DE102004057497B4 - Wärmeaustauschvorrichtung und Verfahren zum Herstellen der Wärmeaustauschvorrichtung sowie Anordnung eines Bauelements und der Wärmeaustauschvorrichtung und Verfahren zum Herstellen der Anordnung - Google Patents

Wärmeaustauschvorrichtung und Verfahren zum Herstellen der Wärmeaustauschvorrichtung sowie Anordnung eines Bauelements und der Wärmeaustauschvorrichtung und Verfahren zum Herstellen der Anordnung Download PDF

Info

Publication number
DE102004057497B4
DE102004057497B4 DE200410057497 DE102004057497A DE102004057497B4 DE 102004057497 B4 DE102004057497 B4 DE 102004057497B4 DE 200410057497 DE200410057497 DE 200410057497 DE 102004057497 A DE102004057497 A DE 102004057497A DE 102004057497 B4 DE102004057497 B4 DE 102004057497B4
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
layer
power semiconductor
heat exchange
exchange device
substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE200410057497
Other languages
English (en)
Other versions
DE102004057497A1 (de
Inventor
Dr. Baudelot Eric
Thomas Licht
Dr. Seliger Norbert
Karl Weidner
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
EUPEC GmbH
Original Assignee
Siemens AG
EUPEC GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG, EUPEC GmbH filed Critical Siemens AG
Priority to DE200410057497 priority Critical patent/DE102004057497B4/de
Priority to PCT/EP2005/056187 priority patent/WO2006058860A2/de
Publication of DE102004057497A1 publication Critical patent/DE102004057497A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE102004057497B4 publication Critical patent/DE102004057497B4/de
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/482Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of lead-in layers inseparably applied to the semiconductor body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/46Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements involving the transfer of heat by flowing fluids
    • H01L23/473Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements involving the transfer of heat by flowing fluids by flowing liquids
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/52Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames
    • H01L23/538Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames the interconnection structure between a plurality of semiconductor chips being formed on, or in, insulating substrates
    • H01L23/5389Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames the interconnection structure between a plurality of semiconductor chips being formed on, or in, insulating substrates the chips being integrally enclosed by the interconnect and support structures
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/18High density interconnect [HDI] connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/23Structure, shape, material or disposition of the high density interconnect connectors after the connecting process
    • H01L24/24Structure, shape, material or disposition of the high density interconnect connectors after the connecting process of an individual high density interconnect connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L24/82Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected by forming build-up interconnects at chip-level, e.g. for high density interconnects [HDI]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/18High density interconnect [HDI] connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/23Structure, shape, material or disposition of the high density interconnect connectors after the connecting process
    • H01L2224/24Structure, shape, material or disposition of the high density interconnect connectors after the connecting process of an individual high density interconnect connector
    • H01L2224/2405Shape
    • H01L2224/24051Conformal with the semiconductor or solid-state device
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/18High density interconnect [HDI] connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/23Structure, shape, material or disposition of the high density interconnect connectors after the connecting process
    • H01L2224/24Structure, shape, material or disposition of the high density interconnect connectors after the connecting process of an individual high density interconnect connector
    • H01L2224/241Disposition
    • H01L2224/24151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/24221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/24225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/24226Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation the HDI interconnect connecting to the same level of the item at which the semiconductor or solid-state body is mounted, e.g. the item being planar
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/36Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
    • H01L23/373Cooling facilitated by selection of materials for the device or materials for thermal expansion adaptation, e.g. carbon
    • H01L23/3735Laminates or multilayers, e.g. direct bond copper ceramic substrates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01005Boron [B]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01013Aluminum [Al]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01029Copper [Cu]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01047Silver [Ag]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01058Cerium [Ce]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01079Gold [Au]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/095Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00 with a principal constituent of the material being a combination of two or more materials provided in the groups H01L2924/013 - H01L2924/0715
    • H01L2924/097Glass-ceramics, e.g. devitrified glass
    • H01L2924/09701Low temperature co-fired ceramic [LTCC]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/13Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
    • H01L2924/1304Transistor
    • H01L2924/1305Bipolar Junction Transistor [BJT]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/13Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
    • H01L2924/1304Transistor
    • H01L2924/1305Bipolar Junction Transistor [BJT]
    • H01L2924/13055Insulated gate bipolar transistor [IGBT]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/13Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
    • H01L2924/1304Transistor
    • H01L2924/1306Field-effect transistor [FET]
    • H01L2924/13091Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor [MOSFET]

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

Anordnung mit einem Leistungshalbleiterbauelement (3, 31) auf einem Substrat (4) und einer Wärmeaustauschvorrichtung (2), wobei die Wärmeaustauschvorrichtung (2) mindestens einen Schichtverbund (21) mit einer Schicht (23) und mindestens einer weiteren Schicht (22) aufweist, wobei – die Schicht (23) ein Metall aufweist und zur elektrischen Kontaktierung des Leistungshalbleiterbauelements (3, 31) ausgestaltet ist, – die Schicht (23) einen Graben (241) aufweist, – die weitere Schicht (22) eine Kunststofffolie (26) ist, – durch den Graben (241) zwischen der Schicht (23) und der weiteren Schicht (22) ein Fluidkanal (24) zum Durchleiten eines Temperierfluids (25) derart gebildet ist, dass der Fluidkanal (24) von beiden Schichten (22, 23) begrenzt ist, und wobei die Wärmeaustauschvorrichtung (2) und das Leistungshalbleiterbauelement (3, 31) derart aneinander angeordnet sind, dass ein Wärmeaustausch durch Wärmeleitung zwischen dem Leistungshalbleiterbauelement (3, 31) und zumindest einer der Schichten (22, 23) des Schichtverbunds (21) stattfinden kann.

