CN220188624U - 电容测试装置 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 80
- 239000000969 carrier Substances 0.000 claims abstract description 8
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims abstract description 5
- 238000003825 pressing Methods 0.000 claims description 23
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 8
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 claims description 5
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 230000003028 elevating effect Effects 0.000 description 4
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000004308 accommodation Effects 0.000 description 2
- 229910001369 Brass Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 239000010951 brass Substances 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 230000007812 deficiency Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
本实用新型公开了一种电容测试装置,包括:转盘组件,包括转盘和沿着所述转盘的周向均匀分布在所述转盘上的多个载具,所述载具用于容置电气模组;升降结构,包括第一安装板和与所述第一安装板传动连接的升降驱动件,所述第一安装板位于所述转盘上方;测试头,固定在所述第一安装板上;压头组件,用于抵压所述电气模组,其设置在所述第一安装板上,所述压头组件可相对所述第一安装板沿着竖直方向移动;所述压头组件的底部相较于所述测试头的底部更靠近所述转盘,所述升降驱动件适于带动所述测试头和所述压头组件靠近或远离所述转盘。本实用新型能够实现自动、连续测试,压头组件能够在测试前抵压电气模组,以模拟实际使用环境,提高检测精度。
Description
技术领域
本实用新型涉及电气模组电检测技术领域,特别涉及一种电容测试装置。
背景技术
电气模组如无线充电模组,广泛应用于各类电子产品,其能够实现非接触式充电,应用前景佳。电气模组在生产后,需要对其电容进行测试,以确保产品的合格出厂。现有技术中,通常采用测试仪进行检测,通过人工将探针接触电气模组的元器件,以实现检测。采用上述方式,不利于提高生产效率。另有一些测试装置,会设置升降结构和与升降结构传动连接的测试头,测试头下方设有定位电气模组的载具,从而实现自动测试,但是由于电气模组实际使用过程中为受压环境,采用上述结构,无法模拟真实使用环境,导致检测精度相对较低。
因此,有必要对现有技术予以改良以克服现有技术中的所述缺陷。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种电容测试装置,以提高电气模组的测试效率和模拟电气模组实际使用的压力环境。
本实用新型的目的是通过以下技术方案实现:一种电容测试装置,包括:
转盘组件,包括转盘和沿着所述转盘的周向均匀分布在所述转盘上的多个载具,所述载具用于容置电气模组;
升降结构,包括第一安装板和与所述第一安装板传动连接的升降驱动件,所述第一安装板位于所述转盘上方;
测试头,固定在所述第一安装板上;
压头组件,用于抵压所述电气模组,其设置在所述第一安装板上,所述压头组件可相对所述第一安装板沿着竖直方向移动;
其中,所述压头组件的底部相较于所述测试头的底部更靠近所述转盘,所述升降驱动件适于带动所述测试头和所述压头组件靠近或远离所述转盘。
进一步地,所述第一安装板沿竖直方向贯通开设有容置孔,所述压头组件活动穿设于所述容置孔中,所述压头组件的顶部自所述容置孔的上端伸出,并搭接在所述第一安装板的上端面上。
进一步地,所述测试头固定在所述第一安装板的下端面,所述测试头对应所述压头组件的位置处开设有避让孔,所述压头组件活动穿设于所述避让孔中,所述压头组件的底部自所述避让孔的下端伸出。
进一步地,所述避让孔开设在所述测试头的中部区域。
进一步地,所述压头组件包括:
配重块,放置于所述第一安装板的上端面;
压头,一端与所述配重块的底部固定连接,另一端经所述容置孔延伸出所述避让孔的下端;
其中,所述压头包括压块、分别与所述压块和所述配重块可拆卸连接的连接块,所述压块与所述电气模组的待抵压区域相对应。
进一步地,所述配重块、所述压块以及所述连接块的外轮廓均为圆形,所述配重块的外径大于所述容置孔的内径,所述压头的外径不大于所述容置孔和/或所述避让孔的内径。
进一步地,所述测试头包括:
第二安装板,固定在所述第一安装板的下端面;
转接板,固定在所述第二安装板上;
