CN219810983U - 一种芯片测试调试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型属于芯片测试设备技术领域，尤其为一种芯片测试调试装置，包括若干组真空管，还包括设置在所述真空管一侧的连接组件；所述连接组件包括设置在所述真空管一侧的长板以及固定在所述长板顶部的第二固定板和滑动连接在所述长板内部的移动块，所述移动块的顶部两组均开设有第一螺纹槽组，所述第一连接板的顶部开设有若干组第二螺纹槽组，第一螺纹槽组与所述第二螺纹槽组通过第一固定螺母固定连接，通过设置的连接组件，装置根据生产需求进行加装真空管，装置可根据不同批次的芯片，调节真空管的数量，真空管的位置可进行调节，通过设置的放置工装组件，可对芯片的位置进行调节，从而适应后续的上料和下料步骤。

Description

一种芯片测试调试装置

技术领域

本实用新型属于芯片测试设备技术领域，具体涉及一种芯片测试调试装置。

背景技术

随着以触控识别为代表的生物识别技术的飞速发展，电子设备几乎都配备触控识别功能，一般采用电容式或电阻式来实现触控识别，触控芯片测试用于芯片的按压测试；

经查公开(公告)号：CN208206681U公开了一种触控芯片的批量按压测试装置，此技术公开了“包括装置本体，所述装置本体包括底座，所述底座分为定位层、吸附层和控制层，所述定位层、所述吸附层和所述控制层由上而下依次排列，所述定位层内设有若干定位槽，所述定位槽的深度与待测芯片的厚度相当等技术内容；仿手指按压在待测芯片的表面，模拟人的手指进行按压动作，仿手指底部内侧的压力传感器实时监测实际压力值等技术效果”；

虽然该设计能够模拟人的手指进行按压动作，仿手指底部内侧的压力传感器实时监测实际压力值，并且批量进行检测，但是在实际的使用过程中，在对不同批次的芯片进行批量检测时，装置不方便加装多余真空管用于固定芯片，无法根据使用需求灵活调整单次测试的芯片数量，实用性较差；

为解决上述问题，本申请中提出一种芯片测试调试装置。

实用新型内容

为解决上述背景技术中提出的问题。本实用新型提供了一种芯片测试调试装置，具有根据生产需求进行加装真空管，装置可根据不同批次的芯片，调节真空管的数量，可以根据使用需求灵活调整单次测试的芯片数量的特点。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种芯片测试调试装置，包括若干组真空管，还包括设置在所述真空管一侧的连接组件；

所述连接组件包括设置在所述真空管一侧的长板以及固定在所述长板顶部的第二固定板和滑动连接在所述长板内部的移动块，所述移动块的顶部两组均开设有第一螺纹槽组。

作为本实用新型一种芯片测试调试装置优选的，第一螺纹槽组上方设置有第一连接板，所述第一连接板的顶部开设有若干组第二螺纹槽组，第一螺纹槽组与所述第二螺纹槽组通过第一固定螺母固定连接，所述第二固定板的顶部两侧开设有第三螺纹槽组，所述第二固定板的顶部开设有若干个组第四螺纹槽组，第三螺纹槽组与第四螺纹槽组通过第二固定螺母固定连接，所述长板的表面开设有两组条形槽，所述条形槽内部滑动连接有旋转滑动栓头，所述移动块的顶部开设有与所述旋转滑动栓头相适配的第一通孔，所述真空管的的外表面固定有移动板，所述移动板靠近所述长板一端开设有与所述旋转滑动栓头相适配的第二通孔，所述旋转滑动栓头的顶部外表面开设有螺纹，所述旋转滑动栓头的顶部螺纹连接有栓头螺纹帽。

作为本实用新型一种芯片测试调试装置优选的，所述移动块远离所述真空管的一侧固定有伸缩杆，所述长板远离所述真空管的顶部一端固定有伸缩座，所述伸缩杆远离所述移动块的一端固定在所述伸缩座的内部。

作为本实用新型一种芯片测试调试装置优选的，其中一组所述长板的底部固定连接有顶升电机，所述顶升电机的底部固定连接有减速电机，所述减速电机的底部固定连接有安装主架。

作为本实用新型一种芯片测试调试装置优选的，还包括设置在所述真空管底部的放置工装组件，所述放置工装组件包括设置在所述真空管底部的底架以及固定在所述底架顶部的电动转盘和转动连接在所述电动转盘输出端的旋转盘。

作为本实用新型一种芯片测试调试装置优选的，所述旋转盘的顶部环形阵列开设有若干组工装槽。

作为本实用新型一种芯片测试调试装置优选的，所述底架的输入轴连接有伺服电机，所述安装主架的外壁固定在所述底架的内壁上。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

