CS240177B1 - Způsob stanovení vadného tranzistoru zapojeného libovolným způsobem na elektrické jednotce pomocí sondy měřící saturaěni stav tranzistorů - Google Patents
Způsob stanovení vadného tranzistoru zapojeného libovolným způsobem na elektrické jednotce pomocí sondy měřící saturaěni stav tranzistorů Download PDFInfo
- Publication number
- CS240177B1 CS240177B1 CS837938A CS793883A CS240177B1 CS 240177 B1 CS240177 B1 CS 240177B1 CS 837938 A CS837938 A CS 837938A CS 793883 A CS793883 A CS 793883A CS 240177 B1 CS240177 B1 CS 240177B1
- Authority
- CS
- Czechoslovakia
- Prior art keywords
- transistor
- output
- saturation state
- determining
- collector
- Prior art date
Links
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
Očelem způsobu je zlepšení současného stavu diagnostiky výměnných elektronických jednotek osazených tranzistory a diskrétními součástkami. Uvedeného stavu se dosáhne tím, že na bázi tranzistoru, na jehož kolektoru je minimální napětí nutné k uvedeni tranzistoru do stavu saturace, přivádíme proudové tvarové inpulsy o energii nutné pro stav saturace, které uvedou tranzistor do stavu saturace, přičemž kolektorový proud na měřícím odporu vytvoří tvarové impulsy, charakterizující vadný tranzistor. Emitor tranzistoru je připojen na zemnici hrot, jehož vývod je spojen se zemi, na bázi tranzistoru je připojen budící hrot, jehož vývod je spojen s generátorem budicího impulsu, na kolektor tranzistoru je připojen snímací hrot, jehož vývod je přiveden jednak přes měřici odpor na výstup zdroje minimálního napětí, jednak na vstup vyhodnocovacího obvodu, jehož výstup je připojen na vstup obvodu signalizace. Tento způsob stanovení vadného tranzistoru je určen pro širokou oblast diagnostiky elektronických jednotek osazených tranzistory a diskrétními součástkami.
Description
Způsob stanovení vadného tranzistoru zapojeného libovolným způsobem na elektrické jednotce pomocí sondy měřící saturaěni stav tranzistorů
Očelem způsobu je zlepšení současného stavu diagnostiky výměnných elektronických jednotek osazených tranzistory a diskrétními součástkami. Uvedeného stavu se dosáhne tím, že na bázi tranzistoru, na jehož kolektoru je minimální napětí nutné k uvedeni tranzistoru do stavu saturace, přivádíme proudové tvarové inpulsy o energii nutné pro stav saturace, které uvedou tranzistor do stavu saturace, přičemž kolektorový proud na měřícím odporu vytvoří tvarové impulsy, charakterizující vadný tranzistor. Emitor tranzistoru je připojen na zemnici hrot, jehož vývod je spojen se zemi, na bázi tranzistoru je připojen budící hrot, jehož vývod je spojen s generátorem budicího impulsu, na kolektor tranzistoru je připojen snímací hrot, jehož vývod je přiveden jednak přes měřici odpor na výstup zdroje minimálního napětí, jednak na vstup vyhodnocovacího obvodu, jehož výstup je připojen na vstup obvodu signalizace. Tento způsob stanovení vadného tranzistoru je určen pro širokou oblast diagnostiky elektronických jednotek osazených tranzistory a diskrétními součástkami.
240 177
240 177
Vynález řeší způsob stanovení vadného tranzistoru zanořeného libovolným způsobem na elektronické jednotce pomocí sondy měřící saturační stav tranzistoru.
Dosud známé metody zjišťováni vadných tranzistorů neumožňují účinně měřit a stanovit vadný tranzistor zapojený libovolným způsobem na elektronické jednotce. Zjišťováni vadných tranzistorů se provádí složitým proměřováním napětí a proudů obvodů, ve kterých je tranzistor zapojen nebo mimo obvody, přičemž je nutné tranzistory odpájet.
