CN220120934U - 一种下探针测试工装 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种下探针测试工装，包括测试底座；测试底座上设有第一测试凹槽以及第二测试凹槽；第二测试凹槽的底端设有贯通口；测试组件，包括测试电路板、测试探针、电性连接片以及接触片，测试探针安装于第一测试凹槽内；接触片安装于第二测试凹槽内；接触片与测试探针通过电性连接片电性连接；探针安装组件，包括探针安装板以及第一驱动件，探针安装板安装于第一测试凹槽的上方，探针安装板用于在第一驱动件的带动下运动；顶压组件，弹性压杆以及第二驱动件，弹性压杆设于第二测试凹槽的上方，第二驱动件用于带动弹性压杆上下运动。本实用新型可以通过第一驱动件带动探针安装板上的待测探针上下运动，以完成测试。

Description

一种下探针测试工装

技术领域

本实用新型涉及测试工装技术领域，尤其涉及一种下探针测试工装。

背景技术

目前，传统上探针检测的办法是人工检测，人工将专用上探针排与测试PCB板连接，另一端与微机电系统连接，然后PCB通电测试。这种方式人工操作繁琐，需要手动固定连接位置，还会由人工操作失误造成误测。

实用新型内容

为了克服现有技术的不足，本实用新型的目的在于提供一种下探针测试工装，其可以通过第一驱动件带动探针安装板上的待测探针上下运动，配合弹性压杆下压接触片实现电性连接，以完成测试。

本实用新型的目的采用以下技术方案实现：

一种下探针测试工装，包括，

测试底座；所述测试底座上设有第一测试凹槽以及第二测试凹槽；所述第二测试凹槽的底端设有贯通口；

测试组件，包括测试电路板、测试探针、电性连接片以及接触片，所述测试电路板设于测试底座的下方并封盖于所述贯通口的底端，所述测试探针安装于所述第一测试凹槽内；所述接触片安装于所述第二测试凹槽内；所述接触片与所述测试探针通过所述电性连接片电性连接；

探针安装组件，包括探针安装板以及第一驱动件，所述探针安装板安装于所述第一测试凹槽的上方，所述探针安装板用于安装待测探针，所述探针安装板用于在所述第一驱动件的带动下靠近或者远离所述第一测试凹槽运动；所述探针安装板用于在靠近所述第一测试凹槽并伸入所述第一测试凹槽，以使待测探针压接至所述测试探针；

顶压组件，所述弹性压杆以及第二驱动件，所述弹性压杆设于所述第二测试凹槽的上方，所述第二驱动件用于带动所述弹性压杆上下运动；所述弹性压杆用于在向下运动后顶压所述接触片，以使所述接触片与所述测试电路板电性连接。

进一步地，所述第二驱动件包括安装座、螺杆以及连接板，所述安装座安装于所述测试底座上，所述螺杆螺纹连接于所述安装座上；所述连接板的一端与所述螺杆连接，所述连接板的另一端设有所述弹性压杆；所述螺杆用于在转动过程中带动所述连接板上下运动，以使弹性压杆靠近或者远离所述第二测试凹槽运动。

进一步地，所述第一驱动件包括驱动座以及凸轮，所述驱动座安装于所述测试底座上，所述凸轮可转动的安装于所述驱动座上；所述凸轮的凸出部用于在转动过程中顶压所述探针安装板，以驱使探针安装板向下运动。

进一步地，所述测试凹槽的下方设有弹性部件以及弹性部件支座，所述弹性部件安装于所述弹性部件支座上；所述探针安装板用于在向下运动过程中顶压所述弹性部件；所述弹性部件用于提供一驱使所述探针安装板向上运动的弹性应力。

进一步地，所述凸轮上设有手柄杆，所述手柄杆用于带动所述凸轮转动。

进一步地，所述探针安装板上设有连接孔。

相比现有技术，本实用新型的有益效果在于：可以是将待测探针安装在探针安装板上，然后在第一测试凹槽内放入测试组件的测试探针，测试组件的接触片则可以放入第二测试凹槽，然后可以是通过第一驱动件的带动探针安装板上下运动，实现待测探针与测试探针接触，以通过电性连接片、接触片与测试电路板电性连接，在通电后完成测试，在测试过程中，减少人工操作，且由于第一测试凹槽和第二测试凹槽可以对待测探针以及接触片的位置进行限定，减少测试过程中因移位而出现的接触不良的情况，提高测试精度以及测试小效率。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型的局部结构示意图；

