DE10116827A1 - Bildsensor - Google Patents
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- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
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Abstract
Offenbart ist ein Bildsensor, bestehend aus Lichtsensorschaltungen, welche derart angeordnet sind, dass sie ein Feld von Pixeln bilden, von denen jedes in einem fotoelektrischen Umwandlungselement einesn Sensorstrom erzeugt, der proportional zu der Menge von darauf einfallendem Licht ist, und den Sensorstrom durch einen Transistor vom MOS-Typ mit einer logarithmischen Ausgabecharakteristik in einem schwachen invertierten Zustand in ein Spannungssignal umwandeln, wobei ein Mittel zum Überwechseln einer Drain-Spannung des Transistors für jede Lichtsensorschaltung für eine spezifizierte Zeit zu einem Wert, welcher niedriger als ein normaler Wert ist, um eine Ladung zu entfernen, welche sich in einer parasitischen Kapazität des fotoelektrischen Umwandlungselements akkumuliert ist, um die Schaltung von einem Erfassen eines Lichtsignals zu initialisieren. Der Bildsensor kann ein Spannungssignal erhalten, welches der Menge an einfallendem Licht entspricht, selbst dann, wenn der Sensorstrom schnell geändert worden ist, wodurch die Möglichkeit eines Auftretens eines Nachleuchtens eines jeden Pixels selbst bei einer geringen Menge an einfallendem Licht beseitigt wird.
Description
Die vorliegende Erfindung betrifft einen Bildsensor, welcher gebildet ist aus
einer Matrix von Lichtsensorschaltungen, von denen jede ein Einheitspixel
repräsentiert und in der Lage ist, in einem fotoelektrischen Umwandlungs
element einen zur darauf fallenden Lichtmenge proportionalen Sensorstrom
zu erzeugen und den Sensorstrom unter Verwendung eines Transistors
vom MOS-Typ mit einer logarithmischen Ausgabecharakteristik in einem
schwachen invertierten Zustand in ein Spannungssignal umzuwandeln.
Die japanische Offenlegungsschrift der ungeprüften Anmeldungen KOKAI
Nr. 219443 (1993) und die japanische Veröffentlichung der geprüften
Anmeldungen KOKOKU Nr. 46481 (1995) offenbaren einen herkömmlichen
Bildsensor vom MOS-Transistortyp, bei welchem eine Lichtsensorschaltung
für ein Pixel, wie in Fig. 1 gezeigt ist, eine Fotodiode PD umfasst, welche
als ein fotoelektrisches Umwandlungselement zur Erzeugung eines Sensor
stroms arbeitet, der zur Menge an darauf fallendem einfallendem Licht Ls
proportional ist, welche einen Transistor Q1 umfasst, der eine logarith
mische Ausgabecharakteristik in einem schwachen invertierten Zustand
aufweist, um den in der Fotodiode erzeugten Sensorstrom unter Verwen
dung der Eigenschaft seines Unterschwellenbereichs in ein Spannungs
signal Vpd umzuwandeln, welche einen Transistor Q2 umfasst, um das
Spannungssignal Vpd zu verstärken, und welche einen Transistor Q3
umfasst, um ein Sensorsignal nach Maßgabe eines Zeitgeberimpulses eines
Auslesesignals Vs auszugeben, und welcher gekennzeichnet ist durch
seinen breiten dynamischen Bereich, den man erhält, indem man der Aus
gabe eine logarithmische Charakteristik gibt, wodurch die hohe Empfind
lichkeit einer Lichtsignalerfassung erreicht wird.
Die Bildsensoren des Standes der Technik, welche Lichtsensorschaltungen
als jeweilige Pixel verwenden, in denen in einem fotoelektrischen Umwand
lungselement ein Sensorstrom proportional zum einfallenden Licht erzeugt
wird und unter Verwendung eines Transistors vom MOS-Typ mit einer
logarithmischen Ausgabecharakteristik in einem schwachen invertierten
Zustand in ein Spannungssignal umgewandelt wird, weisen jedoch immer
noch ein Problem dahingehend auf, dass bei einer verringerten Menge an
einfallender Beleuchtung, welche auf das fotoelektrische Umwandlungs
element fällt, ein unerwünschtes Nachleuchten eines jeden Pixels auftritt.
Die oben erwähnte Lichtsensorschaltung kann einen Sensorstrom in dem
Transistor Q1 erzeugen, während eine ausreichende Menge an Licht Ls auf
die Fotodiode PD fällt, und kann daher ein Lichtsignal bei einer Antwortge
schwindigkeit erzeugen, welche ausreicht, dass kein Nachbild des Pixels
aufgrund eines relativ geringen Widerstandwerts des Transistors Q1 er
zeugt wird. Jedoch ist der Transistor Q1 derart eingestellt, dass er mit
einem um eine Größenordnung erhöhten Widerstand arbeitet, wenn ein
Strom darin um eine Größenordnung abnimmt. Daher bewirkt eine Ab
nahme des in dem Transistor Q1 fließenden Stroms mit einer Abnahme der
auf die Fotodiode PD fallenden Menge an einfallendem Licht Ls, dass der
Transistor Q1 seinen Widerstand schnell erhöht. Eine Zeitkonstante der
Schaltung, welche eine parasitische Kapazität C (Verbindungskapazität plus
Verdrahtungsstreukapazität) der Fotodiode PD mit dem erhöhten Wider
stand enthält, ist erhöht, um die Zeit zu verlängern, welche für ein Entfer
nen einer in der parasitischen Kapazität C akkumulierten elektrischen La
dung notwendig ist. Als Folge kann dann, wenn die Menge an einfallendem
Licht Ls abnimmt, für eine längere Dauer ein Nachbild zu sehen sein.
Fig. 5 zeigt Eigenschaften eines veränderlichen Spannungssignals Vpd,
wenn sich der Sensorstrom in der Fotodiode PD schnell von einem Wert
IE-10A auf einen Wert IE-15A ändert.