Uvedené nedostatky jsou odstraněny způsobem stanovení vadného tranzistoru zapojeného libovolným způsobem na elektronické jednotce pomocí sondy měřící saturační stav tranzistoru. Podstata vynálezu zpočívá v tom, že na bázi tranzistoru, na jehož kolektoru je minimální napětí nutné k uvedení tranzistoru do stavu saturace, přivádíme proudové tvarové impulsy o energii nutné pro stav saturace, které uvedou tranzistor do stavu saturace, přičemž kolektorový proud na měřícím odporu vytvoří tvarové impulsy, charakterizující vadný tranzistor.
Hlavní výhody metody zjišťováni vadného tranzistoru zapojeného libovolným způsobem na elektronické jednotce, podle tohoto vynálezu spočívají v tom, že metoda šetří čas potřebný k odstranění závady oproti jiným metodám. Lze jí odstranit na libovolném sortimentu elektronických jednotek složité závady způsobené vadnými tranzistory. Pro zjišťováni závad není £utná přesná znalost signálů v obvodech, proto metodou mohou pracovat i méně kvalifikovaní pracovníci. Zjišťování vadných tranzistorů se provádí mimo zařízení a tím jsou vytvořeny podmínky pro úsporu strojového času zařízení.
240 177
Na výkresu je značen příklad zapojení pro stanovení vadného tranzistoru zapojeného libovolným způsobem na elektronické jednotce podle tohoto vynálezu tvořící diagnostickou sondu pro pro měření saturačního stavu tranzistoru.
Na emitor tranzistoru 1 je připojen zemnící hrot 2, jehož vývod je spojen se zemi 3> na bázi tranzistoru J. je připojen budící hrot 4, jehož vývod je spojen s generátorem 2 budícího impulsu, na kolektor tranzistoru 1 je připojen snímací hrot 6, jehož vývod je přiveden jednak přes měřící odpor 7 na výstup zdroje 8 minimálního napětí, jednak na vstup vyhodnocovacího obvodu 9, jehož výstup je připojen na vstup obvodu 10 signalizace.
Měřený tranzistor 1 je zapojený libovolným způsobem na elektronické desce osazené libovolnými diskrétními součástkami. Ve zdroji 8 minimálního napětí vzniká napětí nutné pro uvedení tranzistoru 1 do stavu saturace a toto napětí se přivádí přes měřící odpor 2 na kolektor tranzistoru JL. V generátoru 2 budícího impulsu se vyrábí proudový tvarový impuls o energii nutné pro stav saturace a tento impuls sa přivádí na bázi tranzistoru JL, přičemž kolektorový proud na měřícím odporu 7 vytvoří tvarový impuls, který je přiveden na vstup vyhodnocovacího obvodu 2> ^de je vyhodnocen a přeměněn na tvarový signál, jenž je přiveden na vstup obvodu 10 signalizace, který signalizuje stav tranzistoru JL.
Další možností použití je u servisních odvětví v hlučném prostředí při použití smíšené zvukové a optické signalizace.
Claims (2)
1.
240 177
Způsob stanovení vadného tranzistoru zapojeného libovolným způsobem na elektronické jednotce pomocí sondy měřící saturační stav tranzistor cí se tím, že na bázi tranzistoru, na jehož kolektoru je minimální napětí nutné k uvedení tranzistoru do stavu saturace, přivádíme proudové tvarové impulsy o energii nutné pro stav saturace, které uvedou tranzistor do stavu saturace, přičemž kolektorový proud na měřícím odporu vytvoří tvarové impulsy,, charakterizující vydný tranzistor.
