DE10037926A1 - Netzwerkanalysator, Netzwerk-Analyseverfahren und Speichermedium - Google Patents
Netzwerkanalysator, Netzwerk-Analyseverfahren und SpeichermediumInfo
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Abstract
Ein Netzwerkanalysator umfaßt einen Meßbereich (13) für Rohrdaten zum Messen eines S-Parameters eines zu testenden Gerätes (20), einen Meßbereich (14) für Fehlerfaktoren des Meßsystems zum Erhalten von Fehlerfaktoren des Meßsystems, die bei der Messung des zu testenden Gerätes (20) auftreten, einen Berechnungsbereich (15) für einen Parameter-Konversionsfaktor zum Erhalten eines Parameter-Konversionsfaktors, der die Beziehung zwischen einer Impedanz und von Fehlerfaktoren des Meßsystems freien Daten anzeigt durch das Eleminieren der Fehlerfaktoren des Meßsystems von dem S-Parameter, einen Berechnungsbereich (17) für erweiterte Fehlerfaktoren zum Erhalten von erweiterten Fehlerfaktoren durch die Kombination der Fehlerfaktoren des Meßsystems und des Parameter-Konversionsfaktors und einen Berechnungsbereich (18) für ein zu testendes Gerät zum Erhalten der Impedanz aus dem S-Parameter und den erweiterten Fehlerfaktoren. Dementsprechend wird die Notwendigkeit von Vorrichtungen eliminiert und ferner die erweiterten Fehlerfaktoren im voraus erhalten. Daher kann der Betrieb des Netzwerkanalysators vereinfacht und die Berechnungsgeschwindigkeit erhöht werden.
Description
Die vorliegende Erfindung betrifft einen Netzwerkanalysator zum Berechnen und
Messen eines Schaltkreisparameters eines zu testenden Gerätes.
Es wurden bisher zwei Verfahren angewandt, um verschiedene Schaltkreispara
meter eines zu testenden Gerätes zu messen, wie z. B. einen S-Parameter einer
beliebigen normalisierten Impedanz, einen S-Parameters für den Fall, daß ein pas
sender Schaltkreis hinzugefügt wird und eine Schaltkreisimpedanz.
Ein erstes Verfahren besteht darin, eine Vorrichtung mit einem zu testenden Gerät
zu verbinden, so daß ein gewünschter Schaltkreisparameter direkt gemessen wird.
In Fig. 10 ist eine Systemkonfiguration eines zu testenden Gerätes dargestellt, das
mit einer Vorrichtung verbunden ist. In dem ersten Verfahren, das in Fig. 10 ge
zeigt ist, ist die Vorrichtung 120 mit einem zu testenden Gerät 100 verbunden und
das zu testende Gerät 100 wird zusammen mit der Vorrichtung 120 durch den
Netzwerkanalysator 200 gemessen.
In diesem Fall variieren die Schaltkreisparameter des zu testenden Gerätes 100
mit den Vorrichtungen 120. Daher wird, um Schaltkreisparameter unter vorgege
benen Bedingungen zu erhalten, die Messung durchgeführt, indem Vorrichtungen
120 hergestellt werden, die den vorgegebenen Bedingungen genügen und indem
diese mit dem zu testenden Gerät 100 verbunden werden. Wenn beispielsweise
Schaltkreisparameter für zehn verschiedene Arten von Bedingungen erhalten wer
den sollen, können zehn Vorrichtungen 120 hergestellt werden und insgesamt
zehn Messungen durchgeführt werden, indem jede Vorrichtung mit dem zu te
stenden Gerät 100 verbunden wird.
Ein zweites Verfahren wird wie folgt durchgeführt. Rohdaten des zu testenden
Gerätes (beispielsweise ein S-Parameter) werden zunächst gemessen. Daraufhin
werden die gemessenen Rohdaten in einen relationalen Ausdruck zwischen einem
gewünschten Schaltkreisparameter und den Rohdaten eingesetzt, um dadurch den
gewünschten Schaltkreisparameter zu erhalten.
Das zweite Verfahren wird im folgenden beschrieben anhand des Beispiels der
Messung der Impedanz des zu testenden Gerätes. Zunächst wird die Impedanz Z
als der numerische Ausdruck in Fig. 11 dargestellt, wobei Ed ein Fehler ist, der
auf der Richtwirkung der Brücke beruht, Er ein Fehler ist, der im wesentlichen auf
dem Frequenzsynchronisieren bzw. -tracken beruht und Es ein Fehler ist, der im
wesentlichen auf der Anpassung der Quellen beruht.
Wenn der numerische Ausdruck aus Fig. 11 durch einen Signalflußgraphen darge
stellt wird, wird Fig. 12 erhalten. S11 bezeichnet die zu messenden Rohdaten.
Indem diese in den numerischen Ausdruck aus Fig. 11 eingesetzt werden, kann
die Impedanz Z erhalten werden. Das zweite Verfahren kann effektiv verwendet
werden, wenn es prinzipiell schwierig oder unmöglich ist, eine Vorrichtung her
zustellen. In dem in Fig. 12 gezeigten Fall kann beispielsweise die Impedanz ge
messen werden, wenn der Abschnitt in der Mitte der rechten Seite als eine Vor
richtung hergestellt werden kann. Es ist jedoch unmöglich, solche eine Vorrich
tung im Prinzip herzustellen. Das zweite Verfahren wird daher zum Erhalten der
Impedanz verwendet.
Das erste Verfahren hat jedoch die folgenden Schwächen. Zunächst einmal ist es
mühsam, eine Vielzahl von Vorrichtungen herzustellen und es ist ferner mühsam,
die Messung mehrfach zu wiederholen. Ferner ist es schwierig, Vorrichtungen
herzustellen, die ideale Charakteristika haben. Ferner ist es schwierig, wenn eine
Vielzahl von Vorrichtungen für denselben Zweck hergestellt werden, diese mit
gleichförmigen Charakteristika herzustellen. Außerdem gibt es Fälle, bei denen in
Abhängigkeit von den zu messenden Schaltkreisparametern die Herstellung der
Vorrichtungen prinzipiell unmöglich ist.
Auf der anderen Seite ist es relativ einfach, die oben genannten Probleme in bezug
auf die Herstellung von Vorrichtungen mit dem zweiten Verfahren zu lösen. Je
doch wird eine lange Zeit für die Berechnung benötigt und dies verlängert die
gesamte Meßzeit. Dementsprechend ist es eine Aufgabe der vorliegenden Erfin
dung, einen Netzwerkanalysator zu schaffen, mit dem verschiedene Schaltkreispa
rameter eines zu testenden Gerätes einfach erhalten werden können.
Gemäß der vorliegenden Erfindung, so wie sie in Anspruch 1 beschrieben ist, um
faßt ein Netzwerkanalysator zum Berechnen eines Schaltkreisparameters eines zu
testenden Gerätes: eine Rohdaten-Meßvorrichtung zum Messen von Rohdaten des
zu testenden Gerätes, ein Fehlerfaktor-Meß-Mittel für das Meßsystem zum Er
halten von Fehlerfaktoren des Meßsystems, die bei der Messung des zu testenden
Gerätes auftreten; ein Berechnungsmittel für einen Parameter-Konversionsfaktor
zum Erhalten von Faktoren der Parameterkonversion, die die Beziehung zwischen
dem Schaltkreisparameter und den fehlerfaktorfreien Daten des Meßsystems an
zeigen, die erhalten worden sind durch das Eliminieren der Fehlerfaktoren des
Meßsystems von den Rohdaten; ein Berechnungsmittel für die wahren Werte der
Rohdaten zum Erhalten der fehlerfaktorfreien Daten des Meßsystems aus den
Rohdaten und den Fehlerfaktoren des Meßsystems; und ein Berechnungsmittel für
das zu testende Gerät zum Erhalten des Schaltkreisparameters aus den fehlerfak
torfreien Daten des Meßsystems und dem Parameter-Konversionsfaktor.
Der hierbei verwendete Ausdruck "Rohdaten" bezeichnet die direkt vom Netz
werkanalysator gemessenen Daten. Ein Beispiel der Rohdaten ist ein S-Parameter.
