CN220321379U - 一种电磁炉 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了一种电磁炉,包括底座、设于所述底座以承载锅具的面板、及位于所述面板下方的电磁线盘组件和红外测温传感器,所述面板的背面具有凸点,所述面板的背面还具有凸点被磨平的打磨区域,所述红外测温传感器经所述打磨区域接收所述锅具发出的红外线。本申请中打磨区域的凸点被磨平,锅具的红外辐射经打磨区域时,减少了红外线的折射,使尽可能多的红外线被红外测温传感器所接收,提升了红外测温传感器的测温精度和响应速度。
Description
技术领域
本申请属于厨房电器技术领域,具体涉及一种电磁炉。
背景技术
现有的电磁炉,由于对锅具的测温需求,通常需要在电磁炉的线盘组件的中心位置固定一个热敏温度传感器,该热敏温度传感器与电磁炉的面板直接接触,以获取面板的温度,进而通过电磁炉的控制单元计算得出锅具的温度值范围从而调整烹饪程序。然而热敏温度传感器相对于红外温度传感器而言,具有精度低、响应速度慢的劣势,因此,部分电磁炉开始采用红外测温传感器以直接获取锅具的温度,提升测温精度和响应速度。
目前的电磁炉面板大多采用微晶玻璃面板,微晶玻璃面板大多成型有凸点以在生产加工运输过程中增加摩擦力方便辊压。红外测温传感器是通过锅具的红外辐射以对锅具的温度进行测温,当锅具的红外辐射通过面板时,会被面板背部的凸点折射而被耗散,导致红外测温传感器获取的红外辐射失真,降低了检测精度,无法真实反馈锅具的当前温度。
实用新型内容
本申请提供了一种电磁炉,以解决现有的带有凸点的面板使红外测温传感器检测精度降低的问题。
本申请所采用的技术方案为:
一种电磁炉,包括底座、设于所述底座以承载锅具的面板、及位于所述面板下方的电磁线盘组件和红外测温传感器,所述面板的背面具有凸点,所述面板的背面还具有凸点被磨平的打磨区域,所述红外测温传感器经所述打磨区域接收所述锅具发出的红外线。
本申请中的所述电磁炉还具有下述附加技术特征:
所述打磨区域的面积大于所述红外测温传感器的探测角度在所述面板的背面所覆盖的面积。
所述红外测温传感器的探测角度为θ,θ满足:30°≦θ≦120°。
所述打磨区域的横截面呈圆形,其直径为D,D满足:D≧25mm。
所述红外测温传感器位于所述电磁线盘组件的下方,所述电磁线盘组件包括线盘架及绕设于所述线盘架的电磁线圈,所述线盘架设有分别与所述红外测温传感器的红外探头和所述打磨区域正对的导光通道。
所述底座设有用于安装所述红外测温传感器的定位柱,所述红外测温传感器可拆卸地安装于所述定位柱。
所述线盘架成型有向下延伸以与所述红外测温传感器抵靠的防尘柱,所述防尘柱的内部中空以形成导光通道。
所述电磁炉还包括与所述线盘架固定连接的导光套筒,所述导光套筒的内部中空以形成所述导光通道,所述导光套筒与所述线盘架分体成型。
所述打磨区域与所述电磁线盘组件的中央区域位置相对。
所述打磨区域与所述电磁线盘组件的中央区域在水平方向错位布置;
或者,所述面板设有多个所述打磨区域,其中一个所述打磨区域与所述电磁线盘组件的中央区域位置相对,其余所述打磨区域与所述电磁线盘组件的中央区域在水平方向错位布置。
由于采用了上述技术方案,本申请所取得的有益效果为:
1.本申请中面板的背面具有凸点被磨平的打磨区域,红外测温传感器经该打磨区域接收锅具发出的红外线以对锅具进行测温,相较于现有技术中红外测温传感器需经未经打磨的面板进行测温的技术方案而言,打磨区域的凸点被磨平,锅具的红外辐射经打磨区域时,减少了红外线的折射,使尽可能多的红外线被红外测温传感器所接收,提升了红外测温传感器的测温精度和响应速度。
2.作为本申请的一种优选实施方式,打磨区域的面积大于红外测温传感器的探测角度在面板的背面所覆盖的面积,从而使得经打磨区域向下辐射的红外线的至少部分会被红外测温传感器所接收,进一步提升了测温的准确性。
3.作为本申请的一种优选实施方式,打磨区域的横截面的直径不小于25mm,从而使打磨区域能够适配于不同的锅具,使红外测温传感器在面对不同的锅具类型时,都能够尽可能多地接收锅具受热后的红外辐射,以保障测温精度,提升了本申请中电磁炉的适用范围。
4.作为本申请的一种优选实施方式,红外测温传感器位于电磁线盘组件的下方,从而在电磁炉的运行过程中,能够尽可能地减少环境温度和电磁干扰等对红外测温传感器所产生的不良影响,提升了红外测温传感器测温的准确性。