Description

  • Die Erfindung betrifft eine Anordnung eines Leistungshalbleiterbauelements auf einem Substrat und der Wärmeaustauschvorrichtung und ein Verfahren zum Herstellen der Anordnung angegeben.
  • Ein Leistungshalbleitermodul weist beispielsweise mehrere, auf einem oder mehreren Substraten zusammengefasste und miteinander verschaltete, elektrisch steuerbare Leistungshalbleiterbauelemente auf. Ein dabei verwendetes elektrisch steuerbares Leistungshalbleiterbauelement ist beispielsweise ein MOSFET (Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor) oder ein IGBT (Insulated Gate Bipolar Transistor). Diese steuerbaren Leistungshalbleiterbauelemente zeichnen sich dadurch aus, dass hohe Ströme im kA-Bereich geschaltet werden können. Aufgrund der hohen Ströme kommt es im Betrieb eines Leistungshalbleiterbauelements bzw. im Betrieb des Leistungshalbleitermoduls zu einer erheblichen Wärmeentwicklung. Um einen stabilen Betrieb zu gewährleisten, muss dafür gesorgt werden, dass die im Betrieb entstehende Wärme effizient abgeleitet wird. Dazu wird eine Wärmeaustauschvorrichtung verwendet. Die Wärmeaustauschvorrichtung besteht üblicherweise aus einem Kühlkörper, der als Wärmesenke fungiert. Der Kühlkörper und das Leistungshalbleitermodul sind derart aneinander angeordnet, dass die während des Betriebs entstehende Wärme über Wärmeleitung vom Leistungshalbleitermodul hin zum Kühlkörper abgeleitet werden kann.
  • Ein Leistungshalbleitermodul und ein Verfahren zum Herstellen des Leistungshalbleitermoduls ist beispielsweise aus der WO 03/030247 A2 bekannt. Bei dem Leistungshalbleitermodul ist ein Leistungshalbleiterbauelement auf einem Substrat (Schaltungsträger) angeordnet. Das Substrat ist beispielsweise ein DCB(Direct Copper Bonding)-Substrat, das aus einer Trägerschicht aus einem keramischen Werkstoff besteht, an der beidseitig elektrisch leitende Schichten aus Kupfer (Kupferfolien) aufgebracht sind. Der keramische Werkstoff ist beispielsweise Aluminiumoxid (Al2O3).
  • Die Leistungshalbleiterbauelemente des bekannten Leistungshalbleitermoduls werden nicht über Bonddrähte elektrisch kontaktiert. Die elektrische Kontaktierung erfolgt planar und großflächig. Dazu wird wie folgt vorgegangen: Auf eine der elektrisch leitenden Schichten aus Kupfer des DCB-Substrats wird ein Leistungshalbleiterbauelement derart aufgelötet, dass eine vom Substrat wegweisende elektrische Kontaktfläche des Leistungshalbleiterbauelements vorhanden ist. Der Leistungshalbleiterchip ist beispielsweise ein MOSFET. Die Kontaktfläche des MOSFET ist eine Source-Gate- oder Drain-Chipfläche des MOSFETS. Zur elektrischen Kontaktierung der Kontaktfläche des Leistungshalbleiterbauelements wird auf das Leistungshalbleiterbauelement und auf das Substrat eine Kunststofffolie auf Polyimid- oder Epoxidbasis unter Vakuum auflaminiert, so dass die Kunststofffolie mit dem Leistungshalbleiterbauelement und dem Substrat eng anliegend verbunden ist. Die Kunststofffolie bedeckt das Leistungshalbleiterbauelement und das Substrat. Nachfolgend wird dort, wo sich die elektrische Kontaktfläche des Leistungshalbleiterbauelements befindet, ein Fenster in der Kunststofffolie erzeugt. Das Erzeugen des Fensters erfolgt beispielsweise durch Laserablation. Durch das Erzeugen des Fensters wird die Kontaktfläche des Leistungshalbleiterbauelements freigelegt. Im Weiteren erfolgt die elektrische Kontaktierung der Kontaktfläche. Dazu wird beispielsweise auf der Kunststofffolie eine Maske aufgebracht, die die Kontaktfläche und Bereiche für eine Verbindungsleitung zur Kontaktfläche hin freilässt. Nachfolgend wird auf der Kontaktfläche und auf den freien Bereichen der Kunststofffolie eine zusammenhängende Schicht aus einem elektrisch leitenden Material durch mehrere Abscheidungen erzeugt. Es wird die Verbindungsleitung zur elektrischen Kontaktierung der Kontaktfläche des Leistungshalbleiterbauelements gebildet.
  • Das bekannte Leistungshalbleitermodul zeichnet sich durch einen Schichtverbund mit elektrisch leitenden und elektrisch isolierenden Schichten. Die einzelnen Schichten weisen unterschiedliche Materialien mit unterschiedlichen thermischen Ausdehnungskoeffizienten aus. Damit im Betrieb des Leistungshalbleitermoduls auftretende mechanische Spannungen reduziert sind, ist für eine effiziente Kühlung des Leistungshalbleitermoduls zu sorgen.
  • Aus der FR 2 850 742 A1 ist eine Wärmeaustauschvorrichtung bekannt, die Fluidkanäle verwendet, die durch das Zusammenbringen zweier keramischer Schichten entstehen.
  • Aus der der DE 19 12 041 A und der DE 100 62 108 A1 sind Anordnungen mit einem Leistungshalbleiterbauelement und einer Wärmetauschvorrichtung bekannt, die flüssigkeitsdurchströmte Fluidkanäle aufweisen.
  • Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, eine Anordnung mit einem Leistungshalbleiterbauelement auf einem Substrat und einer effizienten Wärmeaustauschvorrichtung und ein Verfahren zu deren Herstellung anzugeben, die insbesondere zur Wärmeableitung der im Betrieb des bekannten Leistungshalbleitermoduls entstehenden Wärme eingesetzt werden kann.
  • Zur Lösung der Aufgabe wird eine Anordnung mit einem Leistungshalbleiterbauelement auf einem Substrat und einer Wärmeaustauschvorrichtung angegeben, wobei die Wärmeaustauschvorrichtung und das Leistungshalbleiterbauelement derart aneinander angeordnet sind, dass ein Wärmeaustausch durch Wärmeleitung zwischen dem Bauelement und zumindest einer der Schichten des Schichtverbunds der Wärmeaustauschvorrichtung stattfinden kann.
  • Die Wärmeaustauschvorrichtung weist mindestens einen Schichtverbund mit einer Schicht und mindestens einer weiteren Schicht auf. Die Schicht weist ein Metall auf und ist zur elektrischen Kontaktierung des Leistungshalbleiterbauelements ausgestaltet.
  • Weiterhin weist die Schicht einen Graben auf. Durch den Graben zwischen der Schicht und der weiteren Schicht ist ein Fluidkanal zum Durchleiten eines Temperierfluids derart gebildet, dass der Fluidkanal von beiden Schichten begrenzt ist. Die weitere Schicht ist eine Kunststofffolie.
  • Darüber hinaus wird ein Verfahren zum Herstellen der Anordnung mit folgenden Verfahrensschritten angegeben:
    • a') Bereitstellen eines Leistungshalbleiterbauelements auf einem Substrat und
