CN219725626U - 一种适用于金属试样的磨样装置 - Google Patents

Abstract

一种适用于金属试样的磨样装置，包括打磨部分、旋转支撑部分、位移部分、定位机构、限位件、CPU和试样夹持部分；所述旋转支撑部分设置在打磨部分上；所述位移部分设置在旋转支撑部分上；所述定位机构和试样夹持部分均设置在位移部分上；所述限位件设置在旋转支撑部分上；所述打磨部分包括砂轮盘、砂纸、外壳体和驱动电机；所述驱动电机设置在外壳体的内部，且驱动电机输出轴的端部设置有砂轮盘，砂纸设置在砂轮盘上，外壳体的顶端设置有孔，砂轮盘位于外壳体的顶端孔内。本实用新型提高了试样的打磨效率和研磨面的平整度。

Description

一种适用于金属试样的磨样装置

技术领域

本实用新型涉及一种磨样装置，特别是一种能够对金属试样进行打磨处理的装置，属于金属磨样设备技术领域。

背景技术

炼钢化验室在对钢铁等试样成分进行光谱分析时，需要对试样进行打磨处理，从而提高分析结果的准确度；目前，试样的打磨是由人手工来完成的，工作人员手持试样，将其放置到抛光机的抛光盘上进行打磨，从而实现试样打磨的目的；在打磨过程中，工作人员距离抛光盘距离较近，存在着安全隐患；而且手持试样打磨时，无法控制其抛光面的平整度，影响化验分析结果；此外，工作人员手持试样在抛光盘上时，试样往往是静止在某位置进行打磨的，长期在同一位置进行打磨会导致抛光盘不同圈的粗糙程度不一，不仅导致抛光盘的利用不充分，还影响了打磨效率以及效果；故需要一种磨样装置，要求它能够对试样进行高效且充分的打磨。

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服现有技术的不足，提供一种适用于金属试样的磨样装置，它能够高效的完成试样打磨作业。

本实用新型所述问题是通过以下技术方案解决的：

一种适用于金属试样的磨样装置，包括打磨部分、旋转支撑部分、位移部分、定位机构、限位件、CPU和试样夹持部分；所述旋转支撑部分设置在打磨部分上；所述位移部分设置在旋转支撑部分上；所述定位机构和试样夹持部分均设置在位移部分上；所述限位件设置在旋转支撑部分上；所述打磨部分包括砂轮盘、砂纸、外壳体和驱动电机；所述驱动电机设置在外壳体的内部，且驱动电机输出轴的端部设置有砂轮盘，砂纸设置在砂轮盘上，外壳体的顶端设置有孔，砂轮盘位于外壳体的顶端孔内。

上述适用于金属试样的磨样装置，所述旋转支撑部分包括旋转盘、立板、上平板、下平板、连接块和夹持件；所述旋转盘轴接设置在外壳体的上端面，夹持件固定设置在外壳体的上端面；所述立板垂直设置在旋转盘的顶端面；所述上平板和下平板的一端均设置在立板的侧壁上，且上平板和下平板的另一端通过连接块连接；所述夹持件包括垂直支架、上夹板和下夹板；所述垂直支架设置在外壳体的上端面，且上夹板和下夹板均设置在垂直支架上，连接块被夹持在上夹板和下夹板之间。

上述适用于金属试样的磨样装置，所述位移部分包括伺服电机、丝杠、丝杠螺母和方环状滑块；所述丝杠的一端与立板轴接，另一端与连接块轴接，且丝杠位于上平板和下平板之间；所述伺服电机设置在立板上，且其输出轴与丝杠的一端连接；所述丝杠穿设丝杠螺母，且丝杠螺母位于上平板和下平板之间；所述方环状滑块套设在上平板和下平板外，方环状滑块内壁顶端面与上平板接触，方环状滑块内壁底端面与下平板接触，且方环状滑块内壁与丝杠螺母连接；所述伺服电机的信号输入端与CPU的信号输出端连接。

上述适用于金属试样的磨样装置，所述试样夹持部分包括外方筒、内方筒、第一弹簧和夹持件；所述外方筒的侧壁上设置有转轴、且外方筒通过转轴与方环状滑块的垂直侧壁轴接；所述内方筒滑动设置在外方筒的内孔里，且外方筒的内部设置有第一弹簧，第一弹簧与内方筒连接；所述夹持件的数量为四个，且内方筒的四个侧壁上均设置有夹持件，夹持件设置在内方筒远离外方筒的一端。

上述适用于金属试样的磨样装置，所述夹持件包括螺杆、压块和旋钮；所述内方筒侧壁上设置有螺纹孔，且此螺纹孔内穿设有螺杆；所述螺杆的一端设置有旋钮，另一端设置有压块，且压块位于内方筒的内部。

上述适用于金属试样的磨样装置，所述定位机构包括U型卡架、固定架、导向杆和第二弹簧；所述固定架设置在方环状滑块顶端面远离外方筒的一侧；所述导向杆设置在固定架靠近外方筒的端面上；所述U型卡架卡设在外方筒的外壁上；所述U型卡架上设置有导向孔，且此导向孔内穿设有导向杆；所述U型卡架和固定架之间设置有第二弹簧。

上述适用于金属试样的磨样装置，所述限位件包括第一触压开关和第二触压开关；所述第一触压开关和第二触压开关分别设置在上平板的顶端面的两端；所述第一触压开关和第二触压开关的信号输出端均与CPU的信号输入端连接。

本实用新型通过打磨部分对试样进行了打磨处理；通过位移部分使得试样能够在砂纸上打磨的同时进行移动，这样使得试样能够得到充分的打磨，避免因为砂纸个别区域摩擦度不够影响打磨效果；通过试样夹持部分使得试样能够以合适的力度触压在砂纸上。

附图说明

图1为本实用新型立体结构示意图；

图2为本实用新型A的局部放大结构示意图。

图中各标号清单为：1.打磨部分，2.旋转盘，3.立板，4.上平板，5.下平板，6.连接块，7.夹持件，8.伺服电机，9.丝杠螺母，10.方环状滑块，11.外方筒，12.内方筒，13.螺杆，14.压块，15.旋钮，16.U型卡架，17.导向杆，18.第二弹簧，19.第一触压开关，20.第二触压开关。

具体实施方式

参看图1和图2，本实用新型包括打磨部分1、旋转支撑部分、位移部分、定位机构、限位件、CPU和试样夹持部分；打磨部分1能够对试样进行打磨；位移部分能够带动试样在砂纸上移动，避免了试样只在砂纸的同一圈区域内打磨，影响打磨效果，带动试样在砂纸上均匀移动能够更加充分使用砂纸，使得试样打磨更均匀；所述旋转支撑部分设置在打磨部分1上；所述位移部分设置在旋转支撑部分上；所述定位机构和试样夹持部分均设置在位移部分上；试样夹持部分能够确保试样稳定触压在砂纸上；所述限位件设置在旋转支撑部分上，限位件能够限制试样在位移部分带动下的活动范围。

所述打磨部分1包括砂轮盘、砂纸、外壳体和驱动电机；所述驱动电机设置在外壳体的内部，且驱动电机输出轴的端部设置有砂轮盘，砂纸设置在砂轮盘上，驱动电机带动砂轮盘旋转，从而带动砂轮盘上的砂纸旋转，旋转的砂纸对试样进行打磨；外壳体的顶端设置有孔，砂轮盘位于外壳体的顶端孔内。

所述旋转支撑部分包括旋转盘2、立板3、上平板4、下平板5、连接块6和夹持件7；所述旋转盘2轴接设置在外壳体的上端面，夹持件7固定设置在外壳体的上端面；旋转盘2可以原地转动；所述立板3垂直设置在旋转盘2的顶端面；所述上平板4和下平板5的一端均设置在立板3的侧壁上，且上平板4和下平板5的另一端通过连接块6连接；旋转盘2旋转的时候，带动立板3、上平板4、下平板5和连接块6同步旋转。

所述夹持件7包括垂直支架、上夹板和下夹板；所述垂直支架设置在外壳体的上端面，且上夹板和下夹板均设置在垂直支架上，连接块6被夹持在上夹板和下夹板之间；当旋转盘2旋转时，可以将连接块6转入两个夹板之间，也可以将连接块6从两个夹板之间移出。

所述位移部分包括伺服电机8、丝杠、丝杠螺母9和方环状滑块10；所述丝杠的一端与立板3轴接，另一端与连接块6轴接，且丝杠位于上平板4和下平板5之间；所述伺服电机8设置在立板3上，且其输出轴与丝杠的一端连接；所述伺服电机8能够带动丝杠旋转，旋转的丝杠能够带动丝杠螺母9移动；所述丝杠穿设丝杠螺母9，且丝杠螺母9位于上平板4和下平板5之间；所述方环状滑块10套设在上平板4和下平板5外，方环状滑块10内壁顶端面与上平板4接触，方环状滑块10内壁底端面与下平板5接触，且方环状滑块10内壁与丝杠螺母9连接；丝杠螺母9能够带动方环状滑块10同步移动；所述伺服电机8的信号输入端与CPU的信号输出端连接。

所述试样夹持部分包括外方筒11、内方筒12、第一弹簧和夹持件7；所述外方筒11的侧壁上设置有转轴、且外方筒11通过转轴与方环状滑块10的垂直侧壁轴接；外方筒11可以通过旋转使得其开口端朝上或者朝下；所述内方筒12滑动设置在外方筒11的内孔里，且外方筒11的内部设置有第一弹簧，第一弹簧与内方筒12连接；所述夹持件7的数量为四个，且内方筒12的四个侧壁上均设置有夹持件7，夹持件7设置在内方筒12远离外方筒11的一端。

所述夹持件7包括螺杆13、压块14和旋钮15；所述内方筒12侧壁上设置有螺纹孔，且此螺纹孔内穿设有螺杆13；所述螺杆13的一端设置有旋钮15，另一端设置有压块14，且压块14位于内方筒12的内部；转动旋钮，即可带动螺杆13旋转，进而带动压块14移动；试样被放置在内方筒12内，然后转动各个旋钮15，即可使得各个压块14触压在试样侧壁上，从而对试样进行固定。

所述定位机构包括U型卡架16、固定架、导向杆17和第二弹簧18；所述固定架设置在方环状滑块10顶端面远离外方筒11的一侧；所述导向杆17设置在固定架靠近外方筒11的端面上；所述U型卡架16上设置有导向孔，且此导向孔内穿设有导向杆17；导向杆17为U型卡架16提供了移动导向作用，确保U型卡架16能够沿着导向杆17的轴心线方向移动；所述U型卡架16卡设在外方筒11的外壁上；外方筒11被U型卡架16卡住时，其无法旋转，当拉动U型卡架16使其不再卡住外方筒11时，外方筒11可以恢复旋转功能；所述U型卡架16和固定架之间设置有第二弹簧18。

所述限位件包括第一触压开关19和第二触压开关20；所述第一触压开关19和第二触压开关20分别设置在上平板4的顶端面的两端；所述第一触压开关19和第二触压开关20的信号输出端均与CPU的信号输入端连接。

本实用新型中CPU模块的型号是87C196KC。

实际使用过程：旋转外方筒11使其开口端朝上，使得U型卡架16卡住外方筒11，然后将试样放入内方筒12，旋转旋钮15使得压块14触压在试样外壁上，将试样固定；然后拉动U型卡架16，使其解除对外方筒11的卡接；旋转外方筒11，使其开口端朝下，然后松开U型卡架16，使其对外方筒11进行卡接，然后内方筒12在第一弹簧的作用下靠近砂纸，使得试样紧密触压在砂纸上，然后启动驱动电机，带动砂纸旋转对试样进行打磨，然后启动伺服电机8，丝杠螺母9带动方环状滑块10和试样同步移动，试样在砂纸上打磨的同时进行移动，当方环状滑块10触发第一触压开关19或者第二触压开关20信号时，伺服电机8反转，使得试样能够在砂纸上往复移动，到时间后，关闭电源，取下试样，至此试样打磨作业完毕。

Claims (7)

1.一种适用于金属试样的磨样装置，其特征在于：包括打磨部分(1)、旋转支撑部分、位移部分、定位机构、限位件、CPU和试样夹持部分；所述旋转支撑部分设置在打磨部分(1)上；所述位移部分设置在旋转支撑部分上；所述定位机构和试样夹持部分均设置在位移部分上；所述限位件设置在旋转支撑部分上；所述打磨部分(1)包括砂轮盘、砂纸、外壳体和驱动电机；所述驱动电机设置在外壳体的内部，且驱动电机输出轴的端部设置有砂轮盘，砂纸设置在砂轮盘上，外壳体的顶端设置有孔，砂轮盘位于外壳体的顶端孔内。

2.根据权利要求1所述的适用于金属试样的磨样装置，其特征在于：所述旋转支撑部分包括旋转盘(2)、立板(3)、上平板(4)、下平板(5)、连接块(6)和夹持件(7)；所述旋转盘(2)轴接设置在外壳体的上端面，夹持件(7)固定设置在外壳体的上端面；所述立板(3)垂直设置在旋转盘(2)的顶端面；所述上平板(4)和下平板(5)的一端均设置在立板(3)的侧壁上，且上平板(4)和下平板(5)的另一端通过连接块(6)连接；所述夹持件(7)包括垂直支架、上夹板和下夹板；所述垂直支架设置在外壳体的上端面，且上夹板和下夹板均设置在垂直支架上，连接块(6)被夹持在上夹板和下夹板之间。

3.根据权利要求2所述的适用于金属试样的磨样装置，其特征在于：所述位移部分包括伺服电机(8)、丝杠、丝杠螺母(9)和方环状滑块(10)；所述丝杠的一端与立板(3)轴接，另一端与连接块(6)轴接，且丝杠位于上平板(4)和下平板(5)之间；所述伺服电机(8)设置在立板(3)上，且其输出轴与丝杠的一端连接；所述丝杠穿设丝杠螺母(9)，且丝杠螺母(9)位于上平板(4)和下平板(5)之间；所述方环状滑块(10)套设在上平板(4)和下平板(5)外，方环状滑块(10)内壁顶端面与上平板(4)接触，方环状滑块(10)内壁底端面与下平板(5)接触，且方环状滑块(10)内壁与丝杠螺母(9)连接；所述伺服电机(8)的信号输入端与CPU的信号输出端连接。

4.根据权利要求3所述的适用于金属试样的磨样装置，其特征在于：所述试样夹持部分包括外方筒(11)、内方筒(12)、第一弹簧和夹持件(7)；所述外方筒(11)的侧壁上设置有转轴、且外方筒(11)通过转轴与方环状滑块(10)的垂直侧壁轴接；所述内方筒(12)滑动设置在外方筒(11)的内孔里，且外方筒(11)的内部设置有第一弹簧，第一弹簧与内方筒(12)连接；所述夹持件(7)的数量为四个，且内方筒(12)的四个侧壁上均设置有夹持件(7)，夹持件(7)设置在内方筒(12)远离外方筒(11)的一端。

5.根据权利要求4所述的适用于金属试样的磨样装置，其特征在于：所述夹持件(7)包括螺杆(13)、压块(14)和旋钮(15)；所述内方筒(12)侧壁上设置有螺纹孔，且此螺纹孔内穿设有螺杆(13)；所述螺杆(13)的一端设置有旋钮(15)，另一端设置有压块(14)，且压块(14)位于内方筒(12)的内部。

6.根据权利要求5所述的适用于金属试样的磨样装置，其特征在于：所述定位机构包括U型卡架(16)、固定架、导向杆(17)和第二弹簧(18)；所述固定架设置在方环状滑块(10)顶端面远离外方筒(11)的一侧；所述导向杆(17)设置在固定架靠近外方筒(11)的端面上；所述U型卡架(16)卡设在外方筒(11)的外壁上；所述U型卡架(16)上设置有导向孔，且此导向孔内穿设有导向杆(17)；所述U型卡架(16)和固定架之间设置有第二弹簧(18)。

7.根据权利要求6所述的适用于金属试样的磨样装置，其特征在于：所述限位件包括第一触压开关(19)和第二触压开关(20)；所述第一触压开关(19)和第二触压开关(20)分别设置在上平板(4)的顶端面的两端；所述第一触压开关(19)和第二触压开关(20)的信号输出端均与CPU的信号输入端连接。