Fehlerfaktoren, die in dem Meßsystem auftreten, umfassen einen Fehler, der der
Richtwirkung einer Brücke zugeschrieben werden kann, einen Fehler, der dem
Frequenzsynchronisieren zugeschrieben werden kann und einen Fehler, der der
Anpassung der Quellen zugeschrieben werden kann. Ein Beispiel für den Schalt
kreisparameter ist eine Impedanz. Ein Beispiel von Parameter-
Konversionsfaktoren ist die Beziehung zwischen einem S-Parameter und der Im
pedanz.
Gemäß der vorliegenden Erfindung kann ein Schaltkreisparameter aus Rohdaten,
Fehlerfaktoren in dem Meßsystem und Faktoren der Parameterkonversion erhalten
werden. Wenn daher ein Schaltkreisparameter mit einem zu testenden Gerät ver
bunden wird, kann der Schaltkreisparameter berechnet werden, ohne irgendwel
che Vorrichtungen herzustellen und Messungen mehrfach zu wiederholen, mit
jeweils veränderten Vorrichtungen. Daher kann ein Schaltkreisparameter leicht
berechnet werden.
Die vorliegende Erfindung, so wie sie in Anspruch 2 beschrieben ist, ist ein
Netzwerkanalysator nach Anspruch 1, bei dem das Meßmittel die Rohdaten als
Daten behandelt, die frei von Fehlerfaktoren des Meßsystems sind.
Für den Fall, in dem die Fehlerfaktoren des Meßsystems vernachlässigt werden
können, können die Rohdaten des zu testenden Gerätes als die von Fehlerfaktoren
des Systems freien Daten behandelt werden.
Gemäß der vorliegenden Erfindung, so wie sie in Anspruch 3 beschrieben ist, um
faßt ein Netzwerkanalysator zum Berechnen eines Schaltkreisparameters für ein
zu testendes Gerät: ein Rohdaten-Meßmittel zum Messen von Rohdaten des zu
testenden Gerätes; ein Fehlerfaktor-Meßmittel des Meßsystems zum Erhalten von
Fehlerfaktoren des Meßsystems, die bei der Messung des zu testenden Gerätes
auftreten; ein Berechnungsmittel für einen Parameter-Konversionsfaktor zum Er
halten von Faktoren der Parameterkonversion, die die Beziehung zwischen dem
Schaltkreisparameter und den Daten, die von Fehlerfaktoren des Meßsystems frei
sind, anzeigt, wobei die Daten erhalten worden sind durch das Eliminieren der
Fehlerfaktoren des Meßsystems von den Rohdaten; ein erweitertes Berechnungs
mittel für die Fehlerfaktoren zum Erhalten von erweiterten Fehlerfaktoren durch
das Kombinieren der Fehlerfaktoren des Meßsystems und des Parameter-
Konversionsfaktors; und ein Berechnungsmittel für das zu testende Gerät zum
Erhalten des Schaltkreisparameters aus den Rohdaten und den erweiterten Fehler
faktoren.
Gemäß der vorliegenden Erfindung kann ein Schaltkreisparameter aus den Roh
daten und den Fehlerfaktoren in dem Meßsystem und den Faktoren der Parame
terkonversion erhalten werden. Wenn daher eine Vorrichtung mit einem zu te
stenden Gerät verbunden ist, kann der Schaltkreisparameter berechnet werden,
ohne irgendwelche Vorrichtungen herzustellen und ohne mehrfach eine Messung
durchzuführen, wobei die Vorrichtung jedesmal verändert wird. Der Schalt
kreisparameter kann daher leicht berechnet werden.
Außerdem erhält ein Berechnungsmittel des Fehlerfaktors die erweiterten Fehler
faktoren im voraus durch das Kombinieren der Fehlerfaktoren, die in dem Meßsy
stem auftreten und der Faktoren der Parameterkonversion. Die Berechnungsge
schwindigkeit kann daher verbessert werden.
Gemäß der vorliegenden Erfindung, so wie sie in Anspruch 4 beschrieben ist, um
faßt ein Netzwerkanalysator gemäß einem der Ansprüche 1-3 ferner ein Spei
chermittel für den Parameter-Konversionsfaktor zum Speichern des Parameter-
Konversionsfaktors.
Die vorliegende Erfindung, so wie sie in Anspruch 5 beschrieben wird, ist ein
Netzwerkanalysator gemäß einem der Ansprüche 1-3, wobei der Schaltkreispara
meter eine Impedanz ist.
Die vorliegende Erfindung, so wie sie in Anspruch 6 beschrieben ist, ist ein
Netzwerkanalysator gemäß einem der Ansprüche 1-3, wobei der Schaltkreispara
meter ein S-Parameter ist als eine beliebige normalisierte Impedanz.
Die vorliegende Erfindung, so wie sie in Anspruch 7 beschrieben ist, ist ein
Netzwerkanalysator gemäß einem der Ansprüche 1-3, wobei der Schaltkreispara
meter ein S-Parameter ist, wenn ein passender Schaltkreis hinzugefügt wird.
Die vorliegende Erfindung, so wie sie in Anspruch 8 beschrieben ist, ist ein
Netzwerkanalysator gemäß einem der Ansprüche 1-3, wobei der Schaltkreispara
meter eine Admittanz ist.
Gemäß der vorliegenden Erfindung, so wie sie in Anspruch 9 beschrieben ist, um
faßt ein Netzwerk-Analyseverfahren des Berechnens eines Schaltkreisparameters
eines zu testenden Gerätes: einen Rohdaten-Meßschritt zum Messen von Rohda
ten des zu testenden Gerätes; einen Meßschritt für den Fehlerfaktor des Meßsy
stems zum Erhalten der Fehlerfaktoren des Meßsystems, die bei der Messung des
zu testenden Gerätes auftreten; einen Berechnungsschritt für den Parameter-
Konversionsfaktor zum Erhalten von Faktoren der Parameterkonversion, die die
Beziehung zwischen dem Schaltkreisparameter und den von Fehlerfaktoren des
Meßsystems freien Daten anzeigen, die erhalten worden sind, indem die Fehler
faktoren des Meßsystems von den Rohdaten entfernt worden sind; einen Berech
nungsschritt für die tatsächlichen Rohdaten zum Erhalten der von Fehlerfaktoren
des Meßsystems freien Daten aus den Rohdaten und aus den Fehlerfaktoren des
Meßsystems; und einen Berechnungsschritt für das zu testende Gerät zum Erhal
ten des Schaltkreisparameters aus den von Fehlerfaktoren des Meßsystems freien
Daten und dem Parameter-Konversionsfaktor.
Gemäß der vorliegenden Erfindung, so wie sie in Anspruch 10 beschrieben wor
den ist, umfaßt ein Netzwerk-Analyseverfahren des Berechnens eines Schalt
kreisparameters eines zu testenden Gerätes: einen Rohdaten-Meßschritt zum Mes
sen von Rohdaten des zu testenden Gerätes; einen Meßschritt für die Fehlerfakto
ren des Meßsystems zum Erhalten der Fehlerfaktoren des Meßsystems, die bei der
Messung des zu testenden Gerätes auftreten; einen Berechnungsschritt für den
Parameter-Konversionsfaktor zum Erhalten der Faktoren der Parameterkonversi
on, der die Beziehung zwischen dem Schaltkreisparameter und den von Fehler
faktoren des Meßsystems freien Daten anzeigt, die durch das Entfernen der Feh
lerfaktoren des Meßsystems von den Rohdaten erhalten worden sind; ein erwei
terter Fehlerfaktor-Berechnungsschritt zum Erhalten der erweiterten Fehlerfakto
ren durch das Kombinieren der Fehlerfaktoren des Meßsystems und des Faktors
der Parameterkonversion; und einen Berechnungsschritt für das zu testende Gerät
zum Erhalten des Schaltkreisparameters aus den Rohdaten und den erweiterten
Fehlerfaktoren.