    • b') Aufbringen der Wärmeaustauschvorrichtung derart, dass eine Wärmeleitung zwischen dem Bauelement und mindestens einer der Schichten des Schichtverbunds stattfinden kann.
  • Dabei werden erfindungsgemäß zum Aufbringen der Wärmeaustauschvorrichtung folgende weiteren Verfahrensschritte durchgeführt: c') Erzeugen einer Schicht mit einem Graben auf dem Bauelement, wobei die Schicht ein Metall aufweist und das Leistungshalbleiterbauelement elektrisch kontaktiert, und d') Auflaminieren einer Kunststofffolie auf die Schicht mit dem Graben derart, dass der Fluidkanal gebildet wird.
  • Der grundlegende Gedanke der Erfindung besteht darin, ausgehend vom bekannten Leistungshalbleitermodul in einem Mehrschichtaufbau einen oder mehrere Fluidkanäle zu integrieren. Durch diese Fluidkanäle kann im Betrieb eine Temperierflüssigkeit oder ein Temperiergas durchgeleitet werden. Dadurch erfolgt ein effizienter Wärmeaustausch. Der Wärmeaustausch wird dadurch verbessert, dass eine Vielzahl von Fluidkanälen im Schichtverbund integriert ist.
  • Unter Temperieren kann ein Erwärmen von Materie verstanden werden. Insbesondere ist unter Temperieren aber ein Kühlen von Materie zu verstehen. Insbesondere ist daher die Wärmetauschvorrichtung als Kühlvorrichtung ausgebildet. Dies bedeutet, dass durch den Fluidkanal ein Kühlfluid, also eine Kühlflüssigkeit oder ein Kühlgas, geleitet wird. Das Kühlfluid ist in der Lage, Wärme aus der Umgebung, also von den angrenzenden Schichten des Schichtverbunds, aufzunehmen. Zumindest eine der Schichten des Schichtverbunds wird mit einem Bauteil berührend verbunden, bei dem eine erhöhte Wärmeentwicklung auftritt, beispielsweise während des Betriebs des Bauteils. Somit resultiert ein effizienter Wärmeleitpfad vom Bauteil weg über zumindest eine der Schichten des Schichtverbunds hin zum Kühlfluid im Kühlkanal. Durch das im Kühlkanal strömende Kühlfluid wird die Wärme abtransportiert.
  • Gemäß einer besonderen Ausgestaltung weist zumindest eine der Schichten ein thermisch leitfähiges Material auf. Das thermisch leitfähige Material weist insbesondere die Schicht des Schichtverbunds auf, die mit dem Bauelement verbunden ist, von dem die Wärme abtransportiert werden soll.
  • Vorzugsweise ist das thermisch leitfähige Material aus der Gruppe Keramik und/oder Metall ausgewählt. Die Keramik ist vorzugsweise aus der Gruppe Aluminiumoxid und/oder oder Aluminiumnitrid (AlN) ausgewählt. Das Metall ist vorzugsweise aus der Gruppe Aluminium, Kupfer und/oder Silber ausgewählt. Diese Materialien zeichnen sich durch hohe thermische Leitfähigkeitskoeffizienten aus.
  • Die Schicht mit dem thermisch leitenden Material kann eine Metallschicht sein. Denkbar ist auch, dass die Schicht mit dem thermisch leitfähigen Material aus einem Verbundwerkstoff gebildet ist. Dabei sind Partikel aus thermisch leitfähigen Materialien in eine Matrix aus einem Basismaterial eingearbeitet. Das Basismaterial ist beispielsweise ein Kunststoff.
  • In einer besonderen Ausgestaltung ist das thermisch leitfähige Material ein Metall, wobei die Schicht mit dem Metall mindestens eine Abscheidung des Metalls aufweist. Die Metallschicht wird von mindestens einer Metallabscheidung gebildet. Unter Abscheidung ist das Ergebnis eines Abtrennens (Abscheidens) von flüssigen oder festen Stoffen aus Gasen und Dämpfen sowie von festen Stoffen aus flüssigen Stoffen mittels geeigneter Vorrichtungen (Abscheider) zu verstehen. Die Abscheidung kann durch Dampfphasenabscheiden erzeugt werden. Das Dampfphasenabscheiden ist beispielsweise ein physikalisches (physical vapor deposition) oder ein chemisches (chemical vapor deposition) Abscheideverfahren. Vorzugsweise resultiert die Metallschicht des Schichtverbunds durch galvanisches (elektrolytisches) Abscheiden. Beispielsweise wird die Metallschicht von galvanisch abgeschiedenem Kupfer gebildet. Die Metallschicht mit der Metallabscheidung kann einschichtig sein. Vorzugsweise ist diese Metallschicht mehrschichtig. Die Metallschicht wird von mehreren, übereinander angeordneten Metallabscheidungen gebildet. Dabei übernehmen die einzelnen Metallabscheidungen unterschiedliche Funktionen. Eine erste Metallabscheidung fungiert beispielsweise als Haftvermittlungsschicht auf einem Untergrund. Eine auf der ersten Metallabscheidung aufgetragene zweite Metallabscheidung fungiert als Diffusionsbarriere für Ionen. Eine auf der zweiten Metallabscheidung aufgetragene dritte Metallabscheidung übernimmt die Funktion einer so genannten Seedlayer für eine darauf abschließend galvanisch abzuscheidende Kupferschicht.
  • Im Stand der Technik ist die planare elektrische Kontaktierung der Kontaktflächen der Leistungshalbleiterbauelemente zur Bildung eines Leistungshalbleitermoduls beschrieben. Im Herstellungsprozess des Leistungshalbleitermoduls sind das Auflaminieren von elektrisch isolierenden Kunststofffolien und das Abscheiden von Metallabscheidungen von wesentlicher Bedeutung. Beide bereits bei der elektrischen Kontaktierung eingeführten Verfahrensprozesse werden benutzt, um die Wärmeaustauschvorrichtung herzustellen. Dies bedeutet, dass das Herstellen des Schichtverbunds und die planare Kontaktierung von elektrischen Bauelementen vollkommen kompatibel sind. In bestehende Herstellungsprozesse von Leistungshalbleitermodulen kann daher auf einfache Weise die Integration der Wärmeaustauschvorrichtung mit dem Schichtverbund durchgeführt werden. So ist es sogar möglich, eine der zur elektrischen Kontaktierung abgeschiedenen Metallschichten als eine Schicht des Schichtverbunds der Wärmeaustauschvorrichtung auszugestalten. Diese Schicht wird beispielsweise im Wesentlichen von einer galvanisch abgeschiedenen Kupferschicht gebildet. Die Schichtdicke dieser Schicht kann mehrere hundert um betragen. Durch Materialabtrag mittels Laserablation oder mittels eines Photolithographieprozesses können in diese Schicht Gräben eingearbeitet werden. Über die Kupferschicht mit den Gräben wird nachfolgend eine Kunststofffolie derart auflaminiert, dass aus den Gräben die Fluidkanäle entstehen.
