CN108267300B - 一种光学模组的测试工装及头戴设备的测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种光学模组的测试工装及头戴设备的测试方法，包括：上压块，所述上压块设置有与光学模组对应的安装部，所述安装部中设置有影像孔，所述安装部用于承载光学模组；固定压块，所述固定压块可旋转的连接在所述上压块上，所述固定压块被配置为能将光学模组固定压合在所述安装部上；下压块，所述下压块与所述上压块固定连接，所述下压块上具有与所述影像孔位置对应的凹槽，所述凹槽用于放置影像源设备。本发明的技术方案可以避免头戴设备组装后由于光学模组性能不良进行拆机造成的资源浪费。

Description

一种光学模组的测试工装及头戴设备的测试方法

技术领域

本发明涉及头戴设备技术领域，更具体地，涉及一种光学模组的测试工装及头戴设备的测试方法。

背景技术

近几年来，头戴设备发展迅速，涌入了大量的厂商和研发团队，使头戴设备的实用性更高。随着头戴设备的普及，其市场的需求量也随之增长，用户对头戴设备的性能要求也越来越高。

光学模组是头戴设备中重要的组成部分，直接影响组装完成的头戴设备的性能。通常，头戴设备组装完成后，需要对其进行光学性能测试，对光学性能测试不合格的头戴设备，需要拆分来逐一排查问题产生的原因。

但是，这种逐一排查问题的方法在实际应用起来排查难度较大，不能及时判断出是哪道工序造成产品的光学性能不良。同时，对已经组装完成的头戴设备又进行拆分，降低了生产效率，增加了生产成本。

发明内容

本发明的一个目的是提供一种头戴设备的测试方法的新技术方案。

根据本发明的第一个方面，提供了一种光学模组的测试工装，包括：

上压块，所述上压块设置有与光学模组对应的安装部，所述安装部中设置有影像孔，所述安装部用于承载光学模组；

固定压块，所述固定压块可旋转的连接在所述上压块上，所述固定压块被配置为能将光学模组固定压合在所述安装部上；

下压块，所述下压块与所述上压块固定连接，所述下压块上具有与所述影像孔位置对应的凹槽，所述凹槽用于放置影像源设备。

优选地，所述安装部具有凹陷区，所述影像孔位于所述凹陷区中。

优选地，所述安装部具有凸台，所述凸台位于所述凹陷区的两侧，所述凸台上形成有定位槽，所述定位槽用于容纳光学模组的定位缘。

优选地，每个所述凸台上形成有1-2个定位槽，所述定位槽呈圆形。

优选地，所述固定压块上设置有能压合在所述凸台上的凸起部。

优选地，所述凸起部上设置有定位销，在所述凸起部压合在所述凸台上时，所述定位销插入所述定位槽。

优选地，所述测试工装包括两个所述固定压块，两个所述固定压块对称设置在所述安装部的两侧。

优选地，所述上压块与所述下压块上设置有对应的装配孔，所述上压块与所述下压块通过所述装配孔连接。

根据本发明的第二个方面，提供了一种头戴设备的测试方法，包括：

将待测光学模组固定在上述实施例所述的测试工装的安装部上，待测光学模组的影像接收面朝向所述影像孔，在所述凹槽中装配影像源设备；

影像源设备投射测试影像，测试相机采集待测光学模组映出的影像；

若待测光学模组所映的影像符合测试要求，则待测光学模组装配到头戴设备。

优选地，待测光学模组安装到测试工装进行测试时，待测光学模组与影像源设备之间的相对位置与光学模组在头戴设备中与影像源的相对位置一致，待测光学模组与所述相机的相对位置与光学模组在头戴设备中与用户眼睛的相对位置一致。

本发明的技术方案可以避免头戴设备组装后由于光学模组性能不良进行拆机造成的资源浪费。

通过以下参照附图对本发明的示例性实施例的详细描述，本发明的其它特征及其优点将会变得清楚。

附图说明

被结合在说明书中并构成说明书的一部分的附图示出了本发明的实施例，并且连同其说明一起用于解释本发明的原理。

图1是本发明的具体实施例提供的测试工装爆炸图；

图2是本发明的具体实施例提供的测试工装与光学模组的爆炸图；

图3是本发明的具体实施例提供的测试工装与光学模组的组装图。

其中：1、上压块，2、下压块，3、固定压块，4、安装部，5、影像孔，6、凹槽，7、凹陷区，8、凸台，9、定位槽，10、凸起部，11、定位销，12、装配孔

具体实施方式

现在将参照附图来详细描述本发明的各种示例性实施例。应注意到：除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本发明的范围。