通过设置的连接组件，装置根据生产需求进行加装真空管，装置可根据不同批次的芯片，调节真空管的数量，可以根据使用需求灵活调整单次测试的芯片数量，真空管的位置可进行调节，通过设置的放置工装组件，可对芯片的位置进行调节，从而适应后续的上料和下料步骤。

附图说明

附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制。在附图中：

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型中连接组件的结构示意图；

图3为本实用新型中连接组件的部分结构示意图；

图4为本实用新型中旋转滑动栓头的结构示意图；

图5为本实用新型中放置工装组件的部分结构示意图；

图中：

1、真空管；

2、连接组件；21、长板；22、条形槽；23、移动板；24、移动块；25、安装主架；26、旋转滑动栓头；27、栓头螺纹帽；28、伸缩座；29、伸缩杆；201、第一连接板；202、第一固定螺母；203、第二固定板；204、第二固定螺母；205、顶升电机；206、减速电机；

3、放置工装组件；31、旋转盘；32、工装槽；33、伺服电机；34、电动转盘；35、底架。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

实施例1

如图1所示；

一种芯片测试调试装置，包括若干组真空管1。

本实施方案中：经查公开(公告)号：CN208206681U公开了一种触控芯片的批量按压测试装置，此专利中公开了本申请文件中所提出的真空管，本申请文件中的真空管1采用此现有技术中同样的技术手段，此技术手段在此不一一赘述，详情参阅下文公开技术；为解决此现有技术中存在的技术问题，如上文背景技术公开的“虽然该设计能够模拟人的手指进行按压动作，仿手指底部内侧的压力传感器实时监测实际压力值，并且批量进行检测，但是在实际的使用过程中，在对不同批次的芯片进行批量检测时，装置不方便加装多余真空管用于固定芯片，无法根据使用需求灵活调整单次测试的芯片数量，实用性较差”，结合实际使用而言，此问题显然是现实存在且比较难以解决的问题，鉴此，为解决此技术问题，在此基础加上了连接组件2和放置工装组件3。

如图1和图5所示；

结合上述内容，为了适配多组测试装置，还包括设置在真空管1一侧的连接组件2；连接组件2包括设置在真空管1一侧的长板21以及固定在长板21顶部的第二固定板203和滑动连接在长板21内部的移动块24，移动块24的顶部两组均开设有第一螺纹槽组，第一螺纹槽组上方设置有第一连接板201，第一连接板201的顶部开设有若干组第二螺纹槽组。

本实施方案中：根据芯片之间的间距调节长板21之间的间距，首先通过在长板21的顶部与第二固定板203用第二固定螺母204固定，然后在第二固定螺母204的底部加装长板21，根据芯片工装上的芯片间距调节。

在一个可选的实施例中，第一螺纹槽组与第二螺纹槽组通过第一固定螺母202固定连接，第二固定板203的顶部两侧开设有第三螺纹槽组，第二固定板203的顶部开设有若干个组第四螺纹槽组，第三螺纹槽组与第四螺纹槽组通过第二固定螺母204固定连接，长板21的表面开设有两组条形槽22，条形槽22内部滑动连接有旋转滑动栓头26，移动块24的顶部开设有与旋转滑动栓头26相适配的第一通孔，真空管的1的外表面固定有移动板23，移动板23靠近长板21一端开设有与旋转滑动栓头26相适配的第二通孔，旋转滑动栓头26的顶部外表面开设有螺纹，旋转滑动栓头26的顶部螺纹连接有栓头螺纹帽27。

本实施方案中：旋转滑动栓头26的顶端有螺纹用于固定长板21，中端可在条形槽22内部滑动，底端与长板21转动连接。

在一个可选的实施例中，移动块24远离真空管1的一侧固定有伸缩杆29，长板21远离真空管1的顶部一端固定有伸缩座28，伸缩杆29远离移动块24的一端固定在伸缩座28的内部。

本实施方案中：伸缩座28固定在长板21的顶部，伸缩座28用于固定伸缩杆29。

在一个可选的实施例中，其中一组长板21的底部固定连接有顶升电机205，顶升电机205的底部固定连接有减速电机206，减速电机206的底部固定连接有安装主架25。

本实施方案中：顶升电机205用于将若干个真空管1下降，对准芯片，减速电机206用于将真空管1移动至下一个工位。

如图1和图5所示；

结合上述内容，为了移动工装，还包括设置在真空管1底部的放置工装组件3，放置工装组件3包括设置在真空管1底部的底架35以及固定在底架35顶部的电动转盘34和转动连接在电动转盘34输出端的旋转盘31。

