CN220854954U - 一种防止二极管被击穿的耐压测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种防止二极管被击穿的耐压测试装置，包括治具，位于治具一侧设置有一号探针测试机构、设置在治具另一侧的二号探针测试机构以及设置在治具下方的升降机构。所述一号探针测试机构包括一号支座、一号气缸、固定设置在一号气缸输出端的连接板、两个一号探针组件以及两个吸取提升组件，所述吸取提升组件包括竖向设置在连接板上的二号气缸、固定设置在二号气缸输出端的真空吸管以及用于检测真空吸管内部压力值的数显电子开关，所述连接板上设置有供真空吸管滑动连接的一号竖向孔。优点：吸取提升组件的结构设计以及具体实施方式能够使得二极管能够在耐压测试之前被提升出产品，使得耐压测试时二极管不会被击穿。
Description
技术领域
本实用新型涉及耐压测试装置领域，具体为一种防止二极管被击穿的耐压测试装置。
背景技术
汽车门锁控制单元上需要焊接二极管，且汽车门锁控制单元上设置有用于放置二极管的放置槽，在放置槽中可以实现对二极管的焊接。在汽车门锁控制单元的生产过程中，提前将二极管放置在汽车门锁控制单元上，可以节约一个上料工位，但是，由于耐压测试工位在焊接二极管工位之前，若是直接对汽车门锁单元进行耐压测试，会导致二极管被击穿。
鉴于此，有必要提供一种防止二极管被击穿的耐压测试装置。
发明内容
本实用新型提供的一种防止二极管被击穿的耐压测试装置，有效的解决了现有在进行耐压测试时二极管容易被击穿的问题。
本实用新型所采用的技术方案是
一种防止二极管被击穿的耐压测试装置，包括治具，所述治具上设置有两个放置槽，位于治具一侧设置有用于从上方对产品进行检测的一号探针测试机构、设置在治具另一侧用于从水平方向对产品进行检测的二号探针测试机构以及设置在治具下方用于对治具进行升降的升降机构。所述一号探针测试机构包括一号支座、竖向固定设置在一号支座上的一号气缸、固定设置在一号气缸输出端的连接板、两个设置在连接板上用于对产品测试的一号探针组件以及两个用于对产品的二极管进行吸附提升的吸取提升组件，所述吸取提升组件包括竖向设置在连接板上的二号气缸、固定设置在二号气缸输出端的真空吸管以及用于检测真空吸管内部压力值的数显电子开关，所述连接板上设置有供真空吸管滑动连接的一号竖向孔。
进一步的是：所述真空吸管的开口端设置为与二极管截面适配的圆弧形结构。
进一步的是：所述一号探针组件包括注塑板、与连接板固定连接的固定块、水平螺纹连接注塑板与固定块的一号螺栓、设置在注塑板上的弹性压料件以及设置在注塑板上用于对产品进行电性连接的一号金属探针，所述注塑板上设置有与一号竖向孔对应的二号竖向孔。
进一步的是：所述二号探针测试机构包括设置在治具另一侧的二号支座、水平固定设置在二号支座上的三号气缸、固定设置在三号气缸输出端的连接件以及两组设置在连接件的二号金属探针，两组所述二号金属探针分别用于对两个放置槽中的产品从水平方向进行接触。
进一步的是：所述升降机构包括支撑板、竖向固定设置在支撑板上的四号气缸、固定设置在四号气缸输出端的托举板、设置在支撑板上的直线轴承、套设在直线轴承上的导向杆，所述导向杆上端与托举板固定连接。
实用新型的有益效果：吸取提升组件的结构设计以及具体实施方式能够使得二极管能够在耐压测试之前被提升出产品，使得耐压测试时二极管不会被击穿。
附图说明
图1为本申请的实施例所提供的防止二极管被击穿的耐压测试装置的整体示意图。
图2为本申请的实施例所提供的防止二极管被击穿的耐压测试装置的一号探针测试机构的示意图。
图3为本申请的实施例所提供的防止二极管被击穿的耐压测试装置的连接板、一号探针组件和吸取提升组件的示意图。
图4为本申请的实施例所提供的防止二极管被击穿的耐压测试装置的升降机构的示意图。
