DE10029048A1 - Optische Positionsmeßeinrichtung - Google Patents
Optische PositionsmeßeinrichtungInfo
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Abstract
Eine optische Positionsmeßeinrichtung umfaßt einen Maßstab und eine relativ hierzu bewegliche Abtasteinheit, die eine Lichtquelle, ein oder mehrere Abtastteilungen, mindestens ein optoelektronisches Detektorelement sowie eine der Lichtquelle nachgeordnete Spiegellinse aufweist. Die Spiegellinse besitzt eine plane Reflektorfläche, gegenüber der zwei Oberflächen-Teilbereiche mit unterschiedlichen Krümmungsradien angeordnet sind, so daß die durch einen ersten Oberflächen-Teilbereich anfallenden Strahlenbündel auf die Reflektorfläche auftreffen und von der Reflektorfläche eine Reflexion in Richtung des zweiten Oberflächen-Teilbereiches erfolgt. Die Krümmungsradien der Oberflächen-Teilbereiche sind derart gewählt, daß nach Austritt aus dem zweiten Oberflächen-Teilbereich ein kollimiertes Strahlenbündel vorliegt. Ferner schneiden sich die optischen Achsen der zwei unterschiedlich gekrümmten Oberflächen-Teilbereiche in der Ebene der Reflektorfläche (Figur 1).
Description
Die vorliegende Erfindung betrifft eine optische Positionsmeßeinrichtung.
Bekannte optische Positionsmeßeinrichtungen umfassen üblicherweise eine
Meßteilung sowie eine relativ hierzu in Meßrichtung bewegliche Abtastein
heit. Auf Seiten der Abtasteinheit sind in der Regel eine Lichtquelle, eine
Kollimatoroptik, ein oder ggf. mehrere Abtastteilungen sowie ein oder meh
rere optoelektronische Detektorelemente vorgesehen. Eine oftmals gestellte
Anforderung betrifft den möglichst kompakten Aufbau einer derartigen Posi
tionsmeßeinrichtung, insbesondere der Abtasteinheit. Durch eine geeignete
Führung des Abtastrahlenganges kann diesen Forderungen entsprochen
werden. Hierbei erweisen sich insbesondere gefaltete Abtaststrahlengänge
als vorteilhaft, die neben den oben erwähnten Komponenten ferner ein oder
mehrere Umlenk- oder Reflexionselemente auf Seiten der Abtasteinheit
umfassen.
Aus der DE 26 15 676 ist eine optische Positionsmeßeinrichtung mit einem
gefalteten Abtaststrahlengang bekannt. Die Kollimatoroptik und ein Umlenk
element sind hierbei in einem einzigen optischen Bauteil integriert. Dieses
Bauteil mit der optischen Doppelfunktion im Abtaststrahlengang sei nachfol
gend als Spiegellinse bezeichnet. Details zur konkreten Ausgestaltung der
Spiegellinse, insbesondere bezüglich der Fertigung desselben, sind dieser
Druckschrift jedoch nicht zu entnehmen. Als nachteilig an der vorgeschlage
nen Spiegellinse ist aufzuführen, das diese zwar die Umlenkung und Kolli
mation der Strahlenbündel sicherstellt, insgesamt aber ein relativ großes
Bauvolumen aufweist. Ferner kann aufgrund des vorgeschlagenen Strah
lenganges in der Spiegellinse nicht verhindert werden, daß Strahlung von
der Lichtquelle direkt auf die Kollimatoroptik gelangt, ohne daß vorher eine
Ablenkung dieser Strahlenbündel erfolgt ist. Eine saubere Pupillentrennung
ist bei der Verwendung dieses Bauelementes zur Faltung des Abtaststrah
lenganges demzufolge ebenfalls nicht gewährleistet.