Das Diagramm zeigt, dass dann, wenn ein Sensorsignal bei einem Intervall
von 1 /30 Sekunden ausgegeben wird, ein Spannungssignal Vpd nicht
innerhalb der obigen Dauer mit einem Sensorstrom IE-12A, welcher der
verringerten Menge an einfallendem Licht entspricht, das auf die Fotodiode
PD fällt, gesättigt werden kann. Mit anderen Worten ist die zum Sättigen
des Spannungssignals Vpd notwendige Zeit entsprechend einem mit einer
verringerten Menge an auf die Fotodiode PD einfallendem Licht Ls ver
ringerten Wert eines Sensorstroms verlängert.
Falls ein Sensorsignal nach Maßgabe von Zeitgeberimpulsen eines Lesesig
nals Vs, wie in Fig. 13 gezeigt ist, ausgegeben wird, erscheint daher eine
Ausgabe mit einem derartigen Nachleuchten, welches zu einem früheren
Zeitpunkt von einem höheren Pegel sein kann. In Fig. 13 bezeichnet Vpd'
ein inverses verstärktes Spannungssignal, welches durch den Verstär
kungstransistor Q2 erzeugt wird.
Es ist eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, einen Bildsensor bereitzu
stellen, welcher gebildet ist aus einem Feld von Lichtsensorschaltungen,
von denen jede ein Einheitspixel repräsentiert und in der Lage ist, in einem
fotoelektrischen Umwandlungselement einen Strom zu erzeugen, welcher
proportional zu der auf sie einfallenden Einfallslichtmenge ist, und in der
Lage ist, den Strom unter Verwendung eines Transistors vom MOS-Typ mit
einer logarithmischen Ausgabecharakteristik in einem schwachen inver
tierten Zustand in ein entsprechendes Spannungssignal umzuwandeln, und
welcher weiter mit einem Mittel versehen ist, um die Schaltung vor einem
Erfassen eines Lichtsignals durch Entfernen einer in einem parasitischen
Kondensator des fotoelektrischen Umwandlungselements akkumulierten
Ladung zu initialisieren, indem man eine Drain-Spannung des Transistors
für eine spezifizierte Zeit von einem normalen auf einen niedrigeren Pegel
schaltet.
Es ist eine weitere Aufgabe der vorliegenden Erfindung, einen Bildsensor
bereitzustellen, welcher aus Lichtsensorschaltungen besteht, die derart
angeordnet sind, dass sie eine Matrix von Pixelschaltungen bilden, von
denen jede in der Lage ist, in einem fotoelektrischen Element einen zur
darauf fallenden Einfallslichtmenge proportionalen Strom zu erzeugen und
den Strom durch Verwendung eines Transistors vom MOS-Typ mit einer
logarithmischen Aus-Charakteristik in einem schwachen invertierten Zu
stand in ein entsprechendes Spannungssignal umzuwandeln. Dieser Bild
sensor ist weiterhin mit einer Spannungs-Umschalteschaltung versehen,
welche Drain-Spannungen der Transistoren für alle Pixel für eine spezifi
zierte Zeit von einem normalen auf einen niedrigeren Pegel ändert, um
Ladungen zu entfernen, welche in parasitischen Kapazitäten von jeweiligen
fotoelektrischen Umwandlungselementen akkumuliert sind, wodurch alle
Pixel initialisiert werden, bevor Lichtsignale von ihnen erfasst werden.
Selbst wenn die Sensorspannung mit einer verringerten Beleuchtung
schnell abnehmen würde, kann daher jede Sensorschaltung sofort ein
Spannungssignal erhalten, welches der zu diesem Moment einfallenden
Lichtmenge entspricht, wodurch die Möglichkeit eines Auftretens von
Nachleuchten des Pixels bei einer verringerten Menge an einfallendem Licht
beseitigt wird.
Eine weitere Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, einen Bildsensor
bereitzustellen, welcher aus Lichtsensorschaltungen besteht, die derart
angeordnet sind, dass sie eine Matrix von mehreren entsprechenden Pixeln
bilden, wobei Sensorsignale in einer Zeitfolge derart ausgelesen (abgetas
tet) werden, dass Pixelzeilen durch eine Pixelzeilen-Auswahlschaltung eine
nach der anderen nacheinander ausgewählt werden, und dass Pixel durch
eine Pixel-Auswahlschaltung in der ausgewählten Pixelzeile nacheinander
ausgewählt werden, und wobei jedes Pixel in jeder auszuwählenden Pixel
zeile bei der Zeitfolge, die für ein Lesen eines jeden Pixels aus der Zeile
angepasst ist, derart initialisiert wird, dass eine Drain-Spannung eines
MOS-Transistors für ein Zielpixel durch eine Spannungs-Umschalteschal
tung für eine spezifizierte Zeit von einem normalen auf einen niedrigeren
Pegel geändert wird, um eine Ladung zu entfernen, welche in einer parasiti
schen Kapazität eines betroffenen fotoelektrischen Umwandlungselements
akkumuliert ist.
Fig. 1 ist ein elektrisches Schaltbild einer Lichtsensorschaltung für
ein Pixel, welches als eine Einheitskomponente eines Bildsen
sors gemäß der vorliegenden Erfindung verwendet wird.
Fig. 2 ist ein Zeitdiagramm von Signalen, welche in der Lichtsensor
schaltung erzeugt werden sollen.
Fig. 3 ist eine Mimikdarstellung eines Betriebszustands eines Tran
sistors Q1 mit einem Fluss einer elektrischen Ladung (q) darin,
wenn die Lichtsensorschaltung initialisiert wird.
Fig. 4 ist eine Mimikdarstellung eines Betriebszustands eines Tran
sistors Q1 mit einem Fluss einer elektrischen Ladung (q) darin,
wenn ein Lichtsignal der Lichtsensorschaltung erfasst wird,
Fig. 5 zeigt charakteristische Kurven eines Spannungssignals (Vpd),
welches sich mit einer Änderung eines Sensorstroms einer
Fotodiode (PD) in der Lichtsensorschaltung ändert.