Gemäß der vorliegenden Erfindung, so wie sie in Anspruch 11 beschrieben ist,
umfaßt ein computerlesbares Medium, das ein Programm mit Ausführungsanwei
sungen durch den Computer verkörpert, damit er ein Netzwerk-Analyseverfahren
des Berechnens eines Schaltkreisparameters eines zu testenden Gerätes durch
führt: einen Rohdaten-Meßschritt zum Messen von Rohdaten des zu testenden
Gerätes; einen Fehlerfaktor-Meßschritt des Meßsystems zum Erhalten von Fehler
faktoren des Meßsystems, die bei der Messung des zu testenden Gerätes auftreten;
einen Berechnungsschritt für den Parameter-Konversionsfaktor zum Erhalten von
Faktoren der Parameterkonversion, die die Beziehung zwischen dem Schalt
kreisparameter und fehlerfaktorfreien Daten des Meßsystems anzeigen, die durch
das Eliminieren der Fehlerfaktoren des Meßsystems aus den Rohdaten erhalten
werden; einen Berechnungsschritt für die wahren Werte der Rohdaten zum Er
halten der fehlerfaktorfreien Daten des Meßsystems und aus den Rohdaten und
den Fehlerfaktoren des Meßsystems; und einen Berechnungsschritt für das zu testende
Gerät zum Erhalten des Schaltkreisparameters aus den fehlerfaktorfreien
Daten des Meßsystems und dem Parameter-Konversionsfaktor.
Gemäß der vorliegenden Erfindung, so wie sie in Anspruch 12 beschrieben ist,
umfaßt ein computerlesbares Medium, das ein Programm mit Ausführungsanwei
sungen für einen Computer umfaßt zur Durchführung eines Netzwerk-
Analyseverfahrens des Berechnens eines Schaltkreisparameters eines zu testenden
Gerätes: einen Rohdaten-Meßschritt zum Messen von Rohdaten des zu testenden
Gerätes; einen Fehlerfaktor-Meßschritt des Meßsystems zum Erhalten der Fehler
faktoren des Meßsystems, die beim Messen des zu testenden Gerätes auftreten;
einen Berechnungsschritt des Parameter-Konversionsfaktors zum Erhalten von
Faktoren der Parameterkonversion, die die Beziehung zwischen dem Schalt
kreisparameter und den von Fehlerfaktoren des Meßsystems freien Daten anzei
gen, die erhalten werden durch das Eliminieren der Fehlerfaktoren des Meßsy
stems von den Rohdaten; einen erweiterten Fehlerfaktor-Berechnungsschritt zum
Erhalten von erweiterten Fehlerfaktoren durch das Kombinieren der Fehlerfakto
ren des Meßsystems und des Parameter-Konversionsfaktors; und einen Berech
nungsschritt für das zu testende Gerät zum Erhalten des Schaltkreisparameters aus
den Rohdaten und den erweiterten Fehlerfaktoren.
Gemäß der vorliegenden Erfindung, so wie sie in Anspruch 13 beschrieben ist,
umfaßt ein Computerprogramm mit Anweisungen zur Durchführung durch einen
Computer, damit er ein Netzwerk-Analyseverfahren des Berechnens eines Schalt
kreisparameters eines zu testenden Gerätes durchführt: einen Rohdaten-Meßschritt
zum Messen von Rohdaten des zu testenden Gerätes; einen Meßschritt für den
Fehlerfaktor des Meßsystems zum Erhalten von Fehlerfaktoren des Meßsystems,
die bei der Messung des zu testenden Gerätes auftreten; einen Berechnungsschritt
des Parameter-Konversionsfaktors zum Erhalten von Faktoren der Parameterkon
version, die die Beziehung zwischen dem Schaltkreisparameter und von Fehler
faktoren des Meßsystems freien Daten anzeigen, die durch das Eliminieren der
Fehlerfaktoren des Meßsystems von den Rohdaten erhalten worden sind; einen
Berechnungsschritt für die wahren Werte der Rohdaten zum Erhalten der von
Fehlerfaktoren des Meßsystems freien Daten aus den Rohdaten und den Fehler
faktoren des Meßsystems; und einen Berechnungsschritt für das zu testende Gerät
zum Erhalten des Schaltkreisparameters aus den von Fehlerfaktoren des Meßsy
stems freien Daten und dem Parameter-Konversionsfaktor.
Gemäß der vorliegenden Erfindung, so wie sie in Anspruch 14 beschrieben ist,
umfaßt ein Computerprogramm mit Ausführungsanweisungen für einen Computer
zur Durchführung eines Netzwerk-Analyseverfahrens des Berechnens eines
Schaltkreisparameters eines zu testenden Gerätes: einen Rohdaten-Meßschritt
zum Messen von Rohdaten des zu testenden Gerätes; einen Meßschritt für den
Fehlerfaktor des Meßsystems zum Erhalten der Fehlerfaktoren des Meßsystems,
die bei der Messung des zu testenden Gerätes auftreten; einen Berechnungsschritt
für den Parameter-Konversionsfaktor zum Erhalten von Faktoren der Parameter
konversion, die die Beziehung zwischen dem Schaltkreisparameter und den von
Fehlerfaktoren des Meßsystems freien Daten anzeigen, die durch das Eliminieren
der Fehlerfaktoren des Meßsystems von den Rohdaten erhalten werden; einen
erweiterten Berechnungsschritt für Fehlerfaktoren zum Erhalten von erweiterten
Fehlerfaktoren durch das Kombinieren der Fehlerfaktoren des Meßsystems und
des Parameter-Konversionsfaktors; und einen Berechnungsschritt für das zu te
stende Gerät zum Erhalten des Schaltkreisparameters aus den Rohdaten und den
erweiterten Fehlerfaktoren.
Fig. 1 ist ein Blockdiagramm, das die Struktur eines Netzwerkanalysators 1
gemäß einem ersten Ausführungsbeispiel der Erfindung zeigt.
Fig. 2 ist ein Schaltkreisdiagramm, das die Struktur eines Meßbereiches 12 zum
Messen eines S-Parameters zeigt.
Fig. 3 ist ein Flußdiagramm, das den Ablauf der Vorgänge in dem Netzwerka
nalysator 1 zeigt.
Fig. 4 ist ein Signalflußdiagramm, das eine äquivalente Konversion eines zu
testenden Gerätes 20 angibt.
Fig. 5 ist ein Diagramm, das ein Verfahren zur Messung von Ed, Er und Es als
Fehlerfaktoren des Meßsystems zeigt.
Fig. 6 ist eine erläuternde Zeichnung eines Verfahrens zum Ausdrücken des
Eingangs und Ausgangs vor der Durchführung einer Parameterkonversi
on durch den Eingang und Ausgang nach der Durchführung der Parame
terkonversion.
Fig. 7 ist ein Blockdiagramm, das die Struktur eines Netzwerkanalysators 1
gemäß einem zweiten Ausführungsbeispiel zeigt.
Fig. 8 ist ein Flußdiagramm, das den Ablauf der Vorgänge in dem Netzwerka
nalysator 1 zeigt.
Fig. 9 ist ein Signalflußdiagramm, das eine äquivalente Konversion eines zu
testenden Gerätes 20 angibt.
Fig. 10 ist ein Blockdiagramm, das eine konventionelle Anordnung zeigt, die
zum Messen eines Schaltkreises verwendet wird mit einer Vorrichtung,
die an dem zu testenden Gerät befestigt ist.
Fig. 11 ist ein numerischer Ausdruck zum Erhalten einer Impedanz Z.
Fig. 12 ist eine Darstellung eines Signalflußdiagramms des numerischen Aus
drucks zum Erhalten der Impedanz Z.
Ein Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung wird im folgenden beschrie
ben mit Bezug auf die begleitenden Zeichnungen.
Als erstes wird die Struktur eines Netzwerkanalysators 1 gemäß einem ersten
Ausführungsbeispiel der Erfindung beschrieben. Fig. 1 ist ein Blockdiagramm,
das den Netzwerkanalysator 1 gemäß dem ersten Ausführungsbeispiel zeigt.
Der Netzwerkanalysator 1 umfaßt einen Meßbereich 12, einen Rohdaten-
Meßbereich 13, einen Meßbereich 14 für den Fehlerfaktor des Meßsystems, einen
Berechnungsbereich 15 für den Parameter-Konversionsfaktor, einen Berech
nungsbereich 16 für den wahren Rohdatenwert, einen Berechnungsbereich 18 für
das zu testende Gerät und einen Speicherbereich 19 für den Parameter-
Konversionsfaktor.
