DE10000746A1 - Bauelement mit Ableitung für Pyrospannungen und Herstellverfahren - Google Patents
Bauelement mit Ableitung für Pyrospannungen und HerstellverfahrenInfo
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 12
- WQGWDDDVZFFDIG-UHFFFAOYSA-N pyrogallol Chemical compound OC1=CC=CC(O)=C1O WQGWDDDVZFFDIG-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims description 8
- 238000009795 derivation Methods 0.000 title 1
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 24
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 21
- 230000008569 process Effects 0.000 claims abstract description 10
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 67
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 17
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 238000010897 surface acoustic wave method Methods 0.000 claims description 6
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 claims description 5
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 4
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 3
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 3
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 239000012044 organic layer Substances 0.000 claims description 2
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 2
- NSMXQKNUPPXBRG-SECBINFHSA-N (R)-lisofylline Chemical compound O=C1N(CCCC[C@H](O)C)C(=O)N(C)C2=C1N(C)C=N2 NSMXQKNUPPXBRG-SECBINFHSA-N 0.000 description 7
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000010408 film Substances 0.000 description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- PAYRUJLWNCNPSJ-UHFFFAOYSA-N Aniline Chemical compound NC1=CC=CC=C1 PAYRUJLWNCNPSJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- YTPLMLYBLZKORZ-UHFFFAOYSA-N Thiophene Chemical compound C=1C=CSC=1 YTPLMLYBLZKORZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 229920001940 conductive polymer Polymers 0.000 description 2
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 2
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 2
- 230000006735 deficit Effects 0.000 description 2
- WSMQKESQZFQMFW-UHFFFAOYSA-N 5-methyl-pyrazole-3-carboxylic acid Chemical compound CC1=CC(C(O)=O)=NN1 WSMQKESQZFQMFW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 101100346656 Drosophila melanogaster strat gene Proteins 0.000 description 1
- 229910001111 Fine metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001491 aromatic compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000006229 carbon black Substances 0.000 description 1
- 239000002800 charge carrier Substances 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000013016 damping Methods 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 238000010292 electrical insulation Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- LNEPOXFFQSENCJ-UHFFFAOYSA-N haloperidol Chemical compound C1CC(O)(C=2C=CC(Cl)=CC=2)CCN1CCCC(=O)C1=CC=C(F)C=C1 LNEPOXFFQSENCJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002427 irreversible effect Effects 0.000 description 1
- GQYHUHYESMUTHG-UHFFFAOYSA-N lithium niobate Chemical compound [Li+].[O-][Nb](=O)=O GQYHUHYESMUTHG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 238000010943 off-gassing Methods 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 1
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 108090000623 proteins and genes Proteins 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 238000003892 spreading Methods 0.000 description 1
- 230000007480 spreading Effects 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 125000004434 sulfur atom Chemical group 0.000 description 1
- 229920001169 thermoplastic Polymers 0.000 description 1
- 229930192474 thiophene Natural products 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/58—Structural electrical arrangements for semiconductor devices not otherwise provided for, e.g. in combination with batteries
- H01L23/62—Protection against overvoltage, e.g. fuses, shunts
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
- H03H9/02—Details
- H03H9/02535—Details of surface acoustic wave devices
- H03H9/02818—Means for compensation or elimination of undesirable effects
- H03H9/02921—Measures for preventing electric discharge due to pyroelectricity
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/30—Technical effects
- H01L2924/301—Electrical effects
- H01L2924/3011—Impedance
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/42—Piezoelectric device making
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/49005—Acoustic transducer
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/49117—Conductor or circuit manufacturing
- Y10T29/49124—On flat or curved insulated base, e.g., printed circuit, etc.