Eine ähnliche Spiegellinse im gefalteten Abtaststrahlengang einer optischen
Positionsmeßeinrichtung ist ferner aus der DE 36 09 211 A1 bekannt. Als
nachteilig an dieser Variante einer Spiegellinse ist aufzuführen, daß zwei
Reflektorflächen erforderlich sind, um die gewünschte Umlenkung zu bewir
ken. Hochexakt plane Reflektorflächen verursachen jedoch einen großen
Aufwand bei der Fertigung. Ähnliches gilt für die Herstellung der beiden
räumlich getrennten, gekrümmten Linsenflächen, durch die das Abtast
strahlenbündel eintritt bzw. austritt.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, eine optische Positionsmeßein
richtung anzugeben, die insbesondere eine kompakt bauende Abtasteinheit
aufweist. Die Optik-Bauteile im Abtaststrahlengang sollten dabei zum einen
eine gute Signalqualität der resultierenden Abtastsignale sicherstellen; zum
anderen ist eine möglichst einfache Fertigung dieser Optik-Bauteile gefor
dert.
Diese Aufgabe wird gelöst durch eine optische Positionsmeßeinrichtung mit
den Merkmalen des Anspruches 1.
Vorteilhafte Ausführungsformen der erfindungsgemäßen optischen Positi
onsmeßeinrichtung ergeben sich aus den Maßnahmen, die in den abhängi
gen Ansprüchen aufgeführt sind.
Erfindungsgemäß wird zur kompakten Auslegung der Abtasteinheit mit ge
faltetem Abtaststrahlengang eine Spiegellinse vorgesehen, die neben der
optischen Kollimationswirkung ferner eine Umlenkung bzw. Faltung des Ab
taststrahlenganges ermöglicht. Die geeignete Spiegellinse weist lediglich
eine einzige, hochexakt plane Reflektorfläche auf, gegenüber der zwei
Oberflächen-Teilbereiche mit unterschiedlich gekrümmten Oberflächen an
geordnet sind. Je ein optisch wirksamer Oberflächen-Teilbereich ist hierbei
dem einfallenden bzw. dem austretenden Strahlenbündel zugeordnet. Vor
zugsweise werden die verschiedenen Oberflächen-Teilbereiche als optisch
wirksame bzw. abbildende Asphären ausgebildet, was letztlich einen größe
ren nutzbaren Bildfeldwinkel zur Folge hat.
Aufgrund der erfindungsgemäßen Faltung des Abtastrahlenganges resultiert
der gewünschte kompakte Aufbau der Positionsmeßeinrichtung. Die hierzu
erforderliche Spiegellinse erweist sich als einfach herstellbar; dies resultiert
aus der angenäherten Plankonvex-Form der Spiegellinse, die eine einfache
Abformbarkeit der beiden Teilbereiche mit unterschiedlicher optischer Wir
kung sicherstellt. Grundsätzlich läßt sich die Spiegellinse dabei sowohl aus
Glas als auch aus Kunststoff fertigen. Vorzugsweise wird die Spiegellinse
durch einseitiges Glaspressen gefertigt, d. h. die konvexe Seite der Spiegel
linse mit den beiden unterschiedlich gekrümmten Teilbereichen wird ge
preßt, während die plane Seite mit der Reflektorfläche poliert wird. Dadurch
läßt sich bei der Herstellung die Forderung erfüllen, daß die reflektierende
Planfläche in der Regel deutlich präziser bzw. formtreuer zu fertigen ist als
die konvexen Linsenflächen.
Desweiteren ist durch die Ausbildung der Spiegellinse eine gute Qualität des
Abtast-Strahlenbündels, insbesondere eine gute Kollimation desselben ge
währleistet.
Weitere Vorteile sowie Einzelheiten der vorliegenden Erfindung ergeben sich
aus der nachfolgenden Beschreibung eines Ausführungsbeispieles einer
optischen Positionsmeßeinrichtung anhand der beiliegenden Zeichnungen.
Dabei zeigt
Fig. 1 eine schematisierte Darstellung einer mögli
chen Ausführungsform der erfindungsgemäßen
optischen Positionsmeßeinrichtung;
Fig. 2 eine perspektivische Ansicht der Spiegellinse
aus der Abtasteinheit der in Fig. 1 gezeigten
Ausführungsform der erfindungsgemäßen opti
schen Positionsmeßeinrichtung;
Fig. 3a und 3b je eine Schnittansicht der Spiegellinse aus
Fig. 2.