Fig. 6 zeigt charakteristische Kurven eines Spannungs-(Vpd)-Ver
stärkungssignals, wenn der Lichtsignal-Auslesevorgang bei
einem spezifizierten Intervall durch die Lichtsensorschaltung
wiederholt wird.
Fig. 7 zeigt Ausgabecharakteristika von Pixelsignalen (Vo) mit einer
Änderung der Menge an einfallendem Licht (Ls), welches auf
eine Fotodiode der Lichtsensorschaltung fällt.
Fig. 8 ist ein Blockdiagramm eines Bildsensors gemäß einer Aus
führungsform der vorliegenden Erfindung.
Fig. 9 ist ein Zeitdiagramm von Signalen von Abschnitten des Bild
sensors der vorliegenden Erfindung.
Fig. 10 ist ein Zeitdiagramm von Signalen von Abschnitten des Bild
sensors während der Zeit einer simultanen Initialisierung aller
Pixel in dem Bildsensor.
Fig. 11 ist ein Blockdiagramm eines Bildsensors gemäß einer weiteren
Ausführungsform der vorliegenden Erfindung.
Fig. 12 ist ein Zeitdiagramm von Signalen von Abschnitten des Bild
sensors der vorliegenden Erfindung.
Fig. 13 zeigt Ausgabecharakteristika eines Sensorsignals, welches
nach Maßgabe eines spezifizierten Zeitgeberimpulses bei der
verringerten Menge an einfallendem Licht, das auf eine Licht
sensorschaltung ohne Initialisierung des Bildsensors fällt,
gelesen wird.
Fig. 1 veranschaulicht eine Lichtsensorschaltung, welche ein Einheitspixel
repräsentiert, das als eine Einheitskomponente in einem Bildsensor ver
wendet wird, der die vorliegende Erfindung verkörpert.
Die Lichtsensorschaltung umfasst eine Fotodiode PD zur Erzeugung eines
Sensorstroms, welcher der Menge an einfallendem Licht Ls proportional ist,
wenn ein Lichtsignal erfasst wird, welcher einen Transistor Q1 umfasst,
um den in der Fotodiode PD fließenden Sensorstrom unter Verwendung
seiner logarithmischen Ausgabecharakteristik in einem schwachen inver
tierten Zustand in eine entsprechende Spannung Vpd umzuwandeln, wel
cher einen Transistor Q2 umfasst, um das Spannungssignal Vpd zu ver
stärken und welcher einen Transistor Q3 vom MOS-Typ umfasst, um nach
Maßgabe eines Zeitgeberimpulses eines Auslesesignals Vs ein Sensorsignal
auszugeben. Dieser Sensor ist in der Lage, ein Lichtsignal bei einer hohen
Empfindlichkeit aufgrund seines breiten dynamischen Bereichs zu erfassen,
den man durch Verwenden seiner logarithmischen Ausgabecharakteristik
erreicht.
Die Lichtsensorschaltung gemäß der vorliegenden Erfindung ist in der Lage,
sich selbst vor einem Erfassen eines Lichtsignals durch Entfernen einer
elektrischen Ladung, welche in einer parasitischen Kapazität C der Foto
diode PD akkumuliert ist, zu initialisieren, indem sie eine Drain-Spannung
VD des Transistors Q1 vom MOS-Typ für eine spezifizierte Periode auf
einen Pegel ändert, der niedriger als ein normaler ist. Dies versetzt die
Lichtsensorschaltung in die Lage, unmittelbar selbst dann ein Spannungs
signal zu erhalten, welches der Lichtmenge entspricht, die zu dieser Zeit
auf sie fällt, wenn sich ein Sensorstrom schnell verändert. Daher kann die
Lichtsensorschaltung kein Nachleuchten des Pixels bewirken, selbst mit
einer geringen Menge an einfallendem Licht Ls.
Fig. 2 zeigt ein Zeitdiagramm von Signalen, welche bei verschiedenen
Abschnitten der Lichtsensorschaltung erzeugt werden. In Fig. 2 ist t1 der
Initialisierungs-Zeitgeberimpuls und t2 ist der Lichtsignalerfassungs-Zeitge
berimpuls. Eine spezifizierte Zeit tm, für welche die Drain-Spannung VD des
Transistors Q1 von einem normalen Wert (hoher Pegel H) zu einem niedri
geren Spannungswert (niedriger Pegel L) geschaltet und bei dem niedrigen
Pegel L gehalten wird, wird beispielsweise im Falle eines Lesens eines
Pixels bei einer Geschwindigkeit von etwa 100 Nanosekunden auf etwa 5
Mikrosekunden eingestellt. In Fig. 2 bezeichnet T eine Periode zur Akkumu
lation einer Ladung in einer parasitischen Kapazität C der Fotodiode PD,
welche Periode etwa 1/30 (oder 1/60) Sekunde für ein NTSC-Signal be
trägt.
In der Lichtsensorschaltung wird der Transistor Q1 dann, wenn die
Drain-Spannung VD des Transistors Q1 vom MOS-Typ zur Initialisierung der
Schaltung zu dem niedrigen Pegel L umgeschaltet worden ist, in den Nied
rigwiderstandszustand gebracht, falls ein Potential zwischen der
Gatterspannung VG und der Drain-Spannung VD größer ist als eine Schwelle des
Transistors Q1. Daher wird das Source-Seitenpotential in diesem Augen
blick gleich der Drain-Spannung VD (in der Praxis verbleibt immer noch ein
Unterschied zwischen Potentialen), was bewirkt, dass die Verbindungs
kapazität C der Fotodiode C entladen wird.
Fig. 3 veranschaulicht schematisch den Betrieb der Lichtsensorschaltung
durch einen Fluss einer elektrischen Ladung q des Transistors Q1 bei der
Initialisierung der Schaltung.
Sobald die Drain-Spannung VD des Transistors Q1 mit einem Verstreichen
der Zeit tm auf den normalen Wert (hoher Pegel H) geändert worden ist
und dann ein Lichtsignal erfasst wurde, wird das Source-Seitenpotential
niedriger als die Drain-Spannung VD. Falls der Unterschied zwischen der
Gate-Spannung VG und der Drain-Spannung größer als die Schwelle ist,
erreicht der Transistor Q1 vom MOS-Typ den Niedrigwiderstandszustand
und gestattet der Verbindungskapazität C der Fotodiode, wieder geladen zu
werden.
