CN220691970U - 一种芯片测试分选装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种分选装置，尤其为一种芯片测试分选装置，包括操作台和安装在操作台内进行物体输送的放置机构，所述放置机构包括筒体，所述筒体内固定安装有固定杆，所述筒体与固定杆之间固定安装有螺旋梯，还包括：升降机构，所述升降机构包括丝杆，所述丝杆上滑动安装有固定板，所述丝杆一端固定安装有电机。一种芯片测试分选装置中，通过设置放置机构，从而使合格的芯片通过放置机构中的螺旋梯顶端滑到螺旋梯的底端，从而使合格芯片放入到放置箱内，减少了芯片在放置过程中产生损坏。

Description

一种芯片测试分选装置

技术领域

本实用新型涉及一种分选装置，尤其是一种芯片测试分选装置。

背景技术

电机芯片是集成有CMOS控制电路和DMOS功率器件的芯片，利用它可以与主处理器、电机和增量型编码器构成一个完整的运动控制系统，可以用来驱动直流电机、步进电机和继电器等感性负载。目前，在电机芯片在进行测试中，有部分芯片因其特殊的测试要求无法使用自动化测试设备进行测试，当测试人员在对这类芯片测试时，需要根据测试机测试芯片后显示在屏幕上的测试结果将芯片放置于对应测试结果的集装箱内，在将合格的芯片放进集装箱内的过程往往会对芯片造成损坏。因此本实用新型目的在于提供一种芯片测试分选装置。

实用新型内容

本实用新型的目的是通过提出一种芯片测试分选装置，以解决上述背景技术中提出的缺陷。

本实用新型采用的技术方案如下：

提供一种芯片测试分选装置，包括操作台和安装在操作台内进行物体输送的放置机构，所述放置机构包括筒体，所述筒体内固定安装有固定杆，所述筒体与固定杆之间固定安装有螺旋梯，还包括：

升降机构，所述升降机构包括丝杆，所述丝杆上滑动安装有固定板，所述丝杆一端固定安装有电机。

作为本实用新型的一种优选技术方案：所述操作台顶部一侧的两端开设有凹槽，其中一个所述的凹槽内滑动安装有放置机构。

作为本实用新型的一种优选技术方案：所述其中一个所述的凹槽两侧开设有槽体，所述槽体内转动安装有丝杆，所述其中一个所述的凹槽顶部两侧固定安装有电机，所述丝杆一端转动安装在槽体底部，所述丝杆另一端贯穿槽体顶部与电机输出轴同轴连接。

作为本实用新型的一种优选技术方案：所述筒体外壁两侧固定安装有固定板，所述固定板上表面一端贯穿开设有通孔，所述通孔内固定安装有丝杆螺母，所述丝杆螺母内螺纹安装有丝杆。

作为本实用新型的一种优选技术方案：所述操作台两侧靠近底部贯穿开设与凹槽相通的第一滑槽，所述第一滑槽内滑动安装有放置箱，所述放置箱两侧开设有手握口。

作为本实用新型的一种优选技术方案：所述筒体底部开设有腔体，所述固定杆底端长度高于筒体底端长度。

作为本实用新型的一种优选技术方案：所述筒体外壁一侧上方贯穿开设与腔体相通的第二滑槽，所述螺旋梯顶部一端穿过第二滑槽安装在操作台顶部上，所述螺旋梯两侧固定安装有挡板，所述挡板设置于螺旋梯顶部一端到固定杆之间。

作为本实用新型的一种优选技术方案：所述操作台顶部另一侧一端固定安装有测试口，所述操作台中心处靠近另一侧固定安装有指示灯。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果：

1、一种芯片测试分选装置中，通过设置放置机构，从而使合格的芯片通过放置机构中的螺旋梯顶端滑到螺旋梯的底端，从而使合格芯片放入到放置箱内，减少了芯片在放置过程中产生损坏。