- Y10T29/49155—Manufacturing circuit on or in base
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Acoustics & Sound (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Surface Acoustic Wave Elements And Circuit Networks Thereof (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
Abstract
Zur unschädlichen Ableitung von Pyrospannungen bei Bauelementen auf pyroelektrischen Substraten wird vorgeschlagen, eine hochohmige Schicht auf dem Substrat vorzusehen. Diese kann im Dünnschichtverfahren ganzflächig aufgebracht und anschließend so strukturiert werden, dass elektrisch leitende Bauelementstrukturen unbedeckt bleiben.
Description
Pyroelektrische Materialien zeigen den pyroelektrischen Ef
fekt. Dabei reagieren diese Materialien auf Temperaturände
rung mit dem Aufbau einer elektrischen Spannung. Dies ist
insbesondere für Bauelemente nachteilig, die auf pyroelektri
schen Substraten aufgebaut sind, beispielsweise piezoelektri
sche Bauelemente oder Oberflächenwellen-Bauelemente. Zwischen
den mehr oder weniger feinen elektrisch leitenden Strukturen
dieser Bauelemente, die direkt auf dem pyroelektrischen Sub
strat aufgebracht sind, können dabei so große Spannungen bzw.
Feldstärken entstehen, dass es zu elektrischen Überschlägen
zwischen den feinen Metallstrukturen kommt. Dabei können die
Strukturen und damit das Bauelement beschädigt oder zerstört
werden, wenn keine geeigneten Schutzmaßnahmen ergriffen wer
den.
Weiterhin können sich aufgrund der hohen auftretenden Feld
stärken die Eigenschaften des piezoelektrischen Substratmate
rials und damit auch die Bauelementeigenschaften irreversibel
ändern oder gar das Bauelement unbrauchbar werden. Treten die
Pyrospannungen während des Betriebes des Bauelementes auf, so
können die elektrischen Felder oder die Überschläge zwischen
den elektrisch leitenden Strukturen Impulse auslösen, die zu
fehlerhafter Signalverarbeitung in der elektronischen Schal
tung führen können.
Unerwünschte Pyrospannungen, die auf starke Temperaturände
rungen zurückzuführen sind, treten insbesondere bei der Her
stellung von Bauelementen mit pyroelektrischem Substrat auf.
Eine bekannte Möglichkeit, Schäden durch pyroelektrische Auf
ladung zu verhindern, besteht im Vorsehen von Ionisationseinrichtungen
während der Fertigung. Durch Anbieten von bewegli
chen Ladungsträgern passender Menge und Polarität in der Um
gebungsatmosphäre des pyroelektrischen Substrates können die
üblicherweise ortsfesten Ladungen auf den Substraten weitge
hend kompensiert werden. Dies ist jedoch ein technisch auf
wendiges Verfahren, das außerdem nicht für alle Fertigungs
prozesse geeignet ist. Auch kann eine mit elektrisch isolie
renden oder passivierenden Schichten abgedeckte pyroelektri
sche Oberfläche mit Hilfe von Ionisationselektroden nicht
mehr ausreichend entladen werden. Außerdem sind die Ionisati
onselektroden empfindlich gegen verschiedene Dünnschichtver
fahren und würden beispielsweise auch durch in Ofenprozessen
auftretende organische Ausgasungen geschädigt.
Aus der EP-A-0 785 620 ist es bekannt, Bauelemente auf pyro
elektrischen Substraten durch ganzflächig über oder unter den
Bauelement-Strukturen auf dem Substrat aufgebrachte leitfähi
ge Schichten gegen Schäden durch Pyroentladungen zu schützen.
Nachteilig ist dabei, dass die zusätzliche Materialschicht
die Bauelement-Eigenschaften unzulässig verändern kann und
beispielsweise die elektroakustische Kopplung oder die Aus
breitungsgeschwindigkeit einer Oberflächenwelle verändert
oder gar deren Dämpfung bewirkt.
