CN219798667U - 微型发光二极管显示芯片的测试平台 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种微型发光二极管显示芯片的测试平台。该测试平台包括：测试腔室，用于容置待测微型发光二极管显示芯片，并提供对微型发光二极管显示芯片进行光学测试所需的暗室环境；光谱仪，其至少用于对待测微型发光二极管显示芯片进行光学检测；调节组件，其至少用于使待测微型发光二极管显示芯片于一三维坐标系内运动，以使光谱仪的光学中心与待测微型发光二极管显示芯片相对应，且使光谱仪发出的黑色测试光斑聚焦到待测微型发光二极管显示芯片上。本实用新型提供的一种微型发光二极管显示芯片的测试平台更适合对微型发光二极管显示芯片幕进行测试，其性价比更高，且携带方便，从而可以更好的满足实际的测试需求。

Description

微型发光二极管显示芯片的测试平台

技术领域

本实用新型特别涉及一种微型发光二极管(Micro LED)显示芯片的测试平台，属于屏幕展示或测试技术领域。

背景技术

现有屏幕测试平台一般价格昂贵，且体积过大，随着microledAR屏幕的小型化的发展，市场上的平台越来越不适合小型化的需要。

实用新型内容

本实用新型的主要目的在于提供一种微型发光二极管显示芯片的测试平台，从而克服现有技术中的不足。

为实现前述实用新型目的，本实用新型采用的技术方案包括：

本实用新型提供了一种微型发光二极管显示芯片的测试平台，包括：

测试腔室，用于容置待测微型发光二极管显示芯片，并提供对微型发光二极管显示芯片进行光学测试所需的暗室环境；

光谱仪，其至少用于对待测微型发光二极管显示芯片进行光学检测；

调节组件，其至少用于使待测微型发光二极管显示芯片于一三维坐标系内运动，以使光谱仪的光学中心与待测微型发光二极管显示芯片相对应，且使光谱仪提供的黑色测试光斑聚焦到待测微型发光二极管显示芯片上。

进一步的，所述调节组件包括承载台和驱动组件，所述承载台用于固定微型发光二极管显示芯片，所述驱动组件与所述承载台传动连接，并能够驱使所述承载台于所述三维坐标系内运动；

进一步的，所述驱动组件包括z轴升降机构、x轴平移机构、yz平移机构和x轴旋转机构中的至少一者，所述承载台与所述z轴升降机构、x轴平移机构、yz平移机构和x轴旋转机构中的至少一者传动连接，所述z轴升降机构用于驱使所述承载台沿所述三维坐标系的z轴升降，所述x轴平移机构用于驱使所述承载台沿所述三维坐标系的x轴平移，所述yz平移机构用于驱使所述承载台于所述三维坐标系的yz平面内平移，所述x轴旋转机构用于驱使所述承载台绕所述三维坐标系的x轴旋转。

进一步的，所述驱动组件包括z轴升降机构、x轴平移机构、yz平移机构和x轴旋转机构，所述z轴升降机构与所述x轴平移机构传动连接，所述x轴平移机构与所述yz平移机构传动连接，所述yz平移机构与所述x轴旋转机构传动连接，所述x轴旋转机构与所述承载台传动连接。

进一步的，所述微型发光二极管显示芯片的测试平台还包括：测试箱，所述测试箱包括底板和罩壳，所述罩壳设置在所述底板上并与所述罩壳围合形成所述的测试腔室，所述罩壳上还设置有可打开、关闭的罩门，所述调节组件和光谱仪均设置在所述测试腔室内。

进一步的，所述底板的表面设置有多个第一固定孔，所述罩壳上固定设置有多个第一固定柱，多个第一固定柱能够可拆卸地嵌入多个第一固定孔内而使所述罩壳被固定在所述底板上，所述光谱仪的底部与所述第一固定柱固定连接，所述光谱仪通过使所述第一固定柱嵌入第一固定孔内而固定在所述底板上。

进一步的，所述微型发光二极管显示芯片的测试平台还包括：立板，所述立板设置在所述测试腔室内，并且所述立板固定设置在所述底板上，所述z轴升降机构固定设置在所述立板上。

进一步的，所述立板的底部设置有所述第一固定柱，所述立板通过使所述第一固定柱嵌入所述第一固定孔内而固定在底板上。

进一步的，所述微型发光二极管显示芯片的测试平台还包括用于加强所述立板和底板连接强度的支撑架，所述支撑架分别与所述立板和底板固定连接。

进一步的，所述支撑架上固定设置有所述第一固定柱，所述支撑架通过使所述第一固定柱嵌入所述第一固定孔内而固定在底板上。

进一步的，所述支撑架为三棱柱结构，所述支撑架的两个侧面分别与所述立板、底板固定连接。

进一步的，所述立板的表面设置有多个第二固定孔，所述z轴升降机构和支撑架上固定设置有第二固定柱，所述第二固定柱能够可拆卸地嵌入所述第二固定孔内，从而使所述z轴升降机构和支撑架被固定在立板上。