2、一种芯片测试分选装置中，通过设置升降机构，使得放置机构能够进行上下滑动，从而方便拿出和安放放置箱。

附图说明

图1为本实用新型优选实施例中整体的结构示意图；

图2为本实用新型优选实施例中整体剖切的结构示意图；

图3为本实用新型优选实施例中放置机构剖切的结构示意图；

图中各个标记的意义为：

1、操作台；11、凹槽；12、第一滑槽；2、放置机构；21、电机；22、丝杆；23、固定板；24、槽体；25、筒体；26、固定杆；27、第二滑槽；28、挡板；29、螺旋梯；3、指示灯；4、测试口；5、放置箱；51、手握口。

具体实施方式

需要说明的是，在不冲突的情况下，本实施例中的实施例及实施例中的特征可以相互组合，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-图3所示，本实施例目的在于，为了避免合格的芯片在放置过程中产生损坏。鉴于此，提供了一种芯片测试分选装置，包括操作台1和安装在操作台1内进行物体输送的放置机构2，放置机构2包括筒体25，筒体25内固定安装有固定杆26，筒体25与固定杆26之间固定安装有螺旋梯29，螺旋梯29两侧分别固定安装在筒体25内壁上和固定杆26外壁上。筒体25底部开设有腔体，固定杆26位于腔体顶部中心处，固定杆26底端长度高于筒体25底端长度。设置固定杆26底端长度高于筒体25底端长度，螺旋梯29固定在整个固定杆26外壁上，当芯片从螺旋梯29顶部滑到底部时，筒体25不会阻挡芯片滑到放置箱5内。筒体25外壁一侧上方贯穿开设与腔体相通的第二滑槽27，螺旋梯29顶部一端穿过第二滑槽27安装在操作台1顶部上，螺旋梯29两侧固定安装有挡板28，设置挡板28使芯片从螺旋梯29顶部一端滑到筒体25内的螺旋梯29时，芯片不会滑出螺旋梯29外。挡板28设置于螺旋梯29顶部一端到固定杆26之间。当芯片进行检测后，将合格的芯片从螺旋梯29顶部一端处，合格芯片从螺旋梯29顶部一端通过第二滑槽27处滑到筒体25腔体内的螺旋梯29上进行滑动。

操作台1顶部一侧的两端开设有凹槽11，设置凹槽11可以将合格的芯片或不合格的芯片分别通过凹槽11进入到放置箱5。其中一个的凹槽11内滑动安装有放置机构2。

还包括：升降机构，升降机构包括丝杆22，丝杆22上滑动安装有固定板23，丝杆22一端固定安装有电机21。其中一个的凹槽11两侧开设有槽体24，槽体24内转动安装有丝杆22，其中一个的凹槽11顶部两侧固定安装有电机21，丝杆22一端转动安装在槽体24底部，丝杆22另一端贯穿槽体24顶部与电机21输出轴同轴连接。筒体25外壁两侧固定安装有固定板23，固定板23上表面一端贯穿开设有通孔，通孔内固定安装有丝杆螺母，丝杆螺母内螺纹安装有丝杆22。当芯片检测完后或者放置箱5内已经放满芯片时，通过将两个电机21打开进行转动，电机21输出轴与丝杆22另一端同轴连接，故电机21转动带动丝杆22进行转动，筒体25外壁两侧固定安装有固定板23，固定板23一端螺纹安装在丝杆22上，固定板23另一端固定安装在筒体25外壁上，从而丝杆22进行转动时，带动固定板23在丝杆22上进行螺纹往复滑动，故而使放置机构2进行上下升降。

操作台1两侧靠近底部贯穿开设与凹槽11相通的第一滑槽12，第一滑槽12内滑动安装有放置箱5，放置箱5两侧开设有手握口51。当需要将放置箱5拿出来时，将手放在手握口51处，从而使放置箱5从第一滑槽12内向外拉出。

操作台1顶部另一侧一端固定安装有测试口4，设置测试口4用于芯片放进测试口4内进行检测。操作台1中心处靠近另一侧固定安装有指示灯3。指示灯3设置有两个，当合格时，靠近放置合格凹槽11的指示灯3亮起，当不合格时，靠近放置不合格凹槽11的指示灯3亮起。