Fig. 4 veranschaulicht schematisch den Betrieb der Lichtsensorschaltung
durch einen Fluss einer elektrischen Ladung q des Transistors Q1 beim
Erfassen eines Lichtsignals. Die Verbindungskapazität C der Fotodiode PD
wird zur Initialisierung der Lichtsensorschaltung vor einer Erfassung eines
Lichtsignals entladen und dann geladen. In diesem Falle wird die Ausgangs
spannung Vpd (eine Anschlussspannung der Fotodiode PD) mit einem
Verstreichen einer spezifizierten Zeit vom Initialisierungszeitpunkt an zu
einem Wert, welcher der Menge an einfallendem Licht Ls entspricht. Mit
anderen Worten kann die Lichtsensorschaltung nach einer Initialisierung in
Antwort auf eine Veränderung der Menge an einfallendem Licht eine Entla
decharakteristik mit einer spezifizierten Zeitkonstanten erhalten.
Falls in diesem Falle die Lichtsensorschaltung für eine lange Zeit so gelas
sen wird, wie sie ist, wird ein Strom, welcher von der Drain-Spannung VD
durch den Transistor Q1 hindurch zugeführt wird, gleich einem Strom, der
in der Fotodiode PD fließt. Somit kann stets die gleiche Entladecharak
teristik beibehalten werden, sofern keine Ladung zurückbleibt. Dies besei
tigt die Möglichkeit eines Nachleuchtens von Pixeln.
Die Lichtsensorschaltung kann daher ein Sensorsignal erhalten, welches der
Menge an einfallendem Licht Ls entspricht, ohne Nachleuchten des Pixels
durch Erfassung eines Lichtsignals mit einem Verstreichen einer spezifizier
ten Zeit nach Initialisierung der Schaltung.
Fig. 5 veranschaulicht die Änderungscharakteristika eines Spannungssig
nals Vpd mit einem schnell von IE-10A auf IE-15A geänderten Strom, in
dem Falle einer Erfassung eines Lichtsignals bei einem Zeitpunkt von 1/30
Sekunde nach der Initialisierung.
Fig. 6 zeigt Charakteristika des verstärkten Spannungssignals Vpd, wenn
Lichtsignale wiederholt bei einem Intervall von 1/30 Sekunde gelesen
wurden. Das Diagramm zeigt, dass die Signalcharakteristika, die jede 1/30
Sekunde erhaltenen werden, dem Sensorstrom entspricht, der zu der
Menge an einfallendem Licht proportional ist, das auf die Fotodiode PD
fällt, ohne ein Nachleuchten des Pixels.
Fig. 7 zeigt die Ausgabecharakteristika des Sensorsignals, welche durch
Verändern der auf die Fotodiode fallenden Menge an einfallendem Licht Ls
erhalten wurden. Das Diagramm zeigt, dass das Sensorsignal bei dem
Sensorstrom von IE-13A oder höher eine vollständig logarithmische Aus
gabecharakteristik aufweist. Es wird ebenso gefunden, dass das ausgege
bene Sensorsignal bei dem Sensorstrom von weniger als IE-13A nicht
logarithmisch ist, jedoch kein Nachleuchten verursacht.
Das Diagramm zeigt weiterhin, dass die in Fig. 7(a) gezeigte Ausgabe
charakteristik erhalten werden kann, indem die Schwelle des niedrigen
Pegels L eingestellt wird, auf welchen die Drain-Spannung VD des Transis
tors Q1 umgeschaltet werden muss, und indem die Drain-Spannung ver
ringert wird, bis der Transistor Q1 den Zustand eines vollständig niedrigen
Widerstands erreicht. Im Gegensatz dazu kann die in Fig. 7(b) gezeigte
normale logarithmische Ausgabecharakteristik erhalten werden, indem man
die Steuer/Regelspannung VD auf den gleichen Wert einstellt, den die
Gate-Spannung VG aufweist.
Daher ist die Ausgabecharakteristik von Fig. 7(a) von dem Nachleucht-Effekt
frei, jedoch ist die Lichtsignalerfassungsempfindlichkeit bei einer
kleinen Menge an einfallendem Licht reduziert, während die Ausgabecha
rakteristik von Fig. 7(b) eine hohe Erfassungsempfindlichkeit bei einer
kleinen Menge an einfallendem Licht aufweisen kann, jedoch durch ein
nennenswertes Nachleuchten begleitet wird. Mit anderen Worten, es be
steht eine Einbußebeziehung zwischen der Erfassungsempfindlichkeit und
dem Nachleuchten.
Daher ist es wünschenswert, die Drain-Spannung VD des Transistors unter
der folgenden Bedingung auf einen Wert in einem Zwischenbereich zwi
schen der in Fig. 7(a) gezeigten Ausgabecharakteristik und der logarithmi
schen Ausgabecharakteristik, wie sie in Fig. 7(b) gezeigt ist, einzustellen:
Für die Anwendungen, bei welchen das Nachleuchten zugelassen ist, muss die Drain-Spannung des Transistors auf einen Wert eingestellt sein, bei welchem man die höhere Erfassungsempfindlichkeit erhält. Im Gegensatz dazu muss die Drain-Spannung für die Anwendungen, bei welchen das Nachleuchten vermieden werden muss, auf einen Wert eingestellt sein, bei welchem kein Nachleuchten erzeugt werden kann. In der Praxis ist die Drain-Spannung VD auf einen Wert eingestellt, welcher so ausgewählt ist, dass man unter Berücksichtigung der aktuellen Anwendung und des tat sächlich gewährbaren Nachleuchtens die höchste Erfassungsempfindlich keit erhält.
