CN221077566U - 一种盘片卡扣测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及电机生产技术领域，提供一种盘片卡扣测试装置，包括：架体以及设置在架体上的按压机构、产品固定治具、激光位移传感器和主机；所述按压机构，包括：升降单元和设置在升降单元上的按压治具；所述按压治具上开设按压孔，所述按压孔的周向具有四个按压弧形结构；所述产品固定治具设置在按压治具下方，用于固定产品；所述光位移传感器设置在按压治具上方，所述光位移传感器与主机信号连接。本实用新型实现四个卡扣同步一次按压，减少设备动作次数，进而减少测试次数，提高测试效率。

Description

一种盘片卡扣测试装置

技术领域

本实用新型涉及电机生产技术领域，尤其涉及一种盘片卡扣测试装置。

背景技术

一些型号电机的转子上，有用来固定盘片的卡扣。由于卡扣存在上下滑动的一个行程，会对盘片的装配产生直接影响，所以需要对卡扣进行测试。

现有技术的卡扣测试装置，通过下治具将电机固定，下治具上方设置按压机构；按压机构每次上下动作按压一个卡扣；按压后通过下治具的旋转，按压机构按压下一个卡扣；通过光纤对射方式来感应卡扣是否按压下去，进而判断卡扣是否合格。现有技术的卡扣测试装置，需要分四次动作对电机的卡扣进行按压，进而判定卡扣动作是否正常，测试时间长、效率低且无法量化导致不良品流出。

另外，按压机构上下动作仅能判定卡扣是否按压下去，无法确定按压的行程数值，动作多能耗大。

实用新型内容

本实用新型主要解决现有技术的卡扣测试装置需要分四次动作对电机的卡扣进行按压，进而判定卡扣动作是否正常，测试时间长、效率低以及需要通过光纤对射方式判定按压动作等技术问题，提出一种盘片卡扣测试装置，实现四个卡扣同步一次按压，减少设备动作次数，进而减少测试次数，提高测试效率。

本实用新型提供了一种盘片卡扣测试装置，包括：架体以及设置在架体上的按压机构、产品固定治具、激光位移传感器和主机；

所述按压机构，包括：升降单元和设置在升降单元上的按压治具；所述按压治具上开设按压孔，所述按压孔的周向具有四个按压弧形结构；

所述产品固定治具设置在按压治具下方，用于固定产品；

所述光位移传感器设置在按压治具上方，所述光位移传感器与主机信号连接。

优选的，所述架体上还设置显示屏，所述显示屏与主机信号连接。

优选的，所述升降单元，包括：伺服电机、滑轨、滑块和丝杆；

所述伺服电机和滑轨分别安装在架体上，所述伺服电机的输出端与丝杆连接；

所述丝杆的螺母与滑块固定；所述滑块与滑轨滑动配合连接；

所述滑块与按压治具连接。

优选的，所述丝杆的螺母通过连接板和滑块固定件与滑块固定；

所述滑块通过滑块连接件与按压治具连接；

所述滑轨的顶部设置配重块。

优选的，所述伺服电机通过电机固定架安装在架体上；

所述伺服电机的输出端通过联轴器与丝杆连接；

所述丝杆通过丝杆固定件穿过架体。

优选的，所述丝杆的两侧分别设置导杆；

所述导杆通过直线轴承穿过架体。

优选的，所述伺服电机与伺服驱动器信号连接，所述伺服驱动器与主机信号连接。

本实用新型提供的一种盘片卡扣测试装置，按压治具具有四个按压弧形结构；四个按压弧形结构与产品的四个卡扣对应，通过四个按压弧形结构实现四个点同步一次按压，减少设备动作次数，进而减少测试次数，提高测试效率。通过光位移传感器采集按压效果图像和卡扣行程数据，并由显示屏进行显示，能够直观体现按压效果，能够有效的检出不良，提升了速度且降低了成本，终达到组装自动化生产要求。卡扣的行程范围数值化体现出来，可按照客户要求进行设定，有效防止不良流出，提升了产品品质。

附图说明

图1是本实用新型提供的盘片卡扣测试装置的结构示意图；

图2是本实用新型提供的按压机构的结构示意图；

图3是本实用新型提供的盘片卡扣测试装置的电机部分的结构示意图；

图4是本实用新型提供的盘片卡扣测试装置的按压效果示意图(主视)；

图5是本实用新型提供的盘片卡扣测试装置的按压效果示意图(侧视)；

图6是本实用新型提供的盘片卡扣测试装置的按压效果示意图(俯视)。

附图标记：1、架体；2、按压机构；3、产品固定治具；4、激光位移传感器；5、主机；6、显示屏；7、产品；8、伺服电机；9、伺服驱动器；10、配重块；11、滑轨；12、滑块；13、滑块连接件；14、按压治具；15、滑块固定件；16、丝杆；17、连接板；18、电机固定架；19、联轴器；20、丝杆固定件；21、导杆；22、直线轴承；23、按压弧形结构。

具体实施方式

为使本实用新型解决的技术问题、采用的技术方案和达到的技术效果更加清楚，下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本实用新型，而非对本实用新型的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本实用新型相关的部分而非全部内容。