本实用新型在具体使用时，当芯片进行检测后，将合格的芯片从螺旋梯29顶部一端处，合格芯片从螺旋梯29顶部一端通过第二滑槽27处滑到筒体25腔体内的螺旋梯29上进行滑动，合格芯片从螺旋梯29上端滑到螺旋梯29底端，从而合格芯片滑到位于螺旋梯29下方的放置箱5处，由于合格芯片在螺旋梯29上滑动的过程中会降低其落地的冲击，所以能够避免合格芯片的损坏。当芯片检测完后或者放置箱5内已经放满芯片时，通过将两个电机21打开进行转动，电机21输出轴与丝杆22另一端同轴连接，故电机21转动带动丝杆22进行转动，筒体25外壁两侧固定安装有固定板23，固定板23一端螺纹安装在丝杆22上，固定板23另一端固定安装在筒体25外壁上，从而丝杆22进行转动时，带动固定板23在丝杆22上进行螺纹往复滑动，故而使放置机构2进行上下升降，再将手放在手握口51处，从而使放置箱5从第一滑槽12内向外拉出，而不合格的芯片则直接丢入另一侧的凹槽11内即可。

对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。

此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。

Claims (8)

1.一种芯片测试分选装置，包括操作台(1)和安装在操作台(1)内进行物体输送的放置机构(2)，其特征在于：所述放置机构(2)包括筒体(25)，所述筒体(25)内固定安装有固定杆(26)，所述筒体(25)与固定杆(26)之间固定安装有螺旋梯(29)，还包括：

升降机构，所述升降机构包括丝杆(22)，所述丝杆(22)上滑动安装有固定板(23)，所述丝杆(22)一端固定安装有电机(21)。

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试分选装置，其特征在于：所述操作台(1)顶部一侧的两端开设有凹槽(11)，其中一个所述的凹槽(11)内滑动安装有放置机构(2)。

3.根据权利要求2所述的一种芯片测试分选装置，其特征在于：所述其中一个所述的凹槽(11)两侧开设有槽体(24)，所述槽体(24)内转动安装有丝杆(22)，所述其中一个所述的凹槽(11)顶部两侧固定安装有电机(21)，所述丝杆(22)一端转动安装在槽体(24)底部，所述丝杆(22)另一端贯穿槽体(24)顶部与电机(21)输出轴同轴连接。

4.根据权利要求1所述的一种芯片测试分选装置，其特征在于：所述筒体(25)外壁两侧固定安装有固定板(23)，所述固定板(23)上表面一端贯穿开设有通孔，所述通孔内固定安装有丝杆螺母，所述丝杆螺母内螺纹安装有丝杆(22)。

5.根据权利要求2所述的一种芯片测试分选装置，其特征在于：所述操作台(1)两侧靠近底部贯穿开设与凹槽(11)相通的第一滑槽(12)，所述第一滑槽(12)内滑动安装有放置箱(5)，所述放置箱(5)两侧开设有手握口(51)。

6.根据权利要求2所述的一种芯片测试分选装置，其特征在于：所述筒体(25)底部开设有腔体，所述固定杆(26)位于腔体顶部中心处，所述固定杆(26)底端长度高于筒体(25)底端长度。

7.根据权利要求6所述的一种芯片测试分选装置，其特征在于：所述筒体(25)外壁一侧上方贯穿开设与腔体相通的第二滑槽(27)，所述螺旋梯(29)顶部一端穿过第二滑槽(27)安装在操作台(1)顶部上，所述螺旋梯(29)两侧固定安装有挡板(28)，所述挡板(28)设置于螺旋梯(29)顶部一端到固定杆(26)之间。

8.根据权利要求7所述的一种芯片测试分选装置，其特征在于：所述操作台(1)顶部另一侧一端固定安装有测试口(4)，所述操作台(1)中心处靠近另一侧固定安装有指示灯(3)。