Für die Anwendungen, bei welchen das Nachleuchten zugelassen ist, muss die Drain-Spannung des Transistors auf einen Wert eingestellt sein, bei welchem man die höhere Erfassungsempfindlichkeit erhält. Im Gegensatz dazu muss die Drain-Spannung für die Anwendungen, bei welchen das Nachleuchten vermieden werden muss, auf einen Wert eingestellt sein, bei welchem kein Nachleuchten erzeugt werden kann. In der Praxis ist die Drain-Spannung VD auf einen Wert eingestellt, welcher so ausgewählt ist, dass man unter Berücksichtigung der aktuellen Anwendung und des tat sächlich gewährbaren Nachleuchtens die höchste Erfassungsempfindlich keit erhält.
Die vorliegende Erfindung ist auf einen Bildsensor gerichtet, welcher aus
einer Anzahl der oben beschriebenen Lichtsensorschaltungen gebildet ist,
die derart angeordnet sind, dass sie eine Matrix von Pixeln (d. h. Lichtsen
sorschaltungen) bilden, wobei Sensorsignale von jeweiligen Pixeln durch
Abtasten in einer Zeitfolge gelesen werden und die Pixel in einer Zeit ini
tialisiert werden können, welche auf das Auslese-Abtasten jeweiliger
Sensorsignale angepasst ist.
Fig. 8 veranschaulicht einen Bildsensor gemäß einer Ausführungsform der
vorliegenden Erfindung.
Der Bildsensor ist gebildet aus 4 × 4 Pixeln D11-D44, welche in einer Matrix
von Pixelschaltungen angeordnet sind, in welcher eine Pixelzeile nach der
anderen mit jeweiligen Auswahlsignalen LS1-LS4, die nacheinander von
einer Pixelzeilenauswahlschaltung 1 ausgegeben werden, ausgewählt wird
und in jeder ausgewählten Pixelzeile ein Pixel nach dem anderen als jeweili
ges Sensorsignal derart ausgelesen wird, dass Auswahlsignale DS, welche
nacheinander von einer Pixelauswahlschaltung 2 ausgegeben werden,
entsprechende Schalter SW1-SW4 einschalten, um Sensorsignale in einer
Zeitfolge zu lesen. In Fig. 8 bezeichnet Bezugszeichen 4 eine Stromquelle
für eine Gate-Spannung VG des Transistors Q1, und Bezugszeichen 6
bezeichnet eine Stromquelle für eine Drain-Spannung VD des Transistors
Q1.
Der Bildsensor der vorliegenden Erfindung ist mit einer Spannungs-Um
schalteschaltung 5 versehen, durch welche eine Drain-Spannung VD eines
jeden Transistors Q1 für jedes Pixel von einem normalen Hoch-Pegel H
durch die Wirkung eines spezifizierten Zeitgeberimpulses beim Auswählen
einer jeden Zeile von Pixeln zu einem initialisierenden niedrigeren Pegel L
geändert wird.
Der Betrieb des oben beschriebenen Bildsensors gemäß der vorliegenden
Erfindung wird mit Bezugnahme auf Fig. 9 beschrieben werden, welche ein
Zeitdiagramm von Signalen zeigt, die bei jeweiligen Abschnitten des Bild
sensors erzeugt werden.
Wenn das Pixelzeilenauswahlsignal LS1 den hohen Pegel H erreicht hat,
wird die erste Pixelzeile einschließlich Pixel (Lichtsensorschaltungen) D11,
D12, D13 und D14 ausgewählt und die Pixelauswahlsignale DS1-DS4
erreichen, während einer spezifizierten Periode, während der das Signal
LS1 auf dem hohen Pegel H bleibt, nacheinander den hohen Pegel H, um
das aufeinander folgende Lesen von Sensorsignalen D11, D12, D13 und
D14 zu beginnen.
Sobald das Pixelzeilenauswahlsignal LS1 zu dem niedrigen Pegel geändert
worden ist, wird ein nächstes Pixelzeilenauswahlsignal LS2 zu dem hohen
Pegel H geändert, um die zweite Pixelzeile auszuwählen, welche Pixel D21,
D22, D23 und D24 enthält. Für eine spezifizierte Periode T1, während der
das Signal LS2 auf dem hohen Pegel bleibt, erreichen die Pixelauswahlsig
nale DS1-DS4 nacheinander den hohen Pegel H, um das aufeinander fol
gende Lesen von Sensorsignalen D21, D22, D23 und D24 zu beginnen.
Auf ähnliche Weise wird mit zu dem hohen Pegel H geänderten Pixelzeilen
auswahlsignalen LS3 (LS4) die dritte (vierte) Pixelzeile ausgewählt und
dann erreichen die Pixelauswahlsignale DS1-DS4, während einer spezifi
schen Periode T1, während der das Signal LS1 auf dem hohen Pegel H
verbleibt, nacheinander den hohen Pegel H, um das aufeinander folgende
Lesen von Sensorsignalen D31, D32, D33 und D34 (D41, D42, D43 und
D44) zu beginnen.
Wenn das Pixelzeilenauswahlsignal LS1 zum niedrigen Pegel L geändert
worden ist, wird die Drain-Spannung VD1 für die Pixel D11, D12, D13 und
D14 in der ersten ausgewählten Zeile für eine spezifizierte Periode T2 zu
dem niedrigen Pegel geschaltet, um die Pixel initialisiert und auf den nächs
ten Zyklus eines Lesens von Sensorsignalen vorbereitet zu machen, wel
cher Zyklus mit Verstreichen einer Zykluszeit T3 ausgeführt werden wird.
Wenn das Pixelzeilenauswahlsignal LS2 nach der Periode T1 zum niedrigen
Pegel L geändert worden ist, wird die Drain-Spannung VD1 für die Pixel
D21, D22, D23 und D24 in der zweiten ausgewählten Zeile für die spezifi
zierte Periode T2 zum niedrigen Pegel geschaltet, um die Pixel für den
nächsten Sensorsignal-Lesezyklus zu initialisieren, welcher mit Verstreichen
einer Zykluszeit T3 ausgeführt werden soll.