图3为本实用新型的测试组件的局部结构示意图。

图中：10、测试底座；11、第一测试凹槽；12、第二测试凹槽；121、贯通口；31、探针安装板；32、凸轮；33、手柄杆；34、弹性部件；41、弹性压杆；42、螺杆；43、连接板；51、测试电路板；52、测试探针；53、电性连接片；54、接触片。

具体实施方式

下面，结合附图以及具体实施方式，对本实用新型做进一步描述：

在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在限制本实用新型。

如图1-3所示的一种下探针测试工装，包括测试底座10、测试组件以及探针安装组件，在测试底座10上设有第一测试凹槽11以及第二测试凹槽12，且第二测试凹槽12的底端设有贯通口121，该贯通口121可以贯通至测试底座10的底端面。

具体测试组件包括测试电路板51、测试探针52、电性连接片53以及接触片54，将测试电路板51设于测试底座10的下方，且测试电路板51可以封盖于贯通口121的底端，测试电路板51上的测试地电路可以对应于贯通口121的下方。将测试探针52安装于第一测试凹槽11内，接触片54安装于第二测试凹槽12内；接触片54与测试探针52通过电性连接片53电性连接；

另外，探针安装组件包括探针安装板31以及第一驱动件，将探针安装板31安装于第一测试凹槽11的上方，而探针安装板31可以安装待测探针，第一驱动件可以带动探针安装板31靠近或者远离第一测试凹槽11运动，即探针安装板31可以上下运动。探针安装板31在靠近第一测试凹槽11并伸入第一测试凹槽11，以使待测探针压接至测试探针52上，以与测试探针52电性连接。

另外，上述顶压组件包括弹性压杆41以及第二驱动件，将弹性压杆41设于第二测试凹槽12的上方，而第二驱动件可以带动弹性压杆41上下运动，弹性压杆41可以在向下运动后顶压接触片54，以使接触片54与测试电路板51电性连接。

在上述结构基础上，使用本实用新型的下探针测试工装时，在进行下探针的测试时，由于现有的探针都是通过探针排进行安装的，在进行测试时，探针排可以通过插销或者螺栓等结构安装在探针安装板31上，然后通过第一驱动件带动探针安装板31向下运动，探针安装板31上的上探针便可以在探针安装板31向下运动过程中向下伸入第一测试凹槽11内，探针安装板31上的上探针便可以下压至测试探针52上。

此外，也可以将接触片54放置在第二测试凹槽12内，接触片54与第二测试凹槽12的贯通口121对应，然后通过第二驱动件带动弹性压杆41向下运动，弹性压杆41可以顶压接触片54，接触片54可以伸入贯通口121与测试电路板51电性连接。

而由于测试探针52与接触片54通过电性连接片53进行电性连接，在测试电路板51通电后，若是待测探针合格，测试电路可以正常导通，如此实现待测探针以及与测试探针52的测试。

如此，在测试过程中，减少人工操作，且由于第一测试凹槽11和第二测试凹槽12可以对待测探针以及接触片54的位置进行限定，减少测试过程中因移位而出现的接触不良的情况，提高测试精度以及测试小效率。

当然，弹性压杆41在下压接触片54时，也可以减少接触片54出现的移位而导致的接触不良情况，实现稳定的电性连接。弹性压杆41可以选用弹性胶块等结构来实现，由于弹性压杆41由弹性材料制成，因而在下压接触片54时，不易出现接触片54的损坏。此外，由于弹性压杆41的向下运动动作只是为了保持接触片54与测试电路板51的稳定电性连接，因而施加的下压力不会损坏接触片54以及测试电路板51。

需要说明的是，上述电性连接片53、接触片54均可以选用为现有技术中的金属导电片。

本实施例中，上述第二驱动件包括安装座、螺杆42以及连接板43，将上述安装座安装于测试底座10上，而螺杆42螺纹连接于安装座上。将连接板43的一端与螺杆42连接，而连接板43的另一端设有弹性压杆41，且螺杆42可以在转动过程中带动连接板43上下运动，以使弹性压杆41靠近或者远离第二测试凹槽12运动。

在此结构基础上，实现探针安装板31上下运动时，可以通过转动螺杆42，螺杆42在转动过程中由于与安装座是螺纹配合，因而转动过程中，螺杆42可以上下移动，螺杆42的上下运动便可以带动连接板43上下运动，连接板43上下运动便可以带动弹性压杆41上下运动，实现对第二测试凹槽12内的接触片54的顶压以及脱离，在测试完成后，弹性压杆41可以向上运动退出第二测试凹槽12，并与接触片54脱离。