Weiterhin ist es möglich, die metallischen elektrisch leiten
den Bauelementstrukturen leitend miteinander zu verbinden,
beispielsweise durch das Vorsehen schmaler metallischer
Streifen, die zur Ausbildung einer hochohmigen Verbindung,
beispielsweise in mäanderförmiger Anordnung, ausgebildet wer
den. Diese Verbindungen benötigen aber eine erhebliche Sub
stratfläche, die der zunehmenden Miniaturisierung der Bauele
mente entgegensteht. Außerdem sind sie aufgrund ihrer Geome
trie anfällig für elektrische Unterbrechungen während des
Herstellungsprozesses. Insbesondere bei Oberflächenwellen-
Bauelementen, die eine komplizierte Anordnung und aufwendige
Verschaltung mehrerer Wandlerstrukturen auf einem Chip auf
weisen können, kann es mitunter unmöglich sein, alle Wandler
auf diese Weise zu schützen, wenn nicht genügend Platz für
die zu schützenden Strukturen verfügbar ist, und wenn die
verwendeten Technologien keine Überkreuzung von Leiterbahnen
ermöglichen. Auch mit zusätzlichen gebondeten Drahtkontaktie
rungen zur Verbindung unterschiedlicher elektrisch leitender
Strukturen, die zudem hohe Kosten verursachen, läßt sich das
Problem nicht immer lösen.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es daher, für Bauele
mente mit pyroelektrischem Substrat eine Möglichkeit anzuge
ben, Pyrospannungen sowohl bei der Herstellung als auch wäh
rend des Betriebs der Bauelemente einfach und unschädlich ab
zuleiten.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch ein Bauelement nach
Anspruch 1 gelöst. Ein Verfahren zur Herstellung des Bauele
mentes sowie vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind
weiteren Ansprüchen zu entnehmen.
Die Erfindung gibt ein Bauelement mit elektrisch leitenden
Strukturen auf einem pyroelektrischen Substratmaterial an,
bei dem die auftretenden Pyrospannungen in unschädlicher Wei
se mit Hilfe einer hochohmigen Schicht abgeleitet werden. Die
Eigenschaften der hochohmigen Schicht können durch Variation
der Parameter Schichtdicke, elektrische Leitfähigkeit und Art
des Schichtmaterials an die Bauelementfunktion so angepasst
werden, dass keine negative Beeinträchtigung der Bauelement
funktion entsteht. Dabei ist es möglich, die hochohmige
Schicht ganzflächig aufzubringen und anschließend zu struktu
rieren. Möglich ist es jedoch auch, die hochohmige Schicht
ausschließlich auf den Flächen aufzubringen, die nicht von
Bauelementstrukturen, beispielsweise von den elektrisch lei
tenden Strukturen bedeckt sind. Unter hochomiger Schicht wird
im Sinne der Erfindung eine Schicht verstanden, die einen
Flächenwiderstand von zumindest 100 Ω/∍ (ohm per square) bis
109 Ω/∍ aufweist.
Besonders vorteilhafte Verwendung findet die Erfindung bei
einem Oberflächenwellen-Bauelement, beispielsweise bei einem
Oberflächenwellen-Filter, bei dem aufgrund der geringen
Strukturbreiten der elektrisch leitenden Strukturen eine be
sonders große Gefahr einer Beschädigung durch den pyroelek
trischen Effekt gegeben ist. Als elektrisch leitende Struktu
ren sind bei Oberflächenwellen-Bauelementen insbesondere
elektro-akustische Wandler, Reflektoren oder Leiterbahnen
vorgesehen.
Vorzugsweise wird die hochohmige Schicht bei Oberflächenwel
len-Bauelementen so strukturiert, dass zumindest der Bereich
der elektro-akustischen Wandler von der hochohmigen Schicht
unbedeckt bleibt. Damit wird eine negative Beeinträchtigung
der elektro-akustischen Kopplung oder gar eine Dämpfung der
akustischen Oberflächenwelle vermieden, was eine negative Be
einträchtigung der Bauelementfunktion darstellen könnte.