更进一步地,线盘架设有分别与红外测温传感器的红外探头和打磨区域正对的导光通道,通过导光通道对锅具产生的红外线进行引导,减少了红外线的耗散,使尽可能多的红外线被红外测温传感器所接收。
5.作为本申请的一种优选实施方式,线盘架成型有与红外测温传感器抵靠的防尘柱。防尘柱与线盘架一体成型,既省却了在线盘架上额外增设用于安装防尘柱的定位结构,简化了线盘架的结构设计,又避免了防尘柱与线盘架分体成型后再进行装配所带来的装配工序的增加,而且两者的一体式设计,还可提升结构的紧凑度,大幅降低了对于安装空间的需求,有利于电磁烹饪器具的小型化。防尘柱与红外测温传感器抵靠以罩住红外测温传感器,从而对红外测温传感器形成防护,避免脏污对红外测温传感器产生影响,保证了测温的准确性。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解,构成本申请的一部分,本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请,并不构成对本申请的不当限定。在附图中:
图1为本申请中电磁炉一种实施方式下的俯视图;
图2为图1的A-A向剖视图;
图3为图2的B部放大图;
图4为本申请中面板一种实施方式下的立体图。
其中,
1.面板、11.凸点、12.打磨区域;
2.底座;
3.红外测温传感器;
4.线盘架、41.导光通道;
5.电磁线圈。
具体实施方式
为了更清楚的阐释本申请的整体构思,下面结合说明书附图以示例的方式进行详细说明。
在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本申请,但是,本申请还可以采用其他不同于在此描述的其他方式来实施,因此,本申请的保护范围并不受下面公开的具体实施例的限制。需要说明的是,在不冲突的情况下,本申请的实施例及各实施例中的特征可以相互结合。
另外,在本申请的描述中,需要理解的是,术语“顶”、“底”、“内”、“外”、“轴向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本申请和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本申请的限制。
在本申请中,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或成一体;可以是机械连接,也可以是电连接,还可以是通信;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。
在本申请中,除非另有明确的规定和限定,第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触,或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。在本说明书的描述中,参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本申请的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
如图1至图4所示,一种电磁炉,包括底座2、设于底座2以承载锅具的面板1、及位于面板1下方的电磁线盘组件和红外测温传感器3,面板1的背面具有凸点11,面板1的背面还具有凸点11被磨平的打磨区域12,红外测温传感器3经打磨区域12接收锅具发出的红外线。
本申请中面板1的背面具有凸点11被磨平的打磨区域12,红外测温传感器3经该打磨区域12接收锅具发出的红外线以对锅具进行测温,相较于现有技术中红外测温传感器3需经未经打磨的面板1进行测温的技术方案而言,打磨区域12的凸点11被磨平,锅具的红外辐射经打磨区域12时,减少了红外线的折射,使尽可能多的红外线被红外测温传感器3所接收,提升了红外测温传感器3的测温精度和响应速度。
作为本申请的一种优选实施方式,打磨区域12的面积大于红外测温传感器3的探测角度在面板1的背面所覆盖的面积,从而使得经打磨区域12向下辐射的红外线的至少部分会被红外测温传感器3所接收,进一步提升了测温的准确性。
作为本申请的另一实施方式,打磨区域12的面积等于红外测温传感器3的探测角度在面板1的背面所覆盖的面积。
作为本申请的又一实施方式,打磨区域12的面积小于红外测温传感器3的探测角度在面板1的背面所覆盖的面积,且打磨区域12的中轴线与红外测温传感器3的探测角度的中心线位于同一条直线上,以使尽可能多的红外辐射能够被红外测温传感器3所接收。