本实施方案中：旋转盘31用于旋转芯片工装(图中未示出)，电动转盘34为旋转盘31的旋转构件，底架35用于固定放置工装组件3，可对芯片的位置进行调节，从而适应后续的上料和下料步骤。

在一个可选的实施例中，旋转盘31的顶部环形阵列开设有若干组工装槽32。

本实施方案中：工装槽32用于放置芯片工装(图中未示出)。

在一个可选的实施例中，底架35的输入轴连接有伺服电机33，安装主架25的外壁固定在底架35的内壁上。

本实施方案中：伺服电机33是底架35的驱动件，连接组件2通过安装主架25固定在底架35内。

本实用新型的工作原理及使用流程：根据芯片工装(图中未示出)上的芯片排列数调节真空管1的数量，首先将芯片工装(图中未示出)放在旋转盘31顶部工装槽32内部，根据芯片之间的间距调节多组长板21之间的间距，首先通过在长板21的顶部与第二固定板203用第二固定螺母204固定，然后在第二固定螺母204的底部加装长板21，根据芯片工装上的芯片间距调节，真空管1之间的角度，通过拧送栓头螺纹帽27，此时移动板23可在栓头螺纹帽27的轨迹转动，根据芯片之间的间距调节真空管1之间的间距，通过伸缩杆29可使真空管1的底部对准在芯片的上方，根据芯片工装(图中未示出)的位置，通过控制伸缩杆29拉动移动块24，移动块24拉动移动板23在条形槽22轨迹滑动，使真空管1处于芯片的上方，通过伸缩杆29的行程控制对位不同列的芯片，旋转滑动栓头26和栓头螺纹帽27的配合使用用于对排的芯片，在安装好第一连接板201和第二固定板203的位置后，顶升电机205用于将若干个真空管1下降，对准芯片，减速电机206用于将真空管1移动至下一个工位。

最后应说明的是：以上仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种芯片测试调试装置，包括若干组真空管(1)，其特征在于：还包括设置在所述真空管(1)一侧的连接组件(2)；

所述连接组件(2)包括设置在所述真空管(1)一侧的长板(21)以及固定在所述长板(21)顶部的第二固定板(203)和滑动连接在所述长板(21)内部的移动块(24)；所述移动块(24)的顶部两组均开设有第一螺纹槽组，第一螺纹槽组上方设置有第一连接板(201)，所述第一连接板(201)的顶部开设有若干组第二螺纹槽组，第一螺纹槽组与所述第二螺纹槽组通过第一固定螺母(202)固定连接，所述第二固定板(203)的顶部两侧开设有第三螺纹槽组，所述第二固定板(203)的顶部开设有若干个组第四螺纹槽组，第三螺纹槽组与第四螺纹槽组通过第二固定螺母(204)固定连接，所述长板(21)的表面开设有两组条形槽(22)，所述条形槽(22)内部滑动连接有旋转滑动栓头(26)，所述移动块(24)的顶部开设有与所述旋转滑动栓头(26)相适配的第一通孔，所述真空管(1)的外表面固定有移动板(23)，所述移动板(23)靠近所述长板(21)一端开设有与所述旋转滑动栓头(26)相适配的第二通孔，所述旋转滑动栓头(26)的顶部外表面开设有螺纹，所述旋转滑动栓头(26)的顶部螺纹连接有栓头螺纹帽(27)。

2.根据权利要求1所述的芯片测试调试装置，其特征在于：所述移动块(24)远离所述真空管(1)的一侧固定有伸缩杆(29)，所述长板(21)远离所述真空管(1)的顶部一端固定有伸缩座(28)，所述伸缩杆(29)远离所述移动块(24)的一端固定在所述伸缩座(28)的内部。

3.根据权利要求1所述的芯片测试调试装置，其特征在于：其中一组所述长板(21)的底部固定连接有顶升电机(205)，所述顶升电机(205)的底部固定连接有减速电机(206)，所述减速电机(206)的底部固定连接有安装主架(25)。

4.根据权利要求3所述的芯片测试调试装置，其特征在于：还包括设置在所述真空管(1)底部的放置工装组件(3)，所述放置工装组件(3)包括设置在所述真空管(1)底部的底架(35)以及固定在所述底架(35)顶部的电动转盘(34)和转动连接在所述电动转盘(34)输出端的旋转盘(31)。

5.根据权利要求4所述的芯片测试调试装置，其特征在于：所述旋转盘(31)的顶部环形阵列开设有若干组工装槽(32)。

6.根据权利要求4所述的芯片测试调试装置，其特征在于：所述底架(35)的输入轴连接有伺服电机(33)，所述安装主架(25)的外壁固定在所述底架(35)的内壁上。