Vorzugsweise ist die hochohmige Schicht eine Dünnschicht aus
einem hochohmigen Material, insbesondere aus Kohlenstoff oder
einem Halbleiter. Diese Materialien haben den Vorteil, dass
sie sich großflächig, homogen und in beliebig dünner Schicht
dicke aufbringen lassen. Für diese Materialien sind außerdem
geeignete Strukturierungsverfahren bekannt, die das Entfernen
der ganzflächig aufgebrachten hochohmigen Schicht in freizu
haltenden Bereichen der Substratoberfläche ermöglichen. In
einfacher Weise kann außerdem bei Dünnschichtverfahren über
die Abscheidebedingungen und die gewählte Schichtdicke die
Gesamtleitfähigkeit der Schicht eingestellt werden.
In einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung ist die hoch
ohmige Schicht eine organische Schicht, die entweder aufgrund
der Verwendung elektrisch leitender Polymere intrinsisch lei
tend ist, oder die elektrisch leitfähige Partikel enthält,
die insgesamt eine ausreichende Leitfähigkeit für die
hochohmige Schicht ergeben. Eine solche Schicht hat den Vor
teil, dass sie sich beispielsweise mittels eines Druckverfah
rens gezielt in bestimmten Bereichen der Substratoberfläche
aufbringen oder nach ganzflächiger Aufbringung in einfacher
Weise nasschemisch oder mittels Lösungsmittel in vorgesehenen
Bereichen wieder entfernen läßt. Gegebenenfalls ist auch eine
direkte Photostrukturierung möglich.
Intrinsisch leitende Polymere sind beispielsweise von Stick
stoff oder Schwefelatome enthaltenden aromatischen Verbindun
gen wie Anilin oder Thiophen abgeleitet. Als leitfähige Par
tikel sind insbesondere Ruß oder Graphit geeignet. Als Poly
mer-Matrix für die Partikel können thermoplastische Polymere
oder Reaktionsharze, insbesondere Epoxidharze dienen.
Das ebenfalls erfindungsgemäße Verfahren zur Herstellung ei
nes solchen pyrogeschützten Bauelementes wird nachfolgend an
hand von Ausführungsbeispielen und der dazugehörigen 7 Figu
ren näher erläutert.
Fig. 1 bis 6 zeigen anhand schematischer Querschnitte
verschiedene Verfahrensstufen bei der Her
stellung eines erfindungsgemäßen Bauelemen
tes.
Fig. 7 zeigt ein Bauelement mit strukturierter
hochohmiger Schicht in der Draufsicht.
Fig. 1 zeigt ein Oberflächenwellen-Bauelement im schemati
schen Querschnitt. Das Bauelement ist auf einem piezoelektri
schen Substrat, beispielsweise Lithiumniobat oder Lithiumtantalat
aufgebaut, welches auch pyroelektrische Eigenschaften
hat. Stellvertretend für die möglichen elektrisch leitenden
Strukturen 2 sind in der Figur zwei Gruppen zu je drei Elek
trodenfingern dargestellt, die Interdigitalwandler (elektro
akustische Wandler) darstellen und für ein Oberflächenwellen-
Filter als Ein- oder Ausgangswandler dienen. Die elektrisch
leitenden Strukturen 2 sind beispielsweise aus Aluminium auf
gebaut.
Auf der Substratoberfläche über den elektrisch leitenden
Strukturen 2 wird nun eine hochohmige Schicht 3 ganzflächig
aufgebracht. Beispielsweise wird dazu eine Kohlenstoffschicht
in einer Dicke von ca. 5 bis 100 nm, beispielsweise von 50 nm
aufgebracht, beispielsweise durch Aufsputtern. Bei Verwendung
anderer hochohmiger Materialien sind auch andere Aufbrin
gungsverfahren und andere Schichtdicken geeignet. Fig. 2
zeigt das Bauelement mit der ganzflächig aufgebrachten
hochohmigen Schicht 3.