进一步的，所述立板具有背对设置的第一面和第二面，所述第一面和第二面上均分布有多个所述第二固定孔，所述z轴升降机构设置在所述第一面上，所述支撑架与所述第二面固定连接。

进一步的，所述微型发光二极管显示芯片的测试平台还包括：源表，所述源表能够与待测微型发光二极管显示芯片电连接并点亮待测微型发光二极管显示芯片。

进一步的，所述微型发光二极管显示芯片的测试平台还包括：计算机，与所述光谱仪连接，并至少用于光谱仪的工作状态以及采集、处理光谱仪的测试数据。

与现有技术相比，本实用新型的优点包括：本实用新型提供的一种微型发光二极管显示芯片的测试平台，结构简单，组装和使用更加方便且体积更小；本实用新型提供的一种微型发光二极管显示芯片的测试平台更适合对微型发光二极管显示芯片幕进行测试，其性价比更高，且携带方便，从而可以更好的满足实际的测试需求。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本实用新型一典型实施案例中提供的一种微型发光二极管显示芯片的测试平台的爆炸结构示意图；

图2是本实用新型一典型实施案例中提供的一种微型发光二极管显示芯片的测试平台的结构示意图。

具体实施方式

鉴于现有技术中的不足，本案发明人经长期研究和大量实践，得以提出本实用新型的技术方案。如下将结合附图以及具体实施案例对该技术方案、其实施过程及原理等作进一步的解释说明，需要说明的是，本实用新型实施例意在解释和说明该微型发光二极管显示芯片的测试平台的结构构成以及各组成结构之间的位置以及连接关系等，除非特别说明的之外，本实用新型实施例中所采用的光谱仪、计算机、源表以及z轴升降机构、x轴平移机构、yz平移机构和x轴旋转机构等均可以是本领域技术人员已知的，其可以通过市购获得或者通过对市购获得的现有机构进行改制形成，在此不对其具体的尺寸、型号等进行限定。

在一些较为典型的实施方案中，请参阅图1和图2，一种微型发光二极管显示芯片的测试平台包括光谱仪400、源表500和计算机，所述计算机与光谱仪400连接，所述源表500能够与待测微型发光二极管显示芯片1100电连接并点亮待测微型发光二极管显示芯片1100，所述光谱仪400用于对待测微型发光二极管显示芯片1100进行光学检测，所述计算机用于读取光谱仪获取的数据并进行分析处理等。

在本实施例中，所述微型发光二极管显示芯片的测试平台还包括测试箱和调节组件，所述测试箱内部具有一可供对微型发光二极管显示芯片进行光学测试所需的暗室环境的测试腔室，所述调节组件和光谱仪设置在所述测试腔室内，待测微型发光二极管显示芯片能够被固定在所述调节组件上，所述调节组件能够使待测微型发光二极管显示芯片沿一三维坐标系的x轴、y轴、z轴中的至少一者平移运动和/或绕一三维坐标系的x轴转转运动，以实现对待测微型发光二极管显示芯片位置的调整。

在本实施例中，所述测试箱包括底板100和罩壳600，所述罩壳600设置在所述底板100上并与所述底板100围合形成所述的测试腔室，其中，所述底板100和罩壳600均为不透光的结构，从而使所述测试腔室形成暗室，示例性的，所述罩壳600可以是黑色的罩壳。

在本实施例中，所述罩壳600上还设置有可打开、关闭的罩门700，通过打开罩门700，可以方便对测试腔室内的待测微型发光二极管显示芯片进行更换和位置调整，从而将光谱仪400的光学中心和待测微型发光二极管显示芯片1100的位置调整到预定位置；示例性的，所述罩门700可以通过可上下推移或直接打开的方式与罩壳600配合，具体的，所述罩门700上还可以设置有罩门把手701，以方便对所述罩门700进行操作。

在本实施例中，所述底板100的表面设置有多个第一固定孔101，所述罩壳600上固定设置有多个第一固定柱，多个第一固定柱能够可拆卸地嵌入多个第一固定孔内而使所述罩壳600被固定在所述底板100上。

在本实施例中，所述光谱仪400的底部也可以固定设置有所述第一固定柱，所述光谱仪400通过使所述第一固定柱嵌入第一固定孔内而固定在所述底板上，且所述光谱仪400于底板100上的位置可以调节。

可以理解的，所述第一固定孔和第一固定柱的形状、尺寸相互匹配，所述第一固定柱能够嵌入所述第一固定孔内而实现罩壳或光谱仪与底板的稳定连接，所述第一固定柱也能够在外力作用下自第一固定孔内被分离。

