CN217291650U - 一种适用于金属样品的磨样装置 - Google Patents

Abstract

一种适用于金属样品的磨样装置，包括基座、研磨机构、定位机构、旋转机构、持样机构、控制器、CPU和样品放置台；所述基座包括顶板、底板和支撑杆；所述底板上端面的四角均垂直设置有支撑杆，支撑杆的顶端设置有顶板；所述研磨机构设置在底板的上端面；所述定位机构、旋转机构、控制器和样品放置台均设置在顶板的上端面；所述持样机构设置在旋转机构上；所述顶板在垂直方向上设置有扇形贯穿孔；所述控制器的信号输出端连接CPU的信号输入端。本实用新型提高了金属样品的研磨效率。

Description

一种适用于金属样品的磨样装置

技术领域

本实用新型涉及一种磨样装置，特别是一种对金属样品表面进行打磨的装置，属于磨样设备技术领域。

背景技术

在冶金生产过程中，为了掌握产品的数据参数，需要抽取部分金属样品进行化验分析，在化验分析之前需要对金属样品表面进行打磨，金属样品表面光洁度达标后才能进行化验分析；目前，对于金属样品的表面打磨作业是通过人工使用夹具夹持样品放置到砂轮上来实现的；在手动控制金属样品在砂轮上打磨抛光的过程中，人手力度和角度的轻微变化都会影响金属样品的研磨效果，从而影响化验分析结果；故需要一种磨样装置，要求它能够提高金属样品的研磨效率以及精度，从而确保金属样品研磨面的光洁度达标。

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服现有技术的不足，提供一种适用于金属样品的磨样装置，它不仅能够降低工作人员的劳动强度，还能够提高金属样品研磨面的光洁度。

本实用新型所述问题是通过以下技术方案解决的：

一种适用于金属样品的磨样装置，包括基座、研磨机构、定位机构、旋转机构、持样机构、控制器、CPU和样品放置台；所述基座包括顶板、底板和支撑杆；所述底板上端面的四角均垂直设置有支撑杆，支撑杆的顶端设置有顶板；所述研磨机构设置在底板的上端面；所述定位机构、旋转机构、控制器和样品放置台均设置在顶板的上端面；所述持样机构设置在旋转机构上；所述顶板在垂直方向上设置有扇形贯穿孔；所述控制器的信号输出端连接CPU的信号输入端。

上述适用于金属样品的磨样装置，所述旋转机构包括第一电机、主动齿轮、立柱、套筒、从动齿轮和横杆；所述第一电机壳体和立柱均垂直设置在顶板的上端面；所述第一电机的输出轴设置有主动齿轮；所述套筒下端开口，且其套设在立柱上，套筒外圆周面上设置有从动齿轮；所述主动齿轮与从动齿轮啮合传动连接；所述横杆设置在套筒的外壁上；所述第一电机的信号控制端连接CPU的信号输出端。

上述适用于金属样品的磨样装置，所述持样机构包括圆筒、电磁铁、弹簧、金属圆柱和磁环；所述圆筒设置在横杆远离套筒的一端，圆筒的下端开口，且圆筒的轴心线为垂直向线；所述电磁铁设置在圆筒内壁顶端；所述金属圆柱设置在圆筒内部，且电磁铁与金属圆柱之间设置有弹簧；所述磁环设置在金属圆柱的底端；所述电磁铁的信号控制端连接CPU的信号输出端。

上述适用于金属样品的磨样装置，所述定位机构包括弧形板、磁感应开关和支柱；所述支柱垂直设置在顶板的上端面，支柱的数量为两个，且其分别位于顶板扇形贯穿孔的两侧；所述弧形板的两端分别设置在两个不同支柱的顶端；所述弧形板的下端面等距设置有多个磁感应开关；所述圆筒外壁的顶端面设置有磁块，磁块位于弧形板的正下方；所述套筒的轴心线穿过弧形板的圆心点；所述磁感应开关的信号输出端连接CPU的信号输入端。

