DD148268A1 - Schaltungsanordnung zur blockweisen pruefung von hauptspeichern - Google Patents

Schaltungsanordnung zur blockweisen pruefung von hauptspeichern Download PDF

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DD148268A1
DD148268A1 DD21804279A DD21804279A DD148268A1 DD 148268 A1 DD148268 A1 DD 148268A1 DD 21804279 A DD21804279 A DD 21804279A DD 21804279 A DD21804279 A DD 21804279A DD 148268 A1 DD148268 A1 DD 148268A1
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DD
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blocks
memory
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DD21804279A
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Inventor
Wolf-Dieter Haupt
Wolfgang Schulze
Original Assignee
Haupt Wolf Dieter
Wolfgang Schulze
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Abstract

Anwendung: Aus Bloecken bestehende Hauptspeicher (Halbleiterspeicher) in Datenverarbeitungsanlagen, wobei die Bloecke mit Festbereichen belegt sind. Ziel: Pruefbarkeit in vollem Umfang ohne Pruefgeraete. Aufgabe: Schaffung einer Schaltungsanordnung, die die programmtechnische Pruefung ohne Zerstoerung der Festbereiche ermoeglicht. Loesung: Einteilung des Speichers in zwei Gruppen von Bloecken, wobei dem "Gruppen"-Adreszbit des Adressenregisters eine Invertierschaltung nachgeschaltet ist, die vom Diagnosesystem gesteuert wird.