Der Meßbereich 12 ist mit dem zu testenden Gerät 20 verbunden und erhält Daten
von dem zu testenden Gerät. Der Meßbereich 13 für die Rohdaten mißt Rohdaten,
die Fehler enthalten, aufgrund des Meßbereichs 12. Der Meßbereich 14 für den
Fehlerfaktor des Meßsystems mißt die Fehler des Meßsystems aufgrund des Meß
bereichs 12. In dem ersten Ausführungsbeispiel soll angenommen werden, daß die
Rohdaten ein S-Parameter sind und daß die Fehler des Meßsystems Ed, d. h. der
Fehler, der der Richtwirkung der Brücke zuzuschreiben ist, Er, d. h. ein Fehler, der
der Frequenzsynchronisierung zuzuschreiben ist, und Es sind, d. h. ein Fehler, der
der Anpassung der Quelle zuzuschreiben ist.
Als Meßbereich 12 zum Erhalten der Daten, die sich auf einen S-Parameter bezie
hen, kann der Meßbereich, der in dem japanischen offengelegten Patent mit der
Nr. Hei 11-38054 offenbart ist, verwendet werden. Die darin offenbarte Struktur
ist in Fig. 2 gezeigt. Die Signalquelle 12a erzeugt ein Signal und ein Ablenkgenerator
(bzw. Sweep Generator) wird im allgemeinen dafür verwendet. Die Signal
empfangenden Bereiche 12b und 12d empfangen das erzeugte Signal an einem
Mischer, um es in ein niederfrequentes Signal zu konvertieren, lassen das Signal
analog zu digital konvertieren (A/D) und lassen das Signal orthogonal detektieren,
um den Realteil R und den Imaginärteil X zu erhalten, so daß das Signal als ein
komplexer Wert gemessen wird. Der Signal empfangende Bereich 12c mißt das
von der Signalquelle 12a übertragene Signal. Die drei Signal empfangenden Be
reiche 12b, 12c und 12d werden synchronisiert, so daß das Signal des Fre
quenzausgangs aus der Signalquelle 12a dadurch detektiert werden kann.
Der Leistungsverteiler (bzw. Power Splitter) 12e ist ein Schaltkreis zum Aufspal
ten des Signals aus der Signalquelle 12a, wobei eines der aufgespaltenen Signale
an das zu testende Gerät 20 über den RF-Schalter 12f geliefert wird und das ande
re an den Signal empfangenden Bereich 12c. Der RF-Schalter 12f gibt das Aus
gangssignal von der Signalquelle 12a entweder über den Anschluß 12i oder über
den Anschluß 12j aus. Die Bezugszeichen 12g und 12h stellen eine Brücke oder
eine direktionale Verbindung zum Abgreifen des Antwortsignals vom Anschluß
12i oder 12j dar.
Der Berechnungsbereich 16 für den wahren Wert der Rohdaten erhält Daten, die
frei sind von Fehlerfaktoren des Meßsystems. In dem ersten Ausführungsbeispiel
werden die von Fehlerfaktoren des Meßsystems freien Daten erhalten durch das
Eliminieren der Fehlerfaktoren des Meßsystems Ed, Er und Es von dem S-
Parameter.
Der Berechnungsbereich 15 für den Parameterkonversionsfaktor erhält den Para
meter-Konversionsfaktor, indem er die Beziehung zwischen dem Schaltkreispa
rameter und den von Fehlerfaktoren des Meßsystems freien Daten angibt. In dem
ersten Ausführungsbeispiel wird angenommen, daß die Impedanz Z der Schalt
kreisparameter ist. Entsprechend berechnet der Berechnungsbereich 15 für den
Parameter-Konversionsfaktor die Beziehung zwischen der Impedanz Z und dem
S-Parameter (wobei Ed, Er und Es davon entfernt worden sind).
Der Berechnungsbereich 18 für das zu testende Gerät erhält den Schaltkreispara
meter von den von Fehlerfaktoren des Meßsystems freien Daten und dem Para
meter-Konversionsfaktor. In dem ersten Ausführungsbeispiel wird die Impedanz
Z erhalten von dem S-Parameter (wobei Ed, Er und Es davon eliminiert worden
sind) und dem Parameter-Konversionsfaktor. Gleichzeitig wird das Ergebnis der
Berechnung auf einem Anzeigegerät angezeigt (nicht dargestellt).
Der Speicherbereich 19 für den Parameter-Konversionsfaktor dient zum Spei
chern von Daten zur Verwendung bei Berechnung des Parameter-
Konversionsfaktors. Die Daten zum Berechnen des Parameter-Konversionsfaktors
können in den Speicherbereich 19 des Parameter-Konversionsfaktors eingegeben
werden. Im allgemeinen sind darin Formeln zur gegenseitigen Konversion von
verschiedenen Schaltkreisparametern gespeichert (beispielsweise Formeln zur
Konversion zwischen S-Parametern und Impedanzwerten).
Die oben beschriebene Funktion kann auch in Form von Programmen vorgesehen
werden. Die Programme werden auf einer Diskette oder einer CD-ROM gespei
chert, die von einem Computer gelesen werden kann und werden von einem Le
segerät für das Medium (nicht dargestellt) des Netzwerkanalysators gelesen, damit
sie auf einer Festplatte installiert werden können (nicht gezeigt).
Im folgenden wird der Betrieb des ersten Ausführungsbeispiels der Erfindung
beschrieben. Fig. 3 ist ein Flußdiagramm, das den Ablauf der Vorgänge zeigt, die
von dem Netzwerkanalysator 1 durchgeführt werden. Als erstes erhält der Meßbe
reich 12 Daten von dem zu testenden Gerät 20. Aus den Daten mißt der Meßbe
reich 13 für die Rohdaten den S-Parameter (B/A) (siehe die linke Seite von Fig. 4)
als Rohdaten und der Meßbereich 14 für die Fehlerfaktoren des Meßsystems mißt
Ed, Er und Es als die Fehlerfaktoren des Meßsystems (Schritt 10).
Im Hinblick auf das Verfahren des Messens der Fehlerfaktoren des Meßsystems
Ed, Er und Es gibt es eine Offenbarung in der offengelegten japanischen Patent
veröffentlichung mit der Nr. H 11-38054. Die Erläuterung davon wird durchge
führt mit Bezugnahme auf Fig. 5. Fig. 5(A) zeigt ein Meßsystem zum Messen der
Reflexionscharakteristik des zu testenden Gerätes 20 in einem Netzwerkanalysa
tor. Ein Signal aus der Signalquelle 12a wird an das zu testende Gerät 20 geliefert
und das davon reflektierte Signal wird über die Brücke 12g und 12h abgegriffen
und durch den Empfangsbereich 12b gemessen.
Fig. 5(B) zeigt die Fehlerfaktoren des Meßsystems, die in diesem Fall auftreten.
Die Fehlerfaktoren des Meßsystems sind nämlich Fehler, die durch die Richtwir
kung des Meßsystems, die Frequenzsynchronisation und die Quellenabgleichung
erzeugt werden. Während das eingehende Signal auf dem zu testenden Gerät 20
und das von dem zu testenden Gerät 20 reflektierte Signal durch die Brücke 12g
und 12h getrennt werden, umfaßt der gemessene Wert S11m ein Leck, d. h. ein
Lecksignal, in Vorwärtsrichtung, das einen Richtwirkungsfehler verursacht. Der
Frequenzsynchronisationsfehler beruht auf der Frequenzantwort des Meßsystems.
Wenn die Impedanz auf der Signalquellenseite und die Impedanz auf der Meßsy
stemseite nicht übereinstimmen, wird das Signal, das von dem zu testenden Gerät
20 reflektiert wird, wiederum von der Seite der Signalquelle 12a reflektiert und
kehrt zu dem zu testenden Gerät 20 zurück, um davon erneut reflektiert zu wer
den. Der Fehler am Abgleich der Quellen entsteht aufgrund dieser wiederholten
Reflexion.
Mit den oben beschriebenen Faktoren ist das Fehlermodell in der Messung der
Reflexionscharakteristik eines Ports gegeben, so wie es in Fig. 5(C) gezeigt ist.
Hier bezeichnet S11m den gemessenen Wert, S11a den tatsächlichen Wert und
Ed, Er und Es die Fehlerfaktoren. Wenn dieses Fehlermodell mittels eines Signal
flußdiagramms gelöst wird, um S11m zu erhalten (die Beschreibung davon wird
ausgelassen), kann es, wie in Fig. 5(D) gezeigt, ausgedrückt werden. Wenn es
transformiert wird, um den wahren Wert S11a zu erhalten, kann es wie in Fig.