  • Als Substrat der Anordnung kommt jeder beliebige Schaltungsträger auf organischer oder anorganischer Basis in Frage. Solche Substrate sind beispielsweise PCB (Printed Circuit Board)-, IM (Insolated Metal)-, HTCC (High Temperature Cofired Ceramics)- und LTCC(Low Temperature Cofired Ceramics)-Substrate. In einer besonderen Ausgestaltung der Anordnung ist das Substrat ein DCB-Substrat, das eine Trägerschicht mit einer Keramik aufweist, an die beidseitig jeweils eine elektrische Leiterschicht aus Kupfer angebracht ist, und zumindest eine der Leiterschichten als eine der Schichten des Schichtverbunds der Wärmeaustauschvorrichtung ausgebildet ist. So werden beispielsweise in einer der Leiterschichten des DCB-Substrats Gräben eingearbeitet. Nachfolgend wird auf diese Kupferschicht eine Kunststofffolie auflaminiert. Aus den Gräben entstehen durch das Auflaminieren der Kunststofffolie die Fluidkanäle.
  • Als Bauelement ist jedes beliebige Bauelement denkbar, das während des Betriebs effizient gekühlt werden sollte. Das Bauelement ist beispielsweise ein Halbleiterbauelement. Vorzugsweise ist das Bauelement ein Leistungshalbleiterbauelement. Das Leistungshalbleiterbauelement ist insbesondere ein aus der Gruppe MOSFET, IGBT und/oder Bipolartransistor ausgewähltes Leistungshalbleiterbauelement. Besonders bei diesen Bauelementen ist es wichtig, im Betrieb für eine effiziente Kühlung zu sorgen. Insbesondere in dem Fall, dass der Schichtverbund der Wärmeaustauschvorrichtung teilweise oder vollständig auf die Bauelemente bzw. das Modul auflaminiert wird, ergibt sich ein inniger Kontakt zwischen dem Schichtverbund der Wärmeaustauschvorrichtung und den Bauelementen bzw. dem Modul. Es resultiert eine sehr gute thermische Anbindung des Schichtverbunds an die Bauelemente.
  • Über das Auflaminieren von Folien und das Abscheiden von Materialien wird sukzessive der Schichtverbund auf dem Bauelement und dem Substrat aufgebaut. Das Auflaminieren erfolgt vorzugsweise unter Vakuum. Dadurch entsteht ein besonders fester und inniger Kontakt zwischen dem Schichtverbund und dem Bauelement bzw. dem Substrat. Der feste Kontakt führt dazu, dass die Oberflächenkontur, die sich aus dem Substrat und dem darauf aufgebrachten Bauelement ergibt, in einer Oberflächenkontur des Schichtverbunds widerspiegelt.
  • Alternativ zum sukzessiven Anordnen einzelner Schichten auf dem Bauelement bzw. dem Substrat kann aber auch ein vorgefertigter Schichtverbund mit mindestens zwei Schichten und integrierten Fluidkanälen verwendet werden. Der Schichtverbund besteht beispielsweise aus zwei Kunststofffolien. Die Kunststofffolien sind beispielsweise flexibel (elastisch) und können zusammen mit den Fluidkanälen auf das Bauelement und das Substrat auflaminiert werden.
  • Nach dem Erzeugen des Schichtverbunds können weitere Maßnahmen vorgesehen sein. So wird beispielsweise ein besonders fester und robuster Aufbau dadurch erzielt, dass nach dem Zusammenbringen des Schichtverbunds und dem Bauelement bzw. dem Substrat eine Umhüllung aus Metall abgeschieden wird.
  • Zusammenfassend ergeben sich mit der Erfindung folgende wesentlichen Vorteile:
    • – Es wird eine Wärmeaustauschvorrichtung angegeben, die einen effizienten Wärmeabtransport von einer Wärmequelle ermöglicht.
    • – Das Herstellen des Schichtverbunds mit den Fluidkanälen kann in bekannte Herstellverfahren von Modulen, insbesondere von Leistungshalbleitermodulen integriert werden.
    • – Die Wärmeaustauschvorrichtung führt zu einer erheblichen Platzersparnis im Vergleich zu bekannten Lösungen. Diese würden entsprechend dimensionierte Kühlkörper benötigen
  • Anhand mehrerer Ausführungsbeispiele und der dazugehörigen Figuren wird die Erfindung im Folgenden näher beschrieben. Die Figuren sind schematisch und stellen keine maßstabsgetreuen Abbildungen dar.
  • 1 bis 4 zeigen verschiedene Beispiele einer Anordnung mit Bauelement und Wärmeaustauschvorrichtung jeweils in einem seitlichen Querschnitt. Das Beispiel der 2 gehört nicht zur Erfindung.
  • 5 zeigt ein Verfahren zum Herstellen des Schichtverbunds der Wärmeaustauschvorrichtung bzw. einer Anordnung eines Bauelements auf einem Substrat einer Wärmeaustauschvorrichtung.
  • Die Ausführungsbeispiele beziehen sich auf eine Anordnung 1 mit einem Bauelement 3 und einer Wärmeaustauschvorrichtung 2. Das Bauelement 3 ist ein Leistungshalbleiterbauelement 31. Das Leistungshalbleiterbauelement 31 ist ein MOSFET. Alternativ dazu ist das Leistungshalbleiterbauelement 31 ein IGBT. Das Leistungshalbleiterbauelement 31 ist auf einem DCB-Substrat angeordnet. Alternative Ausführungsbeispiele ergeben sich dadurch, dass andere Bauelemente verwendet werden, beispielsweise Halbleiterdioden. Die Halbleiterdioden werden beispielsweise als LEDs (Light Emitting Diodes) eingesetzt.
  • Das DCB-Substrat 4 weist eine Trägerschicht 41 aus einer Keramik auf. In einer ersten Ausführungsform ist die Keramik Aluminiumoxid. In einer weiteren Ausführungsform ist die Keramik Aluminiumnitrid. Beidseitig sind an die Trägerschicht 41 elektrische Leiterschichten 42 und 43 aus Kupfer aufgebracht. Das Leistungshalbleiterbauelement 31 ist dabei derart auf eine der Leiterschichten 42 oder 43 aufgelötet, dass eine vom Substrat 4 weg weisende Kontaktfläche 32 des Leistungshalbleiterbauelements 31 resultiert. Die Kontaktfläche 32 ist die Source-Kontaktfläche 321 des MOSFETs 31. Über die Drain-Kontaktfläche 322 ist der MOSFET 31 auf die elektrische Leiterschicht 42 aufgelötet.
  • Zur großflächigen, planaren elektrischen Kontaktierung der Kontaktfläche 32 des Leistungshalbleiterbauelements 31 ist eine Isolationsfolie 5 aus Polyimid unter Vakuum auflaminiert. Die Isolationsfolie 5 ist dabei derart auf dem Substrat 4 und dem Leistungshalbleiterbauelement 31 auflaminiert, dass eine Oberflächenkontur 33 des Leistungshalbleiterbauelements 31 und eine Oberflächenkontur 44 des Substrats 4 in der Oberflächenkontur 52 der Isolationsfolie 5 abgebildet ist, die dem Substrat 4 und dem Leistungshalbleiterbauelement 31 abgekehrt ist. (vgl. 1). Durch Öffnen eines Fensters 51 in der Isolationsfolie 5 ist der Kontakt bzw. die Kontaktfläche 32 des Leistungshalbleiterbauelements 31 frei gelegt. Das Öffnen des Fensters 51 erfolgt durch Laserablation. Die planare elektrische Kontaktierung der Kontaktfläche 32 wird durch eine mehrschichtige Metallabscheidung 28 aus elektrisch leitendem Material erzeugt. Eine für den Betrieb des Leistungshalbleiterbauelements notwendige Stromtragfähigkeit wird dadurch erzielt, dass eine der Metallabscheidungen 28 eine relativ dicke, galvanisch abgeschiedene Kupferschicht 29 ist. Die Kupferschicht 29 ist etwa 200 μm dick.