Description

21804 2
Titel der Erfindung
Schaltungsanordnung zur blockweisen Prüfung von Hauptspeichern
Anwendungsgebiet der Erfindung
Die Erfindung betrifft Datenverarbeitungsanlagen mit Hauptoder Operativspeichern, die physisch aus mehreren Blöcken oder Modulen bestehen und bei denen bestimmte feste Adreßbereiche systembedingt mit Daten bzw. Steuerworten belegt sind»(in der Folge Pestbereiche genannt) und damit für eine programmtechnische Prüfung nicht zur Verfügung stehen.
Charakteristik der bekannten technischen Lösungen Zur Prüfung von Speichern v/erden zwei sich grundsätzlich unterscheidende Typen von Algorithmen benutzt. Der erste Typ führt Punktionsprüfungen durch, d. h., es werden Belastungen nachgebildet, wie sie bei der Zusammenarbeit mit der Zentraleinheit auftreten. Diese Prüfungen lassen sich relativ leicht durch einfache Prüfgeräte oder verhältnismäßig einfache Testmikroprogramme nachbilden.
Besonders bei Halbleiterspeichern sind Prüfungen notwendig, die die innere Struktur des Speicherelementes berücksichtigen, da es sich hierbei um Speicherschaltkreise mit sehr hohem Integrationsgrad handelt. Diese Prüfungen erfolgen blockweise und sind daher nur sinnvoll, wenn der gesamte Block für die Prüfung zur Verfügung steht. Die Algorithmen dieser Prüfungen sind kompliziert. Daher sind umfangreiche Prüfgeräte erforderlich. Eine reine mikroprogrammtechnische Prüfung scheidet wegen des hohen Organisatiοηsaufv/andes im Mikroprogramm und auch wegen des hohen Mikroprogrammspeicherbedarfes in der gegenwärtigen Phase der technischen Entwicklung aus. Bei einer programmtechnisehen oder einer gemischt programm- und mikroprogrammtechnischen Lösung sind die mit Pestbereichen belegten .i fihp.-rhT nrVk-fi nir/ht nriifh^T. ^a rH p> яѳ "Вйгрп fihfi durch Prüf—
programme nicht verändert v/erden dürfen.
Ziel der Erfindung
Das Ziel der Erfindung ist, die Prüfbarkeit aller Blöcke des Speichers in vollem Umfang zu ermöglichen, ohne dafür Prüfgeräte zu benötigen, und den sonst für die strukturorientierte Prüfung erheblichen Mikroprogramnaufwand für Organisation im Test zu sparen.
Das Wesen der Erfindung
Der Erfindung liegt die Aufgäbe zugrunde, eine Schaltungsanordnung zu schaffen, die die programmtechnische Prüfbarkeit des Speichers in vollem Umfang ermöglicht.
Erfindungsgemäß wird die Aufgabe so gelöst, daß alle Blöcke des Speichers in zwei Blockgruppen eingeteilt sind, daß die beiden Blockgruppen einer S'telle des Adreßregisters zugeordnet sind und daß dieser Stelle eine Invertierschaltung nachgeschaltet ist, die mit einem Steuertrigger verbunden ist, der an das Diagnose system angeschlossen ist.
Ausführungsbeispiel
Die Erfindung wird nachstehend anhand eines Ausführungsbeispiels erläutert. Die zugehörige Zeichnung stellt das Blockschaltbild eines Hauptspeichers mit der erfindungsgemäßen Einrichtung zur Vertauschung von Speicherbereichen dar. Der Hauptspeicher besteht aus vier Speicherblöcken 1; 2; 3; 4, einem Datenregister 5, einem Adreßregister mit den Teilen 6; 7j 8, einem Steuertrigger 9 und der Invertierschaltung zur Umkehrung der Wertigkeit des Adreßbits im Adreßregisterteil 7. Über das Datenregister 5 und die Adreßregisterteile 6; 7; wird die Verbindung zur Zentraleinheit des Rechners hergestellt. Der Steuertrigger 9 wird von der Diagnoseeinrichtung des Rechners gestellt. " -
Im Beispiel sind vier Blöcke angegeben. Es sind jedoch auch andere Blockzahlen möglich, jedoch müssen mindestens zwei Blöcke vorhanden sein. Ein Block ist gemäß dieser Erfindung ein Bereich des Speichers, dessen Prüfung geschlossen erfolgen
-з- 218042
muß, d. h., die vorgegebenen Prüfalgorithinen fordern, daß jeweils der gesamte Block für die Prüfung zur Verfügung steht. Die Größe des Blocks wird durch die Größe der verwendeten Speicherschaltkreise bestimmt. Da in der Eegel bei einem Speicheraufruf mehr als ein Bit aktiviert wird, d. h., die Aufrufbreite z. B. ein Doppelwort betragen kann, gehören alle Speicherschaltkreise, die bei einem Speicheraufruf aktiviert und ausgelesen bzw. beschrieben werden, zu einem Block. Dem Block wird die Adreßinformation zugeführt, die er für die Auswahl der gewünschten Information aus seinen Speicherschaltkreisen benötigt. Außerdem wird ihm auch die übrige Adreßinformation zugeführt, aus der er bei einem Start über Leitung 18 entschlüsselt, ob dieser Start für ihn oder einen anderen Block gilt.
Besteht der Speicher aus mehr als zwei Blöcken, werden diese in zwei gleichgroße Blockgruppen (Blockgruppe 1: Block 1 und 2; Blockgruppe 2: Block 3 und 4) eingeteilt. Die Auswahl der Blockgruppe bzw. des Blockes bei nur zwei Blöcken erfolgt in Abhängigkeit von der Y.rertigkeit eines Bits der Adreßinformation auf der Leitung 14.