图中标记为：1、治具；2、一号探针测试机构；3、二号探针测试机构；4、升降机构；21、一号支座；22、一号气缸；23、连接板；24、一号探针组件；25、吸取提升组件；251、二号气缸；252、真空吸管；253、数显电子开关；241、注塑板；242、固定块；243、一号螺栓；244、弹性压料件；245、一号金属探针；31、二号支座；32、三号气缸；33、连接件；34、二号金属探针；41、支撑板；42、四号气缸；43、托举板；44、直线轴承；45、导向杆；520、圆弧型结构。
具体实施方式
为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本实用新型的具体实施方式做详细的说明。
如图1所示，本申请的实施例所提供的一种防止二极管被击穿的耐压测试装置，其结构包括治具1，所述治具1上设置有两个放置槽，位于治具1一侧设置有用于从上方对产品进行检测的一号探针测试机构2、设置在治具1另一侧用于从水平方向对产品进行检测的二号探针测试机构3以及设置在治具1下方用于对治具1进行升降的升降机构4。如图2所示，所述一号探针测试机构2包括一号支座21、竖向固定设置在一号支座21上的一号气缸22、固定设置在一号气缸22输出端的连接板23、两个设置在连接板23上用于对产品测试的一号探针组件24以及两个用于对产品的二极管进行吸附提升的吸取提升组件25。如图3所示，所述吸取提升组件25包括竖向设置在连接板23上的二号气缸251、固定设置在二号气缸251输出端的真空吸管252以及用于检测真空吸管252内部压力值的数显电子开关253，所述连接板23上设置有供真空吸管252滑动连接的一号竖向孔。
实际使用时，将两个待测试的产品分别放置在两个放置槽中，随后一号气缸22驱动连接板23下移，此时二号气缸251驱动真空吸管252向下伸出，使得真空吸管252的开口端位于一号探针组件24的下端，当真空吸管252的开口端移动至预设的吸取位置后，真空吸管252产生真空吸附，数显电子开关253检测真空吸管252内部的压力值，通过压力值判定真空吸管252是否吸附二极管，当真空吸管252吸取二极管后，二号气缸251驱动真空吸管252上升，使得真空吸管252将吸附的二极管提升。随后一号气缸22继续下移，使得一号探针组件24与产品接触，二号探针机构从水平方向对产品进行接触，实现耐压测试。当耐压测试完毕后，一号探针组件24上升，二号探针机构复位，在一号探针组件24复位的过程中，二号气缸251驱动真空吸管252下移，将二极管放回原位。
上述设计中，吸取提升组件25的结构设计以及具体实施方式能够使得二极管能够在耐压测试之前被提升出产品，使得耐压测试时二极管不会被击穿。
具体地：如图3所示，所述真空吸管252的开口端设置为与二极管截面适配的圆弧形结构。
实际使用时，二极管被真空吸管252吸附后固定在圆弧型的开口端上。
上述设计中，真空吸管252开口端的结构设计能够有效的保证在对二极管进行吸附时，二极管与真空吸管252的连接紧密。
具体地：如图3所示，所述一号探针组件24包括注塑板241、与连接板23固定连接的固定块242、水平螺纹连接注塑板241与固定块242的一号螺栓243、设置在注塑板241上的弹性压料件244以及设置在注塑板241上用于对产品进行电性连接的一号金属探针245，所述注塑板241上设置有与一号竖向孔对应的二号竖向孔。
实际使用时，弹性压料件244先于一号金属探针245与产品接触，实现对产品的按压，随后一号金属探针245与产品实现接触。当需要水平调节注塑板241时，旋拧一号螺栓243，使得注塑板241的水平位置得以调节。
上述设计中，一号探针组件24的结构设计能够有效的提高产品测试时的稳定以及测试时一号探针能够准确的与产品进行接触。
具体地：如图1所示，所述二号探针测试机构3包括设置在治具1另一侧的二号支座31、水平固定设置在二号支座31上的三号气缸32、固定设置在三号气缸32输出端的连接件33以及两组设置在连接件33的二号金属探针34，两组所述二号金属探针34分别用于对两个放置槽中的产品从水平方向进行接触。
