CN219869495U - 一种瓦楞纸表面波形瓦楞均匀度测量装置 - Google Patents

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刘宗银
王伟祥
谌晓亚
周杰
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Abstract

本实用新型涉瓦楞纸生产装置技术领域,尤其为一种瓦楞纸表面波形瓦楞均匀度测量装置,包括调节组件和测量组件,其特征在于:所述调节组件的前侧设置有测量组件,通过在瓦楞纸表面波形瓦楞均匀度测量装置上设置调节组件和测量组件,在进行测量时,通过调节组件可带动测量线向下移动,当每个测量线都卡接在凹陷的位置处时,瓦楞纸表面波形较为均匀,若有部分测量线没有卡接在凹陷的位置处时,瓦楞纸表面波形不均匀,从而在测量时,可快速的测量出瓦楞纸表面波形的均匀度,在测量时较为方便,整体装置结构简单、操作方便且实用性更高。

Description

一种瓦楞纸表面波形瓦楞均匀度测量装置
技术领域
本实用新型涉瓦楞纸生产装置技术领域,具体为一种瓦楞纸表面波形瓦楞均匀度测量装置。
背景技术
瓦楞纸是由挂面纸和通过瓦楞棍加工而形成的波形的瓦楞纸粘合而成的板状物,在进行加工时,需要对瓦楞纸表面波形瓦楞均匀度进行测量,从而可确保瓦楞纸的质量,但是现有的测量装置不能快速的对瓦楞纸表面的波形瓦楞均匀度进行测量。
因此需要一种瓦楞纸表面波形瓦楞均匀度测量装置对上述问题做出改善。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种瓦楞纸表面波形瓦楞均匀度测量装置,以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:
一种瓦楞纸表面波形瓦楞均匀度测量装置,包括调节组件和测量组件,其特征在于:所述调节组件的前侧设置有测量组件;
所述调节组件包括支撑板,所述支撑板的正面左右对称设置有滑轨,所述支撑板的正面且位于滑轨之间上下对称设置有支撑块,两个所述支撑块之间转动设置有螺纹杆,所述支撑板的基面与螺纹杆的上端相对应设置有驱动电机,所述滑轨的正面滑动设置有滑块,所述螺纹杆的外壁螺纹设置有连接块,所述连接块和滑块之间设置有滑动板,所述滑动板的正面设置有连接架;
所述测量组件包括支撑框,所述支撑框内部的前侧设置有第一连接杆,所述支撑框内部的后侧设置有第二连接杆,所述第一连接杆和第二连接杆的底部之间设置有测量线,所述第一连接杆和第二连接杆的左右两侧对称设置有限位块,所述限位块的基面开设有连接孔,所述支撑框基面的拐角处均设置有连接柱。
作为本实用新型优选的方案,所述支撑板呈“L”形结构设置,且所述驱动电机的驱动端通过连接轴与螺纹杆的上端相连接。
作为本实用新型优选的方案,所述支撑框的背面与连接架正面的下侧相连接。
作为本实用新型优选的方案,所述连接架呈“L”形结构设置。
作为本实用新型优选的方案,所述连接柱与连接孔相对应适配设置。
作为本实用新型优选的方案,所述第一连接杆和第二连接杆均与支撑框相适配设置。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:
本实用新型中,通过在瓦楞纸表面波形瓦楞均匀度测量装置上设置调节组件和测量组件,在进行测量时,通过调节组件可带动测量线向下移动,当每个测量线都卡接在凹陷的位置处时,瓦楞纸表面波形较为均匀,若有部分测量线没有卡接在凹陷的位置处时,瓦楞纸表面波形不均匀,从而在测量时,可快速的测量出瓦楞纸表面波形的均匀度,在测量时较为方便,整体装置结构简单、操作方便且实用性更高。
附图说明
图1为本实用新型整体主视图;
图2为本实用新型调节组件结构图;
图3为本实用新型测量组件结构图。
图中:1、调节组件;2、测量组件;101、支撑板;102、滑轨;103、支撑块;104、螺纹杆;105、驱动电机;106、滑块;107、连接块;108、滑动板;109、连接架;201、支撑框;202、第一连接杆;203、第二连接杆;204、测量线;205、限位块;206、连接孔;207、连接柱。
实施方式
下面将结合本实用新型实施例,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例,基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
为了便于理解本实用新型,下面将参照相关附图对本实用新型进行更全面的描述,给出了本实用新型的若干实施例,但是,本实用新型可以以许多不同的形式来实现,并不限于本文所描述的实施例,相反地,提供这些实施例的目的是使对本实用新型的公开内容更加透彻全面。
需要说明的是,当元件被称为“固设于”另一个元件,它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件,当一个元件被认为是“连接”另一个元件,它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件,本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。
除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同,本文中在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的,不是旨在于限制本实用新型,本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
实施例,请参阅图1-3,本实用新型提供一种技术方案:
一种瓦楞纸表面波形瓦楞均匀度测量装置,包括调节组件1和测量组件2,调节组件1的前侧设置有测量组件2;
在该实施例中,请参照图2,调节组件1包括支撑板101,支撑板101呈“L”形结构设置,支撑板101的正面左右对称设置有滑轨102,支撑板101的正面且位于滑轨102之间上下对称设置有支撑块103,两个支撑块103之间转动设置有螺纹杆104,支撑板101的基面与螺纹杆104的上端相对应设置有驱动电机105,驱动电机105的驱动端通过连接轴与螺纹杆104的上端相连接,滑轨102的正面滑动设置有滑块106,螺纹杆104的外壁螺纹设置有连接块107,连接块107和滑块106之间设置有滑动板108,滑动板108的正面设置有连接架109,连接架109呈“L”形结构设置;
在该实施例中,请参照图3,测量组件2包括支撑框201,支撑框201的背面与连接架109正面的下侧相连接,支撑框201内部的前侧设置有第一连接杆202,支撑框201内部的后侧设置有第二连接杆203,第一连接杆202和第二连接杆203均与支撑框201相适配设置,第一连接杆202和第二连接杆203的底部之间设置有测量线204,第一连接杆202和第二连接杆203的左右两侧对称设置有限位块205,限位块205的基面开设有连接孔206,支撑框201基面的拐角处均设置有连接柱207,连接柱207与连接孔206相对应适配设置,通过在瓦楞纸表面波形瓦楞均匀度测量装置上设置调节组件1和测量组件2,在进行测量时,通过调节组件1可带动测量线204向下移动,当每个测量线204都卡接在凹陷的位置处时,瓦楞纸表面波形较为均匀,若有部分测量线204没有卡接在凹陷的位置处时,瓦楞纸表面波形不均匀,从而在测量时,可快速的测量出瓦楞纸表面波形的均匀度,在测量时较为方便,整体装置结构简单、操作方便且实用性更高。
本实用新型工作流程:在使用瓦楞纸表面波形瓦楞均匀度测量装置时,首先将整体装置安装在合适的位置处,根据瓦楞纸波形的大小不同对第一连接杆202、第二连接杆203和测量线204进行更换,将其更换为距离相适配的测量线204,然后通过限位块205和连接柱207将其固定在支撑框201上,接着将瓦楞纸放置在测量组件的下侧,接着运行驱动电机105,驱动电机105带动螺纹杆104进行转动,由于连接块107与螺纹杆104的连接方式为螺纹连接,且通过滑块106与滑轨102的限位,可带动滑动板108向下移动,从而通过连接架109带动支撑框201向下移动,使测量线204与瓦楞纸进行接触,若每个测量线204都卡接在凹陷的位置处时,瓦楞纸表面波形较为均匀,若有部分测量线204没有卡接在凹陷的位置处时,瓦楞纸表面波形不均匀,从而在测量时,可快速的测量出瓦楞纸表面波形的均匀度,在测量时较为方便,整体装置结构简单、操作方便且实用性更高。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (6)