  • Beispiel 1:
  • Gemäß einem ersten Ausführungsbeispiel fungiert die galvanisch abgeschiedene Kupferschicht 29 als Schicht 23 des Schichtverbunds 21 der Wärmeaustauschvorrichtung 2 (1). Dazu wird nach dem galvanischen Abscheiden von Kupfer eine Vielzahl von Gräben 241 in der galvanisch abgeschiedenen Kupferschicht 29 erzeugt (vgl. 5). Das Erzeugen der Gräben 241 erfolgt gemäß einer ersten Ausführungsform durch Laserablation. In einer alternativen Ausführungsform erfolgt das Erzeugen der Gräben 241 photolithographisch.
  • Nach dem Erzeugen der Gräben 241 wird eine Kunststofffolie 26 auf die Kupferschicht 29 auflaminiert. Das Auflaminieren erfolgt dabei derart, dass ein fester Verbund zwischen der Kunststofffolie 26 und der Kupferschicht 29 entsteht. Gleichzeitig werden durch das Auflaminieren aus den Gräben 241 der Kupferschicht 29 die Fluidkanäle 24 gebildet. Die Fluidkanäle 24 werden sowohl von der Kupferschicht 29 als auch von der auflaminierten Kunststofffolie 26 begrenzt. Die Kunststofffolie 26 fungiert als Schicht 22 des Schichtverbunds 21 der Wärmeaustauschvorrichtung 2. Die verwendete Kunststofffolie 26 ist eine Polyimidfolie. Die Auflaminierbedingungen werden dabei so gewählt, dass die Kunststofffolie 26 die erzeugten Gräben 241 nicht ausfüllt.
  • Nach dem Auflaminieren der Kunststofffolie 26 wird ein oder mehrschichtig elektrisch leitendes Material strukturiert aufgebracht, so dass die elektrische Kontaktierung der galvanisch abgeschiedenen Kupferschicht 29 gewährleistet ist. Dazu wird eine weitere mehrschichtige Metallabscheidung 271 sowohl auf der ersten Metallabscheidung 27 als auch auf der auflaminierten Kunststofffolie 26 aufgebracht.
  • Im Betrieb der Anordnung 1 wird durch die Fluidkanäle 24 ein Temperierfluid 25 durchgeleitet. Das Temperierfluid 25 ist eine elektrisch isolierende, also elektrisch nicht leitende Kühlflüssigkeit.
  • Beispiel 2:
  • Gemäß 2, die nicht zur Erfindung gehört, werden beide elektrische Leiterschichten 42 und 43 des DCB-Substrats 4 als Schicht 22, 23 jeweils eines Schichtverbunds 21 der Wärmeaustauschvorrichtung 2 verwendet. Dazu werden in den Kupferschichten 42 und 43 Gräben 241 erzeugt, die in einem darauf folgenden Schritt mit Hilfe einer Isolationsfolie 26 durch Auflaminieren abgedeckt sind. Dadurch entstehen die Fluidkanäle 24, durch die das Temperierfluid 25 geleitet werden kann. Beide Leiterschichten 42 und 43 werden zur Integration von Fluidkanälen 24 verwendet. Dadurch, dass die Trägerschicht 41 des DCB-Substrats 4 ebenfalls aus einem thermisch leitfähigen keramischen Material besteht, kann eine effiziente Kühlung des Leistungshalbleiterbauelements 31 gewährleistet werden.
  • Beispiel 3:
  • Gemäß einem weiteren Ausführungsbeispiel wird ein Schichtverbund 21 aus mehreren Schichten 22, 23, 221 und 231 als Wärmeaustauschvorrichtung 2 verwendet (3). Ausgangspunkt ist das Ausführungsbeispiel 1. Über der auflaminierten Kunststofffolie 26 wird eine weitere Metallschicht 271 aufgetragen. Die weitere Metallschicht 271 weist eine weitere, mehrschichtige Metallabscheidung 281 auf mit einer weiteren, relativ dicken, galvanisch abgeschiedenen Kupferschicht 291. Diese Metallschicht 271 bildet die weitere Schicht 231 des Schichtverbunds 21. In die relativ dicke Kupferschicht 291 werden Gräben eingearbeitet, die von der weiteren Kunststofffolie 261 abgedeckt werden, so dass die weiteren Fluidkanäle 242 entstehen.
  • Beispiel 4:
  • Alternativ zu den beschriebenen Ausführungsformen werden zwei Kunststofffolien 262 und 263 verwendet zur Integration von Fluidkanälen 24. Dazu wird auf der Kupferschicht 29 eine Kunststofffolie 26 auflaminiert. In die Kunststofffolie 26 werden Gräben 241 eingearbeitet (vgl. 5). Das Einarbeiten der Gräben 241 erfolgt durch Laserablation oder photolithographisch. Über die so erzeugte Kunststofffolienschicht 263 wird eine Kunststofffolie 262 auflaminiert. Das Auflaminieren erfolgt dabei derart, dass aus den Gräben 241 die Fluidkanäle 24 erzeugt werden. Es entsteht der Schichtverbund 21 mit Schichten 22 und 23, die von Kunststofffolien 262 und 263 gebildet sind. Die Kunststofffolien weisen einen Verbundwerkstoff auf. Der Verbundwerkstoff besteht aus einer Matrix aus Kunststoff, in die thermisch leitfähige Partikel eingearbeitet sind. Die thermisch leitfähigen Partikel bestehen aus einer Keramik. Die Keramik ist Aluminiumoxid. Alternativ dazu ist die Keramik Aluminiumnitrid.
  • Weitere Ausführungsbeispiele ergeben sich daraus, dass ein vorgefertigter Schichtverbund 21 aus mehreren Schichten 22, 23 mit Fluidkanälen 24 auf das Leistungshalbleiterbauelement 31 und das Substrat 4 aufgebracht werden. Der vorgefertigte Schichtverbund 21 besteht aus zwei Kunststofffolien. Dieser Schichtverbund wird gemäß einer ersten Ausführungsform auf das Leistungshalbleiterbauelement 31 und das Substrat 4 auflaminiert. Beim Auflaminieren verformt sich der Schichtverbund derart, dass die Oberflächenkonturen 33 und 44 des Bauelements 2 und des Substrats 4 in einer Oberflächenkontur des Schichtverbunds 21 abgebildet werden. Gemäß einer zweiten Ausführungsform ist der Schichtverbund 21 vorgeformt. Dazu besteht der Schichtverbund aus Kunststofffolien mit thermoplastischem Material. Durch eine Temperaturbehandlung wird ein Schichtverbund erzeugt, der die Oberflächenkonturen 33 und 44 des Leistungshalbleiterbauelements 31 und des Substrats 4 in inverser Form aufweist. Zum Vorformen wird eine Schablone benutzt, die den Oberflächenkonturen 33 und 44 des Leistungshalbleiterbauelements 3 und Substrats 4 entspricht. Der vorgeformte Schichtverbund 21 wird auf das Leistungshalbleiterbauelement 3 und das Substrat 4 auflaminiert.
  • Weitere Ausführungsbeispiele ergeben sich daraus, dass Schichtverbunde 21, wie sie in den Ausführungsbeispielen 1, 3 und 4 beschreiben sind, vergleichbar mit dem Ausführungsbeispiel 2 beidseitig auf der Ober- und Unterseite der Anordnung aus Leistungshalbleiterbauelement 31 und Substrat 4 angeordnet sind.
  • Weitere Ausführungsbeispiele ergeben sich daraus, dass eine nicht dargestellte Verkapselung der Anordnung verwendet wird. Die Verkapselung wird von einer auflaminierten Kunststofffolie gebildet. Alternativ dazu wird die Verkapselung von einer abgeschiedenen Metallschicht gebildet.