以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的，决不作为对本发明及其应用或使用的任何限制。

对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术、方法和设备应当被视为说明书的一部分。

在这里示出和讨论的所有例子中，任何具体值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制。因此，示例性实施例的其它例子可以具有不同的值。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。

实施例一

本发明的实施例一提供了一种光学模组的测试工装，如图1-3所示，包括上压块1、下压块2和固定压块3。上压块1设置有与待测光学模组对应的安装部4，安装部4中设置有影像孔5，安装部4用于承载光学模组。固定压块3可旋转的连接在上压块1上，当光学模组安装在安装部4上时，转动固定压块3，能将光学模组固定压合在安装部4的上。上压块与1下压块2固定连接。下压块2上设置有与影像孔5对应的凹槽6，凹槽6用于放置影像源设备。

光学模组安装到测试工装后，光学模组通过上压块1上的影像孔5，能够接收到下压块2的凹槽6中影像源设备显示的预设影像。光学模组与影像源设备之间的距离可以根据需要进行调整，测试工装可以保证光学模组的测试工况与在头戴设备中一致。具体的，可以通过调整凹槽6的深度，保证光学模组与影像源设备之间的距离为预设距离。可选地，还可以通过调整上压块的厚度，实现光学模组与影像源设备之间的距离为预设距离。本领域技术人员好可以采用其他技术方案，凡是能达到同样技术效果的技术方案，都属于本发明的保护范围。

本发明提供的测试工装，可以实现光学模组在的快速安装与拆卸，提高了测试效率。同时，能够保证光学模组的测试工况与在头戴设备中一致，提升了光学性能测试的可靠性。

具体的，安装部4包括凹陷区7，影像孔5位于凹陷区7中。凹陷区7与待测光学模组大小对应，可以对光学模组形成限位，防止进行测试时晃动，提高测试稳定性。

进一步地，凹陷区7上设置有凸台8。凸台8对应的设置在凹陷区7的两侧，凸台8上形成有定位槽9。定位槽9用于容纳光学模组的定位缘，能够对光学模组在上压块1上的安装进一步地起到限位的作用，能够使光学模组在压块1上快速定位，提高测试效率。可选地，凸台8上还可以形成其他与光学模组对应的结构，与光学模组相应的部位配合起到光学模组安装到上压块1时的限位作用，本领域技术人员可以根据待测光学模组的具体结构，在凸台8上设置相应的结构，本申请对此不做限制，凡是能达到同样技术效果的技术方案，都属于本申请的保护范围。

其中，每个凸台8上形成有1-2个定位槽9，定位槽9呈圆形。可选地，本领域技术人员可以根据需要对定位槽9的数量和形状进行设定，这些数量和形状上的变换，都属于本申请的保护范围。

进一步地，固定压块3上设置有与凸台8对应的凸起部10。凸起部10与凸台8配合将光学模组固定压合在上压块1的安装部4上。

进一步地，凸起部10上设置有定位销11。定位销11与定位槽9的位置和大小对应，在凸起部10与凸台8配合将光学模组固定压合时，定位销11插入定位槽9，提高了上压块1与固定压块3的配合精度，使光学模组在安装部4位置更加精确，保证了光学模组与影像源设备的相对位置与预设相对位置一致。同时，定位销11与定位槽9的设置，还可以加快光学模组的安装速度，提高了测试效率。

优选地，固定压块3设置有两个，与凸台8的位置对应，分别位于上压块1的两侧。本领域技术人员可以根据需要对固定压块3的数量和位置做调整，凡是能达到同样技术效果的技术方案，都属于本发明的保护范围。

如图1所示，上压块1与下压块2上设置有对应的装配孔12，通过装配孔将上压块1与下压块2连接在一起。优选地，装配孔设置有四个，分别位于上压块1与下压块2的四个边角。上压块1与下压块2上对应的装配孔12通过螺栓连接起来，实现快分固定连接与分离，提高了测试效率。

可选的，上压块1与下压块2还可以为卡扣式连接，在上压块1与下压块2的侧边设定预定数量的卡扣，同样可以实现上压块1与下压块2快速固定连接与分离。本领域技术人员应当明白，上压块1与下压块2的连接方式不仅仅局限于本发明所提出的，这些连接方式的改变，都属于本发明的保护范围。

另外，根据待测光学模组的结构，可以在安装部4上开设与光学模组对应的结构，以便其安装和定位。这些与光学模组对应的结构的增设，都属于本发明的保护范围。

实施例二

本发明的实施例二提供了一种头戴设备的测试方法，包括：待测光学模组的固定安装在实施例一提供的测试工装上，使待测光学模组的影像接收面朝向影像孔5，在凹槽6中装配影像源设备，这样一来，影像源设备可以提供测试影像，以便待测光学模组中的光学镜片通过影像接收面获取影像源设备提供的测试影像。