Die einzelnen Bits der dem Speicher von dem Rechner angebotenen Adresse haben eine unterschiedliche Bedeutung. Die niedrigwertigsten Bits aus dem Adreßregisterteil 6 v/erden den Speicherschaltkreisen über die Leitungen 11; 12; 13 direkt zugeführt. Die Anzahl dieser Adressenleitungen hängt damit vom Speichervolumen des verwendeten Speicherschaltkreises ab. Ihre Anzahl entspricht genau der dem Speicherschaltkreis zugeführten Adreßinformation.
Eine weitere Ein-Bit-Adreßinformation (im Adreßregisterteil 7 gespeichert) v/ird durch die Invertierschaltung 10 geführt und über die Leitung 14 an alle Blöcke angelegt. Ein Steuersignal auf der Leitung 16 steuert in Abhängigkeit von der Stellung des Steuertriggers 9, ob die Invertierschaltung die Adreßinformation mit der ihr über die Leitung 15 angebotenen Wertigkeit oder invertiert weitergibt.
Hat das Signal auf der Leitung 14 das Potential 1L*, so wird die Blockgruppe, bestehend aus den Blöcken 1 und 2 ausgewählt. Ein Potential 1H1 auf der Leitung 14 wählt die Blockgruppe mit den Blöcken 3 und 4 aus.
Es ergibt sich also folgender Zusammenhang (Potential Leitung 16 = 1L' - keine Invertierung; 1H1 - Invertierung):
Leitung 16 Leitung 15 Leitung 14 Ausgewählte Blöcke
L L ь 1 und 2
L H- H 3 und 4
H L H 3 und 4
H H L 1 und 2
Daran wird erkennbar, daß ein Wechsel des Potentials auf der Leitung 16 zu einer Vertauschung der Adressen der Blockgruppen dient.
Eine beliebig große Anzahl weiterer Adreßsignale, die im Adreßregisterteil 8 gespeichert und über die Leitung(en) 17 zu den Blöcken geführt werden, dienen zur Auswahl des Blockes aus der Blockgruppe.
Die Prüfung wird folgendermaßen durchgeführt:
Die Information auf der Leitung 16 sei 1L1, der Steuertrigger 9 ist ausgeschaltet. Jetzt wird ein Prüfprogramm in die Blöcke 1 und 2 geladen. Das bedeutet, daß während der Ladung des Programms die Adreßinformation auf der Leitung 15 und damit auch auf der Leitung 14 immer 1L1 bleiben muß. Auch die Pestwertbereiche befinden sich in den Blöcken 1 und 2.
Jetzt kann das Prüfprogramm gestartet werden. Es prüft nacheinander die Blöcke 3 und 4.
Ist die Prüfung erfolgreich abgeschlossen, wird der Inhalt der Blöcke 1 und 2 in die Blöcke 3 und 4 transportiert,und zwar so, daß sich seine Adressen nur in der Wertigkeit der Adressenleitung 14 unterscheiden.
Jetzt wird die Abarbeitung des Programmes unterbrochen und der Steuertrigger 9 und damit die Invertierschaltung 10 für die Adressenleitung 15 aktiviert. Ба jetzt die Blöcke 3 und 4 ange-
sprochen werden, wenn die Adressenleitung 15 den Pegel 1L1 führt, wird der als nächster aufgerufene Befehl aus den Blöcken 3 oder 4 gelesen. Das gilt auch für Zugriffe zu den Fes tr/ertbereionen. Demnach können jetzt mit den Prüfprogrammen, die in den Blöcken 3 und 4 stehen, die Blöcke 1 und 2 geprüft werden.
Am Schluß kann noch ein Eüekladen des Programms und das Herstellen des Ausgangszusiandes (Steuertrigger 9 = 1L1) erfolgen. Die Forderung, daß sich alle Festbereiche in einer Blockgruppe befinden, kann entfallen, wenn die Zuordnung der Blöcke zu den Blockgruppen so erfolgt, daß bei der Transformation des mit Festbereichen belegten Blockes in die andere Blockgruppe nicht wieder auf einem mit Festbereichen belegten Block getroffen wird. Natürlich steigt bei einer solchen Lösung der Programmieraufwand.

Claims (1)

  1. Erf induiig san spruch
    Schaltungsanordnung zur blockweisen Prüfung von zum Teil mit Pestbereichen belegten Hauptspeichern einer Datenverarbeitungsanlage mit einem Diagnose system, dadurch gekennzeichnet, daß die Blöcke (1; 2; 3» 4) des Speichers in zwei Blockgruppen eingeteilt sind, daß die beiden Blockgruppen einer Stelle (7) des Adreßregisters (6; 7; 8) zugeordnet sind und daß dieser Stelle eine Invertierschaltung (1O) nachgeschaltet ist, die mit einem Steuertrigger (9) verbunden ist, der an das Diagnosesystem angeschlossen ist.
    Hierzu A Seite . Zeichnung .,
DD21804279A 1979-12-21 1979-12-21 Schaltungsanordnung zur blockweisen pruefung von hauptspeichern DD148268A1 (de)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0281740A2 (de) * 1987-02-13 1988-09-14 International Business Machines Corporation Speicher und deren Prüfung

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0281740A2 (de) * 1987-02-13 1988-09-14 International Business Machines Corporation Speicher und deren Prüfung
EP0281740A3 (en) * 1987-02-13 1990-05-09 International Business Machines Corporation Memories and the testing thereof

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