Da die hochohmige Schicht 3 über den elektrisch leitfähigen
Strukturen 2 und allgemein im Wandlerbereich negative Auswir
kungen auf die Eigenschaften des Oberflächenwellen-Bauelemen
tes haben kann, erfolgt nun eine Strukturierung dergestalt,
dass dabei zumindest der Wandlerbereich, besser jedoch der
gesamte akustische Pfad von der hochohmigen Schicht 3 befreit
wird. Dazu kann ein Plasmaätzverfahren unter Verwendung einer
Resist-Ätzmaske verwendet werden. Fig. 3 zeigt eine ganzflä
chig über der hochohmigen Schicht 3 aufgebrachte Resist-
Schicht 4. Diese kann beispielsweise aufgeschleudert oder
auch als Trockenfolie aufgebracht und auflaminiert werden.
Die Resist-Folie 4 wird beispielsweise mittels Photohithogra
phie strukturiert, wobei nach Belichtung und Entwicklung au
ßerhalb des Bereiches der Wandler 2 Resist-Strukturen 7 auf
der hochohmigen Schicht 3 verbleiben. Fig. 4 zeigt das Bau
element in diesem Stadium.
In einem Plasmaätzprozess, beispielsweise mit einem sauer
stoffhaltigen Plasma, wird die z. B. aus Kohlenstoff bestehen
de hochohmige Schicht 3 nun in den freiliegenden Bereichen 5
und gegebenenfalls 6 weggeätzt, wobei die Resist-Struktur 7
mit darunter liegender ebenfalls strukturierter hochohmiger
Schicht 8 verbleibt. Fig. 7 zeigt das Bauelement in dieser
Verfahrensstufe in einer schematischen Draufsicht.
Nach dem eben beschriebenen Plasmaätzprozess, der auch für
ein arideres hochohmiges Schichtmaterial angepasst werden
kann, beispielsweise durch Verwendung eines halogenhaltiges
Plasma für eine hochohmige Schicht 3 aus Halbleitermaterial,
verbleiben rund um die beiden Wandler 2a und 2b hochohmige
Schichtbereiche 8, die von der Resist-Struktur 7 bedeckt
sind. Diese hochohmigen Schichtbereiche 8 können beispiels
weise die Wandler 2 wie ein Rahmen vollständig umschließen.
In vorteilhafter Weise wird die verbliebene Resist-Struktur 7
für eine von der Anmelderin PROTEC genannte Chipabdeckung
verwendet. Dabei ist das Erzeugen der hochohmigen Schicht in
das Herstellverfahren der PROTEC-Abdeckung integriert. Eine
solche PROTEC-Abdeckung sowie ein Herstellverfahren dafür
sind beispielsweise aus der WO 95/30276 bekannt.
Fig. 6 zeigt, wie die z. B. rahmenförmig die elektrisch lei
tenden Strukturen 2 umschließende Resist-Struktur 7 als
Stützelement für eine Abdeckschicht 9 verwendet werden kann.
Als Abdeckschicht 9 kann beispielsweise ebenfalls eine Re
sist-Folie verwendet werden, oder allgemeiner ein photostruk
turierbares Material. Mit Hilfe der Resist-Struktur 7 als
Stütz- und Trägerelement wird zusammen mit der Abdeck
schicht 9 eine die Bauelementstrukturen 2 dicht umschließende
Abdeckkappe geschaffen, mit deren Hilfe die Bauelementstrukturen
2 dicht gegen Umwelteinflüsse versiegelt werden können.
Eine solche Versiegelung kann auch zusätzlich durch das Auf
bringen weiterer Materialien auf die PROTEC Abdeckung erfol
gen, wobei die Bauelement-Strukturen 2 durch die einen Hohl
raum ausbildende PROTEC Abdeckung vor einem Kontakt mit die
sen weiteren Materialien geschützt ist.