Claims (4)

  1. Anordnung mit einem Leistungshalbleiterbauelement (3, 31) auf einem Substrat (4) und einer Wärmeaustauschvorrichtung (2), wobei die Wärmeaustauschvorrichtung (2) mindestens einen Schichtverbund (21) mit einer Schicht (23) und mindestens einer weiteren Schicht (22) aufweist, wobei – die Schicht (23) ein Metall aufweist und zur elektrischen Kontaktierung des Leistungshalbleiterbauelements (3, 31) ausgestaltet ist, – die Schicht (23) einen Graben (241) aufweist, – die weitere Schicht (22) eine Kunststofffolie (26) ist, – durch den Graben (241) zwischen der Schicht (23) und der weiteren Schicht (22) ein Fluidkanal (24) zum Durchleiten eines Temperierfluids (25) derart gebildet ist, dass der Fluidkanal (24) von beiden Schichten (22, 23) begrenzt ist, und wobei die Wärmeaustauschvorrichtung (2) und das Leistungshalbleiterbauelement (3, 31) derart aneinander angeordnet sind, dass ein Wärmeaustausch durch Wärmeleitung zwischen dem Leistungshalbleiterbauelement (3, 31) und zumindest einer der Schichten (22, 23) des Schichtverbunds (21) stattfinden kann.
  2. Anordnung nach Anspruch 1, wobei das Substrat (4) ein DCB-Substrat ist, das eine Trägerschicht (41) mit einer Keramik aufweist, wobei an die Trägerschicht (41) beidseitig jeweils eine elektrische Leiterschicht (42, 43) aus Kupfer angebracht ist, und zumindest eine der Leiterschichten (42, 43) als die Schicht (23) des Schichtverbunds (21) der Wärmeaustauschvorrichtung (2) ausgebildet ist.
  3. Verfahren zum Herstellen einer Anordnung nach einem der vorangehenden Ansprüche mit folgenden Verfahrensschritten: a) Bereitstellen eines Leistungshalbleiterbauelements (3, 31) auf einem Substrat (4), b) Erzeugen einer Schicht (23) mit einem Graben (241) auf dem Bauelement (3, 31), wobei die Schicht (23) ein Metall aufweist und das Leistungshalbleiterbauelements (3, 31) elektrisch kontaktiert, c) Auflaminieren einer Kunststofffolie (26) auf die Schicht (23) mit dem Graben (241) derart, dass der Fluidkanal (24) gebildet wird.
  4. Verfahren nach Anspruch 3, wobei die Schicht (23) mittels einer galvanischen Abscheidung des Metalls erzeugt wird.
DE200410057497 2004-11-29 2004-11-29 Wärmeaustauschvorrichtung und Verfahren zum Herstellen der Wärmeaustauschvorrichtung sowie Anordnung eines Bauelements und der Wärmeaustauschvorrichtung und Verfahren zum Herstellen der Anordnung Expired - Fee Related DE102004057497B4 (de)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE200410057497 DE102004057497B4 (de) 2004-11-29 2004-11-29 Wärmeaustauschvorrichtung und Verfahren zum Herstellen der Wärmeaustauschvorrichtung sowie Anordnung eines Bauelements und der Wärmeaustauschvorrichtung und Verfahren zum Herstellen der Anordnung
PCT/EP2005/056187 WO2006058860A2 (de) 2004-11-29 2005-11-24 Wärmeaustauschvorrichtung für ein halbleiterbauelement und verfahren zu ihrer herstellung