实际使用时，通过三号气缸32驱动连接件33向产品方向运动，使得连接件33上的两组二号金属探针34与产品接触，实现对产品的耐压测试。
上述设计中，二号探针测试机构3的结构设计以及具体实施方式便于从水平方向实现对产品的耐压测试。
具体地：如图4所示，所述升降机构4包括支撑板41、竖向固定设置在支撑板41上的四号气缸42、固定设置在四号气缸42输出端的托举板43、设置在支撑板41上的直线轴承44、套设在直线轴承44上的导向杆45，所述导向杆45上端与托举板43固定连接。
实际使用时，当需要对治具1进行升降时，通过四号气缸42驱动托举板43升降，利用托举板43带动治具1同步升降，在升降的过程中，导向杆45相对直线轴承44上下滑动。
上述设计中，升降机构4的结构设计能够有效的保证对治具1实现升降，从而能够相应的改变治具1上待测产品的高度,便于将本申请的装置应用在线体上。
进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本实用新型的具体实施例而已，并不用于限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (5)
1.一种防止二极管被击穿的耐压测试装置，包括治具(1)，所述治具(1)上设置有两个放置槽，位于治具(1)一侧设置有用于从上方对产品进行检测的一号探针测试机构(2)、设置在治具(1)另一侧用于从水平方向对产品进行检测的二号探针测试机构(3)以及设置在治具(1)下方用于对治具(1)进行升降的升降机构(4)，其特征在于：所述一号探针测试机构(2)包括一号支座(21)、竖向固定设置在一号支座(21)上的一号气缸(22)、固定设置在一号气缸(22)输出端的连接板(23)、两个设置在连接板(23)上用于对产品测试的一号探针组件(24)以及两个用于对产品的二极管进行吸附提升的吸取提升组件(25)，所述吸取提升组件(25)包括竖向设置在连接板(23)上的二号气缸(251)、固定设置在二号气缸(251)输出端的真空吸管(252)以及用于检测真空吸管(252)内部压力值的数显电子开关(253)，所述连接板(23)上设置有供真空吸管(252)滑动连接的一号竖向孔。
2.根据权利要求1所述的防止二极管被击穿的耐压测试装置，其特征在于：所述真空吸管(252)的开口端设置为与二极管截面适配的圆弧型结构(520)。
3.根据权利要求1所述的防止二极管被击穿的耐压测试装置，其特征在于：所述一号探针组件(24)包括注塑板(241)、与连接板(23)固定连接的固定块(242)、水平螺纹连接注塑板(241)与固定块(242)的一号螺栓(243)、设置在注塑板(241)上的弹性压料件(244)以及设置在注塑板(241)上用于对产品进行电性连接的一号金属探针(245)，所述注塑板(241)上设置有与一号竖向孔对应的二号竖向孔。
4.根据权利要求1所述的防止二极管被击穿的耐压测试装置，其特征在于：所述二号探针测试机构(3)包括设置在治具(1)另一侧的二号支座(31)、水平固定设置在二号支座(31)上的三号气缸(32)、固定设置在三号气缸(32)输出端的连接件(33)以及两组设置在连接件(33)的二号金属探针(34)，两组所述二号金属探针(34)分别用于对两个放置槽中的产品从水平方向进行接触。
5.根据权利要求1所述的防止二极管被击穿的耐压测试装置，其特征在于：所述升降机构(4)包括支撑板(41)、竖向固定设置在支撑板(41)上的四号气缸(42)、固定设置在四号气缸(42)输出端的托举板(43)、设置在支撑板(41)上的直线轴承(44)、套设在直线轴承(44)上的导向杆(45)，所述导向杆(45)上端与托举板(43)固定连接。
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