本申请中,红外测温传感器3的探测角度为θ,作为优选,θ满足:30°≦θ≦120°。更进一步地,θ满足:45°≦θ≦90°。通过合理化设计红外测温传感器3的探测角度,以使红外测温传感器3能够尽可能多地接收锅具的红外辐射,提升测温的准确性和响应的及时性。
作为本申请的一种优选实施方式,打磨区域12的横截面呈圆形,其直径为D,D满足:D≧25mm。通过合理化设计打磨区域12的尺寸能够使打磨区域12适配于不同的锅具,使红外测温传感器3在面对不同的锅具类型时,都能够尽可能多地接收锅具受热后的红外辐射,以保障测温精度,提升了本申请中电磁炉的适用范围。更进一步地,D满足:D≧30mm。
本申请对于红外测温传感器3的设置位置不做限定,其可以采用下述实施方式中的任意一种:
实施方式一:电磁线盘组件包括线盘架4及绕设于线盘架4的电磁线圈5,红外测温传感器3安装于线盘架4,且红外测温传感器3的红外探头的至少部分区域位于线盘架4的上方以靠近打磨区域12。
实施方式二:红外测温传感器3位于电磁线盘组件的下方,电磁线盘组件包括线盘架4及绕设于线盘架4的电磁线圈5,线盘架4设有分别与红外测温传感器3的红外探头和打磨区域12正对的导光通道41。红外测温传感器3位于电磁线盘组件的下方,从而在电磁炉的运行过程中,能够尽可能地减少环境温度和电磁干扰等对红外测温传感器3所产生的不良影响,提升了红外测温传感器3测温的准确性。线盘架4设有分别与红外测温传感器3的红外探头和打磨区域12正对的导光通道41,通过导光通道41对锅具产生的红外线进行引导,减少了红外线的耗散,使尽可能多的红外线被红外测温传感器3所接收。
本实施方式二对于红外测温传感器3的安装位置不做限定,其可以采用下述实施例中的任意一种:
实施例1:线盘架4设有向下延伸以用于安装红外测温传感器3的定位结构,以使红外测温传感器3安装后能够位于电磁线圈5的下方,降低电磁线圈5通电运行过程中产生的电磁对红外测温传感器3产生的干扰。
实施例2:底座2设有用于安装红外测温传感器3的定位柱,红外测温传感器3可拆卸地安装于定位柱。更进一步地,定位柱与底座2一体成型,以省却两者分体成型再进行装配的工序。
本实施方式二对于导光通道41的设置方式不做限定,其可以采用下述实施例中的任意一种:
实施例3:线盘架4成型有向下延伸以与红外测温传感器3抵靠的防尘柱,防尘柱的内部中空以形成导光通道41。
本实施例3中的防尘柱兼具防尘和导光两种功效。而且,防尘柱与线盘架4一体成型,既省却了在线盘架4上额外增设用于安装防尘柱的定位结构,简化了线盘架4的结构设计,又避免了防尘柱与线盘架4分体成型后再进行装配所带来的装配工序的增加。防尘柱与线盘架4的一体式设计,还可提升结构的紧凑度,大幅降低了对于安装空间的需求,有利于电磁烹饪器具的小型化。防尘柱与红外测温传感器3抵靠以罩住红外测温传感器3,从而对红外测温传感器3形成防护,避免脏污对红外测温传感器3产生影响,保证了测温的准确性。
更进一步地,防尘柱的顶端面与面板1的底端面抵顶。电磁烹饪器具运行过程中为避免内部温升过高而对电磁烹饪器具内部的电子元器件的运行产生不良影响,大多会在电磁烹饪器具设置进风口、出风口及散热风扇等,散热风扇运行过程中,会带动气流的扰动,使外部杂质、脏污等有覆盖红外测温传感器3的红外探头的可能性,通过将防尘柱的顶端抵顶面板1的底端,防尘柱的下部与红外测温传感器3抵顶,从而既避免了进入电磁烹饪器具内部的杂质等通过防尘柱与面板1之间的间隙进入导光通道41的内部而在红外探头上附着的情况,又避免了外部环境光线对红外测温传感器3的干扰,提升了红外测温传感器3的测温的准确性。
实施例4:电磁炉还包括与线盘架4固定连接的导光套筒,导光套筒的内部中空以形成导光通道41,导光套筒与线盘架4分体成型。本实施例中导光套筒与线盘架4分体成型,可以简化线盘架4的结构设计,方便线盘架4的加工制造,且导光套筒可根据实际需要选用符合耐高温及导光效果好的材质制作,选材的自由度更高。
本申请对于打磨区域12的设置位置不做限定,其可以采用下述实施方式中的任意一种:
实施方式三:如图2至图4所示,打磨区域12与电磁线盘组件的中央区域位置相对。更进一步地,打磨区域12的中轴线与电磁线盘组件的中轴线同轴布置。