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE200410057497 DE102004057497B4 (de) 2004-11-29 2004-11-29 Wärmeaustauschvorrichtung und Verfahren zum Herstellen der Wärmeaustauschvorrichtung sowie Anordnung eines Bauelements und der Wärmeaustauschvorrichtung und Verfahren zum Herstellen der Anordnung

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE102004057497A1 DE102004057497A1 (de) 2006-06-01
DE102004057497B4 true DE102004057497B4 (de) 2012-01-12

Family

ID=36218545

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE200410057497 Expired - Fee Related DE102004057497B4 (de) 2004-11-29 2004-11-29 Wärmeaustauschvorrichtung und Verfahren zum Herstellen der Wärmeaustauschvorrichtung sowie Anordnung eines Bauelements und der Wärmeaustauschvorrichtung und Verfahren zum Herstellen der Anordnung

Country Status (2)

Country Link
DE (1) DE102004057497B4 (de)
WO (1) WO2006058860A2 (de)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102017211619A1 (de) 2017-02-08 2018-08-09 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren zur elektrischen Kontaktierung und Leistungsmodul
WO2023160949A1 (de) 2022-02-23 2023-08-31 Siemens Aktiengesellschaft Halbleiteranordnung mit einem ersten halbleiterelement und einem ersten verbindungselement
EP4235771A1 (de) * 2022-02-23 2023-08-30 Siemens Aktiengesellschaft Halbleiteranordnung mit zumindest einem halbleiterelement, einer ersten materiallage und einer zweiten materiallage

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1912041A1 (de) * 1968-03-09 1969-09-18 Mitsubishi Electric Corp Halbleitervorrichtung
DE4217289A1 (de) * 1992-05-25 1993-12-16 Mannesmann Ag Fluidkühlung von Halbleiterelementen
DE19920161A1 (de) * 1998-11-06 2000-05-25 Atotech Deutschland Gmbh Verfahren zum Herstellen von Mikrobauteilen mit Strömungskanälen
DE10062108A1 (de) * 2000-12-13 2002-06-27 Daimler Chrysler Ag Leistungsmodul mit verbessertem transienten Wärmewiderstand
WO2003030247A2 (de) * 2001-09-28 2003-04-10 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren zum kontaktieren elektrischer kontaktflächen eines substrats und vorrichtung aus einem substrat mit elektrischen kontaktflächen
DE10313685A1 (de) * 2002-03-26 2003-10-09 Peter Prechtl Mikroreaktor
DE69905882T2 (de) * 1998-06-18 2003-12-24 3M Innovative Properties Co Mikrokanalwärmetauscher
FR2850742A1 (fr) * 2003-01-30 2004-08-06 Snecma Propulsion Solide Panneau de refroidissement actif en materiau composite thermostructural et procede pour sa fabrication