Gegenüber dem an sich bekannten PROTEC-Verfahren erfordert
das erfindungsgemäße Verfahren zur Herstellung des Bauelemen
tes mit einer Pyrospannungsableitung 8 als zusätzlichen Ar
beitsschritt nur das Aufbringen der hochohmigen Schicht 3.
Aufgrund der geringen Schichtdicke der beispielsweise aus
Kohlenstoff bestehenden hochohmigen Schicht 3 kann das Ent
fernen der hochohmigen Schicht direkt über den elektrisch
leitfähigen Strukturen 2 und im Wandlerbereich mit einem nur
kurzen Plasmaätzschritt erfolgen, wie er auch bislang als
Zwischenstufe zum Reinigen der Resist-Struktur 7 eingesetzt
wurde. Darüber hinaus kann die ganzflächig aufgebrachte
hochohmige Schicht 3 auch zum Schutz der elektrisch leitenden
Strukturen 2 dienen, während die Resist-Schicht 4 zur Her
stellung der Resist-Struktur 7 nasschemisch und insbesondere
wässrig-alkalisch entwickelt wird. Damit wird das Aluminium
der elektrisch leitfähigen Strukturen vor einem Angriff des
alkalischen Entwicklers geschützt, der ansonsten zu einem
Aluminiumabtrag führen könnte, welcher wiederum negative Aus
wirkungen auf die Bauelementeigenschaften haben könnte.
Mit Hilfe des anhand eines Ausführungsbeispiels beschriebenen
erfindungsgemäßen Verfahrens kann die hochohmige Schicht 3 zu
beliebig geformten hochohmigen Schichtbereichen 8 struktu
riert werden, anders als die in Fig. 7 dargestellte Ausfüh
rungsform. Dabei ist es vorteilhaft aber nicht erforderlich,
die Strukturierung mit dem PROTEC-Verfahren zu verbinden.
Mit der Erfindung wird ein Bauelement erhalten, bei dem ver
schiedene Oberflächenbereiche hochohmig miteinander verbunden
sind, so dass sich auf der Oberfläche des Substrates 1 und
insbesondere zwischen unterschiedlichen elektrisch leitenden
Strukturen 2 aufbauende Pyrospannungen über die hochohmige
Verbindung langsam aber sicher abbauen können. Eine Beschädi
gung des Bauelementes während des Betriebes oder weiterer
Herstellschritte wird dabei sicher vermieden. Das Verfahren
kann dabei bereits im Waferstadium eingesetzt werden und ist
nicht auf den Schutz eines einzelnen Chips oder Bauelements
beschränkt.
Claims (12)
1. Bauelement,
- - mit einem Substrat (1) aus pyroelektrischem Material
- - mit auf dem Substrat angeordneten elektrisch leitenden Strukturen (2)
- - bei dem zur unschädlichen Ableitung von Pyrospannungen auf dem Substrat eine hochohmige Schicht (3, 8) so vorgesehen ist, dass zumindest bestimmte Bereiche (5) der elektrisch leiten den Strukturen von dieser Schicht (3) unbedeckt sind.
2. Bauelement nach Anspruch 1,
das als Oberflächenwellen-Bauelement auf einem piezoelek
trischen Substrat (1) ausgebildet ist, wobei die elektrisch
leitenden Strukturen (2) elektroakustische Wandler sowie wei
tere Strukturen umfassen, die ausgewählt sind aus Reflekto
ren, Leiterbahnen und Kontaktierungsflächen (10).
3. Bauelement nach einem der Ansprüche 1 oder 2,
bei dem die hochohmige Schicht (3) eine Dünnschicht ist, die
Kohlenstoff oder ein Halbleitermaterial umfasst.
4. Bauelement nach einem der Ansprüche 1 oder 2,
bei dem die hochohmige Schicht (3) eine organische Schicht
umfasst die intrinsisch leitend ist oder die leitfähige Par
tikel enthält.