本实施方式三将打磨区域12与电磁线盘组件的中央区域对位布置,从而使得红外测温传感器3能够对锅具底部的中央区域进行温度采集,使用过程中,锅具底部温升快温度高,红外测温传感器3采集锅具底部的温度,可实现温度的快速反馈,有助于电磁烹饪器具及时根据温度信号对烹饪程序作出相应的调整,改善烹饪效果。
实施方式四:打磨区域12与电磁线盘组件的中央区域在水平方向错位布置。
本实施方式四中,在水平方向上,打磨区域12位于线盘架4的中心的一侧,红外测温传感器3与打磨区域12位置相对从而实现了对锅具底部一侧的温度采集,以通过采集锅具底部非中央区域的温度实现对锅具温度的实时反馈,提升了温度采集数据的多样性,有助于多方位反馈锅具的温度信息,以为电磁烹饪器具烹饪程序的调整提供更多的信息参考。
更进一步地,作为本实施方式四下的一个优选实施例,面板1设有多个与线盘组件的中央区域在水平方向错位布置的打磨区域12,多个打磨区域12围绕线盘架4的中心等角度均布,电磁烹饪器具包括多个红外测温传感器3,一个红外测温传感器3对应一个打磨区域12。该实施例实现了对锅具底部围绕其中央区域的周边区域的多点测温,通过多点温度采集既能进一步提升测温精度,又能在其中一个红外测温传感器3发生失效时,通过其余红外测温传感器3对温度进行采集,保证了温度采集的稳定性。
实施方式五:面板1设有多个打磨区域12,其中一个打磨区域12与电磁线盘组件的中央区域位置相对,其余打磨区域12与电磁线盘组件的中央区域在水平方向错位布置。本实施方式五既实现了对锅具底部中央区域的温度采集,又实现了对锅具底部一侧的温度采集,提升了温度采集数据的多样性,保证了测温精度。
本申请中未述及的地方采用或借鉴已有技术即可实现。
本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述,各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。
以上所述仅为本申请的实施例而已,并不用于限制本申请。对于本领域技术人员来说,本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原理之内所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本申请的权利要求范围之内。
Claims (10)
1.一种电磁炉,包括底座、设于所述底座以承载锅具的面板、及位于所述面板下方的电磁线盘组件和红外测温传感器,所述面板的背面具有凸点,其特征在于,所述面板的背面还具有凸点被磨平的打磨区域,所述红外测温传感器经所述打磨区域接收所述锅具发出的红外线。
2.根据权利要求1所述的一种电磁炉,其特征在于,
所述打磨区域的面积大于所述红外测温传感器的探测角度在所述面板的背面所覆盖的面积。
3.根据权利要求2所述的一种电磁炉,其特征在于,
所述红外测温传感器的探测角度为θ,θ满足:30°≦θ≦120°。
4.根据权利要求2所述的一种电磁炉,其特征在于,
所述打磨区域的横截面呈圆形,其直径为D,D满足:D≧25mm。
5.根据权利要求1所述的一种电磁炉,其特征在于,
所述红外测温传感器位于所述电磁线盘组件的下方,所述电磁线盘组件包括线盘架及绕设于所述线盘架的电磁线圈,所述线盘架设有分别与所述红外测温传感器的红外探头和所述打磨区域正对的导光通道。
6.根据权利要求5所述的一种电磁炉,其特征在于,
所述底座设有用于安装所述红外测温传感器的定位柱,所述红外测温传感器可拆卸地安装于所述定位柱。
7.根据权利要求5所述的一种电磁炉,其特征在于,
所述线盘架成型有向下延伸以与所述红外测温传感器抵靠的防尘柱,所述防尘柱的内部中空以形成导光通道。
8.根据权利要求5所述的一种电磁炉,其特征在于,
所述电磁炉还包括与所述线盘架固定连接的导光套筒,所述导光套筒的内部中空以形成所述导光通道,所述导光套筒与所述线盘架分体成型。
9.根据权利要求1至8任一项所述的一种电磁炉,其特征在于,
所述打磨区域与所述电磁线盘组件的中央区域位置相对。
10.根据权利要求1至8任一项所述的一种电磁炉,其特征在于,
所述打磨区域与所述电磁线盘组件的中央区域在水平方向错位布置;
或者,所述面板设有多个所述打磨区域,其中一个所述打磨区域与所述电磁线盘组件的中央区域位置相对,其余所述打磨区域与所述电磁线盘组件的中央区域在水平方向错位布置。
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