In Fig. 1 ist eine schematische Schnitt-Darstellung einer Ausführungsform
der erfindungsgemäßen optischen Positionsmeßeinrichtung gezeigt. Diese
umfaßt einen Maßstab 20 sowie eine relativ hierzu in Meßrichtung x beweg
liche Abtasteinheit 10. Die Meßrichtung x ist senkrecht zur Zeichenebene
orientiert. In dieser Variante dient die dargestellte Positionsmeßeinrichtung
zur Erfassung von linearen Relativbewegungen zwischen der Abtasteinheit
10 und dem Maßstab 20 entlang der x-Achse. Beispielsweise kann diese
Positionsmeßeinrichtung in einer numerisch gesteuerten Werkzeugmaschine
eingesetzt werden, um hochpräzise die Relativposition von Werkzeug und
Werkstück zu erfassen. Selbstverständlich kann die erfindungsgemäße Po
sitionsmeßeinrichtung auch alternativ als rotatorische Meßeinrichtung aus
gebildet werden.
Auf Seiten des Maßstabes 20 ist als Maßverkörperung 21 eine in bekannter
Art und Weise ausgebildete Inkrementalteilungsspur auf einem Trägerkörper
23 angeordnet, wobei der Trägerkörper 23 z. B. als Stahl-Maßband ausge
führt sein kann. Neben der Maßverkörperung 21 zur Erzeugung der ver
schiebungsabhängigen Inkrementalsignale ist im dargestellten Ausfüh
rungsbeispiel desweiteren eine Referenzmarkierung 22 auf dem Tägerkör
per 23 des Maßstabes 20 angeordnet. Mit Hilfe der Referenzmarkierung 22
bzw. über die Erzeugung eines entsprechenden Referenzimpulssignales
wird im Meßbetrieb in bekannter Art und Weise ein Absolutbezug bei der
Positionsmessung hergestellt.
Sowohl die Maßverkörperung 21 als auch die Referenzmarkierung 22 be
stehen aus einer in Meßrichtung x alternierenden Abfolge von Teilbereichen
mit unterschiedlichen optischen Reflexionseigenschaften, beispielsweise
hochreflektierenden und nicht-reflektierenden Teilbereichen.
Die Referenzmarkierung 22 besteht in bekannter Art und Weise aus einer
aperiodischen Verteilung von Teilbereichen unterschiedlicher Reflexionsei
genschaften; selbstverständlich können entlang der jeweiligen Meßstrecke
noch mehrere derartige Referenzmarkierungen 22 an definierten Positionen
benachbart zur Maßverkörperung 21 vorgesehen werden wie z. B. abstands
codierte Referenzmarken usw.
Die Abtasteinheit 10 der dargestellten Positionsmeßeinrichtung umfaßt eine
Lichtquelle 11, eine Spiegellinse 12 mit umlenkender und kollimierender op
tischer Wirkung, eine Abtastplatte 13 sowie eine Detektions-Einheit 14. In
der Abtastplatte 13 sind zwei Fensterbereiche 13.1, 13.3 mit Abtastteilungen
versehen, während zwei weitere Fensterbereiche 13.2, 13.4 transparent,
d. h. ohne Teilungsstrukturen, ausgebildet sind. Ein erstes Paar von Fenster
bereichen 13.1, 13.2 dient in Verbindung mit weiteren Komponenten der op
tischen Positionsmeßeinrichtung zur Erzeugung der verschiebungsabhängi
gen Inkrementalsignale, während das zweite Paar mit den Fensterbereichen
13.3, 13.4 zur Erzeugung ein oder mehrerer Referenzimpulssignale dient.
Auf Seiten der Detektions-Einheit 14 ist eine erste Detektoranordnung 14.1
mit mehreren optoelektronischen Detektorelementen zur Erfassung der
Inkrementalsignale vorgesehen; daneben befindet sich die zweite Detektor
anordnung 14.2 zur Erfassung der Referenzimpulssignale.
Nachfolgend sei der Abtaststrahlengang zur Erzeugung der Inkrementalsig
nale innerhalb der dargestellten Positionsmeßeinrichtung erläutert. Auf den
Strahlengang zur Erzeugung der Referenzimpulssignale wird an dieser
Stelle nicht näher eingegangen.