Auf ähnliche Weise wird die Drain-Spannung VD3 (VD4) für die Pixel D31,
D32, D33 und D34 (D41, D42, D43 und D44) in der dritten (vierten)
ausgewählten Zeile zu dem niedrigen Pegel geschaltet, um die Pixel für den
nächsten Sensorsignal-Lesezyklus zu initialisieren, welcher mit Verstreichen
einer Zykluszeit T3 ausgeführt werden soll, sobald das Pixelzeilenauswahl
signal LS3 (LS4) nach der Periode T1 zu dem niedrigen Pegel L geändert
worden ist.
Obwohl die Drain-Spannung VDX zu dem niedrigen Pegel L geschaltet wird,
um jede Lichtsensorschaltung zu initialisieren, wobei das Pixelzeilenaus
wahlsignal LSX (X = 1-4) mit Verstreichen der Periode T1 auf den niedrigen
Pegel reduziert ist, kann die Initialisierungszeit innerhalb der Dauer T4
liegen, für welche die Pixelzeilenauswahl pausiert, wobei das Pixelzeilen
auswahlsignal sich auf dem niedrigen Pegel L befindet.
Beim Initialisieren eines jeden Pixels in dem in Fig. 8 gezeigten Bildsensor
können alle Pixel D11 bis D44 gleichzeitig vor einem Lesen von Sensorsig
nalen aus jeweiligen Pixeln initialisiert werden.
Fig. 10 zeigt ein Zeitdiagramm von Signalen, welche bei jeweiligen Ab
schnitten des Bildsensors erzeugt werden, wenn alle Pixel D11-D44 zur
gleichen Zeit initialisiert werden.
Die Zeitfolge eines Auftretens von Signalen bei jeweiligen Abschnitten wird
durch Betreiben der Pixelzeilenauswahlschaltung 1, der Pixelauswahlschal
tung 2 und der Spannungs-Umschalteschaltung 5 unter der Steuerung/Regelung
einer Steuer/Regelschaltung (nicht dargestellt) entschieden.
Ein Initialisieren eines jeden Pixels bei der Zeitfolge, welche für ein Ab
tasten zum Lesen eines jeden Sensorsignals geeignet ist, kann eine
Über- oder Unterladungs-Akkumulationsdauer für ein gesamtes System des
Bildsensors vermeiden.
Somit ist es gemäß der vorliegenden Erfindung möglich, einen Bildsensor zu
realisieren, welcher einen breiten dynamischen Bereich seiner logarithmi
schen Ausgabecharakteristik aufweist, ohne das Nachleuchten der Pixel zu
verursachen.
Fig. 11 zeigt einen Bildsensor gemäß einer weiteren Ausführungsform der
vorliegenden Erfindung.
In diesem Falle sind Abtast-und-Halte-Schaltungen SH1-SH4 an der Aus
gangsseite von Pixeln in jeweiligen auswählbaren Pixelzeilen vorgesehen.
Wie in Fig. 12 gezeigt ist, wird jedem der Abtast-und-Halte-Schaltungen
SH1-SH4 ein Abtast-und-Halte-Signal SHS gegeben, welches nacheinander
Sensorsignale für jedes Pixel einer ausgewählten Pixelzeile hält.
Der derart aufgebaute Bildsensor kann Sensorsignale von jeweiligen Pixeln
in der ausgewählten Pixelzeile stabil ausgeben.
Ein Bildsensor gemäß einem Gesichtspunkt der vorliegenden Erfindung
verwendet eine Mehrzahl von Lichtsensorschaltungen, welche derart an
geordnet sind, dass sie eine Matrix von Pixelschaltungen bilden, wobei jede
von ihnen in einem fotoelektrischen Umwandlungselement einen Sensor
strom erzeugt, welcher proportional zur darauf fallenden Lichtmenge ist,
und den Strom durch einen Transistor vom MOS-Typ mit einer logarithmi
schen Ausgabecharakteristik in einem schwachen invertierten Zustand in
ein Spannungssignal umwandelt. Jede Lichtsensorschaltung ist weiter mit
einem Mittel versehen zur Veränderung der Drain-Spannung des Transistors
für eine spezifizierte Zeit auf einen Wert, welcher niedriger als ein normaler
Wert ist, um die Schaltung vor einem Erfassen eines Lichtsignals durch
Entfernen einer Ladung zu initialisieren, welche in einer parasitischen Kapa
zität des fotoelektrischen Umwandlungselements akkumuliert ist, wodurch
ein Sensorsignal ohne die Wirkung einer Restladung erhalten wird.
Ein Bildsensor gemäß einem weiteren Gesichtspunkt der vorliegenden
Erfindung ist gebildet aus einer Anzahl von Lichtsensorschaltungen, welche
derart angeordnet sind, dass sie eine Matrix von Pixelschaltungen bilden,
von denen jede in einem fotoelektrischen Umwandlungselement einen
Sensorstrom erzeugt, welcher zu der darauf fallenden Lichtmenge propor
tional ist, und den Strom unter Verwendung eines Transistors vom MOS-
Typ mit einer logarithmischen Ausgabecharakteristik in einem schwachen
invertierten Zustand in ein Spannungssignal umwandelt. Jede Lichtsensor
schaltung ist weiterhin mit einer Spannungs-Umschalteschaltung versehen,
durch welche die Drain-Spannung des Transistors für eine spezifizierte Zeit
auf einen Wert geschaltet wird, welcher niedriger als ein normaler Pegel ist,
um vor einem Erfassen eines Lichtsignals eine Ladung zu entfernen, welche
in einer parasitischen Kapazität des fotoelektrischen Umwandlungselements
akkumuliert ist, wodurch selbst bei einer schnellen Änderung des Sensor
stroms ein Sensorsignal entsprechend der Menge an einfallendem Licht
erhalten wird. Dies beseitigt die Möglichkeit eines Auftretens eines Nach
leuchtens von jedem Pixel, auf welches eine geringe Menge an Licht fällt.
