CN221100856U - 一种芯片检测的辅助工装 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种芯片检测的辅助工装,包括收纳盒和装载机构,所述收纳盒中部开设有收纳仓,所述装载机构设置于收纳仓内部,所述装载机构包括装载板,所述装载板两端分别与收纳仓内壁两侧转动连接,所述装载板表面开设有安装槽,所述安装槽底部固定连接有托举边框,所述安装槽内壁两侧均固定连接有弹性限位块,所述安装槽顶部两侧均开设有凹槽,所述收纳盒一侧开设有一号机仓,所述一号机仓内部安装有一号电机,所述装载板一端延伸至一号机仓内部并与一号电机通过锥齿轮传动连接。本实用新型通过装载机构对芯片进行支撑和限位,通过电机驱使装载机构进行翻转,可对芯片进行双面切换,方便对芯片进行全面检测。
Description
技术领域
本实用新型涉及芯片检测技术领域,具体涉及一种芯片检测的辅助工装。
背景技术
芯片是半导体元件产品的统称,它实际上是将电路制造在半导体芯片上的微型电子器件。芯片是现代电子设备的核心组成部分,其性能和可靠性对于设备的正常运行至关重要。在生产、测试和维修过程中,芯片都可能受到污染,这可能对其性能和可靠性产生负面影响。因此,避免芯片被污染是至关重要的。在芯片的制造和测试过程中,辅助工装的应用对于避免芯片被污染具有重要意义。这些工装通常用于承载、保护和处理芯片,以确保其不受环境中的污染物影响。
现有的一些辅助工装在对芯片进行固定后,仅能够让芯片的一面显露出来用于检测,无法对芯片进行双面切换,不方便对芯片进行全面检测。
例如公告号为CN219039167U公开的一种用于芯片检测的辅助工装,该专利通过容置槽对芯片的定位,取代了采用胶粘的定位方式,避免反复取放导致芯片出现的污染和损伤,且芯片同步第二主体的移动,保持芯片在检测过程中不需要进行二次操作,进一步避免芯片被污染或者操作损坏,第二主体的移动速度可以根据芯片的检测速度进行对应匹配,提高检测效率,提高生产节拍。
但该专利的辅助工装对芯片进行固定后,仅能够让芯片的一面显露出来用于检测,无法对芯片进行双面切换,不方便对芯片进行全面检测。
因此,发明一种芯片检测的辅助工装来解决上述问题很有必要。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种芯片检测的辅助工装,以解决技术中现有的一些辅助工装在对芯片进行固定后,仅能够让芯片的一面显露出来用于检测,无法对芯片进行双面切换,不方便对芯片进行全面检测的问题。
为了实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种芯片检测的辅助工装,包括收纳盒和装载机构,所述收纳盒中部开设有收纳仓,所述装载机构设置于收纳仓内部,所述装载机构包括装载板,所述装载板两端分别与收纳仓内壁两侧转动连接,所述装载板表面开设有安装槽,所述安装槽底部固定连接有托举边框,所述安装槽内壁两侧均固定连接有弹性限位块,所述安装槽顶部两侧均开设有凹槽,所述收纳盒一侧开设有一号机仓,所述一号机仓内部安装有一号电机,所述装载板一端延伸至一号机仓内部并与一号电机通过锥齿轮传动连接。
凹槽的设置能够为镊子腾出空间,方便通过镊子夹取芯片放入安装槽内。
优选的,所述收纳仓内部还转动连接有另一个相同的装载机构,两个所述装载机构关于收纳仓上下对称设置,两个所述装载机构之间的间距大于装载板宽度的一半。
其中一个装载机构处于水平状态时,另一个装载机构进行翻转不会发生碰撞。
优选的,所述收纳盒另一侧开设有二号机仓,所述二号机仓内部安装有二号电机,另一个所述装载机构的装载板一端延伸至二号机仓内部并与二号电机通过锥齿轮传动连接。