5. Bauelement nach einem der Ansprüche 1-4,
bei dem das Bauelement als Oberflächenwellen-Bauelement aus
gebildet ist, wobei zumindest der Bereich der elektro
akustischen Wandler (2) von der hochohmigen Schicht (3, 8) un
bedeckt ist.
6. Verfahren zur Herstellung eines Oberflächenwellen-
Bauelements mit einer Ableitung (8) für Pyrospannung,
- bei dem auf einem piezoelektrischen Substrat (1) elek
trisch leitende Strukturen (2) erzeugt werden, die einen
elektroakustische Wandler umfassenden akustischen Pfad aus
bilden,
- - bei dem auf dem Substrat ganzflächig über den elektrisch leitenden Strukturen eine hochohmige Schicht (3) erzeugt wird,
- - bei dem die hochohmige Schicht (3) strukturiert wird, wobei zumindest im Bereich der elektroakustischen Wandler (2) die hochohmige Schicht entfernt wird und zumindest ein Bereich außerhalb des akustischen Pfads von der hochohmigen Schicht (8) bedeckt bleibt.
7. Verfahren nach Anspruch 6,
bei dem die hochohmige Schicht (3) in einem Dünnschicht Ver
fahren aufgebracht wird.
8. Verfahren nach einem der Ansprüche 6 oder 7,
bei dem als hochohmige Schicht (3) eine Schicht aus Koh
lenstoff oder einem Halbleiter aufgesputtert wird.
9. Verfahren nach einem der Ansprüche 6-8,
bei dem die Strukturierung mittels Plasmaätzens erfolgt, wo
bei eine Resistmaske (7) verwendet wird.
10. Verfahren nach Anspruch 9,
bei dem als Resistmaske (7) Teile einer integriert über den
elektrisch leitenden Strukturen aufgebrachten, eine photo
strukturierbare Schicht umfassenden Abdeckung (7, 9) verwendet
werden.
11. Verfahren nach einem der Ansprüche 6-10,
bei dem als hochohmige Schicht (3) eine Schicht aus Koh
lenstoff in einer Dicke von 5-100 nm aufgebracht wird, die
mittels eines Sauerstoff enthaltenden Plasmas und einer Re
sistmaske (7) strukturiert wird.
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10000746A DE10000746A1 (de) | 2000-01-11 | 2000-01-11 | Bauelement mit Ableitung für Pyrospannungen und Herstellverfahren |
PCT/DE2000/004562 WO2001052410A2 (de) | 2000-01-11 | 2000-12-20 | Bauelement mit ableitung für pyrospannungen und herstellverfahren |
KR1020027008893A KR20020063927A (ko) | 2000-01-11 | 2000-12-20 | 초전 전압용 드레인을 포함하는 부품 및 그의 제조 방법 |
EP00990559A EP1247338A2 (de) | 2000-01-11 | 2000-12-20 | Bauelement mit ableitung für pyrospannungen und herstellverfahren |
US10/169,854 US6931699B2 (en) | 2000-01-11 | 2000-12-20 | Method of producing a surface wave component with a drain for pyroelectric voltage |
JP2001552520A JP2003520480A (ja) | 2000-01-11 | 2000-12-20 | パイロ電圧導出部を備えたコンポーネントおよびその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10000746A DE10000746A1 (de) | 2000-01-11 | 2000-01-11 | Bauelement mit Ableitung für Pyrospannungen und Herstellverfahren |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE10000746A1 true DE10000746A1 (de) | 2001-07-12 |
Family
ID=7627129
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE10000746A Ceased DE10000746A1 (de) | 2000-01-11 | 2000-01-11 | Bauelement mit Ableitung für Pyrospannungen und Herstellverfahren |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6931699B2 (de) |
EP (1) | EP1247338A2 (de) |
JP (1) | JP2003520480A (de) |
KR (1) | KR20020063927A (de) |