影像源设备投射测试影像，相机采集待测光学模组中光学镜片映出的影像。测试处理设备可以对相机采集的影像与预设的标准影像进行对比分析。

若待测光学模组所映出的影像符合测试要求，则待测光学模组可以装配到头戴设备；

若待测光学模组所映出的影像不符合测试要求，则对此待测光学模组进行检修，检修完毕后采用上述测试方法进行复测。

进一步的，通过上述方法可以对头戴设备进行二次光学测试，检测头戴设备的光学性能。

本发明提供的头戴设备的测试方法，在头戴设备组装前对光学模组进行了光学性能的测试，能够第一时间筛出光学性能不良的光学模组，减少了头戴设备组装后由于光学模组的光学性能不良导致头戴设备还需进行拆机检修的资源浪费。不仅可以提高头戴设备组装后的产品良率，还可以快速锁定导致头戴设备性能不合格的问题出现的位置，提高了头戴设备的生产效率，降低了生产的成本。

进一步的，，待测光学模组光学模组安装到测试工装进行测试时，待测光学模组与影像源设备之间的相对位置与光学模组在头戴设备中与影像源的相对位置一致；待测光学模组与相机的相对位置与光学模组在头戴设备中与用户眼睛的相对位置一致，保证了待测光学模组的测试工况与在头戴设备中一致，提升了光学性能测试的可靠性。

可选地，与相机连接的测试处理设备为数据分析仪。数据分析仪被配置为将相机采集到的影像与预设的标准影像作对比分析，若分析结果符合预设条件，则数据分析仪输出测试结果为合格，相反，输出为不合格。

虽然已经通过例子对本发明的一些特定实施例进行了详细说明，但是本领域的技术人员应该理解，以上例子仅是为了进行说明，而不是为了限制本发明的范围。本领域的技术人员应该理解，可在不脱离本发明的范围和精神的情况下，对以上实施例进行修改。本发明的范围由所附权利要求来限定。

Claims (9)

1.一种光学模组的测试工装，其特征在于，所述测试工装应用于头戴设备，所述测试工装包括：

上压块，所述上压块设置有与光学模组对应的安装部，所述安装部中设置有影像孔，所述安装部用于承载光学模组；

固定压块，所述固定压块可旋转的连接在所述上压块上，所述固定压块被配置为能将光学模组固定压合在所述安装部上；

下压块，所述下压块与所述上压块固定连接，所述下压块上具有与所述影像孔位置对应的凹槽，所述凹槽用于放置影像源设备；

光学模组通过所述上压块上的影像孔接收下压块的凹槽中影像源设备显示的预设影像；所述安装部具有凹陷区，所述影像孔位于所述凹陷区中；

所述凹槽、所述上压块被配置为：通过调整所述凹槽的深度，或通过调整所述上压块的厚度，可使所述光学模组与影像源设备之间的距离为预设距离。

2.根据权利要求1所述的测试工装，其特征在于，所述安装部具有凸台，所述凸台位于所述凹陷区的两侧，所述凸台上形成有定位槽，所述定位槽用于容纳光学模组的定位缘。

3.根据权利要求2所述的测试工装，其特征在于，每个所述凸台上形成有1-2个定位槽，所述定位槽呈圆形。

4.根据权利要求2所述的测试工装，其特征在于，所述固定压块上设置有能压合在所述凸台上的凸起部。

5.根据权利要求4所述的测试工装，其特征在于，所述凸起部上设置有定位销，在所述凸起部压合在所述凸台上时，所述定位销插入所述定位槽。

6.根据权利要求1所述的测试工装，其特征在于，所述测试工装包括两个所述固定压块，两个所述固定压块对称设置在所述安装部的两侧。

7.根据权利要求1所述的测试工装，其特征在于，所述上压块与所述下压块上设置有对应的装配孔，所述上压块与所述下压块通过所述装配孔连接。

8.一种头戴设备的测试方法，其特征在于，包括：

待测光学模组固定在权利要求1-7中任一项所述的测试工装的安装部上，待测光学模组的影像接收面朝向所述影像孔，在所述凹槽中装配影像源设备；

影像源设备投射测试影像，光学模组通过所述上压块上的影像孔接收下压块的凹槽中影像源设备显示的预设影像，测试相机采集待测光学模组映出的影像；

若待测光学模组所映的影像符合测试要求，则待测光学模组装配到头戴设备。

9.根据权利要求8所述的测试方法，其特征在于，待测光学模组安装到测试工装进行测试时，待测光学模组与影像源设备之间的相对位置与光学模组在头戴设备中与影像源的相对位置一致，待测光学模组与所述相机的相对位置与光学模组在头戴设备中与用户眼睛的相对位置一致。

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