CN202861978U - 双向自动研磨抛光设备 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开一种双向自动研磨抛光设备，用于对试样进行研磨抛光前处理，其包括：安装座、固定装置及转盘，转盘转动的装设于安装座上，固定装置包括基座、第一驱动装置、第二驱动装置、以及与第二驱动装置连接的夹紧机构，基座装设于安装座上，第一驱动装置安设在基座上做升、降驱动，第二驱动装置及夹紧机构安设于与基座呈自由转动连接的连接板上，试样由所述夹紧机构夹紧固定，第一驱动装置驱动夹紧机构带动试样接近或远离转盘，转盘对试样进行研磨抛光前处理。本实用新型双向自动研磨抛光设备，构造简单、操作简便、占用空间小、安全稳定、自动研磨抛光，提高制备试样的效率和合格性，并提高自动研磨抛光设备的实用性。
Description
技术领域
本实用新型涉及试样研磨抛光设备技术领域，具体涉及一种构造简单、使用简易、实现自动研磨抛光制备试样的一种双向自动研磨抛光设备。
背景技术
现代工业的飞速发展对产品的质量提出了更高的要求，为保障安全和利益，越来越多的产品必需进行失效分析与预防。在针对金属材料及构件进行失效分析与检测时经常需用到研磨抛光机，对试样进行研磨抛光前处理制样后才能进行微观组织分析或金相分析，并且研磨抛光机还适用于电子元器件做结构剖析时制备试样。对试样进行研磨抛光前处理制样是一道重要的测试工序，只有制备合格的试样才能准确地判断产品质量的好坏或可靠性水平，预测及判断材料的特性；只有制备合格的试样才能进行各种失效分析，对试样表面及内部缺陷检测，最终也利于工厂对产品制程改善和验证，因此务必高度重视研磨工艺技术及质量，以获得材料的真实组织而无任何畸变，在最短的时间内达到最佳的试样制备效果。研磨抛光机在前处理制样中被广泛应用，为节省人力，减少并杜绝操作人员在操作研磨抛光机过程中的安全事故，并且提高工作效率，自动研磨抛光机将取代手工研磨抛光机是行业的必然发展趋势。
现有技术的自动研磨抛光机是在传统研磨抛光机的基础上增设了自动工作头，实施研磨抛光作业时，自动工作头将试样固定，转盘上贴上研磨纸或抛光织物，启动预先设定的研磨抛光程序，完成试样的研磨抛光工序。
但是自动工作头在长时间使用之后故障率高、精准度低，研磨抛光效果差，制备的研磨抛光面是不均匀的，无法制备合格的试样；另一方面，设计的自动研磨抛光机只对某些规则形状、固定尺寸的样品进行自动研磨抛光，无法满足试样材料多样性的市场需求，例如难以夹持小试样，无法夹牢试样，容易损坏自动工作头，因此实用性受到限制；自动研磨抛光机的价格是手动研磨抛光机价格的十几倍，不能被广泛使用，达不到提高效益的目的。现有技术的自动研磨抛光机存在的缺陷为：1、试样被夹持得稳固性差。2、设备的实用性不高。3、制备的试样合格率低。
并且，研磨抛光机不仅在失效分析实验中制备试样起到重要作用，还广泛应用于制备木材工件、金属材料及其制品、高分子材料及其制品。为了获得材料的真实组织而无任何畸变，并在最短的时间内达到最佳的试样制备效果，自动研磨抛光机必须针对存在的技术问题进行改善。
实用新型内容
本实用新型的目的在于克服上述不足，而提供了一种构造简单、操作简便、安全稳定、自动研磨抛光设备，提高制备试样的效率和合格性，并提高自动研磨抛光设备的实用性。
本实用新型所采用的技术方案是：提供一种双向自动研磨抛光设备，用于对试样进行研磨抛光前处理，其包括：安装座、固定装置及转盘，所述转盘转动的装设于所述安装座上，所述固定装置包括基座、第一驱动装置、第二驱动装置、以及与所述第二驱动装置连接的夹紧机构，所述基座装设于所述安装座上，所述第一驱动装置安设在所述基座上做升、降驱动，所述第二驱动装置及夹紧机构安设于与基座呈自由转动连接的连接板上，试样由所述夹紧机构夹紧固定，所述第一驱动装置驱动所述夹紧机构带动试样接近或远离所述转盘，所述转盘对试样进行研磨抛光前处理。
所述的双向自动研磨抛光设备，还包括第三驱动装置，所述第三驱动装置装设于所述安装座的内部，所述转盘在所述第三驱动装置驱动下转动。
所述的双向自动研磨抛光设备，还包括进水装置、排水槽，便于处理废液。
所述的双向自动研磨抛光设备，所述固定装置的基座内部安装有螺杆和卡套螺母，所述卡套螺母与所述螺杆配套作用，由所述螺杆的旋转带动所述卡套螺母做往复式直线升降运动；所述螺杆末端带有传动用圆锥齿轮，所述第一驱动装置通过圆锥齿轮驱动所述螺杆旋转，进而控制所述夹紧机构在转盘上的位置。
所述的双向自动研磨抛光设备，所述第一驱动装置是步进马达或伺服马达，马达的驱动轴末端带有传动用圆锥齿轮，与所述螺杆末端的圆锥齿轮配合作用，使得所述第一驱动装置对所述夹紧机构的重复定位精度高。所述第一驱动装置施加在试样的压力均衡，先大后小，完成试样的粗磨、细磨、抛光所有工序，得到最适宜的研磨抛光质量。
所述的双向自动研磨抛光设备，所述第二驱动装置是马达，所述第二驱动装置的驱动轴穿过所述连接板，与所述夹紧机构固定连接。
所述的双向自动研磨抛光设备，所述连接板与所述基座呈自由转动连接，用以实现在更换其中一个转盘上的研磨纸或抛光织物时的情况下，使得夹紧机构能够被转动至他转盘上方使用，提高工作效率。
所述的双向自动研磨抛光设备，所述夹紧机构包括主体及若干夹块，所述主体均匀的开设有若干供所述夹块滑动的滑槽，所述夹块之间形成夹持区，所述夹块可在所述滑槽上滑动扩大或者缩小所述夹持区的大小。所述夹紧机构夹持试样的操作简单，并解决了小试样、不规则形状的试样难以夹持的问题，试样被夹持得更稳固，研磨抛光效果更好。
所述的双向自动研磨抛光设备，所述夹紧机构是三爪卡盘或四爪卡盘。由卡盘的卡爪来固定试样，卡盘是可更换的；对于规则形状的试样使用三爪卡盘，联动式的卡爪用来固定试样方便快捷，对于非规则形状的试样使用四爪卡盘，因每个卡爪可单独活动，用于固定非规则形状的试样更方便。
所述的双向自动研磨抛光设备，所述第二驱动装置驱动所述夹紧机构转动。在抛光初期，试样上的磨痕方向与转盘转动的方向垂直，便于较快的抛除磨痕；在抛光后期，转动试样有利于获得光亮平整的磨面，同时能防止夹杂物及硬性的相产生曳尾现象。
与现有技术相比具有明显的优点和有益效果：本实用新型一种双向自动研磨抛光设备，构造简单、操作简便、占用空间小、安全稳定、自动研磨抛光，提高制备试样的效率和合格性，并提高自动研磨抛光设备的实用性。所述夹紧机构适用于各种形状的试样固定；所述第一驱动装置对所述夹紧机构的重复定位精度高，所述第一驱动装置施加在试样的压力均衡，得到最适宜的研磨抛光质量；所述连接板与基座呈自由转动连接，使得夹紧机构能够被转动至他转盘上方使用，提高工作效率。
附图说明
图1是本实用新型双向自动研磨抛光设备一个实施例的结构示意图。
图2是本实用新型双向自动研磨抛光设备的固定装置的结构示意图。
图3是本实用新型双向自动研磨抛光设备的固定装置的基座内螺杆、卡套螺母配合作用的一个实施例的结构示意图。
图4a是本实用新型双向自动研磨抛光设备的的固定装置的夹紧机构的一个实施例结构示意图。
图4b是本实用新型双向自动研磨抛光设备的的固定装置的夹紧机构的一个实施例结构示意图。
图中标记：双向自动研磨抛光设备-100，10-安装座，20-转盘，30-固定装置，31-基座，311-螺杆，312-卡套螺母，313-圆锥齿轮，32-第一驱动装置，33-第二驱动装置，34-连接板，35-夹紧机构，351-主体，352-夹块。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型做进一步的说明：一种双向自动研磨抛光设备100，用于对试样进行研磨抛光前处理，其包括：安装座10、固定装置30及转盘20，如图1所示，所述转盘20转动的装设于所述安装座10上，所述固定装置30包括基座31、第一驱动装置32、第二驱动装置33、以及与所述第二驱动装置33连接的夹紧机构35，如图2所示，所述基座31装设于所述安装座10上，所述第一驱动装置32安设在所述基座31上做升、降驱动，所述第二驱动装置33及夹紧机构35安设于与基座31呈自由转动连接的连接板34上，试样由所述夹紧机构35夹紧固定，所述第一驱动装置32驱动所述夹紧机构35带动试样接近或远离所述转盘20，所述转盘20对试样进行研磨抛光前处理。
所述的双向自动研磨抛光设备100，还包括第三驱动装置，所述第三驱动装置装设于所述安装座的内部，所述转盘在所述第三驱动装置驱动下转动。
所述的双向自动研磨抛光设备100，还包括进水装置、排水槽，便于处理废液。
所述的双向自动研磨抛光设备100，所述固定装置30的基座31内部安装有螺杆311和卡套螺母312，如图3所示，所述卡套螺母312与所述螺杆311配套作用，由所述螺杆311的旋转带动所述卡套螺母312做往复式直线升降运动；所述螺杆311末端带有传动用圆锥齿轮313，所述第一驱动装置32通过圆锥齿轮313驱动所述螺杆311旋转，进而控制所述夹紧机构35在转盘20上的位置。
所述的双向自动研磨抛光设备100，所述第一驱动装置32是步进马达或伺服马达，马达的驱动轴末端带有传动用圆锥齿轮313，与所述螺杆311末端的圆锥齿轮313配合作用，使得所述第一驱动装置32对所述夹紧机构35的重复定位精度高。所述第一驱动装置32施加在试样的压力均衡，先大后小，完成试样的粗磨、细磨、抛光所有工序，得到最适宜的研磨抛光质量。
所述的双向自动研磨抛光设备100，所述第二驱动装置33是马达，所述第二驱动装置33的驱动轴穿过所述连接板34，与所述夹紧机构35固定连接。
所述的双向自动研磨抛光设备100，所述连接板34与所述基座31呈自由转动连接，用以实现在更换其中一个转盘20上的研磨纸或抛光织物时的情况下，使得夹紧机构35能够被转动至他转盘20上方使用，提高工作效率。
所述的双向自动研磨抛光设备100，所述夹紧机构35包括主体351及若干夹块352，如图4a、4b所示，所述主体351均匀的开设有若干供所述夹块352滑动的滑槽，所述夹块352之间形成夹持区，所述夹块352可在所述滑槽上滑动扩大或者缩小所述夹持区的大小。所述夹紧机构35夹持试样的操作简单，并解决了小试样、不规则形状的试样难以夹持的问题，试样被夹持得更稳固，研磨抛光效果更好。
所述的双向自动研磨抛光设备100，所述夹紧机构35是三爪卡盘或四爪卡盘。由卡盘的卡爪来固定试样，卡盘是可更换的，如图4a、4b所示；对于规则形状的试样使用三爪卡盘，联动式的卡爪用来固定试样方便快捷，对于非规则形状的试样使用四爪卡盘，因每个卡爪可单独活动，用于固定非规则形状的试样更方便。
所述的双向自动研磨抛光设备100，所述第二驱动装置33驱动所述夹紧机构35转动。在抛光初期，试样上的磨痕方向与转盘20转动的方向垂直，便于较快的抛除磨痕；在抛光后期，转动试样有利于获得光亮平整的磨面，同时能防止夹杂物及硬性的相产生曳尾现象。
Claims (9)
1.一种双向自动研磨抛光设备，其特征在于，包括：安装座、固定装置及转盘，所述转盘转动的装设于所述安装座上，所述固定装置包括基座、第一驱动装置、第二驱动装置、以及与所述第二驱动装置连接的夹紧机构，所述基座装设于所述安装座上，所述第一驱动装置安设在所述基座上做升、降驱动，所述第二驱动装置及夹紧机构安设于与基座呈自由转动连接的连接板上，试样由所述夹紧机构夹紧固定，所述第一驱动装置驱动所述夹紧机构带动试样接近或远离所述转盘，所述转盘对试样进行研磨抛光前处理。
2.根据权利要求1所述的双向自动研磨抛光设备，其特征在于：所述双向自动研磨抛光设备还包括第三驱动装置，所述第三驱动装置装设于所述安装座的内部，所述转盘在所述第三驱动装置驱动下转动。
3.根据权利要求1所述的双向自动研磨抛光设备，其特征在于：所述双向自动研磨抛光设备还包括进水装置、排水槽。
4.根据权利要求1所述的双向自动研磨抛光设备，其特征在于：所述固定装置的基座内部安装有螺杆和卡套螺母，所述卡套螺母与所述螺杆配套作用，由所述螺杆的旋转带动所述卡套螺母做往复式直线升降运动；所述螺杆末端带有传动用圆锥齿轮，所述第一驱动装置通过圆锥齿轮驱动所述螺杆旋转。
5.根据权利要求1所述的双向自动研磨抛光设备，其特征在于：所述第一驱动装置是步进马达或伺服马达，马达的驱动轴末端带有传动用圆锥齿轮，与所述螺杆末端的圆锥齿轮配合作用。
6.根据权利要求1所述的双向自动研磨抛光设备，其特征在于：所述第二驱动装置是马达，所述第二驱动装置的驱动轴穿过所述连接板，与所述夹紧机构固定连接。
7.根据权利要求1所述的双向自动研磨抛光设备，其特征在于：所述夹紧 机构包括主体及若干夹块，所述主体均匀的开设有若干供所述夹块滑动的滑槽，所述夹块之间形成夹持区，所述夹块可在所述滑槽上滑动，扩大或者缩小所述夹持区的大小。
8.根据权利要求7所述的双向自动研磨抛光设备，其特征在于：所述夹紧机构是三爪卡盘或四爪卡盘。
9.根据权利要求1所述的双向自动研磨抛光设备，其特征在于所述第二驱动装置驱动所述夹紧机构转动。
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| CN105563304A (zh) * | 2015-07-14 | 2016-05-11 | 山东理工大学 | 一种改进的精密研磨抛光机的样品固定与调节装置 |
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Legal Events
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| EE01 | Entry into force of recordation of patent licensing contract |
Assignee: Shanghai Hua Yue Yue Yue Material Technology Co.,Ltd. Assignor: Centre Testing International (Shenzhen) Co.,Ltd. Contract record no.: 2014440020053 Denomination of utility model: Bidirectional automatic grinding and polishing device Granted publication date: 20130410 License type: Exclusive License Record date: 20140122 |
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Address after: 518057 Guangdong, Shenzhen Province, Baoan District District, Wei Wei Industrial Park, building C, 70 Patentee after: CENTRE TESTING INTERNATIONAL GROUP Co.,Ltd. Address before: 518057 Guangdong, Shenzhen Province, Baoan District District, Wei Wei Industrial Park, building C, 70 Patentee before: Centre Testing International (Shenzhen) Co.,Ltd. |
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| CP03 | Change of name, title or address | ||
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| TR01 | Transfer of patent right |
Effective date of registration: 20170727 Address after: 201114 Shanghai City, Pujiang, the new town of Victoria Road, building No. 777, No. 5, building Patentee after: Shanghai Hua Yue Yue Yue Material Technology Co.,Ltd. Address before: 518057 Guangdong, Shenzhen Province, Baoan District District, Wei Wei Industrial Park, building C, 70 Patentee before: CENTRE TESTING INTERNATIONAL GROUP Co.,Ltd. |
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