进一步地，上述第一驱动件包括驱动座以及凸轮32，而驱动座安装于测试底座10上，将凸轮32可转动的安装于驱动座上，在这一结构基础上，在进行探针安装板31的驱动时，通过转动凸轮32，凸轮32转动过程中，凸轮32的凸出部可以顶压探针安装板31，探针安装在可以在受凸轮32的凸出部顶压后可以驱使探针安装板31向下运动，探针安装板31上的待测探针便可以向下伸出到第一测试凹槽11内与测试探针52电性连接，完成测试。

进一步地，还可以在第一测试凹槽11的下方设有弹性部件34以及弹性部件34支座，将弹性部件34安装于弹性部件34支座上，而探针安装板31在向下运动过程中顶压弹性部件34；弹性部件34用于提供一驱使探针安装板31向上运动的弹性应力。在该结构基础上，由于上述探针采用凸轮32结构来实现向下顶压，因而在复位时，可以是采用手动带动凸轮32转动复位。而由于探针安装板31下压过程会顶压弹性部件34，因而弹性部件34复位也会提供弹性应力驱使探针安装板31快速复位。

进一步地，在凸轮32上设有手柄杆33，该手柄杆33可以带动凸轮32转动，即凸轮32可以在手柄杆33的带动下转动，手动带动凸轮32转动，实现凸轮32的上下，方便控制。

当然，凸轮32的转动也可以选用电机来带动，自动化程度更高。

进一步地，还可以在探针安装板31上设有连接孔，该连接孔可以供待测探针的探针排以插销或者螺栓穿入，实现连接，方便拆装。

对本领域的技术人员来说，可根据以上描述的技术方案以及构思，做出其它各种相应的改变以及形变，而所有的这些改变以及形变都应该属于本实用新型权利要求的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种下探针测试工装，其特征在于，包括，

测试底座；所述测试底座上设有第一测试凹槽以及第二测试凹槽；所述第二测试凹槽的底端设有贯通口；

测试组件，包括测试电路板、测试探针、电性连接片以及接触片，所述测试电路板设于测试底座的下方并封盖于所述贯通口的底端，所述测试探针安装于所述第一测试凹槽内；所述接触片安装于所述第二测试凹槽内；所述接触片与所述测试探针通过所述电性连接片电性连接；

探针安装组件，包括探针安装板以及第一驱动件，所述探针安装板安装于所述第一测试凹槽的上方，所述探针安装板用于安装待测探针，所述探针安装板用于在所述第一驱动件的带动下靠近或者远离所述第一测试凹槽运动；所述探针安装板用于在靠近所述第一测试凹槽并伸入所述第一测试凹槽，以使待测探针压接至所述测试探针；

顶压组件，弹性压杆以及第二驱动件，所述弹性压杆设于所述第二测试凹槽的上方，所述第二驱动件用于带动所述弹性压杆上下运动；所述弹性压杆用于在向下运动后顶压所述接触片，以使所述接触片与所述测试电路板电性连接。

2.如权利要求1所述的下探针测试工装，其特征在于，所述第二驱动件包括安装座、螺杆以及连接板，所述安装座安装于所述测试底座上，所述螺杆螺纹连接于所述安装座上；所述连接板的一端与所述螺杆连接，所述连接板的另一端设有所述弹性压杆；所述螺杆用于在转动过程中带动所述连接板上下运动，以使弹性压杆靠近或者远离所述第二测试凹槽运动。

3.如权利要求1所述的下探针测试工装，其特征在于，所述第一驱动件包括驱动座以及凸轮，所述驱动座安装于所述测试底座上，所述凸轮可转动的安装于所述驱动座上；所述凸轮的凸出部用于在转动过程中顶压所述探针安装板，以驱使探针安装板向下运动。

4.如权利要求3所述的下探针测试工装，其特征在于，所述测试凹槽的下方设有弹性部件以及弹性部件支座，所述弹性部件安装于所述弹性部件支座上；所述探针安装板用于在向下运动过程中顶压所述弹性部件；所述弹性部件用于提供一驱使所述探针安装板向上运动的弹性应力。

5.如权利要求4所述的下探针测试工装，其特征在于，所述凸轮上设有手柄杆，所述手柄杆用于带动所述凸轮转动。

6.如权利要求1所述的下探针测试工装，其特征在于，所述探针安装板上设有连接孔。