1.一种瓦楞纸表面波形瓦楞均匀度测量装置,包括调节组件(1)和测量组件(2),其特征在于:所述调节组件(1)的前侧设置有测量组件(2);
所述调节组件(1)包括支撑板(101),所述支撑板(101)的正面左右对称设置有滑轨(102),所述支撑板(101)的正面且位于滑轨(102)之间上下对称设置有支撑块(103),两个所述支撑块(103)之间转动设置有螺纹杆(104),所述支撑板(101)的基面与螺纹杆(104)的上端相对应设置有驱动电机(105),所述滑轨(102)的正面滑动设置有滑块(106),所述螺纹杆(104)的外壁螺纹设置有连接块(107),所述连接块(107)和滑块(106)之间设置有滑动板(108),所述滑动板(108)的正面设置有连接架(109);
所述测量组件(2)包括支撑框(201),所述支撑框(201)内部的前侧设置有第一连接杆(202),所述支撑框(201)内部的后侧设置有第二连接杆(203),所述第一连接杆(202)和第二连接杆(203)的底部之间设置有测量线(204),所述第一连接杆(202)和第二连接杆(203)的左右两侧对称设置有限位块(205),所述限位块(205)的基面开设有连接孔(206),所述支撑框(201)基面的拐角处均设置有连接柱(207)。
2.根据权利要求1所述的一种瓦楞纸表面波形瓦楞均匀度测量装置,其特征在于:所述支撑板(101)呈“L”形结构设置,且所述驱动电机(105)的驱动端通过连接轴与螺纹杆(104)的上端相连接。
3.根据权利要求1所述的一种瓦楞纸表面波形瓦楞均匀度测量装置,其特征在于:所述支撑框(201)的背面与连接架(109)正面的下侧相连接。
4.根据权利要求1所述的一种瓦楞纸表面波形瓦楞均匀度测量装置,其特征在于:所述连接架(109)呈“L”形结构设置。
5.根据权利要求1所述的一种瓦楞纸表面波形瓦楞均匀度测量装置,其特征在于:所述连接柱(207)与连接孔(206)相对应适配设置。
6.根据权利要求1所述的一种瓦楞纸表面波形瓦楞均匀度测量装置,其特征在于:所述第一连接杆(202)和第二连接杆(203)均与支撑框(201)相适配设置。
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