Ein Bildsensor gemäß einem weiteren Gesichtspunkt der vorliegenden
Erfindung ist gebildet aus einer Anzahl von Lichtsensorschaltungen, welche
derart angeordnet sind, dass sie eine Matrix von Pixeln bilden, einer Pixel
zeilenauswahlschaltung zur aufeinander folgenden Auswahl von Pixelzeilen
sowie einer Pixelauswahlschaltung zur aufeinander folgenden Auswahl von
Pixeln in jeder ausgewählten Pixelzeile, wobei Sensorsignale in einer Zeit
folge von jeweiligen Pixeln abgetastet und gelesen werden können. Dieser
Bildsensor ist weiterhin mit Spannungs-Umschalteschaltungen für jede
Lichtsensorschaltung (Pixel) versehen, durch welche die Drain-Spannung
eines jeden Transistors vom MOS-Typ für eine spezifizierte Zeit auf einen
Wert geschaltet wird, welcher niedriger als ein normaler Wert ist, um vor
einem Auswählen einer jeden Pixelzeile eine Ladung zu entfernen, die in
einer parasitischen Kapazität des fotoelektrischen Umwandlungselements
akkumuliert ist. Die Initialisierung eines jeden Pixels kann bei einer Zeitfolge
durchgeführt werden, welche für ein Lesen eines jeden Sensorsignals
geeignet ist.
Offenbart ist ein Bildsensor, bestehend aus Lichtsensorschaltungen, welche
derart angeordnet sind, dass sie ein Feld von Pixeln bilden, von denen jedes
in einem fotoelektrischen Umwandlungselement einen Sensorstrom er
zeugt, der proportional zu der Menge von darauf einfallendem Licht ist, und
den Sensorstrom durch einen Transistor vom MOS-Typ mit einer logarithmi
schen Ausgabecharakteristik in einem schwachen invertierten Zustand in
ein Spannungssignal umwandeln, wobei ein Mittel zum Überwechseln einer
Drain-Spannung des Transistors für jede Lichtsensorschaltung für eine
spezifizierte Zeit zu einem Wert, welcher niedriger als ein normaler Wert ist,
um eine Ladung zu entfernen, welche sich in einer parasitischen Kapazität
des fotoelektrischen Umwandlungselements akkumuliert hat, um die Schal
tung vor einem Erfassen eines Lichtsignals zu initialisieren. Der Bildsensor
kann ein Spannungssignal erhalten, welches der Menge an einfallendem
Licht entspricht, selbst dann, wenn der Sensorstrom schnell geändert
worden ist, wodurch die Möglichkeit eines Auftretens eines Nachleuchtens
eines jeden Pixels selbst bei einer geringen Menge an einfallendem Licht
beseitigt wird.
Claims (5)
1. Bildsensor, welcher eine Anzahl von Lichtsensorschaltungen um
fasst, von denen jede ein Einheitspixel repräsentiert und in der Lage
ist, in einem fotoelektrischen Umwandlungselement einen zur darauf
fallenden Lichtmenge proportionalen Sensorstrom zu erzeugen und
den Strom durch einen Transistor vom MOS-Typ mit einer logarith
mischen Ausgabecharakteristik in einem schwachen invertierten
Zustand in ein Spannungssignal umzuwandeln, sowie ein Mittel
umfasst, um eine Ladung, welche sich in einer parasitischen Kapazi
tät des fotoelektrischen Umwandlungselements angesammelt hat,
durch Ändern einer Drain-Spannung des Transistors auf einen Wert,
welcher niedriger als ein normaler Wert ist, zu entfernen, um jedes
Pixel vor einem Erfassen eines Lichtsignals zu initialisieren.
2. Bildsensor, umfassend eine Anzahl von Lichtsensorschaltungen,
welche derart angeordnet sind, dass sie eine Matrix von Pixeln bil
den, wobei jede der Schaltungen in der Lage ist, in einem fotoelek
trischen Umwandlungselement einen Sensorstrom zu erzeugen,
welcher zur darauf fallenden Menge an Licht proportional ist, und
den erzeugten Strom unter Verwendung eines Transistors vom MOS-
Typ mit einer logarithmischen Ausgabecharakteristik in einem
schwachen invertierten Zustand in ein Spannungssignal umzuwan
deln, und umfassend eine Spannungs-Umschalteschaltung, um für
eine spezifizierte Zeit eine Drain-Spannung der Transistoren vom
MOS-Typ für alle Pixel auf einen Wert zu ändern, welcher niedriger
als ein normaler ist, um vor einem Erfassen eines Lichtsignals von
jedem Pixel eine Ladung zu entfernen, welche sich in einer parasiti
schen Kapazität des fotoelektrischen Elements akkumuliert hat.
3. Bildsensor, umfassend eine Anzahl von Lichtsensorschaltungen,
welche derart angeordnet sind, dass sie eine Matrix von Pixeln bil
den, wobei jede der Schaltungen in der Lage ist, in einem fotoelek
trischen Umwandlungselement einen Sensorstrom zu erzeugen,
welcher der darauf fallenden Menge an Licht proportional ist, und
den Strom durch einen Transistor vom MOS-Typ mit einer logarith
mischen Charakteristik in einem schwachen invertierten Zustand in
ein Spannungssignal umzuwandeln, eine Pixelzeilenauswahlschal
tung, um nacheinander Pixelzeilen auszuwählen, eine Pixelauswahl
schaltung, um nacheinander Pixel in einer ausgewählten Zeile auszu
wählen, wobei beide der Auswahlschaltungen miteinander zusam
menwirken, um nacheinander Sensorsignale von jeweiligen Pixeln in
einer Zeitfolge abzutasten und zu lesen, sowie eine Spannungs-
Umschalteschaltung, um eine Drain-Spannung der Transistoren vom
MOS-Typ für jeweilige Pixel in einer auswählbaren Pixelzeile für eine
spezifizierte Zeit auf einen Wert zu ändern, welcher niedriger als ein
normaler Wert ist, um vor einem Auswählen jeder der Pixelzeilen
eine Ladung zu entfernen, welche sich in einer parasitischen Kapazi
tät des fotoelektrischen Elements akkumuliert hat.