Die von der Lichtquelle 11, z. B. einer strahlstarken Infrarot-LED mit kleiner
Emissionsfläche, emittierten Strahlenbündel werden von der Spiegellinse 12
umgelenkt und parallel bzw. kollimiert gerichtet und durchtreten die Abtast
teilung im Fensterbereich 13.1 in der Abtastplatte 13. Die in Fig. 1 ange
deuteten Strahlengänge sind dabei selbstverständlich nur schematisiert dar
gestellt. Anschließend gelangen die Strahlenbündel auf die Maßverkörpe
rung 21 auf Seiten des Maßstabes 20, die in diesem Beispiel als Reflexions-
Maßverkörperung ausgebildet ist. Von der Maßverkörperung 21 werden die
Strahlenbündel in Richtung des transparenten Fensterbereiches 13.2 der
Abtastplatte 13 reflektiert. Nach dem Durchtreten des transparenten Fen
sterbereiches 13.2 treffen die Strahlenbündel auf die Detektoranordnung
14.1 in der Detektions-Einheit 14. Die Detektoranordnung 14.1 dient zur Er
fassung eines resultierenden Streifenmusters und zur Erzeugung der ver
schiebungsabhängigen Inkrementalsignale. In Bezug auf weitere Details zur
Erzeugung der verschiebungsabhängigen Inkrementalsignale sei an dieser
Stelle auf die Patentanmeldung DE 199 41 318 der Anmelderin verwiesen.
Der Einsatz der Spiegellinse 12 ermöglicht nunmehr wie aus Fig. 1 ersicht
lich, einen kompakten Aufbau der Abtasteinheit 10 der erfindungsgemäßen
optischen Positionsmeßeinrichtung. Zur weiteren Beschreibung der einge
setzten Spiegellinse 12 sei auf die Fig. 2, 3a und 3b verwiesen, die die
ses Optik-Bauteil in einer perspektivischen Ansicht sowie in zwei weiteren
Schnittansichten zeigen.
Die verwendete Spiegellinse 12 weist lediglich eine einzige, hochexakt plane
Reflektorfläche 12.1 auf, gegenüber der zwei unterschiedlich konvex ge
krümmte Oberflächen-Teilbereiche 12.2, 12.3 angeordnet sind, die wie
derum eine definierte optische Wirkung für die jeweils durchtretenden
Strahlenbündel besitzen. Die durch einen ersten Oberflächen-Teilbereich
12.2 einfallenden Strahlenbündel treffen auf die Reflektorfläche 12.1 auf und
werden von dort in Richtung des zweiten Oberflächen-Teilbereiches 12.3
reflektiert, durch den die Strahlenbündel die Spiegellinse 12 wieder verlas
sen. Die Oberfläche-Teilbereiche 12.2, 12.3 unterschiedlicher Krümmung
sind nunmehr derart dimensioniert, daß nach Austritt aus dem zweiten
Oberflächen-Teilbereich 12.3 ein gut kollimiertes Strahlenbündel vorliegt. In
den Darstellungen der Fig. 2, 3a, und 3b sind in den jeweiligen Oberflä
chen-Teilbereichen 12.2, 12.3 desweiteren diejenigen Teilbereiche strichli
niert angedeutet, durch die die jeweiligen Strahlenbündel ein- bzw. austre
ten, d. h. die im Abtaststrahlengang genutzen Teilbereiche.
Im dargestellten Ausführungsbeispiel sind die verschiedenen Oberflächen-
Teilbereiche 12.2, 12.3 der Spiegellinse 12 als Asphären ausgebildet. Die
optischen Achsen OA1, OA2 der beiden Asphären schneiden sich hierbei in
der Ebene der Reflektorfläche 12.1. Die Lichtquelle 11 ist ferner im Brenn
punkt der Spiegellinse 12 auf der optischen Achse OA1 des asphärischen
Oberflächen-Teilbereiches 12.2 angeordnet. Diese Anordnung entspricht
einer Zentrierung der beiden Linsenelemente in den Oberflächen-Teilberei
chen 12.1, 12.2. Dadurch ist eine sehr gute Abbildungsqualität bzw. Kollima
tionswirkung gewährleistet.
Als Material der Spiegellinse 12 wird in diesem Beispiel F2-Glas verwendet.
Die plane Reflektorfläche 12.1 ist als Rückflächenspiegel mit einer Alumi
nium-Beschichtung ausgebildet.