DE (1) | DE10000746A1 (de) |
WO (1) | WO2001052410A2 (de) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6877209B1 (en) * | 2002-08-28 | 2005-04-12 | Silicon Light Machines, Inc. | Method for sealing an active area of a surface acoustic wave device on a wafer |
US6846423B1 (en) * | 2002-08-28 | 2005-01-25 | Silicon Light Machines Corporation | Wafer-level seal for non-silicon-based devices |
DE10351429B4 (de) * | 2003-11-04 | 2013-10-31 | Epcos Ag | SAW Bauelement mit Klebestelle und Verwendung dafür |
DE102004005129B4 (de) | 2004-02-02 | 2018-09-27 | Snaptrack, Inc. | Bauelement mit empfindlichen Bauelementstrukturen und Verfahren zur Herstellung |
US7750420B2 (en) * | 2004-03-26 | 2010-07-06 | Cypress Semiconductor Corporation | Integrated circuit having one or more conductive devices formed over a SAW and/or MEMS device |
JP4401409B2 (ja) * | 2007-10-12 | 2010-01-20 | 富士通メディアデバイス株式会社 | 弾性表面波デバイス、及びその製造方法 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4243960A (en) * | 1978-08-14 | 1981-01-06 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Method and materials for tuning the center frequency of narrow-band surface-acoustic-wave (SAW) devices by means of dielectric overlays |
DE3235236A1 (de) * | 1982-09-23 | 1984-03-29 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Oberflaechenwellenfilter, sowie verfahren zur herstellung einer bedaempfungsschicht fuer oberflaechenwellenfilter |
US4952832A (en) * | 1989-10-24 | 1990-08-28 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Surface acoustic wave device |
JPH0435312A (ja) | 1990-05-28 | 1992-02-06 | Murata Mfg Co Ltd | 表面波装置 |
EP0534354A1 (de) * | 1991-09-25 | 1993-03-31 | Sumitomo Electric Industries, Limited | Akustische Oberflächenwellenanordnung und ihr Herstellungsverfahren |
JP3252865B2 (ja) * | 1992-09-11 | 2002-02-04 | 住友電気工業株式会社 | 表面弾性波素子および表面弾性波素子の製造方法 |
JPH08203998A (ja) * | 1995-01-20 | 1996-08-09 | Sony Corp | 多層配線の形成方法 |
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JPH09153766A (ja) | 1995-11-30 | 1997-06-10 | Sanyo Electric Co Ltd | 弾性表面波素子 |
JPH09199974A (ja) | 1996-01-19 | 1997-07-31 | Nec Corp | 弾性表面波装置 |
JP3296356B2 (ja) * | 1999-02-08 | 2002-06-24 | 松下電器産業株式会社 | 弾性表面波デバイスとその製造方法 |
-
2000
- 2000-01-11 DE DE10000746A patent/DE10000746A1/de not_active Ceased
- 2000-12-20 WO PCT/DE2000/004562 patent/WO2001052410A2/de not_active Application Discontinuation
- 2000-12-20 JP JP2001552520A patent/JP2003520480A/ja not_active Withdrawn
- 2000-12-20 EP EP00990559A patent/EP1247338A2/de not_active Ceased
- 2000-12-20 KR KR1020027008893A patent/KR20020063927A/ko not_active Application Discontinuation
- 2000-12-20 US US10/169,854 patent/US6931699B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6931699B2 (en) | 2005-08-23 |
WO2001052410A2 (de) | 2001-07-19 |
WO2001052410A3 (de) | 2001-12-06 |
EP1247338A2 (de) | 2002-10-09 |
KR20020063927A (ko) | 2002-08-05 |
US20020190605A1 (en) | 2002-12-19 |
JP2003520480A (ja) | 2003-07-02 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
R016 | Response to examination communication | ||
R002 | Refusal decision in examination/registration proceedings | ||
R003 | Refusal decision now final |
Effective date: 20120411 |