在本实施例中，所述底板100上还固定设置有一立板200，所述立板200设置在所述测试腔室内，所述调节组件设置在所述立板200上，即所述立板200可以直接与底板100固定连接。

在本实施例中，所述立板200上也可以固定有所述的第一固定柱，所述立板200可以通过使第一固定柱嵌入第一固定孔内而被固定在底板100上。

在本实施例中，所述立板200还可以通过一支撑架800与底板100固定连接，可以理解的，所述支撑架800可以作为连接立板200和底板100的辅助连接结构，也可以是作为连接立板200和底板100的唯一的连接结构，所述支撑架800能够提高所述立板200和底板100的连接强度。

在本实施例中，所述支撑架800可以为三棱柱结构，所述支撑架800的两个侧面分别与所述立板200、底板100固定连接。

在本实施例中，所述支撑架800上可以固定设置有所述第一固定柱，所述支撑架800通过使所述第一固定柱嵌入所述第一固定孔内而固定在底板上。

在本实施例中，所述立板200的表面设置有多个第二固定孔201，所述支撑架800上固定设置有第二固定柱，所述第二固定柱能够可拆卸地嵌入所述第二固定孔201内，从而使所述支撑架800被固定在立板200上。

在本实施例中，所述调节组件上也可以固定设置有第二固定柱，所述调节组件可以通过所使第二固定嵌入第二固定孔而被固定在立板上。

在本实施例中，所述立板200具有背对设置的第一面和第二面，所述第一面和第二面上均分布有多个所述第二固定孔201，所述调节组件设置在所述第一面上，所述支撑架800与所述第二面固定连接。

在本实施例中，所述调节组件包括承载台和驱动组件，所述驱动组件包括z轴升降机构300、x轴平移机构301、yz平移机构302和x轴旋转机构303，所述z轴升降机构300固定设置在所述立板200上，所述x轴平移机构301设置在z轴升降机构300上并与所述z轴升降机构300传动连接，x轴平移机构301能够在所述z轴升降机构300的驱使下沿所述三维坐标系的z轴升降运动，所述yz平移机构302设置在所述x轴平移机构301上且与所述x轴平移机构301传动连接，并能够在所述x轴平移机构301的驱使下沿所述三维坐标系的x轴平移，所述x轴旋转机构303设置在yz平移机构302上且与所述yz平移机构302传动连接，并能够在yz平移机构302的驱使下与所述三维坐标系的yz平面内平移，承载台设置在x轴旋转机构303上且与x轴旋转机构303传动连接，并能够在x轴旋转机构303的驱使下绕三维坐标系的x轴旋转，待测微型发光二极管显示芯片能够被固定在承载台上，从而使位于承载台上的待测微型发光二极管显示芯片能够于三维坐标系内进行三维运动。

在本实施例中，z轴升降机构300、x轴平移机构301、yz平移机构302和x轴旋转机构303中的任一者可以只包含至少一个驱动机构，该驱动机构可以是驱动电机、驱动气缸等。

以本实用新型实施例提供的一种微型发光二极管显示芯片的测试平台对待测微型发光二极管显示芯片进行测试的过程包括：

将待测微型发光二极管显示芯片1100固定在承载台上，并将待测微型发光二极管显示芯片1100与源表500电连接，将源表500、光谱仪400与计算机的主机900电连接，且使光谱仪400的镜头401朝向待测微型发光二极管显示芯片1100；

以计算机控制源表500点亮待测微型发光二极管显示芯片1100，通过调节z轴升降机构300、x轴平移机构301、yz平移机构302和x轴旋转机构303中的至少一者来调节待测微型发光二极管显示芯片1100的位置，以使光谱仪400的光学中心与待测微型发光二极管显示芯片1100相对应，且使光谱仪400提供的黑色测试光斑聚焦到待测微型发光二极管显示芯片1100上，然后使用计算机读取光谱仪400获取的数据，并在计算机的显示屏100上查看分析处理结果。

本实用新型提供的一种微型发光二极管显示芯片的测试平台，结构简单，组装和使用更加方便且体积更小；本实用新型提供的一种微型发光二极管显示芯片的测试平台更适合对微型发光二极管显示芯片幕进行测试，其性价比更高，且携带方便，从而可以更好的满足实际的测试需求。

应当理解，上述实施例仅为说明本实用新型的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本实用新型的内容并据以实施，并不能以此限制本实用新型的保护范围。凡根据本发明精神实质所作的等效变化或修饰，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。

Claims (15)