5(E) ausgedrückt werden. Da die Anzahl der Unbekannten hier Ed, Er und Es drei
ist, können die Unbekannten erhalten werden unter der Verwendung von drei
Standardgeräten, deren Charakteristika bekannt sind.
Es werden drei Zustände, d. h. "offen" (offener Schaltkreis), "kurzgeschlossen"
(kurzgeschlossener Schaltkreis) und "belastet" (mit einer Standardbelastung Z0)
erzeugt und die gemessenen Werte f(kurzgeschlossen), f(offen) und f(belastet)
von S11m werden zu jedem Zeitpunkt gespeichert. Daraufhin wird die Berech
nung durchgeführt unter der Verwendung dieser Werte. Dadurch kann der tat
sächliche Reflexionskoeffizient S11a des zu testenden Gerätes 20 erhalten wer
den. Dieser Vorgang wird als Kalibrierung bezeichnet. Genauer ausgedrückt, ist
die Kalibrierung ein Vorgang, mit dem die Fehler, die dem Meßsystem inhärent
sind, im voraus gemessen werden und mit dem diese Fehler in der Berechnung
verwendet werden, um die dadurch verursachten Effekte zu eliminieren.
Wenn die Fehlerfaktoren vernachlässigbar sind, d. h. wenn davon ausgegangen
wird, daß Ed = 1, Er = 0 und Es = 1 ist, ist es möglich, S11m (den gemessenen
Wert) als S11a (den wahren Wert) zu betrachten.
Unter erneuter Bezugnahme auf Fig. 3 erhält der Berechnungsbereich 16 für den
wahren Wert der Rohdaten den wahren Reflexionskoeffizienten S11a aus dem S-
Parameter (B/A) als den Rohdatenausgang von dem Meßbereich 13 für die Roh
daten und die Fehlerfaktoren Ed, Er und Es des Meßsystems, die von dem Meßbe
reich 14 (Schritt 12) für die Fehlerfaktoren des Meßsystems ausgegeben werden.
Dies kann unter der Verwendung des numerischen Ausdrucks in Fig. 5(E) durch
geführt werden.
Daraufhin drückt der Berechnungsbereich 15 für den Parameter-
Konversionsfaktor den Eingang und den Ausgang nach Behandlung durch den
Parameter-Konversionsfaktor, durch den Eingang und Ausgang vor der Behand
lung durch den Parameter-Konversionsfaktor aus (Schritt 14). An diesem Zeit
punkt wird ein Parameter-Konversionsfaktor aus dem Speicherbereich 19 für den
Parameter-Konversionsfaktor ausgelesen, um für die Berechnung verwendet zu
werden. Ein Beispiel der Berechnung ist in Fig. 6 gezeigt. Der Berechnungsbe
reich 15 für den Parameter-Konversionsfaktor verwendet die Daten entsprechend
dem Signalflußdiagramm, die aus dem Speicherbereich 19 für den Parameter-
Konversionsfaktor ausgelesen worden sind und drückt die Impedanz Z (F/E) aus,
die der Eingang und der Ausgang ist nach der Behandlung mit dem Parameter-
Konversionsfaktor durch den wahren Reflexionsfaktor S11a (D/C), der der Ein
gang und der Ausgang ist vor der Anwendung des Parameter-Konversionsfaktors
(siehe Fig. 6).
Unter erneuter Bezugnahme auf Fig. 3 drückt der Berechnungsbereich 18 für das
zu testende Gerät basierend auf dem Ausgang des Berechnungsbereichs 15 für
den Parameter-Konversionsfaktor und dem wahren Reflexionskoeffizienten S11a,
der von dem Berechnungsbereich 16 für den wahren Wert der Rohdaten ausgege
ben wird, den Eingang und den Ausgang nach der Behandlung mit dem Parame
ter-Konversionsfaktor zu einem Zeitpunkt aus, wenn der wahre Reflexionskoeffi
zient S11a (D/C) auf den Parameter-Konversionsfaktor angewendet wird durch
den wahren Reflexionskoeffizienten S11a (D/C) (Schritt 16). Ein konkretes Bei
spiel wird beschrieben mit Bezug auf die rechte Seite von Fig. 4 und Fig. 6. Wie
in Fig. 6 gezeigt, wird die Impedanz Z (F/E) (nachdem sie dem Parameter-
Konversionsfaktor unterworfen worden ist) ausgedrückt durch den wahren Refle
xionskoeffizienten S11a (D/C) (vor der Behandlung durch den Parameter-
Konversionsfaktor). Man erkennt aus Fig. 4, daß D/C der wahre Reflexionskoeffi
zient S11a ist. Somit kann die Impedanz Z aus dem wahren Reflexionskoeffizien
ten S11a erhalten werden.
Gemäß dem ersten Ausführungsbeispiel der Erfindung kann die Impedanz Z,
wenn Z0 auf verschiedene Arten verändert wird, erhalten werden, sobald Ed, Er,
Es und S11a durch den Meßbereich, den Rohdaten-Meßbereich 13 und den Meß
bereich 14 für den Fehlerfaktor des Meßsystems gemessen worden sind. Daher
kann der Schaltkreisparameter leicht berechnet werden.
Obwohl in dem ersten Ausführungsbeispiel angenommen wird, daß der Schalt
kreisparameter eine Impedanz Z ist, kann es auch ein S-Parameter als eine gege
bene normalisierte Impedanz, ein S-Parameter bei einem hinzugefügten passenden
Schaltkreis oder eine Schaltkreisadmittanz sein. Da die Beziehung zwischen ei
nem S-Parameter als Rohdaten, von denen die Fehlerfaktoren Ed, Er und Es des
Meßsystems eliminiert worden sind, und einem S-Parameter als einer gegebenen
normalisierten Impedanz und ähnlichem wohlbekannt ist, wird auf eine genaue
Beschreibung hier verzichtet. Ferner, obwohl ein S-Parameter (inklusive der Feh
lerfaktoren Ed, Er und Es des Meßsystems) als Rohdaten betrachtet wird, kann
dies ferner auch irgendein anderer Schaltkreisparameter (Impedanz oder ähnli
ches) sein.
Während, wie oben beschrieben, es verschiedene Typen von Rohdaten und
Schaltkreisparametern gibt, ist die Beziehung zwischen den von Fehlerfaktoren
des Meßsystems freien Daten, d. h. den Rohdaten, von denen die Fehlerfaktoren
des Meßsystems eliminiert worden sind, und einem Schaltkreisparameter wohlbe
kannt. Daher wird deren Beschreibung ausgelassen.
Der Netzwerkanalysator in dem zweiten Ausführungsbeispiel unterscheidet sich
von dem des ersten Ausführungsbeispiels, indem er anstelle des Berechnungsbe
reiches 16 für die wahren Rohdatenwerte einen Berechnungsbereich 17 für die
erweiterten Fehlerfaktoren umfaßt. Fig. 7 ist ein Blockdiagramm, das die Struktur
eines Netzwerkanalysators gemäß dem zweiten Ausführungsbeispiel zeigt. Wenn
Bereiche, die denen des ersten Ausführungsbeispiels ähnlich sind, durch entspre
chende Bezugszeichen bezeichnet werden, wird deren Beschreibung ausgelassen.
Der Berechnungsbereich 17 für die erweiterten Fehlerfaktoren berechnet einen
erweiterten Fehlerfaktor durch das Kombinieren des Fehlerfaktors des Meßsy
stems, der durch den Meßbereich 14 für den Fehlerfaktor des Meßsystems gemes
sen wird, mit dem Parameter-Konversionsfaktor, der von dem Berechnungsbe
reich 15 für den Parameter-Konversionsfaktor berechnet wird. Das heißt, der
Faktor, in dem der Fehlerfaktor des Meßsystems und der Parameter-
Konversionsfaktor kombiniert werden, wird als ein neuer Fehlerfaktor des Meßsy
stems verwendet.
Die oben genannte Funktion kann ebenfalls in der Form von Programmen reali
siert werden. Die Programme werden auf einer Diskette oder einer CD-ROM, die
von einem Computer gelesen werden kann, gespeichert und von einem Lesegerät
für das Medium (nicht dargestellt) des Netzwerkanalysators 1 gelesen, um auf
einer Festplatte (nicht dargestellt) installiert zu werden.
Im folgenden wird der Betrieb des zweiten Ausführungsbeispiels beschrieben.
