CS221496B1 - Způsob výroby tenkých vrstev nitridu křemíku - Google Patents

Způsob výroby tenkých vrstev nitridu křemíku Download PDF

Info

Publication number
CS221496B1
CS221496B1 CS178482A CS178482A CS221496B1 CS 221496 B1 CS221496 B1 CS 221496B1 CS 178482 A CS178482 A CS 178482A CS 178482 A CS178482 A CS 178482A CS 221496 B1 CS221496 B1 CS 221496B1
Authority
CS
Czechoslovakia
Prior art keywords
silicon nitride
thin layers
sihcl
making
solid
Prior art date
Application number
CS178482A
Other languages
English (en)
Inventor
Jaromir Valicek
Milan Prejda
Original Assignee
Jaromir Valicek
Milan Prejda
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jaromir Valicek, Milan Prejda filed Critical Jaromir Valicek
Priority to CS178482A priority Critical patent/CS221496B1/cs
Publication of CS221496B1 publication Critical patent/CS221496B1/cs

Links

Landscapes

  • Chemical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

Vynález se týká způsobu výroby tenkých vrstev nitridu křemíku chemickou depozicí z plynné fáze za sníženého tlaku na povrchu pevných těles. Nitrid křemíku vzniká reakcí plynného trlchlorsilanu SiHCh s plynným amoniakem NH3 při teplotách pevných těles 20 až 900 °C, objemovém poměru NH3/ /SÍHCI3 > 1 a celkovém tlaku 1 až 200 Pa. Vynález lze využít při výrobě integrovaných obvodů v pevné fázi.

Description

Vynález se týká způsobu výroby tenkých vrstev nitridu křemíku na povrchu pevných těles.
Pro výrobu tenkých vrstev nitridu křemíku chemickou depozicí z plynné fáze na povrchu pevných těles, například na křemíku, existuje řada metod. Výběr metody depozice pro danou aplikaci je dán především požadavkem kvality tenké vrstvy a teploty jejího vzniku. Jednou z používaných metod výroby tenkých vrstev nitridu křemíku chemickou depozicí z plynné fáze za sníženého tlaku je reakce dichlorsilanu S1H2CI2 s amoniakem NH3, která probíhá při tlaku 20 až 100 Pa a teplotě 700i — 900 °C.
Tato metoda má značnou nevýhodu v tom, že výchozí materiá| dichlorsilan SÍH2CI2 je drahý, obtížně dostupný a požárně značně nebezpečný. Bod ξ vznícení dichlorsilanu SÍH2CI2 je 100 °C.
Uvedené nevýhody odstraňuje způsob výroby tenkých vrstev nitridu křemíku chemickou depozici, z plynné fáze za sníženého tlaku na povrchu pevných těles, jehož podstata spočívá v tom, že nitrid křemíku vzniká reakcí plynného trichlorsilanu SiHCb s plynným amoniakem NH3 při teplotách pevnýchtěles 20 až900 °C, tlaku 1 až 200 Pa a objemovém poměru NH3/SÍHCI3 > Ϊ. Jestliže je teplota povrchu pevného tělesa nižší než 700 °C, musí být reagujícímu systému dodávána ještě jiná energie než tepelná.
Způsob výroby tenkých vrstev nitridu křemíku podle vynálezu odstraňuje nevýhody použití dichlorsilanu SÍH2CI2 tím, že jako výchozí surovinu používá trlchlorsilan SiHCb, který je podstatně levnější, dostupnější a požárně méně nebezpečný než dichlorsilan SÍH2CI2. Bod vznícení trichlorsilanu SiHCb je 230 °C. Další výhodou použití trichlorsilanu SiHCb je, že tato surovina, běžně používaná pro výrobu polykrystalického křemíku pro polovodiče, má podstatně nižší obsah elektricky aktivních nečistot ve srovnání s nejčistším dostupným dichlorsilanem SÍH2CI2. Tato výhoda se uplatní zejména při depozici vrstev nitridu křemíku na polovodičové substráty, kde se vyžaduje co nejvyšší čistota tenkých vrstev.
Přiklad
Příklad využití vynálezu lze uvést při depozici tenkých vrstev nitridu křemíku na křemíkové destičky ve výrobě integrovaných obvodů v pevné fázi. Křemíkové destičky jsou uloženy kolmo ve vzájemné vzdálenosti 5 mm ve vodorovném křemenném reaktoru odporově zevně vytápěném, umožňujícím pracovat za sníženého tlaku. Reaktorem proudí plynná směs složená z trichlorsilanu SiHCb a .amoniaku NH3 o objemovém poměru NH3/SiHCb=5 při průtoku par trichlorsilanu SiHCb 20 cm3/min. Tenze par trichlorsilanu při pokojové teplotě je dostatečná pro měření a regulaci uvedeného průtoku hmotovým regulátorem průtoku plynů. Celkový tlak v reaktoru při depozici je 40 Pa, teplota povrchu křemíkových destiček je 800 °C. Za těchto podmínek je rychlost depozice vrstvy nitridu křemíku 6,7 nm/min. Typický rozptyl tloušťky vrstvy nitridu křemíku na křemíkové destičce o průměru 63,5 milimetru je ± 1 % a mezi několika desítkami křemíkových destiček ve várce ± 3 proč. Typický index lomu vrstvy nitridu křemíku je 1,995 pro λ = 632,8 nm.