2. Zapojení pro stanovení vadného tranzistoru zapojeného libovolným způsobem na elektronické jednotce podle bodu 1χ vyznačující se tím, že na emitor tranzistoru /1/ je připojen zemnící hrot /2/, jehož vývod je spojen se zemi /3/, na bázi tranzistoru /1/ je připojen budící hrot /4/, jehož vývod je spojen s generátorem /5/ budícího impulsu, na kolektor tranzistoru /1/ je připojen snímací hrot /6/, jehož vývod je přiveden jednak přes měřící odpor /7/ na výstup zdroje /8/ minimálního napětí, jednak na vstup vyhodnocovacího obvodu /9/, jehož výstup je připojen na vstup obvodu /10/ signalizace.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS837938A CS240177B1 (cs) | 1983-10-27 | 1983-10-27 | Způsob stanovení vadného tranzistoru zapojeného libovolným způsobem na elektrické jednotce pomocí sondy měřící saturaěni stav tranzistorů |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS837938A CS240177B1 (cs) | 1983-10-27 | 1983-10-27 | Způsob stanovení vadného tranzistoru zapojeného libovolným způsobem na elektrické jednotce pomocí sondy měřící saturaěni stav tranzistorů |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CS793883A1 CS793883A1 (en) | 1985-06-13 |
| CS240177B1 true CS240177B1 (cs) | 1986-02-13 |
Family
ID=5429367
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CS837938A CS240177B1 (cs) | 1983-10-27 | 1983-10-27 | Způsob stanovení vadného tranzistoru zapojeného libovolným způsobem na elektrické jednotce pomocí sondy měřící saturaěni stav tranzistorů |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CS (1) | CS240177B1 (cs) |
-
1983
- 1983-10-27 CS CS837938A patent/CS240177B1/cs unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CS793883A1 (en) | 1985-06-13 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR100249252B1 (ko) | Cmos 집적회로의 고장 검출 시스템 | |
| CS240177B1 (cs) | Způsob stanovení vadného tranzistoru zapojeného libovolným způsobem na elektrické jednotce pomocí sondy měřící saturaěni stav tranzistorů | |
| JPS62187258A (ja) | 回路板の検査方法 | |
| JPS6114352B2 (cs) | ||
| RU226679U1 (ru) | Локализатор неисправностей | |
| JPH0411180Y2 (cs) | ||
| JP3469369B2 (ja) | 電気計測器 | |
| CN214335172U (zh) | 一种汽车转向机ecu漏电测试装置 | |
| CN2548159Y (zh) | 钢管涡流探伤剩磁自动测量装置 | |
| JPH0580093A (ja) | 電子回路のインピーダンス検査装置 | |
| JPH0654338B2 (ja) | 多層プリント配線基板のショート位置検出装置 | |
| JPH0697254B2 (ja) | 回路基板検査方法 | |
| KR970016607A (ko) | 반도체 집적회로의 특성 테스트 장치 및 그 방법 | |
| JP2002057454A (ja) | 集積回路の接合状態判定方法、及び集積回路の接合状態検査装置 | |
| JPS6421375A (en) | In-circuit testing apparatus | |
| GB2253286A (en) | Testing apparatus for timing devices | |
| CS235724B1 (cs) | Způsob stanovení závady vadné jednotky osazené integrovanými obvody TTL nízké nebo střední hustoty integrace pomocí sondy měřící impedanci | |
| JPH07113850A (ja) | 半導体集積回路 | |
| SU1170376A1 (ru) | Устройство дл измерени нестабильности сопротивлени электрических контактов | |
| JPH0219778A (ja) | 高周波混成集積回路検査治具 | |
| RU2307367C1 (ru) | Вспомогательный блок для индикации контакта измерительного прибора с проверяемым объектом | |
| SU543993A1 (ru) | Устройство дл контрол надежности проволочных резисторов | |
| JPH01100474A (ja) | 回路基板検査装置 | |
| KR0168066B1 (ko) | 인쇄배선판용 동작검사시스템의 방전장치 | |
| JPH07151822A (ja) | ポゴピン圧力チェック機能付きテストボード |