4. Bildsensor nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeich
net, dass jede der Lichtsensorschaltungen gebildet ist aus einem
ersten Transistor zur Umwandlung eines in dem fotoelektrischen
Umwandlungselement fließenden Sensorstroms in ein Spannungs
signal unter Verwendung seiner logarithmischen Ausgabecharak
teristik in einem schwachen invertierten Zustand, einem zweiten
Transistor zur Verstärkung des Spannungssignals und einem dritten
Transistor zur Ausgabe eines Sensorsignals, welches dem verstärk
ten Spannungssignal entspricht, zu einem spezifizierten Zeitpunkt.
5. Bildsensor nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass eine
Abtast-und-Halte-Schaltung an einer Ausgabeseite eines jeden Pixels
in jeder Pixelzeile vorgesehen ist.
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WO2002102061A1 (fr) * | 2001-06-06 | 2002-12-19 | Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha | Detecteur d'images |
WO2003094110A1 (fr) * | 2002-05-02 | 2003-11-13 | Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha | Dispositif de correction de la sortie d'un capteur d'image |
KR100537704B1 (ko) | 2002-07-12 | 2005-12-20 | 도시바 마쯔시따 디스플레이 테크놀로지 컴퍼니, 리미티드 | 표시 장치 |
JP4254388B2 (ja) * | 2003-06-11 | 2009-04-15 | 本田技研工業株式会社 | イメージセンサの走査回路 |
KR100615007B1 (ko) * | 2003-06-20 | 2006-08-25 | 도시바 마쯔시따 디스플레이 테크놀로지 컴퍼니, 리미티드 | 표시 장치 |
US7495695B2 (en) * | 2003-07-18 | 2009-02-24 | Honda Giken Kogyo K.K. | Image processing device and method capable of emphasizing the contrast of an image taken by an image sensor |
JP4268492B2 (ja) * | 2003-10-02 | 2009-05-27 | 浜松ホトニクス株式会社 | 光検出装置 |
JP2006147708A (ja) * | 2004-11-17 | 2006-06-08 | Omron Corp | 撮像デバイス |
KR100741920B1 (ko) * | 2004-12-30 | 2007-07-24 | 동부일렉트로닉스 주식회사 | 씨모스(cmos) 이미지 센서의 제조 방법 |
JP4634318B2 (ja) * | 2005-02-28 | 2011-02-16 | パナソニック株式会社 | 固体撮像装置及びその駆動方法、カメラ |
US7884871B2 (en) * | 2007-06-15 | 2011-02-08 | Aptina Imaging Corporation | Images with high speed digital frame transfer and frame processing |
JP5677103B2 (ja) * | 2011-01-20 | 2015-02-25 | 富士フイルム株式会社 | 固体撮像素子、固体撮像素子の駆動方法、撮像装置 |
FR2983972B1 (fr) * | 2011-12-08 | 2013-12-27 | Soc Fr Detecteurs Infrarouges Sofradir | Dispositif de detection de rayonnement electromagnetique impulsionnel |
CN104811633B (zh) * | 2014-01-24 | 2018-07-31 | 恒景科技股份有限公司 | 像素电路和影像传感器 |
Family Cites Families (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4831257A (en) * | 1986-09-26 | 1989-05-16 | Honeywell Inc. | Gate coupled input circuit |
JPH02224481A (ja) * | 1989-02-27 | 1990-09-06 | Hitachi Ltd | 増幅型固体撮像素子 |
JPH04369230A (ja) * | 1991-06-18 | 1992-12-22 | Hitachi Ltd | 電荷結合装置 |
JPH05219443A (ja) * | 1992-02-05 | 1993-08-27 | Minolta Camera Co Ltd | 固体撮像装置 |
JPH06261254A (ja) * | 1993-03-08 | 1994-09-16 | Toshiba Corp | 固体撮像素子の駆動装置 |
KR100306088B1 (ko) * | 1993-04-09 | 2001-12-15 | 이데이 노부유끼 | 씨씨디(ccd)고체촬상소자및전하결합소자 |
JPH0746481A (ja) * | 1993-07-29 | 1995-02-14 | Minolta Co Ltd | 固体撮像装置 |
JPH07255013A (ja) * | 1994-01-31 | 1995-10-03 | Sony Corp | 固体撮像装置 |
EP0739039A3 (de) * | 1995-04-18 | 1998-03-04 | Interuniversitair Micro-Elektronica Centrum Vzw | Pixelstruktur, Bildsensor mit diesem Pixel, Struktur und entsprechende zugehörige Schaltung |
DE19533061C2 (de) * | 1995-09-07 | 1997-07-03 | Leica Ag | Photoelektrische Halbleiter-Lichterfassungseinrichtung mit programmierbarem Offset-Strom und Bildsensor mit einer solchen Einrichtung |
EP1662773B1 (de) * | 1997-08-15 | 2014-01-22 | Sony Corporation | Festkörper-Bildaufnahmevorrichtung und Steuerverfahren dafür |
JPH11239245A (ja) * | 1997-12-17 | 1999-08-31 | Seiko Instruments Inc | イメージセンサーic及び画像読み取り装置 |
US8063963B2 (en) * | 1998-02-09 | 2011-11-22 | On Semiconductor Image Sensor | Imaging device having a pixel structure with high dynamic range read-out signal |
US6697111B1 (en) * | 1998-04-08 | 2004-02-24 | Ess Technology, Inc. | Compact low-noise active pixel sensor with progressive row reset |
US6535247B1 (en) * | 1998-05-19 | 2003-03-18 | Pictos Technologies, Inc. | Active pixel sensor with capacitorless correlated double sampling |
JP2000083198A (ja) * | 1998-09-04 | 2000-03-21 | Honda Motor Co Ltd | 光センサ回路およびこれを用いたイメージセンサ |
JP2000152083A (ja) * | 1998-11-05 | 2000-05-30 | Sony Corp | 固体撮像装置の駆動方法 |
US6697112B2 (en) * | 1998-11-18 | 2004-02-24 | Intel Corporation | Imaging system having multiple image capture modes |
US6252462B1 (en) * | 1999-06-30 | 2001-06-26 | Raytheon Company | Capacitor transimpedance amplifier ( CTIA) with shared load |
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