Fig. 8 ist ein Flußdiagramm, das den Auflauf der Vorgänge, die von dem Netz
werkanalysator 1 durchgeführt werden, darstellt. Als erstes messen der Meßbe
reich 12, der Rohdaten-Meßbereich 13 und der Meßbereich 14 für den Fehlerfak
tor des Meßsystems ebenso wie im Fall des ersten Ausführungsbeispiels die Roh
daten (B/A) des zu testenden Gerätes 20 und die Fehlerfaktoren Ed, Er und Es des
Meßsystems (siehe Fig. 9) (Schritt 10).
Daraufhin setzt der Berechnungsbereich 17 für den erweiterten Fehlerfaktor den
Faktor, der durch die Kombination des erweiterten Fehlerfaktors und des Para
meter-Konversionsfaktors erhalten worden ist als den neuen Fehlerfaktor fest, d. h.
den erweiterten Fehlerfaktor (Schritt 13). Der Betrieb des Bereiches 17 zur Be
rechnung des erweiterten Fehlerfaktors wird mit Bezug auf Fig. 9 beschrieben.
Die Fehlerfaktoren des Meßsystems und das zu testende Gerät 20 können, wie auf
der linken Seite von Fig. 9 gezeigt, durch die Kombination der Fehlerfaktoren Ed,
Er und Es und den Reflexionskoeffizienten S11a ausgedrückt werden. Ferner
können sie durch den Ausdruck, der in der Mitte von Fig. 9 gezeigt ist, als die
Kombination der Impedanz Z und der erweiterten Fehlerfaktoren Ed", Er" und Es"
ausgedrückt werden, wie auf der rechten Seite von Fig. 9 gezeigt. Da die erwei
terten Fehlerfaktoren Ed", Er" und Es" aus der Impedanz 4 und den Fehlerfakto
ren Ed, Er und Es des Meßsystems erhalten werden können, kann der Bereich 17
zur Berechnung des erweiterten Fehlerfaktors die erweiterten Fehlerfaktoren Ed",
Er" und Es" erhalten. Schließlich berechnet unter erneuter Bezugnahme auf Fig. 8
der Berechnungsbereich 18 für das zu testende Gerät den Schaltkreisparameter
des zu testenden Gerätes 20 (die Impedanz Z im Fall des zweiten Ausführungsbei
spiels) aus den Rohdaten (B/A), die vom Meßbereich 12 und dem Rohdaten-
Meßbereich 13 gemessen worden sind, und den erweiterten Fehlerfaktoren Ed",
Er" und Es", die von dem Berechnungsbereich 17 für die erweiterten Fehlerfakto
ren berechnet worden sind (Schritt 18).
Unter Bezugnahme auf Fig. 9 kann die Impedanz Z (F/E) erhalten werden aus
dem Eingang und dem Ausgang (B/A) und den erweiterten Fehlerfaktoren Ed",
Er" und Es".
Auch in dem zweiten Ausführungsbeispiel wird die Notwendigkeit zur Herstel
lung von Vorrichtungen zum Erhalten der Impedanz Z, wenn Z0 auf verschiedene
Arten geändert wird und die Notwendigkeit zum Wiederholen von mehreren Mes
sungen unter Austausch einer Vorrichtung gegen eine andere eliminiert werden,
sobald der Eingang und der Ausgang (B/A) und die Fehlerfaktoren Ed, Er und Es
des Meßsystems von dem Meßbereich 12, dem Rohdaten-Meßbereich 13 und dem
Meßbereich 14 für den Fehlerfaktor des Meßsystems gemessen worden sind. Der
Schaltkreisparameter kann daher einfach gemessen werden.
Ferner, da die erweiterten Fehlerfaktoren Ed", Er" und Es" zuvor erhalten worden
sind, kann die Berechnung schnell durchgeführt werden.
Obwohl angenommen wird, daß der Schaltkreisparameter in dem zweiten Ausfüh
rungsbeispiel eine Impedanz Z ist, kann es auch ein S-Parameter als eine gegebe
ne normalisierte Impedanz sein, ein S-Parameter, wenn ein passender Schaltkreis
hinzugefügt wird oder eine Schaltkreisadmittanz. Da die Beziehung zwischen
einem S-Parameter als Rohdaten, von denen die Fehlerfaktoren Ed, Er und Es des
Meßsystems eliminiert worden sind und einem S-Parameter als einer gegebenen
normalisierten Impedanz und ähnlichem wohlbekannt ist, wird auf eine detaillierte
Beschreibung verzichtet. Ferner, obwohl ein S-Parameter (inklusive der Fehler
faktoren Ed, Er und Es des Meßsystems) als Rohdaten betrachtet wird, kann es
ebenso ein anderer Schaltkreisparameter sein (Impedanz oder ähnliches).
Obwohl, wie oben beschrieben, es verschiedene Typen von Rohdaten und Schalt
kreisparametern gibt, ist die Beziehung zwischen Daten, von denen die Fehler
faktoren des Meßsystems entfernt worden sind, d. h. Rohdaten, von denen Fehler
faktoren des Meßsystems entfernt worden sind, und einem Schaltkreisparameter
wohlbekannt, so daß auf eine Beschreibung davon verzichtet wird.
Da der Schaltkreisparameter eines zu testenden Gerätes ohne die Herstellung von
Vorrichtungen und die Durchführung von vielen Messungen mit jedesmal verän
derten Vorrichtungen berechnet werden kann, ist es gemäß der Erfindung mög
lich, den Schaltkreisparameter einfach zu berechnen.
Claims (14)
1. Ein Netzwerkanalysator zum Berechnen eines Schaltkreisparameters eines
zu testenden Gerätes, aufweisend:
ein Meßmittel für Rohdaten zum Messen von Rohdaten des zu testenden Gerätes;
ein Meßmittel für Fehlerfaktoren des Meßsystems zum Erhalten von Fehler faktoren des Meßsystems, die bei der Messung des zu testenden Gerätes auftreten;
ein Berechnungsmittel für einen Parameter-Konversionsfaktor zum Erhalten von Faktoren der Parameterkonversion, die die Beziehung zwischen dem Schaltkreisparameter und von Fehlerfaktoren des Meßsystems freien Daten anzeigen, die durch das Eliminieren der Fehlerfaktoren des Meßsystems von den Rohdaten erhalten werden;
ein Berechnungsmittel für wahre Werte der Rohdaten, um die von Fehler faktoren des Meßsystems freien Daten aus den Rohdaten und aus den Feh lerfaktoren des Meßsystems zu erhalten; und
ein Berechnungsmittel für ein zu testendes Gerät zum Erhalten des Schalt kreisparameters aus den von Fehlerfaktoren des Meßsystems freien Daten und dem Parameter-Konversionsfaktor.
ein Meßmittel für Rohdaten zum Messen von Rohdaten des zu testenden Gerätes;
ein Meßmittel für Fehlerfaktoren des Meßsystems zum Erhalten von Fehler faktoren des Meßsystems, die bei der Messung des zu testenden Gerätes auftreten;
ein Berechnungsmittel für einen Parameter-Konversionsfaktor zum Erhalten von Faktoren der Parameterkonversion, die die Beziehung zwischen dem Schaltkreisparameter und von Fehlerfaktoren des Meßsystems freien Daten anzeigen, die durch das Eliminieren der Fehlerfaktoren des Meßsystems von den Rohdaten erhalten werden;
ein Berechnungsmittel für wahre Werte der Rohdaten, um die von Fehler faktoren des Meßsystems freien Daten aus den Rohdaten und aus den Feh lerfaktoren des Meßsystems zu erhalten; und
ein Berechnungsmittel für ein zu testendes Gerät zum Erhalten des Schalt kreisparameters aus den von Fehlerfaktoren des Meßsystems freien Daten und dem Parameter-Konversionsfaktor.
2. Netzwerkanalysator nach Anspruch 1, wobei das Meßmittel die Rohdaten
als von Fehlerfaktoren des Meßsystems freie Daten behandelt.