至少一针模,固定在所述转接板上,所述针模上设有与所述转接板电连接的探针;
其中,所述探针与所述电气模组的待测区域相对应。
进一步地,所述转接板至少部分相对所述第二安装板的周侧凸出,所述转接板凸出所述第二安装板部分的上端面电连接有与测试主机电连接的插接头,所述第一安装板的上端面设有多个供所述转接板走线的卡扣。
进一步地,所述载具包括用于支撑所述电气模组的承载端面,所述载具内部形成有真空通道,所述承载端面开设有多个与所述真空通道相连通的吸附孔。
进一步地,所述承载端面上凸设有至少两个定位销,所述电气模组对应所述定位销位置处开设有定位孔。
与现有技术相比,本实用新型具有如下有益效果:本实用新型通过设置转盘组件和升降结构,测试头安装在升降结构上,且位于转盘组件上方,转盘组件能够带动待测试的电气模组转至测试头下方,升降结构可驱动测试头升降,以使测试头与电气模组相接触或者解除接触,从而实现自动、连续测试,提高电气模组的测试效率;通过设置位于升降结构上的压头组件,压头组件能够在升降结构的带动下抵压电气模组,以对电气模组进行稳固的同时,模拟电气模组安装于产品壳体内后的实际使用的压力环境,提高检测精度和可靠性;此外,压头组件的底部相较于测试头的底部更靠近所述转盘,且可相对第一安装板沿着竖直方向活动,使得压头组件能够在测试头接触电气模组前便对电气模组进行抵压,且抵压后不会随着第一安装板同步下移,以避免限制测试头接触电气模组。
附图说明
图1是本实用新型电容测试装置的结构示意图。
图2是本实用新型中载具的结构示意图。
图3是本实用新型中升降结构、测试头以及压头组件的结构示意图。
图4是图3在另一方向上的结构示意图。
图5是图3的剖面示意图。
附图标记说明:
100、转盘组件;110、转盘;120、载具;121、承载端面;122、吸附孔;123、定位销;200、升降结构;210、第一安装板;211、容置孔;220、升降驱动件;230、基座;240、卡扣;300、测试头;310、避让孔;320、第二安装板;330、转接板;331、插接头;340、针模;350、探针;400、压头组件;410、配重块;420、压块;421、凸缘;430、连接块。
具体实施方式
为使本申请的上述目的、特征和优点能够更为明显易懂,下面结合附图,对本申请的具体实施方式做详细的说明。可以理解的是,此处所描述的具体实施例仅用于解释本申请,而非对本申请的限定。另外还需要说明的是,为了便于描述,附图中仅示出了与本申请相关的部分而非全部结构。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本申请保护的范围。
本申请中的术语“包括”和“具有”以及它们任何变形,意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元,而是可选地还包括没有列出的步骤或单元,或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
在本文中提及“实施例”意味着,结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例,也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是,本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。
请参阅图1所示,对应于本实用新型一种较佳实施例的电容测试装置,包括:转盘组件100,包括转盘110和沿着转盘110的周向均匀分布在转盘110上的多个载具120,载具120用于容置电气模组;升降结构200,包括第一安装板210和与第一安装板210传动连接的升降驱动件220,第一安装板210位于转盘110上方;测试头300,固定在第一安装板210上;压头组件400,用于抵压电气模组,其设置在第一安装板210上,压头组件400可相对第一安装板210沿着竖直方向移动;其中,压头组件400的底部相较于测试头300的底部更靠近转盘110,升降驱动件220适于带动测试头300和压头组件400靠近或远离转盘110。
本实用新型通过设置转盘组件100和升降结构200,测试头300安装在升降结构200上,且位于转盘组件100上方,转盘组件100能够带动待测试的电气模组转至测试头300下方,升降结构200可驱动测试头300升降,以使测试头300与电气模组相接触或者解除接触,从而实现自动、连续测试,提高电气模组的测试效率;通过设置位于升降结构200上的压头组件400,压头组件400能够在升降结构200的带动下抵压电气模组,以对电气模组进行稳固的同时,模拟电气模组安装于产品壳体内后的实际使用的压力环境,提高检测精度和可靠性;此外,压头组件400的底部相较于测试头300的底部更靠近所述转盘110,且可相对第一安装板210沿着竖直方向活动,使得压头组件400能够在测试头300接触电气模组前便对电气模组进行抵压,且抵压后不会随着第一安装板210同步下移,以避免限制测试头300接触电气模组。
进一步地,参照图2所示,载具120包括用于支撑电气模组的承载端面121,载具120内部形成有真空通道,承载端面121开设有多个与真空通道相连通的吸附孔122,吸附孔122均匀分布在电气模组的各个位置。优选地,承载端面121上凸设有至少两个定位销123,电气模组对应定位销123的位置处开设有定位孔,以在将电气模组置于承载端面121后,电气模组能够精准定位。通过将真空通道与外部真空发生结构(图未示)相对接,从而能够对真空通道进行抽真空,以使电气模组紧密吸附于承载端面121上。采用上述结构,载具120整体结构简单,加工方便,成本低,且能够可靠地对电气模组进行输送。