1.一种微型发光二极管显示芯片的测试平台，其特征在于，包括：

测试腔室，用于容置待测微型发光二极管显示芯片，并提供对微型发光二极管显示芯片进行光学测试所需的暗室环境；

光谱仪，其至少用于对待测微型发光二极管显示芯片进行光学检测；

调节组件，其至少用于使待测微型发光二极管显示芯片于一三维坐标系内运动，以使光谱仪的光学中心与待测微型发光二极管显示芯片相对应，且使光谱仪提供的黑色测试光斑聚焦到待测微型发光二极管显示芯片上。

2.根据权利要求1所述微型发光二极管显示芯片的测试平台，其特征在于：所述调节组件包括承载台和驱动组件，所述承载台用于固定微型发光二极管显示芯片，所述驱动组件与所述承载台传动连接，并能够驱使所述承载台于所述三维坐标系内运动。

3.根据权利要求2所述微型发光二极管显示芯片的测试平台，其特征在于：所述驱动组件包括z轴升降机构、x轴平移机构、yz平移机构和x轴旋转机构中的至少一者，所述承载台与所述z轴升降机构、x轴平移机构、yz平移机构和x轴旋转机构中的至少一者传动连接，所述z轴升降机构用于驱使所述承载台沿所述三维坐标系的z轴升降，所述x轴平移机构用于驱使所述承载台沿所述三维坐标系的x轴平移，所述yz平移机构用于驱使所述承载台于所述三维坐标系的yz平面内平移，所述x轴旋转机构用于驱使所述承载台绕所述三维坐标系的x轴旋转。

4.根据权利要求3所述微型发光二极管显示芯片的测试平台，其特征在于：所述驱动组件包括z轴升降机构、x轴平移机构、yz平移机构和x轴旋转机构，所述z轴升降机构与所述x轴平移机构传动连接，所述x轴平移机构与所述yz平移机构传动连接，所述yz平移机构与所述x轴旋转机构传动连接，所述x轴旋转机构与所述承载台传动连接。

5.根据权利要求4所述微型发光二极管显示芯片的测试平台，其特征在于，还包括：测试箱，所述测试箱包括底板和罩壳，所述罩壳设置在所述底板上并与所述罩壳围合形成所述的测试腔室，所述罩壳上还设置有可打开、关闭的罩门，所述调节组件和光谱仪均设置在所述测试腔室内。

6.根据权利要求5所述微型发光二极管显示芯片的测试平台，其特征在于：所述底板的表面设置有多个第一固定孔，所述罩壳上固定设置有多个第一固定柱，多个第一固定柱能够可拆卸地嵌入多个第一固定孔内而使所述罩壳被固定在所述底板上，所述光谱仪的底部与所述第一固定柱固定连接，所述光谱仪通过使所述第一固定柱嵌入第一固定孔内而固定在所述底板上。

7.根据权利要求6所述微型发光二极管显示芯片的测试平台，其特征在于，还包括：立板，所述立板设置在所述测试腔室内，并且所述立板固定设置在所述底板上，所述z轴升降机构固定设置在所述立板上。

8.根据权利要求7所述微型发光二极管显示芯片的测试平台，其特征在于，所述立板的底部设置有所述第一固定柱，所述立板通过使所述第一固定柱嵌入所述第一固定孔内而固定在底板上。

9.根据权利要求7所述微型发光二极管显示芯片的测试平台，其特征在于，还包括用于加强所述立板和底板连接强度的支撑架，所述支撑架分别与所述立板和底板固定连接。

10.根据权利要求9所述微型发光二极管显示芯片的测试平台，其特征在于，所述支撑架上固定设置有所述第一固定柱，所述支撑架通过使所述第一固定柱嵌入所述第一固定孔内而固定在底板上。

11.根据权利要求9所述微型发光二极管显示芯片的测试平台，其特征在于，所述支撑架为三棱柱结构，所述支撑架的两个侧面分别与所述立板、底板固定连接。

12.根据权利要求9所述微型发光二极管显示芯片的测试平台，其特征在于：所述立板的表面设置有多个第二固定孔，所述z轴升降机构和支撑架上固定设置有第二固定柱，所述第二固定柱能够可拆卸地嵌入所述第二固定孔内，从而使所述z轴升降机构和支撑架被固定在立板上。

13.根据权利要求12所述微型发光二极管显示芯片的测试平台，其特征在于，所述立板具有背对设置的第一面和第二面，所述第一面和第二面上均分布有多个所述第二固定孔，所述z轴升降机构设置在所述第一面上，所述支撑架与所述第二面固定连接。

14.根据权利要求1所述微型发光二极管显示芯片的测试平台，其特征在于，还包括：源表，所述源表能够与待测微型发光二极管显示芯片电连接并点亮待测微型发光二极管显示芯片。

15.根据权利要求1所述微型发光二极管显示芯片的测试平台，其特征在于，所述微型发光二极管显示芯片的测试平台还包括：计算机，与所述光谱仪连接，并至少用于光谱仪的工作状态以及采集、处理光谱仪的测试数据。