通过二号电机和锥齿轮传动可带动另一个装载机构进行翻转。
优选的,所述收纳仓为上下双开口式设计,所述收纳仓顶部和底部均安装有一号封顶盖板。
打开任意的一号封顶盖板可使得对应的装载机构和其上的芯片暴露出来,方便进行检测。
优选的,所述一号机仓顶部为开口式设计,所述二号机仓底部为开口式设计,所述一号机仓顶部和二号机仓底部均安装有二号封顶盖板。
打开二号封顶盖板方便对一号电机和二号电机进行检修和维护。
优选的,所述安装槽数量设为多个,多个所述安装槽呈直线阵列分布。
一个装载板上设置有多个安装槽,使得装载机构能够批量装载芯片。
优选的,所述托举边框由透明亚克力板制成,所述弹性限位块由橡胶材料制成。
亚克力材质的托举边框具有高透明度,在装载机构翻转后方便透过托举边框对芯片的另一面进行检测,借助两个橡胶材质的弹性限位块能够对芯片两端进行抵紧限位。
优选的,所述收纳盒、一号封顶盖板和二号封顶盖板内部均埋设有磁块,所述一号封顶盖板和二号封顶盖板均通过磁性吸附盖合于收纳盒表面。
通过磁性吸附对一号封顶盖板和二号封顶盖板进行固定,方便对一号封顶盖板和二号封顶盖板进行开合操作。
在上述技术方案中,本实用新型提供的技术效果和优点:
1.通过装载机构对芯片进行支撑和限位,通过电机驱使装载机构进行翻转,可对芯片进行双面切换,方便对芯片进行全面检测;
2.通过设置上下对称的两个装载机构,能够同时在收纳盒内部存放两组芯片,方便对芯片进行批量化存储和检测。
附图说明
图1为本实用新型一号封顶盖板和二号封顶盖板未打开时的整体结构示意图;
图2为本实用新型一号封顶盖板和二号封顶盖板打开时的整体结构示意图;
图3为本实用新型收纳盒的结构剖视图;
图4为本实用新型装载机构的顶部结构示意图;
图5为本实用新型装载机构的底部结构示意图。
附图标记说明:
1、收纳盒;2、装载机构;3、收纳仓;4、装载板;5、安装槽;6、托举边框;7、弹性限位块;8、凹槽;9、一号机仓;10、一号电机;11、二号机仓;12、二号电机;13、一号封顶盖板;14、二号封顶盖板。
具体实施方式
为了使本领域的技术人员更好地理解本实用新型的技术方案,下面将结合附图对本实用新型作进一步的详细介绍。
本实用新型提供了如图1-5所示的一种芯片检测的辅助工装,包括收纳盒1和装载机构2,收纳盒1中部开设有收纳仓3,装载机构2设置于收纳仓3内部,装载机构2包括装载板4,装载板4两端分别与收纳仓3内壁两侧转动连接,装载板4表面开设有安装槽5,安装槽5底部固定连接有托举边框6,安装槽5内壁两侧均固定连接有弹性限位块7,安装槽5顶部两侧均开设有凹槽8,收纳盒1一侧开设有一号机仓9,一号机仓9内部安装有一号电机10,装载板4一端延伸至一号机仓9内部并与一号电机10通过锥齿轮传动连接。
在本实施例的一个方面中,收纳仓3内部还转动连接有另一个相同的装载机构2,两个装载机构2关于收纳仓3上下对称设置,两个装载机构2之间的间距大于装载板4宽度的一半,收纳盒1另一侧开设有二号机仓11,二号机仓11内部安装有二号电机12,另一个装载机构2的装载板4一端延伸至二号机仓11内部并与二号电机12通过锥齿轮传动连接,收纳仓3为上下双开口式设计,收纳仓3顶部和底部均安装有一号封顶盖板13,一号机仓9顶部为开口式设计,二号机仓11底部为开口式设计,一号机仓9顶部和二号机仓11底部均安装有二号封顶盖板14,安装槽5数量设为多个,多个安装槽5呈直线阵列分布,托举边框6由透明亚克力板制成,弹性限位块7由橡胶材料制成,收纳盒1、一号封顶盖板13和二号封顶盖板14内部均埋设有磁块,一号封顶盖板13和二号封顶盖板14均通过磁性吸附盖合于收纳盒1表面。