3. Netzwerkanalysator zum Berechnen eines Schaltkreisparameters eines zu
testenden Gerätes, aufweisend:
ein Rohdaten-Meßmittel zum Messen von Rohdaten des zu testenden Gerä tes;
ein Meßmittel für Fehlerfaktoren des Meßsystems zum Erhalten von Fehler faktoren des Meßsystems, die bei der Messung des zu testenden Gerätes auftreten;
ein Berechnungsmittel für Parameter-Konversionsfaktoren zum Erhalten von Faktoren der Parameterkonversion, die die Beziehung zwischen dem Schaltkreisparameter und von Fehlerfaktoren des Meßsystems freien Daten anzeigen, die erhalten worden sind durch das Eliminieren der Fehlerfaktoren des Meßsystems von den Rohdaten;
ein Berechnungsmittel für erweiterte Fehlerfaktoren zum Erhalten von er weiterten Fehlerfaktoren durch die Kombination der Fehlerfaktoren des Meßsystems und des Parameter-Konversionsfaktors; und
ein Berechnungsmittel für das zu testende Gerät zum Erhalten des Schalt kreisparameters aus den Rohdaten und den erweiterten Fehlerfaktoren.
ein Rohdaten-Meßmittel zum Messen von Rohdaten des zu testenden Gerä tes;
ein Meßmittel für Fehlerfaktoren des Meßsystems zum Erhalten von Fehler faktoren des Meßsystems, die bei der Messung des zu testenden Gerätes auftreten;
ein Berechnungsmittel für Parameter-Konversionsfaktoren zum Erhalten von Faktoren der Parameterkonversion, die die Beziehung zwischen dem Schaltkreisparameter und von Fehlerfaktoren des Meßsystems freien Daten anzeigen, die erhalten worden sind durch das Eliminieren der Fehlerfaktoren des Meßsystems von den Rohdaten;
ein Berechnungsmittel für erweiterte Fehlerfaktoren zum Erhalten von er weiterten Fehlerfaktoren durch die Kombination der Fehlerfaktoren des Meßsystems und des Parameter-Konversionsfaktors; und
ein Berechnungsmittel für das zu testende Gerät zum Erhalten des Schalt kreisparameters aus den Rohdaten und den erweiterten Fehlerfaktoren.
4. Netzwerkanalysator nach einem der Ansprüche 1-3, ferner aufweisend Spei
chermittel für den Parameter-Konversionsfaktor zum Speichern des Para
meter-Konversionsfaktors.
5. Netzwerkanalysator nach einem der Ansprüche 1-3, wobei der Schalt
kreisparameter eine Impedanz ist.
6. Netzwerkanalysator nach einem der Ansprüche 1-3, wobei der Schalt
kreisparameter ein S-Parameter ist als eine beliebige normalisierte Impe
danz.
7. Netzwerkanalysator nach einem der Ansprüche 1-3, wobei der Schalt
kreisparameter ein S-Parameter ist, wenn ein passender Schaltkreis hinzuge
fügt wird.
8. Netzwerkanalysator nach einem der Ansprüche 1-3, wobei der Schalt
kreisparameter eine Schaltkreisadmittanz ist.
9. Netzwerk-Analyseverfahren des Berechnens eines Schaltkreisparameters
eines zu testenden Gerätes, aufweisend:
einen Rohdaten-Meßschritt zum Messen von Rohdaten des zu testenden Gerätes;
einen Meßschritt für die Fehlerfaktoren des Meßsystems zum Erhalten der Fehlerfaktoren des Meßsystems, die bei der Messung des zu testenden Ge rätes auftreten;
einen Berechnungsschritt für einen Parameter-Konversionsfaktor zum Er halten von Faktoren der Parameterkonversion, die die Beziehung zwischen dem Schaltkreisparameter und von Fehlerfaktoren des Meßsystems freien Daten anzeigen, die erhalten worden sind durch die Eliminierung der Feh lerfaktoren des Meßsystems von den Rohdaten;
einen Berechnungsschritt für wahre Werte der Rohdaten zum Erhalten der von Fehlerfaktoren des Meßsystems freien Daten aus den Rohdaten und den Fehlerfaktoren des Meßsystems; und
einen Berechnungsschritt für das zu testende Gerät zum Erhalten des Schaltkreisparameters aus den von Fehlerfaktoren des Meßsystems freien Daten und dem Parameter-Konversionsfaktor.
einen Rohdaten-Meßschritt zum Messen von Rohdaten des zu testenden Gerätes;
einen Meßschritt für die Fehlerfaktoren des Meßsystems zum Erhalten der Fehlerfaktoren des Meßsystems, die bei der Messung des zu testenden Ge rätes auftreten;
einen Berechnungsschritt für einen Parameter-Konversionsfaktor zum Er halten von Faktoren der Parameterkonversion, die die Beziehung zwischen dem Schaltkreisparameter und von Fehlerfaktoren des Meßsystems freien Daten anzeigen, die erhalten worden sind durch die Eliminierung der Feh lerfaktoren des Meßsystems von den Rohdaten;
einen Berechnungsschritt für wahre Werte der Rohdaten zum Erhalten der von Fehlerfaktoren des Meßsystems freien Daten aus den Rohdaten und den Fehlerfaktoren des Meßsystems; und
einen Berechnungsschritt für das zu testende Gerät zum Erhalten des Schaltkreisparameters aus den von Fehlerfaktoren des Meßsystems freien Daten und dem Parameter-Konversionsfaktor.
10. Ein Netzwerk-Analyseverfahren des Berechnens eines Schaltkreisparame
ters eines zu testenden Gerätes, aufweisend:
einen Rohdaten-Meßschritt zum Messen von Rohdaten des zu testenden Gerätes;
einen Meßschritt für Fehlerfaktoren des Meßsystems zum Erhalten von Fehlerfaktoren des Meßsystems, die bei der Messung des zu testenden Ge rätes auftreten;
einen Berechnungsschritt für Parameter-Konversionsfaktoren zum Erhalten von Faktoren der Parameterkonversion, die die Beziehung zwischen dem Schaltkreisparameter und von Fehlerfaktoren des Meßsystems freien Daten anzeigen, die durch die Eliminierung der Fehlerfaktoren des Meßsystems von den Rohdaten erhalten werden;
einen Berechnungsschritt für erweiterte Fehlerfaktoren, zum Erhalten von erweiterten Fehlerfaktoren durch die Kombination der Fehlerfaktoren des Meßsystems und dem Parameter-Konversionsfaktor; und
einen Berechnungsschritt für ein zu testendes Gerät zum Erhalten des Schaltkreisparameters aus den Rohdaten und den erweiterten Fehlerfakto ren.
einen Rohdaten-Meßschritt zum Messen von Rohdaten des zu testenden Gerätes;
einen Meßschritt für Fehlerfaktoren des Meßsystems zum Erhalten von Fehlerfaktoren des Meßsystems, die bei der Messung des zu testenden Ge rätes auftreten;
einen Berechnungsschritt für Parameter-Konversionsfaktoren zum Erhalten von Faktoren der Parameterkonversion, die die Beziehung zwischen dem Schaltkreisparameter und von Fehlerfaktoren des Meßsystems freien Daten anzeigen, die durch die Eliminierung der Fehlerfaktoren des Meßsystems von den Rohdaten erhalten werden;
einen Berechnungsschritt für erweiterte Fehlerfaktoren, zum Erhalten von erweiterten Fehlerfaktoren durch die Kombination der Fehlerfaktoren des Meßsystems und dem Parameter-Konversionsfaktor; und
einen Berechnungsschritt für ein zu testendes Gerät zum Erhalten des Schaltkreisparameters aus den Rohdaten und den erweiterten Fehlerfakto ren.
