CS221496B1 - Způsob výroby tenkých vrstev nitridu křemíku - Google Patents
Způsob výroby tenkých vrstev nitridu křemíku Download PDFInfo
- Publication number
- CS221496B1 CS221496B1 CS178482A CS178482A CS221496B1 CS 221496 B1 CS221496 B1 CS 221496B1 CS 178482 A CS178482 A CS 178482A CS 178482 A CS178482 A CS 178482A CS 221496 B1 CS221496 B1 CS 221496B1
- Authority
- CS
- Czechoslovakia
- Prior art keywords
- silicon nitride
- thin layers
- sihcl
- making
- solid
- Prior art date
Links
Landscapes
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
Vynález se týká způsobu výroby tenkých vrstev nitridu křemíku chemickou depozicí z plynné fáze za sníženého tlaku na povrchu pevných těles. Nitrid křemíku vzniká reakcí plynného trlchlorsilanu SiHCh s plynným amoniakem NH3 při teplotách pevných těles 20 až 900 °C, objemovém poměru NH3/ /SÍHCI3 > 1 a celkovém tlaku 1 až 200 Pa. Vynález lze využít při výrobě integrovaných obvodů v pevné fázi.
Description
Vynález se týká způsobu výroby tenkých vrstev nitridu křemíku na povrchu pevných těles.
Pro výrobu tenkých vrstev nitridu křemíku chemickou depozicí z plynné fáze na povrchu pevných těles, například na křemíku, existuje řada metod. Výběr metody depozice pro danou aplikaci je dán především požadavkem kvality tenké vrstvy a teploty jejího vzniku. Jednou z používaných metod výroby tenkých vrstev nitridu křemíku chemickou depozicí z plynné fáze za sníženého tlaku je reakce dichlorsilanu S1H2CI2 s amoniakem NH3, která probíhá při tlaku 20 až 100 Pa a teplotě 700i — 900 °C.
Tato metoda má značnou nevýhodu v tom, že výchozí materiá| dichlorsilan SÍH2CI2 je drahý, obtížně dostupný a požárně značně nebezpečný. Bod ξ vznícení dichlorsilanu SÍH2CI2 je 100 °C.
Uvedené nevýhody odstraňuje způsob výroby tenkých vrstev nitridu křemíku chemickou depozici, z plynné fáze za sníženého tlaku na povrchu pevných těles, jehož podstata spočívá v tom, že nitrid křemíku vzniká reakcí plynného trichlorsilanu SiHCb s plynným amoniakem NH3 při teplotách pevnýchtěles 20 až900 °C, tlaku 1 až 200 Pa a objemovém poměru NH3/SÍHCI3 > Ϊ. Jestliže je teplota povrchu pevného tělesa nižší než 700 °C, musí být reagujícímu systému dodávána ještě jiná energie než tepelná.
Způsob výroby tenkých vrstev nitridu křemíku podle vynálezu odstraňuje nevýhody použití dichlorsilanu SÍH2CI2 tím, že jako výchozí surovinu používá trlchlorsilan SiHCb, který je podstatně levnější, dostupnější a požárně méně nebezpečný než dichlorsilan SÍH2CI2. Bod vznícení trichlorsilanu SiHCb je 230 °C. Další výhodou použití trichlorsilanu SiHCb je, že tato surovina, běžně používaná pro výrobu polykrystalického křemíku pro polovodiče, má podstatně nižší obsah elektricky aktivních nečistot ve srovnání s nejčistším dostupným dichlorsilanem SÍH2CI2. Tato výhoda se uplatní zejména při depozici vrstev nitridu křemíku na polovodičové substráty, kde se vyžaduje co nejvyšší čistota tenkých vrstev.
Přiklad
Příklad využití vynálezu lze uvést při depozici tenkých vrstev nitridu křemíku na křemíkové destičky ve výrobě integrovaných obvodů v pevné fázi. Křemíkové destičky jsou uloženy kolmo ve vzájemné vzdálenosti 5 mm ve vodorovném křemenném reaktoru odporově zevně vytápěném, umožňujícím pracovat za sníženého tlaku. Reaktorem proudí plynná směs složená z trichlorsilanu SiHCb a .amoniaku NH3 o objemovém poměru NH3/SiHCb=5 při průtoku par trichlorsilanu SiHCb 20 cm3/min. Tenze par trichlorsilanu při pokojové teplotě je dostatečná pro měření a regulaci uvedeného průtoku hmotovým regulátorem průtoku plynů. Celkový tlak v reaktoru při depozici je 40 Pa, teplota povrchu křemíkových destiček je 800 °C. Za těchto podmínek je rychlost depozice vrstvy nitridu křemíku 6,7 nm/min. Typický rozptyl tloušťky vrstvy nitridu křemíku na křemíkové destičce o průměru 63,5 milimetru je ± 1 % a mezi několika desítkami křemíkových destiček ve várce ± 3 proč. Typický index lomu vrstvy nitridu křemíku je 1,995 pro λ = 632,8 nm.