如图1所示，本实用新型实施例提供的一种盘片卡扣测试装置，包括：架体1以及设置在架体1上的按压机构2、产品固定治具3、激光位移传感器4和主机5。

如图2和图3所示，所述按压机构2，包括：升降单元和设置在升降单元上的按压治具14；升降单元能够带动按压治具14升降。所述按压治具14上开设按压孔，所述按压孔的周向具有四个按压弧形结构23；四个按压弧形结构23与产品7(电机)的四个卡扣对应，通过四个按压弧形结构23实现四个卡扣同步按压，减少测试次数。

所述产品固定治具3设置在按压治具14下方，用于固定产品7。产品7固定在产品固定治具3，方便按压机构2进行按压。

所述光位移传感器4设置在按压治具14上方，所述光位移传感器4与主机5信号连接。所述架体1上还设置显示屏6，所述显示屏6与主机5信号连接。光位移传感器4采用无接触式扫描形成，能够采集按压过程的效果图像和卡扣的行程数据，并向按压效果图像和卡扣的行程数据发送到主机5，由显示屏6进行显示，能够直观体现按压效果。卡扣的行程范围可通过数值化体现出来，可按照客户要求进行设定，有效防止不良流出，提升了产品品质。

进一步的，所述升降单元，包括：伺服电机8、滑轨11、滑块12和丝杆16；所述伺服电机8和滑轨11分别安装在架体1上，所述伺服电机8的输出端与丝杆16连接；所述丝杆16的螺母与滑块12固定；所述滑块12与滑轨11滑动配合连接；所述滑块12与按压治具14连接。所述丝杆16的螺母通过连接板17和滑块固定件15与滑块12固定；所述滑块12通过滑块连接件13与按压治具14连接；所述滑轨11的顶部设置配重块10。

所述伺服电机8通过电机固定架18安装在架体1上；所述伺服电机8的输出端通过联轴器19与丝杆16连接；所述丝杆16通过丝杆固定件20穿过架体1。所述丝杆16的两侧分别设置导杆21；所述导杆21通过直线轴承22穿过架体1。所述伺服电机8与伺服驱动器9信号连接，所述伺服驱动器9与主机5信号连接。通过主机5和伺服驱动器9控制伺服电机8的工作。

在升降单元中，伺服电机8带动丝杆16旋转，丝杆16的螺母通过连接板17、滑块固定件15带动滑块12沿滑轨11升降，滑块12带动按压治具14升降；按压治具14下降到位实现按压产品卡扣。

本实用新型实施例提供的一种盘片卡扣测试装置的工作过程：产品7固定在产品固定治具3中；升降单元的伺服电机8工作带动按压治具14下降到位，对产品7的四个卡扣进行同步按压，按压效果如图4-6所示；光位移传感器4采集按压效果图像和卡扣行程数据，并向按压效果图像和卡扣行程数据发送到主机5，由显示屏6进行显示，能够直观体现按压效果。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的范围。

Claims (7)

1.一种盘片卡扣测试装置，其特征在于，包括：架体(1)以及设置在架体(1)上的按压机构(2)、产品固定治具(3)、激光位移传感器(4)和主机(5)；

所述按压机构(2)，包括：升降单元和设置在升降单元上的按压治具(14)；所述按压治具(14)上开设按压孔，所述按压孔的周向具有四个按压弧形结构(23)；

所述产品固定治具(3)设置在按压治具(14)下方，用于固定产品(7)；

所述光位移传感器(4)设置在按压治具(14)上方，所述光位移传感器(4)与主机(5)信号连接。

2.根据权利要求1所述的盘片卡扣测试装置，其特征在于，所述架体(1)上还设置显示屏(6)，所述显示屏(6)与主机(5)信号连接。

3.根据权利要求1所述的盘片卡扣测试装置，其特征在于，所述升降单元，包括：伺服电机(8)、滑轨(11)、滑块(12)和丝杆(16)；

所述伺服电机(8)和滑轨(11)分别安装在架体(1)上，所述伺服电机(8)的输出端与丝杆(16)连接；

所述丝杆(16)的螺母与滑块(12)固定；所述滑块(12)与滑轨(11)滑动配合连接；

所述滑块(12)与按压治具(14)连接。

4.根据权利要求3所述的盘片卡扣测试装置，其特征在于，所述丝杆(16)的螺母通过连接板(17)和滑块固定件(15)与滑块(12)固定；

所述滑块(12)通过滑块连接件(13)与按压治具(14)连接；

所述滑轨(11)的顶部设置配重块(10)。

5.根据权利要求3所述的盘片卡扣测试装置，其特征在于，所述伺服电机(8)通过电机固定架(18)安装在架体(1)上；

所述伺服电机(8)的输出端通过联轴器(19)与丝杆(16)连接；

所述丝杆(16)通过丝杆固定件(20)穿过架体(1)。

6.根据权利要求5所述的盘片卡扣测试装置，其特征在于，所述丝杆(16)的两侧分别设置导杆(21)；

所述导杆(21)通过直线轴承(22)穿过架体(1)。

7.根据权利要求3所述的盘片卡扣测试装置，其特征在于，所述伺服电机(8)与伺服驱动器(9)信号连接，所述伺服驱动器(9)与主机(5)信号连接。