本实用新型工作原理:
参照说明书附图1-5,在使用本实用新型时,首先打开收纳盒1顶部的一号封顶盖板13,使得其中一个装载机构2暴露出来,通过镊子将芯片放入装载板4表面的安装槽5内,芯片底部与托举边框6相接触,安装槽5内壁两侧的弹性限位块7对芯片两端进行抵紧,从而将芯片限位固定于安装槽5内部,完成芯片与装载机构2的组装;
之后,将收纳盒1倒置过来,打开原本位于收纳盒1底部的另一个一号封顶盖板13,使得另一个装载机构2暴露出来,采用同样的方式组装另一组芯片;
利用辅助工装对芯片进行检测时,将收纳盒1放置于检测装置处,打开其中一个一号封顶盖板13,使得其中一个装载机构2和其上的芯片暴露出来,先通过检测装置对该组芯片的一面进行检测,之后通过一号电机10和锥齿轮传动来带动装载机构2进行180度翻转,使得该组芯片的另一面暴露出来,方便对该组芯片进行全面检测;
之后,将收纳盒1倒置过来,打开另一个一号封顶盖板13,使得另一个装载机构2和其上的芯片暴露出来,先通过检测装置对该组芯片的一面进行检测,之后通过二号电机12和锥齿轮传动来带动装载机构2进行180度翻转,使得该组芯片的另一面暴露出来,方便对该组芯片进行全面检测。
Claims (8)
1.一种芯片检测的辅助工装,包括收纳盒(1)和装载机构(2),其特征在于:所述收纳盒(1)中部开设有收纳仓(3),所述装载机构(2)设置于收纳仓(3)内部,所述装载机构(2)包括装载板(4),所述装载板(4)两端分别与收纳仓(3)内壁两侧转动连接,所述装载板(4)表面开设有安装槽(5),所述安装槽(5)底部固定连接有托举边框(6),所述安装槽(5)内壁两侧均固定连接有弹性限位块(7),所述安装槽(5)顶部两侧均开设有凹槽(8),所述收纳盒(1)一侧开设有一号机仓(9),所述一号机仓(9)内部安装有一号电机(10),所述装载板(4)一端延伸至一号机仓(9)内部并与一号电机(10)通过锥齿轮传动连接。
2.根据权利要求1所述的一种芯片检测的辅助工装,其特征在于:所述收纳仓(3)内部还转动连接有另一个相同的装载机构(2),两个所述装载机构(2)关于收纳仓(3)上下对称设置,两个所述装载机构(2)之间的间距大于装载板(4)宽度的一半。
3.根据权利要求1所述的一种芯片检测的辅助工装,其特征在于:所述收纳盒(1)另一侧开设有二号机仓(11),所述二号机仓(11)内部安装有二号电机(12),另一个所述装载机构(2)的装载板(4)一端延伸至二号机仓(11)内部并与二号电机(12)通过锥齿轮传动连接。
4.根据权利要求3所述的一种芯片检测的辅助工装,其特征在于:所述收纳仓(3)为上下双开口式设计,所述收纳仓(3)顶部和底部均安装有一号封顶盖板(13)。
5.根据权利要求4所述的一种芯片检测的辅助工装,其特征在于:所述一号机仓(9)顶部为开口式设计,所述二号机仓(11)底部为开口式设计,所述一号机仓(9)顶部和二号机仓(11)底部均安装有二号封顶盖板(14)。
6.根据权利要求1所述的一种芯片检测的辅助工装,其特征在于:所述安装槽(5)数量设为多个,多个所述安装槽(5)呈直线阵列分布。
7.根据权利要求1所述的一种芯片检测的辅助工装,其特征在于:所述托举边框(6)由透明亚克力板制成,所述弹性限位块(7)由橡胶材料制成。
8.根据权利要求5所述的一种芯片检测的辅助工装,其特征在于:所述收纳盒(1)、一号封顶盖板(13)和二号封顶盖板(14)内部均埋设有磁块,所述一号封顶盖板(13)和二号封顶盖板(14)均通过磁性吸附盖合于收纳盒(1)表面。
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