11. Ein computerlesbares Medium zum Verkörpern eines Programms mit Aus
führungsanweisungen für einen Computer zur Durchführung eines Netz
werk-Analyseverfahrens des Berechnens eines Schaltkreisparameters eines
zu testenden Gerätes, aufweisend:
einen Rohdaten-Meßschritt zum Messen von Rohdaten des zu testenden Gerätes;
einen Meßschritt für Fehlerfaktoren des Meßsystems zum Erhalten von Fehlerfaktoren des Meßsystems, die bei der Messung des zu testenden Ge rätes auftreten;
einen Berechnungsschritt für Parameter-Konversionsfaktoren zum Erhalten von Faktoren der Parameterkonversion, die die Beziehung zwischen dem Schaltkreisparameter und von Fehlerfaktoren des Meßsystems freien Daten anzeigen, die durch die Eliminierung der Fehlerfaktoren des Meßsystems von den Rohdaten erhalten werden;
einen Berechnungsschritt für wahre Werte von Rohdaten, zum Erhalten der von Fehlerfaktoren des Meßsystems freien Daten aus den Rohdaten und den Fehlerfaktoren des Meßsystems; und
einen Berechnungsschritt für das zu testende Gerät zum Erhalten des Schaltkreisparameters aus den von Fehlerfaktoren des Meßsystems freien Daten und dem Parameter-Konversionsfaktor.
einen Rohdaten-Meßschritt zum Messen von Rohdaten des zu testenden Gerätes;
einen Meßschritt für Fehlerfaktoren des Meßsystems zum Erhalten von Fehlerfaktoren des Meßsystems, die bei der Messung des zu testenden Ge rätes auftreten;
einen Berechnungsschritt für Parameter-Konversionsfaktoren zum Erhalten von Faktoren der Parameterkonversion, die die Beziehung zwischen dem Schaltkreisparameter und von Fehlerfaktoren des Meßsystems freien Daten anzeigen, die durch die Eliminierung der Fehlerfaktoren des Meßsystems von den Rohdaten erhalten werden;
einen Berechnungsschritt für wahre Werte von Rohdaten, zum Erhalten der von Fehlerfaktoren des Meßsystems freien Daten aus den Rohdaten und den Fehlerfaktoren des Meßsystems; und
einen Berechnungsschritt für das zu testende Gerät zum Erhalten des Schaltkreisparameters aus den von Fehlerfaktoren des Meßsystems freien Daten und dem Parameter-Konversionsfaktor.
12. Computerlesbares Medium zum Verkörpern eines Programms mit Ausfüh
rungsanweisungen für einen Computer zur Durchführung eines Netzwerk-
Analyseverfahrens des Berechnens eines Schaltkreisparameters eines zu te
stenden Gerätes, aufweisend:
einen Rohdaten-Meßschritt zum Messen von Rohdaten des zu testenden Gerätes;
einen Meßschritt für Fehlerfaktoren des Meßsystems zum Erhalten von Fehlerfaktoren des Meßsystems, die bei der Messung des zu testenden Ge rätes auftreten;
einen Berechnungsschritt für Parameter-Konversionsfaktoren zum Erhalten von Faktoren der Parameterkonversion, die die Beziehung zwischen dem Schaltkreisparameter und von Fehlerfaktoren des Meßsystems freien Daten anzeigen, die erhalten werden durch die Eliminierung der Fehlerfaktoren des Meßsystems von den Rohdaten;
einen Berechnungsschritt für erweiterte Fehlerfaktoren zum Erhalten von erweiterten Fehlerfaktoren durch die Kombination der Fehlerfaktoren des Meßsystems und des Parameter-Konversionsfaktors; und
einen Berechnungsschritt für ein zu testendes Gerät zum Erhalten des Schaltkreisparameters aus den Rohdaten und den erweiterten Fehlerfakto ren.
einen Rohdaten-Meßschritt zum Messen von Rohdaten des zu testenden Gerätes;
einen Meßschritt für Fehlerfaktoren des Meßsystems zum Erhalten von Fehlerfaktoren des Meßsystems, die bei der Messung des zu testenden Ge rätes auftreten;
einen Berechnungsschritt für Parameter-Konversionsfaktoren zum Erhalten von Faktoren der Parameterkonversion, die die Beziehung zwischen dem Schaltkreisparameter und von Fehlerfaktoren des Meßsystems freien Daten anzeigen, die erhalten werden durch die Eliminierung der Fehlerfaktoren des Meßsystems von den Rohdaten;
einen Berechnungsschritt für erweiterte Fehlerfaktoren zum Erhalten von erweiterten Fehlerfaktoren durch die Kombination der Fehlerfaktoren des Meßsystems und des Parameter-Konversionsfaktors; und
einen Berechnungsschritt für ein zu testendes Gerät zum Erhalten des Schaltkreisparameters aus den Rohdaten und den erweiterten Fehlerfakto ren.
13. Ein Computerprogramm von Ausführungsanweisungen für einen Computer
zur Durchführung eines Netzwerk-Analyseverfahrens des Berechnens eines
Schaltkreisparameters eines zu testenden Gerätes, aufweisend:
einen Rohdaten-Meßschritt zum Messen von Rohdaten des zu testenden Gerätes;
einen Meßschritt für Fehlerfaktoren des Meßsystems zum Erhalten von Fehlerfaktoren des Meßsystems, die bei der Messung des zu testenden Ge rätes auftreten;
einen Berechnungsschritt von Parameter-Konversionsfaktoren zum Erhalten von Faktoren der Parameterkonversion, die die Beziehung zwischen dem Schaltkreisparameter und den von Fehlerfaktoren des Meßsystems freien Daten anzeigen, die durch die Eliminierung der Fehlerfaktoren des Meßsy stems von den Rohdaten erhalten werden;
einen Berechnungsschritt für wahre Werte von Rohdaten zum Erhalten der von Fehlerfaktoren des Meßsystems freien Daten aus den Rohdaten und den Fehlerfaktoren des Meßsystems; und
einen Berechnungsschritt für ein zu testendes Gerät zum Erhalten des Schaltkreisparameters aus den von Fehlerfaktoren des Meßsystems freien Daten und dem Parameter-Konversionsfaktor.
einen Rohdaten-Meßschritt zum Messen von Rohdaten des zu testenden Gerätes;
einen Meßschritt für Fehlerfaktoren des Meßsystems zum Erhalten von Fehlerfaktoren des Meßsystems, die bei der Messung des zu testenden Ge rätes auftreten;
einen Berechnungsschritt von Parameter-Konversionsfaktoren zum Erhalten von Faktoren der Parameterkonversion, die die Beziehung zwischen dem Schaltkreisparameter und den von Fehlerfaktoren des Meßsystems freien Daten anzeigen, die durch die Eliminierung der Fehlerfaktoren des Meßsy stems von den Rohdaten erhalten werden;
einen Berechnungsschritt für wahre Werte von Rohdaten zum Erhalten der von Fehlerfaktoren des Meßsystems freien Daten aus den Rohdaten und den Fehlerfaktoren des Meßsystems; und
einen Berechnungsschritt für ein zu testendes Gerät zum Erhalten des Schaltkreisparameters aus den von Fehlerfaktoren des Meßsystems freien Daten und dem Parameter-Konversionsfaktor.
14. Ein Computerprogramm aus Ausführungsanweisungen für einen Computer
zur Durchführung eines Netzwerk-Analyseverfahrens des Berechnens eines
Schaltkreisparameters eines zu testenden Gerätes, aufweisend:
einen Rohdaten-Meßschritt zum Messen von Rohdaten des zu testenden Gerätes;
einen Meßschritt für Fehlerfaktoren des Meßsystems zum Erhalten von Fehlerfaktoren des Meßsystems, die bei der Messung des zu testenden Ge rätes auftreten;
einen Berechnungsschritt für einen Parameter-Konversionsfaktor zum Er halten von Faktoren der Parameterkonversion, die die Beziehung zwischen dem Schaltkreisparameter und den von Fehlerfaktoren des Meßsystems frei en Daten anzeigen, die erhalten werden durch die Eliminierung der Fehler faktoren des Meßsystems von den Rohdaten;
einen Berechnungsschritt für erweiterte Fehlerfaktoren zum Erhalten von erweiterten Fehlerfaktoren durch die Kombination der Fehlerfaktoren des Meßsystems und des Parameter-Konversionsfaktors; und
einen Berechnungsschritt für das zu testende Gerät zum Erhalten des Schaltkreisparameters aus den Rohdaten und den erweiterten Fehlerfakto ren.
einen Rohdaten-Meßschritt zum Messen von Rohdaten des zu testenden Gerätes;
einen Meßschritt für Fehlerfaktoren des Meßsystems zum Erhalten von Fehlerfaktoren des Meßsystems, die bei der Messung des zu testenden Ge rätes auftreten;
einen Berechnungsschritt für einen Parameter-Konversionsfaktor zum Er halten von Faktoren der Parameterkonversion, die die Beziehung zwischen dem Schaltkreisparameter und den von Fehlerfaktoren des Meßsystems frei en Daten anzeigen, die erhalten werden durch die Eliminierung der Fehler faktoren des Meßsystems von den Rohdaten;
einen Berechnungsschritt für erweiterte Fehlerfaktoren zum Erhalten von erweiterten Fehlerfaktoren durch die Kombination der Fehlerfaktoren des Meßsystems und des Parameter-Konversionsfaktors; und
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