进一步地,升降结构200包括设置在转盘110外侧的基座230,升降驱动件220固定在基座230上,升降驱动件220具体为沿着竖直方向布置的线性气缸,第一安装板210固定在升降驱动件220的输出端。
参照图3至图5所示,第一安装板210沿竖直方向贯通开设有容置孔211,压头组件400可活动地穿设于容置孔211中,压头组件400的顶部自容置孔211的上端伸出,并搭接在第一安装板210的上端面上,从而避免压头组件400在重力作用下向下脱离第一安装板210。当压头组件400抵压电气模组时,由于压头组件400可相对第一安装板210活动,当第一安装板210在下降至压头组件400与电气模组相接触时,继续下降第一安装板210,压头组件400不会随着第一安装板210同步下降,以始终以预设压力抵压电气模组。
进一步地,测试头300固定在第一安装板210的下端面,为了避免测试头300对压头组件400进行限位,测试头300对应压头组件400的位置处开设有避让孔310,避让孔310在竖直方向为贯通结构,压头组件400部分活动穿设于避让孔310中,压头组件400的底部自避让孔310的下端伸出。在本实施例中,避让孔310开设在所述测试头300的中部区域。
测试头300包括第二安装板320、转接板330和至少一针模340,第二安装板320固定在第一安装板210的下端,转接板330固定在第二安装板320上,针模340固定在转接板330上,针模340上设有与转接板330电连接的探针350,探针350与电气模组的待测区域相对应。第二安装板320和转接板330均开设有内孔,两内孔配合形成避让孔310。转接板330至少部分相对第二安装板320的周侧凸出,转接板330凸出第二安装板320部分的上端面电连接有插接头331,插接头331适于通过导线与测试主机(图未示)电连接,第一安装板210的上端面设有多个供转接板330走线的卡扣240,以便有序走线。
进一步地,压头组件400包括配重块410和压头,配重块410放置于第一安装板210的上端面,压头一端与配重块410的底部固定连接,另一端经容置孔211延伸出避让孔310的下端。在本实施例中,配重块410可以采用密度较高的金属材质制成,例如黄铜、铁等,以在保证成本的同时,有效减小配重块410的体积。压头包括压块420、分别与压块420和配重块410可拆卸连接的连接块430,压块420与电气模组的待抵压区域相对应。
连接块430和压头之间以及连接块430和配重块410之间均可以通过螺纹紧固件实现固定连接。采用上述方式的压头组件400,依靠自重来抵压电气模组,无需设置额外的下压驱动结构和压力检测结构,结构简单,成本低;且当需要调整预设压力时,只需对配重块410进行拆卸替换即可,由于配重块410搭接在第一安装板210的上端,因而拆装操作十分简单方便。
优选地,配重块410、压块420以及连接块430的外轮廓均为圆形。配重块410的外径大于容置孔211的内径,以确保其可靠地承载于第一安装板210上,压头的外径不大于容置孔211和/或避让孔310的内径,以确保压头能够沿着容置孔211和/或避让孔310移动。
在本实施例中,连接块430收容于容置孔211内,压块420部分收容于避让孔310内。连接块430在与配重块410相接的一端至另一端外径逐渐减小,连接块430的最大外径与容置孔211的内径相同,使得第一安装板210相对压头向下移动更为顺畅。
压块420的外径不大于连接块430的最小外径,且压块420的外径小于容置孔211和/或避让孔310的内径,以减小压头与容置孔211和/或避让孔310的接触面积,进一步提高下移的顺畅性和安装的便捷性。
优选地,压头远离连接块430的一端外周设有一圈凸缘421,凸缘421的外径大于避让孔310的内径,使得压头组件400向下移动时可受到第一安装板210的限位,而向上移动时可受到测试头300的限位,即在竖直方向对压头组件400进行限位,防止压头组件400脱离第一安装板210。由于转接板330为电路板,为了避免损伤电路板,优选地,转接板330内孔的内径大于凸缘421的外径,当压头组件400向上移动时,凸缘421可与穿过转接板330与第二安装板320相抵,从而避免凸缘421与转接板330相接触。
本实用新型工作过程如下:将待测电气模组置于载具120上,转盘110带动载具120旋转至测试头300下方,升降结构200下降并带动测试头300和压头组件400朝着载具120下降,在此过程中,压头组件400首先与电气模组的待抵压区域相接触;升降结构200继续下降,压头组件400受到电气模组的限位而不随升降结构200下降,并抵紧电气模组的待抵压区域,测试头300随升降结构200下降以对电气模组的待测试区域相接触,从而对其电容进行检测;测试完毕后,升降结构200复位,转盘110继续转动,以将测试后的电气模组移离测试头300,并继续将待测试的电气模组转向测试头300。
以上所述仅为本申请的实施方式,并非因此限制本申请的专利范围,凡是利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换,或直接或间接运用在其它相关的技术领域,均同理包括在本申请的专利保护范围内。
Claims (10)
1.一种电容测试装置,其特征在于,包括:
转盘组件(100),包括转盘(110)和沿着所述转盘(110)的周向均匀分布在所述转盘(110)上的多个载具(120),所述载具(120)用于容置电气模组;
升降结构(200),包括第一安装板(210)和与所述第一安装板(210)传动连接的升降驱动件(220),所述第一安装板(210)位于所述转盘(110)上方;
测试头(300),固定在所述第一安装板(210)上;
压头组件(400),用于抵压所述电气模组,其设置在所述第一安装板(210)上,所述压头组件(400)可相对所述第一安装板(210)沿着竖直方向移动;
其中,所述压头组件(400)的底部相较于所述测试头(300)的底部更靠近所述转盘(110),所述升降驱动件(220)适于带动所述测试头(300)和所述压头组件(400)靠近或远离所述转盘(110)。
2.如权利要求1所述的电容测试装置,其特征在于,所述第一安装板(210)沿竖直方向贯通开设有容置孔(211),所述压头组件(400)活动穿设于所述容置孔(211)中,所述压头组件(400)的顶部自所述容置孔(211)的上端伸出,并搭接在所述第一安装板(210)的上端面上。
3.如权利要求2所述的电容测试装置,其特征在于,所述测试头(300)固定在所述第一安装板(210)的下端面,所述测试头(300)对应所述压头组件(400)的位置处开设有避让孔(310),所述压头组件(400)活动穿设于所述避让孔(310)中,所述压头组件(400)的底部自所述避让孔(310)的下端伸出。
4.如权利要求3所述的电容测试装置,其特征在于,所述避让孔(310)开设在所述测试头(300)的中部区域。
5.如权利要求3所述的电容测试装置,其特征在于,所述压头组件(400)包括:
配重块(410),放置于所述第一安装板(210)的上端面;
压头,一端与所述配重块(410)的底部固定连接,另一端经所述容置孔(211)延伸出所述避让孔(310)的下端;
其中,所述压头包括压块(420)、分别与所述压块(420)和所述配重块(410)可拆卸连接的连接块(430),所述压块(420)与所述电气模组的待抵压区域相对应。
6.如权利要求5所述的电容测试装置,其特征在于,所述配重块(410)、所述压块(420)以及所述连接块(430)的外轮廓均为圆形,所述配重块(410)的外径大于所述容置孔(211)的内径,所述压头的外径不大于所述容置孔(211)和/或所述避让孔(310)的内径。
7.如权利要求1所述的电容测试装置,其特征在于,所述测试头(300)包括:
第二安装板(320),固定在所述第一安装板(210)的下端面;
转接板(330),固定在所述第二安装板(320)上;
至少一针模(340),固定在所述转接板(330)上,所述针模(340)上设有与所述转接板(330)电连接的探针(350);
其中,所述探针(350)与所述电气模组的待测区域相对应。
8.如权利要求7所述的电容测试装置,其特征在于,所述转接板(330)至少部分相对所述第二安装板(320)的周侧凸出,所述转接板(330)凸出所述第二安装板(320)部分的上端面电连接有与测试主机电连接的插接头(331),所述第一安装板(210)的上端面设有多个供所述转接板(330)走线的卡扣(240)。
9.如权利要求1所述的电容测试装置,其特征在于,所述载具(120)包括用于支撑所述电气模组的承载端面(121),所述载具(120)内部形成有真空通道,所述承载端面(121)开设有多个与所述真空通道相连通的吸附孔(122)。
10.如权利要求9所述的电容测试装置,其特征在于,所述承载端面(121)上凸设有至少两个定位销(123),所述电气模组对应所述定位销(123)位置处开设有定位孔。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202321437377.4U CN220188624U (zh) | 2023-06-07 | 2023-06-07 | 电容测试装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202321437377.4U CN220188624U (zh) | 2023-06-07 | 2023-06-07 | 电容测试装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN220188624U true CN220188624U (zh) | 2023-12-15 |
Family
ID=89111570
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202321437377.4U Active CN220188624U (zh) | 2023-06-07 | 2023-06-07 | 电容测试装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN220188624U (zh) |
-
2023
- 2023-06-07 CN CN202321437377.4U patent/CN220188624U/zh active Active
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GR01 | Patent grant | ||
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