Erster
Anschlusskontakt des Thyristorgehäuses
- 86
- Zweiter
Anschlusskontakt des Thyristorgehäuses
- 87
- Erste
Keramikhülse
- 88
- Zweite
Keramikhülse
- 89
- Lichtkanal
- 90
- Kammer
- 91
- Zündstufen-Elektrode
- 92
- Innenraum
- 93
- erster
Anschlussleiter
- 94
- zweiter
Anschlussleiter
- 95
- Keramikelement
- 100
- Maske
- 102
- Maskenöffnung
- 105
- Teilchen
- r
- laterale
Richtung
- A-A'
- Achse
- R.int
- Widerstandswert
des internen Widerstands
- R.ext
- Widerstandswert
des externen Widerstands
- R.ges
- Gesamtwiderstand
- T
- Temperatur