Neben der wunschgemäßen Faltung des Abtaststrahlenganges und der re
sultierenden kompakten Abtasteinheit 10 bietet die verwendete Spiegellinse
12 weitere Vorteile. Insbesondere ist die Spiegellinse 12 mit relativ geringem
Aufwand herzustellen, etwa über bekannte Warm-Preßverfahren. An
schließend wird die plane Reflektorfläche 12.1 geschliffen und optisch po
liert; die beiden Oberflächen-Teilbereiche 12.2, 12.3 werden mit Hilfe eines
zusammengesetzten hohlen Werkzeuges in einem gemeinsamen Arbeits
gang entsprechend den erforderlichen Krümmungsradien abgeformt.
Selbstverständlich existieren im Rahmen der vorliegenden Erfindung noch
weitere alternative Ausführungsmöglichkeiten. So ist es problemlos möglich,
die optische Wirkung der beiden Oberflächen-Teilbereiche 12.2, 12.3 durch
eine geeignete Dimensionierung an die vorgegebenen Anforderungen an
den Abtaststrahlengang anzupassen. Beispielsweise können diese Teilbe
reiche auch als übliche Sphären ausgebildet werden.
Obwohl die Spiegellinse im dargestellten Ausführungsbeispiel eine plankon
vexe Überstruktur aufweist, ist die resultierende optische Wirkung letztlich
identisch mit der einer Bikonvex-Linse. Dadurch stehen eine Vielzahl von
Ausgestaltungsmöglichkeiten je nach Abtastanforderungen zur Verfügung.
Durch eine geeignete optische Abstimmung der unterschiedlichen Oberflä
chen-Teilbereiche läßt sich ferner die Intensitätsverteilung im Querschnitt
des kollimierten Strahlenbündels wunschgemäß beeinflußen.
Claims (6)
1. Optische Positionsmeßeinrichtung, bestehend aus einem Maßstab (20)
und einer relativ hierzu beweglichen Abtasteinheit (20), die eine Licht
quelle (11), ein oder mehrere Abtastteilungen, mindestens ein opto
elektronisches Detektorelement (14.1) sowie eine der Lichtquelle (11)
nachgeordnete Spiegellinse (12) umfaßt, wobei die Spiegellinse (12)
eine einzige plane Reflektorfläche (12.1) aufweist, gegenüber der zwei
unterschiedlich gekrümmte Oberflächen-Teilbereiche (12.1, 12.2) ange
ordnet sind, so daß die durch einen ersten Oberflächen-Teilbereich
(12.2) einfallenden Strahlenbündel auf die Reflektorfläche (12.1) auf
treffen und von der Reflektorfläche (12.1) eine Reflexion in Richtung
des zweiten Oberflächen-Teilbereiches (12.2) erfolgt, wobei die jeweili
gen Krümmungen der Oberflächen-Teilbereiche (12.2, 12.3) derart ge
wählt sind, daß nach Austritt aus dem zweiten Oberflächen-Teilbereich
(12.3) ein kollimiertes Strahlenbündel vorliegt und die optischen Achsen
(OA1, OA2) der zwei unterschiedlich gekrümmten Oberflächen-Teilbe
reiche (12.2, 12.3) sich in der Ebene der Reflektorfläche (12.1) schnei
den.
2. Optische Positionsmeßeinrichtung nach Anspruch 1, wobei die Reflek
torfläche (12.1) der Spiegellinse (12) als Rückflächenspiegel ausgebil
det ist.
3. Optische Positionsmeßeinrichtung nach Anspruch 1, wobei die beiden
Oberflächen-Teilbereiche (12.2, 12.3) als Asphären ausgebildet sind.
4. Optische Positionsmeßeinrichtung nach Anspruch 1, wobei die Licht
quelle (11) im Brennpunkt der Spiegellinse (12) auf der optischen Achse
(OA1) des zuerst durchtretenen Oberflächen-Teilbereiches (12.2) an
geordnet ist.
5. Optische Positionsmeßeinrichtung nach Anspruch 1, wobei die Spiegel
linse (12) aus F2-Glas gefertigt ist.
6. Optische Positionsmeßeinrichtung nach Anspruch 1, wobei die Spiegel
linse (12) in der Abtasteinheit (10) zwischen der Lichtquelle (11) und der
Abtastteilung angeordnet ist.
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