Claims (2)
1. Způsob výroby tenkých vrstev nitridu křemíku chemickou depozicí z plynné fáze za sníženého tlaku na povrchu pevných těles, vyznačený tím, že nitrid křemíku vzniká reakcí plynného trichlorsilanu SiHCb a plynného amoniaku NH3 při teplotách pevných těles 20 až 900 °C, objemovém poměru vynalezu
NH3/SÍHCI3 > 1 a celkovém tlaku 1 až 200 Pa.
2. Způsob podle bodu 1 vyznačený tím, že při teplotách pevných těles nižších než 700 CC se reakčnímu systému dodává ještě jiná energie než tepelná.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CS178482A CS221496B1 (cs) | 1982-03-15 | 1982-03-15 | Způsob výroby tenkých vrstev nitridu křemíku |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CS178482A CS221496B1 (cs) | 1982-03-15 | 1982-03-15 | Způsob výroby tenkých vrstev nitridu křemíku |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CS221496B1 true CS221496B1 (cs) | 1983-04-29 |
Family
ID=5353103
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CS178482A CS221496B1 (cs) | 1982-03-15 | 1982-03-15 | Způsob výroby tenkých vrstev nitridu křemíku |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CS (1) | CS221496B1 (cs) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CZ305576B6 (cs) * | 2014-09-25 | 2015-12-16 | Univerzita Karlova v Praze Matematicko- fyzikální fakulta Fyzikální ústav | Způsob a zařízení pro přípravu mikroporézních vrstev nitridu křemíku v křemenných ampulích |
-
1982
- 1982-03-15 CS CS178482A patent/CS221496B1/cs unknown
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CZ305576B6 (cs) * | 2014-09-25 | 2015-12-16 | Univerzita Karlova v Praze Matematicko- fyzikální fakulta Fyzikální ústav | Způsob a zařízení pro přípravu mikroporézních vrstev nitridu křemíku v křemenných ampulích |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100323628B1 (ko) | 비스(t-부틸아미노)실란을 사용하여 이산화규소 및 옥시질화규소를 침착시키는 방법 | |
KR101042133B1 (ko) | 열화학 증착에 의한 질화규소막 및 옥시질화규소막의 제조방법 | |
JP2637265B2 (ja) | 窒化珪素膜の形成方法 | |
KR960011015B1 (ko) | 유기디실란 소오스를 사용하여 저압 화학적 증착에 의해 100°c 정도의 저온에서 이산화규소막을 증착하는 방법 | |
US4608271A (en) | Method for the manufacture of metal silicide layers by means of reduced pressure gas phase deposition | |
US4279947A (en) | Deposition of silicon nitride | |
EP0417202B1 (en) | Process for thermally depositing silicon nitride and silicon dioxide films onto a substrate | |
JPH02170974A (ja) | 酸化ケイ素膜の低温cvd法 | |
US4501769A (en) | Method for selective deposition of layer structures consisting of silicides of HMP metals on silicon substrates and products so-formed | |
US4217375A (en) | Deposition of doped silicon oxide films | |
US4781945A (en) | Process for the formation of phosphosilicate glass coating | |
US3476640A (en) | Smooth surfaced polycrystals | |
US3853974A (en) | Method of producing a hollow body of semiconductor material | |
US4910163A (en) | Method for low temperature growth of silicon epitaxial layers using chemical vapor deposition system | |
US3503798A (en) | Silicon nitride film deposition method | |
Regolini et al. | Silicon selective epitaxial growth at reduced pressure and temperature | |
US4137108A (en) | Process for producing a semiconductor device by vapor growth of single crystal Al2 O3 | |
JP2000073171A (ja) | 化学蒸着法多層SiC膜の製造方法 | |
CS221496B1 (cs) | Způsob výroby tenkých vrstev nitridu křemíku | |
JPH05254808A (ja) | 窒化ほう素の作製方法 | |
EP0334791A1 (en) | Process for the preparation of silicon nitride | |
Papasouliotis et al. | Steady‐State Multiplicity Phenomena in the Deposition of Silicon Carbide | |
EP0240314B1 (en) | Method for forming deposited film | |
CS221497B1 (cs) | Způsob výroby tenkých vrstev kysličníku křemičitého | |
JPH10189582A (ja) | シリコン系絶縁膜の製造方法 |