Claims (2)

1. Způsob výroby tenkých vrstev nitridu křemíku chemickou depozicí z plynné fáze za sníženého tlaku na povrchu pevných těles, vyznačený tím, že nitrid křemíku vzniká reakcí plynného trichlorsilanu SiHCb a plynného amoniaku NH3 při teplotách pevných těles 20 až 900 °C, objemovém poměru vynalezu
NH3/SÍHCI3 > 1 a celkovém tlaku 1 až 200 Pa.
2. Způsob podle bodu 1 vyznačený tím, že při teplotách pevných těles nižších než 700 CC se reakčnímu systému dodává ještě jiná energie než tepelná.
CS178482A 1982-03-15 1982-03-15 Způsob výroby tenkých vrstev nitridu křemíku CS221496B1 (cs)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS178482A CS221496B1 (cs) 1982-03-15 1982-03-15 Způsob výroby tenkých vrstev nitridu křemíku

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS178482A CS221496B1 (cs) 1982-03-15 1982-03-15 Způsob výroby tenkých vrstev nitridu křemíku

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CS221496B1 true CS221496B1 (cs) 1983-04-29

Family

ID=5353103

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CS178482A CS221496B1 (cs) 1982-03-15 1982-03-15 Způsob výroby tenkých vrstev nitridu křemíku

Country Status (1)

Country Link
CS (1) CS221496B1 (cs)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CZ305576B6 (cs) * 2014-09-25 2015-12-16 Univerzita Karlova v Praze Matematicko- fyzikální fakulta Fyzikální ústav Způsob a zařízení pro přípravu mikroporézních vrstev nitridu křemíku v křemenných ampulích

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CZ305576B6 (cs) * 2014-09-25 2015-12-16 Univerzita Karlova v Praze Matematicko- fyzikální fakulta Fyzikální ústav Způsob a zařízení pro přípravu mikroporézních vrstev nitridu křemíku v křemenných ampulích

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100323628B1 (ko) 비스(t-부틸아미노)실란을 사용하여 이산화규소 및 옥시질화규소를 침착시키는 방법
KR101042133B1 (ko) 열화학 증착에 의한 질화규소막 및 옥시질화규소막의 제조방법
JP2637265B2 (ja) 窒化珪素膜の形成方法
KR960011015B1 (ko) 유기디실란 소오스를 사용하여 저압 화학적 증착에 의해 100°c 정도의 저온에서 이산화규소막을 증착하는 방법
US4608271A (en) Method for the manufacture of metal silicide layers by means of reduced pressure gas phase deposition
US4279947A (en) Deposition of silicon nitride
EP0417202B1 (en) Process for thermally depositing silicon nitride and silicon dioxide films onto a substrate
JPH02170974A (ja) 酸化ケイ素膜の低温cvd法
US4501769A (en) Method for selective deposition of layer structures consisting of silicides of HMP metals on silicon substrates and products so-formed
US4217375A (en) Deposition of doped silicon oxide films
US4781945A (en) Process for the formation of phosphosilicate glass coating
US3476640A (en) Smooth surfaced polycrystals
US3853974A (en) Method of producing a hollow body of semiconductor material
US4910163A (en) Method for low temperature growth of silicon epitaxial layers using chemical vapor deposition system
US3503798A (en) Silicon nitride film deposition method
Regolini et al. Silicon selective epitaxial growth at reduced pressure and temperature
US4137108A (en) Process for producing a semiconductor device by vapor growth of single crystal Al2 O3
JP2000073171A (ja) 化学蒸着法多層SiC膜の製造方法
CS221496B1 (cs) Způsob výroby tenkých vrstev nitridu křemíku
JPH05254808A (ja) 窒化ほう素の作製方法
EP0334791A1 (en) Process for the preparation of silicon nitride
Papasouliotis et al. Steady‐State Multiplicity Phenomena in the Deposition of Silicon Carbide
EP0240314B1 (en) Method for forming deposited film
CS221497B1 (cs) Způsob výroby tenkých vrstev kysličníku křemičitého
JPH10189582A (ja) シリコン系絶縁膜の製造方法