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5046552A (en) * 1990-07-20 1991-09-10 Minnesota Mining And Manufacturing Flow-through heat transfer apparatus with movable thermal via
JP3254001B2 (ja) * 1991-04-08 2002-02-04 ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ 半導体モジュール用の一体化放熱器
US5210440A (en) * 1991-06-03 1993-05-11 Vlsi Technology, Inc. Semiconductor chip cooling apparatus
DE4210834C2 (de) * 1992-04-01 1995-10-05 Siemens Nixdorf Inf Syst Einrichtung zum Kühlen von zu Flachbaugruppen zusammengefaßten gehäuselosen filmmontierten integrierten Bausteinen
JP2001024125A (ja) * 1999-07-09 2001-01-26 Fuji Electric Co Ltd 平形半導体素子
CN100468670C (zh) * 2003-02-28 2009-03-11 西门子公司 带有大面积接线的功率半导体器件的连接技术

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1912041A1 (de) * 1968-03-09 1969-09-18 Mitsubishi Electric Corp Halbleitervorrichtung
DE4217289A1 (de) * 1992-05-25 1993-12-16 Mannesmann Ag Fluidkühlung von Halbleiterelementen
DE69905882T2 (de) * 1998-06-18 2003-12-24 3M Innovative Properties Co Mikrokanalwärmetauscher
DE19920161A1 (de) * 1998-11-06 2000-05-25 Atotech Deutschland Gmbh Verfahren zum Herstellen von Mikrobauteilen mit Strömungskanälen
DE10062108A1 (de) * 2000-12-13 2002-06-27 Daimler Chrysler Ag Leistungsmodul mit verbessertem transienten Wärmewiderstand
WO2003030247A2 (de) * 2001-09-28 2003-04-10 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren zum kontaktieren elektrischer kontaktflächen eines substrats und vorrichtung aus einem substrat mit elektrischen kontaktflächen
DE10313685A1 (de) * 2002-03-26 2003-10-09 Peter Prechtl Mikroreaktor
FR2850742A1 (fr) * 2003-01-30 2004-08-06 Snecma Propulsion Solide Panneau de refroidissement actif en materiau composite thermostructural et procede pour sa fabrication

Also Published As

Publication number Publication date
WO2006058860A3 (de) 2006-08-17
WO2006058860A2 (de) 2006-06-08
DE102004057497A1 (de) 2006-06-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE10335153B4 (de) Schaltungsanordnung auf einem Substrat, die einen Bestandteil eines Sensors aufweist, und Verfahren zum Herstellen der Schaltungsanordnung auf dem Substrat
EP1829107B1 (de) Anordnung eines Halbleitermoduls und einer elektrischen Verschienung
WO2003030247A2 (de) Verfahren zum kontaktieren elektrischer kontaktflächen eines substrats und vorrichtung aus einem substrat mit elektrischen kontaktflächen
EP0221399A2 (de) Leistungshalbleitermodul
WO2004077548A2 (de) Verbindungstechnik für leistungshalbleiter
EP1817795A1 (de) Metallisierte folie zur flächigen kontaktierung
DE102014115815B4 (de) Verfahren zur herstellung eines schaltungsträgers, verfahren zur herstellung einer halbleiteranordung, verfahren zum betrieb einer halbleiteranordnung und verfahren zur herstellung eines halbleitermoduls
DE102011080153A1 (de) Flexible verbindung von substraten in leistungshalbleitermodulen
DE10314172B4 (de) Verfahren zum Betreiben einer Anordnung aus einem elektrischen Bauelement auf einem Substrat und Verfahren zum Herstellen der Anordnung
DE102016214607B4 (de) Elektronisches Modul und Verfahren zu seiner Herstellung
EP1597755A2 (de) Direkt auf ungehäusten bauelementen erzeugte freitragende kontaktierstrukturen
DE102004009296B4 (de) Verfahren zum Herstellen einer Anordnung eines elektrischen Bauelements
DE102006012007B4 (de) Leistungshalbleitermodul mit oberflächenmontierbaren flachen Außenkontakten und Verfahren zur Herstellung desselben und dessen Verwendung
DE102004057497B4 (de) Wärmeaustauschvorrichtung und Verfahren zum Herstellen der Wärmeaustauschvorrichtung sowie Anordnung eines Bauelements und der Wärmeaustauschvorrichtung und Verfahren zum Herstellen der Anordnung
WO2004077547A2 (de) Verbindungstechnik für leistungshalbleiter mit grossflächigen anschlüssen
WO2005078793A1 (de) Verfahren zur herstellung eines leistungsmoduls und leistungsmodul
DE102011089891B4 (de) Schaltungsträger und Verfahren zur Herstellung von einem Schaltungsträger, Schaltungsanordnung mit einem Schaltungsträger
DE102019111816A1 (de) Verfahren zur herstellung eines bauelements und bauelement
WO2006067018A1 (de) Schaltungsanordnung auf einem substrat und verfahren zum herstellen der schaltungsanordnung
WO2005101480A2 (de) Mit planarer verbindungstechnik auf einem insbesondere elektrisch leitendem substrat aufgebaute schaltung
WO2006067013A1 (de) Halbleitermodul mit geringer thermischer belastung
DE102004019442A1 (de) An planarer Verbindung angeordneter Kühlkörper
EP3595002A1 (de) Metall-keramik-substrat mit einer zur direkten kühlung geformten folie als substratunterseite
DE102022120293A1 (de) Verfahren zur Herstellung einer Leiterplattenanordnung
DE102013215647A1 (de) Leistungselektronisches Modul und Verfahren zur Herstellung eines leistungselektronischen Moduls

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
8125 Change of the main classification

Ipc: H01L 23/473 AFI20051017BHDE

R016 Response to examination communication
R018 Grant decision by examination section/examining division
R020 Patent grant now final

Effective date: 20120413

R119 Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee