CN219609097U - 一种上探针测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种上探针测试装置，包括，测试底座；测试底座上设有测试凹槽；测试组件，包括测试线、测试电路板、测试探针、电性连接片、接触头以及支撑架，测试探针安装于测试凹槽；测试电路板安装于测试底座上，接触头安装于测试间隔并用于与测试电路板电性连接；测试线安装于测试底座上并延伸至测试凹槽内；探针安装组件，包括探针安装板以及第一驱动件，探针安装板安装于测试凹槽的上方，探针安装板用于安装待测探针，探针安装板用于在第一驱动件的带动下靠近或者远离测试凹槽运动；探针安装板用于在靠近测试凹槽并伸入测试凹槽。本实用新型可以通过第一驱动件带动探针安装板上的待测探针上下运动，以完成测试。

Description

一种上探针测试装置

技术领域

本实用新型涉及测试工装技术领域，尤其涉及一种上探针测试装置。

背景技术

目前，传统上探针检测的办法是人工检测，人工将专用上探针排与测试PCB板连接，另一端与微机电系统连接，然后PCB通电测试。这种方式人工操作繁琐，需要手动固定连接位置，还会由人工操作失误造成误测。

实用新型内容

为了克服现有技术的不足，本实用新型的目的在于提供一种上探针测试装置，其可以通过第一驱动件带动探针安装板上的待测探针上下运动，以完成测试。

本实用新型的目的采用以下技术方案实现：

一种上探针测试装置，包括，

测试底座；所述测试底座上设有测试凹槽；

测试组件，包括测试线、测试电路板、测试探针、电性连接片、接触头以及支撑架，所述测试探针安装于所述测试凹槽；所述测试探针通过电性连接片与所述接触头电性连接；所述测试电路板安装于所述测试底座上，所述支撑架设于所述测试电路板的下方并与所述测试电路板间隔设置并形成为测试间隔；所述接触头安装于所述测试间隔并用于与所述测试电路板电性连接；所述测试线安装于测试底座上并延伸至所述测试凹槽内，并与所述测试电路板电性连接；

探针安装组件，包括探针安装板以及第一驱动件，所述探针安装板安装于所述测试凹槽的上方，所述探针安装板用于安装待测探针，所述探针安装板用于在所述第一驱动件的带动下靠近或者远离所述测试凹槽运动；所述探针安装板用于在靠近所述测试凹槽并伸入所述测试凹槽，以使待测探针压接至所述测试线以与测试线电性连接。

进一步地，所述测试组件还包括弹性下压组件，所述弹性下压组件安装于所述测试底座，所述弹性下压组件包括弹性压杆以及第二驱动件，所述弹性压杆设于所述测试电路板的上方，所述弹性压杆用于在所述第二驱动件的带动下靠近所述测试电路板运动，并顶压所述测试电路板以使测试电路板与所述接触头保持电性连接状态。

进一步地，所述第二驱动件包括安装座、螺杆以及连接板，所述安装座安装于所述测试底座上，所述螺杆螺纹连接于所述安装座上；所述连接板的一端与所述螺杆连接，所述连接板的另一端设有所述弹性压杆；所述螺杆用于在转动过程中带动所述连接板上下运动，以使弹性压杆靠近或者远离所述测试电路板运动。

进一步地，所述第一驱动件包括驱动座以及凸轮，所述驱动座安装于所述测试底座上，所述凸轮可转动的安装于所述驱动座上；所述凸轮的凸出部用于在转动过程中顶压所述探针安装板，以驱使探针安装板向下运动。

进一步地，所述测试凹槽的下方设有弹性部件以及弹性部件支座，所述弹性部件安装于所述弹性部件支座上；所述探针安装板用于在向下运动过程中顶压所述弹性部件；所述弹性部件用于提供一驱使所述探针安装板向上运动的弹性应力。

进一步地，所述凸轮上设有手柄杆，所述手柄杆用于带动所述凸轮转动。

进一步地，所述探针安装板上设有连接孔。

相比现有技术，本实用新型的有益效果在于：待测探针可以是通过第一驱动件的带动下上下运动，通过与测试组件的测试线电性连接，将测试组件的待测探针、接触头与测试电路板电性连接并导通，实现待测探针的测试，在测试过程中，减少人工操作，且测试位置可以限制在测试凹槽，提高测试精度以及测试效率。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型的局部结构示意图；

图3为本实用新型的测试组件的局部结构示意图。

图中：10、测试底座；21、测试电路板；22、测试探针；23、电池连接片；24、接触头；25、支撑架；26、测试线；27、弹性压杆；28、安装座；29、螺杆；31、探针安装板；32、凸轮；33、驱动座；34、弹性部件安装座；35、弹性部件；40、待测探针。

具体实施方式

下面，结合附图以及具体实施方式，对本实用新型做进一步描述：

在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在限制本实用新型。

如图1-3所示的一种上探针测试装置，包括测试底座10、测试组件以及探针安装组件，在测试底座10上设有测试凹槽。测试组件包括测试线26、测试电路板21、测试探针22、电性连接片、接触头24以及支撑架25，将测试探针22安装于测试凹槽，测试探针22可以通过电性连接片与接触头24电性连接，上述测试电路板21安装于测试底座10上。将支撑架25设于测试电路板21的下方并与测试电路板21间隔设置，测试电路板21可以与支撑架25之间形成为测试间隔。将接触头24安装于测试间隔，接触头24可以与测试电路板21电性连接，上述测试线26安装于测试底座10上并延伸至测试凹槽内，并与测试电路板21电性连接。

另外，探针安装组件包括探针安装板31以及第一驱动件，将探针安装板31安装于测试凹槽的上方，而探针安装板31可以安装待测探针40，第一驱动件可以带动探针安装板31靠近或者远离测试凹槽运动，即探针安装板31可以上下运动。探针安装板31在靠近测试凹槽并伸入测试凹槽，以使待测探针40压接至测试线26以与测试线26电性连接。

在上述结构基础上，在进行上探针的测试时，由于现有的探针都是通过探针排进行安装的，在进行测试时，探针排可以通过插销或者螺栓等结构安装在探针安装板31上，然后通过第一驱动件带动探针安装板31向下运动，探针安装板31上的上探针便可以在探针安装板31向下运动过程中向下伸入测试凹槽内，探针安装板31上的上探针便可以下压至测试线26上。

而由于测试线26是与测试电路板21上，测试电路板21可以与接触头24电性连接，而接触头24与测试探针22通过电性连接片实现电性连接，故在待测探针40与测试线26电性连接后，通过测试电路板21通电，若是待测探针40合格，测试电路可以正常导通，如此实现待测探针40以及与测试探针22的测试。

在上述过程中，测试探针22可以是通过第一驱动件的带动下上下运动，实现测试探针22的测试，在测试过程中，减少人工操作，且测试位置可以限制在测试凹槽，提高测试精度以及测试小效率。

进一步地，上述测试组件还包括弹性下压组件，弹性下压组件安装于测试底座10，具体弹性下压组件包括弹性压杆27以及第二驱动件，将弹性压杆27设于测试电路板21的上方，该弹性压杆27可以在第二驱动件的带动下靠近测试电路板21运动，且弹性压杆27可以在顶压测试电路板21后，驱使测试电路板21与接触头24保持电性连接状态。

在该结构基础上，在进行测试时，在装配测试组件的接触头24时，可以将接触头24放置在测试电路板21的下方与支撑架25之间形成的测试间隔内，为了防止在测试过程中，接触头24在测试间隔内移动而出现的接触不良情况，因而可以在通过第二驱动件带动弹性压杆27向下运动，弹性压杆27向下运动后可以顶紧测试电路板21，测试电路板21便可以压紧在接触头24，实现稳定的电性连接。

当然，弹性压杆27可以选用弹性胶块等结构来实现，由于弹性压杆27由弹性材料制成，因而在下压测试电路板21时，不易出现测试电路板21的损坏。

需要说明的是，由于弹性压杆27的向下运动动作只是为了保持测试电路板21与接触头24的稳定电性连接，因而施加的下压力不会损坏测试电路板21。

本实施例中，上述第二驱动件包括安装座28、螺杆29以及连接板，将上述安装座28安装于测试底座10上，而螺杆29螺纹连接于安装座28上。将连接板的一端与螺杆29连接，而连接板的另一端设有弹性压杆27，且螺杆29可以在转动过程中带动连接板上下运动，以使弹性压杆27靠近或者远离测试电路板21运动。

在此结构基础上，实现探针安装板31上下运动时，可以通过转动螺杆29，螺杆29在转动过程中由于与安装座28是螺纹配合，因而转动过程中，螺杆29可以上下移动，螺杆29的上下运动便可以带动连接板上下运动，连接板上下运动便可以带动弹性压杆27上下运动，实现对测试电路板21的顶压以及脱离，在测试完成后，弹性压杆27可以与测试电路板21脱离，方便接触头24取出测试间隔。

进一步地，上述第一驱动件包括驱动座33以及凸轮32，而驱动座33安装于测试底座10上，将凸轮32可转动的安装于驱动座33上，在这一结构基础上，在进行探针安装板31的驱动时，通过转动凸轮32，凸轮32转动过程中，凸轮32的凸出部可以顶压探针安装板31，探针安装在可以在受凸轮32的凸出部顶压后可以驱使探针安装板31向下运动，探针安装板31上的待测探针40便可以向下伸出到测试凹槽内与测试线26电性连接，完成测试。

进一步地，还可以在测试凹槽的下方设有弹性部件35以及弹性部件35支座，将弹性部件35安装于弹性部件35支座上，而探针安装板31在向下运动过程中顶压弹性部件35；弹性部件35用于提供一驱使探针安装板31向上运动的弹性应力。在该结构基础上，由于上述探针采用凸轮32结构来实现向下顶压，因而在复位时，可以是采用手动带动凸轮32转动复位。而由于探针安装板31下压过程会顶压弹性部件35，因而弹性部件35复位也会提供弹性应力驱使探针安装板31快速复位。

进一步地，在凸轮32上设有手柄杆，该手柄杆可以带动凸轮32转动，即凸轮32可以在手柄杆的带动下转动，手动带动凸轮32转动，实现凸轮32的上下，方便控制。

当然，凸轮32的转动也可以选用电机来带动，自动化程度更高。

进一步地，还可以在探针安装板31上设有连接孔，该连接孔可以供待测探针40的探针排以插销或者螺栓穿入，实现连接，方便拆装。

对本领域的技术人员来说，可根据以上描述的技术方案以及构思，做出其它各种相应的改变以及形变，而所有的这些改变以及形变都应该属于本实用新型权利要求的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种上探针测试装置，其特征在于，包括，

测试底座；所述测试底座上设有测试凹槽；

测试组件，包括测试线、测试电路板、测试探针、电性连接片、接触头以及支撑架，所述测试探针安装于所述测试凹槽；所述测试探针通过电性连接片与所述接触头电性连接；所述测试电路板安装于所述测试底座上，所述支撑架设于所述测试电路板的下方并与所述测试电路板间隔设置并形成为测试间隔；所述接触头安装于所述测试间隔并用于与所述测试电路板电性连接；所述测试线安装于测试底座上并延伸至所述测试凹槽内，并与所述测试电路板电性连接；

探针安装组件，包括探针安装板以及第一驱动件，所述探针安装板安装于所述测试凹槽的上方，所述探针安装板用于安装待测探针，所述探针安装板用于在所述第一驱动件的带动下靠近或者远离所述测试凹槽运动；所述探针安装板用于在靠近所述测试凹槽并伸入所述测试凹槽，以使待测探针压接至所述测试线以与测试线电性连接。

2.如权利要求1所述的上探针测试装置，其特征在于，所述测试组件还包括弹性下压组件，所述弹性下压组件安装于所述测试底座，所述弹性下压组件包括弹性压杆以及第二驱动件，所述弹性压杆设于所述测试电路板的上方，所述弹性压杆用于在所述第二驱动件的带动下靠近所述测试电路板运动，并顶压所述测试电路板以使测试电路板与所述接触头保持电性连接状态。

3.如权利要求2所述的上探针测试装置，其特征在于，所述第二驱动件包括安装座、螺杆以及连接板，所述安装座安装于所述测试底座上，所述螺杆螺纹连接于所述安装座上；所述连接板的一端与所述螺杆连接，所述连接板的另一端设有所述弹性压杆；所述螺杆用于在转动过程中带动所述连接板上下运动，以使弹性压杆靠近或者远离所述测试电路板运动。

4.如权利要求1所述的上探针测试装置，其特征在于，所述第一驱动件包括驱动座以及凸轮，所述驱动座安装于所述测试底座上，所述凸轮可转动的安装于所述驱动座上；所述凸轮的凸出部用于在转动过程中顶压所述探针安装板，以驱使探针安装板向下运动。

5.如权利要求4所述的上探针测试装置，其特征在于，所述测试凹槽的下方设有弹性部件以及弹性部件支座，所述弹性部件安装于所述弹性部件支座上；所述探针安装板用于在向下运动过程中顶压所述弹性部件；所述弹性部件用于提供一驱使所述探针安装板向上运动的弹性应力。

6.如权利要求4所述的上探针测试装置，其特征在于，所述凸轮上设有手柄杆，所述手柄杆用于带动所述凸轮转动。

7.如权利要求1所述的上探针测试装置，其特征在于，所述探针安装板上设有连接孔。