上述适用于金属样品的磨样装置，所述研磨机构包括第二电机和砂轮；所述第二电机的壳体垂直设置在底板的上端面；所述第二电机的输出轴设置有砂轮；所述第二电机的信号控制端连接CPU的信号输出端。

上述适用于金属样品的磨样装置，所述样品放置台位于顶板扇形贯穿孔的一侧，且样品放置台的轴心线与立柱轴心线之间的距离等于圆筒轴心线与立柱轴心线之间的距离。

本实用新型通过持样机构将金属样品放置到研磨机构上进行研磨，不再需要人工手持金属样品进行研磨，降低了工作人员的劳动强度，提高了研磨效率；另外，还通过定位机构和旋转机构的配合，有效地使持样机构能够移动至砂轮的上方，从而确保持样机构能够带动金属样品触压在砂轮上进行研磨。

附图说明

图1为本实用新型立体结构示意图；

图2为本实用新型持样机构内部结构示意图。

图中各标号清单为：1.顶板，2.底板，3.支撑杆，4.第一电机，5.主动齿轮，6.立柱，7.套筒，8.从动齿轮，9.横杆，10.圆筒，11.电磁铁，12.弹簧，13.金属圆柱，14.磁环，15.弧形板，16.支柱，17.第二电机，18.砂轮， 19.样品放置台。

具体实施方式

参看图1和图2，本实用新型包括基座、研磨机构、定位机构、旋转机构、持样机构、控制器、CPU和样品放置台19；所述基座包括顶板1、底板2和支撑杆3；所述底板2上端面的四角均垂直设置有支撑杆3，支撑杆3的顶端设置有顶板1；所述研磨机构设置在底板2的上端面；所述定位机构、旋转机构、控制器和样品放置台19均设置在顶板1的上端面；所述持样机构设置在旋转机构上；所述顶板1在垂直方向上设置有扇形贯穿孔；金属样品从扇形贯穿孔内向下移动，直至接触砂轮18；所述控制器的信号输出端连接CPU的信号输入端。

所述旋转机构包括第一电机4、主动齿轮5、立柱6、套筒7、从动齿轮8 和横杆9；所述第一电机壳体和立柱6均垂直设置在顶板1的上端面；所述第一电机4的输出轴设置有主动齿轮5；所述套筒7下端开口，且其套设在立柱 6上，套筒7外圆周面上设置有从动齿轮8；第一电机4启动带动主动齿轮5 旋转，从而带动从动齿轮8旋转，从动齿轮8带动套筒7旋转，套筒7带动横杆9旋转；所述主动齿轮5与从动齿轮8啮合传动连接；所述横杆9设置在套筒7的外壁上；所述第一电机4的信号控制端连接CPU的信号输出端。

所述持样机构包括圆筒10、电磁铁11、弹簧12、金属圆柱13和磁环14；所述圆筒10设置在横杆9远离套筒7的一端，圆筒10的下端开口，且圆筒 10的轴心线为垂直向线；所述电磁铁11设置在圆筒10内壁顶端；所述金属圆柱13设置在圆筒10内部，且电磁铁11与金属圆柱13之间设置有弹簧12；初始状态下，电磁铁11不通电，金属圆柱13在圆筒10内，一旦电磁铁11 通电，磁力推动金属圆柱13向下移动，从而使金属样品触压在砂轮18上；所述磁环14设置在金属圆柱13的底端；金属样品被磁环14吸附在环内，金属样品的位置被限制在磁环14内，当金属样品在旋转的砂轮18上研磨使，磁环14能够确保金属样品不偏离位置；所述电磁铁11的信号控制端连接CPU 的信号输出端。

所述定位机构包括弧形板15、磁感应开关和支柱16；所述支柱16垂直设置在顶板1的上端面，支柱16的数量为两个，且其分别位于顶板1扇形贯穿孔的两侧；所述弧形板15的两端分别设置在两个不同支柱16的顶端；所述弧形板15的下端面等距设置有多个磁感应开关；所述圆筒10外壁的顶端面设置有磁块，磁块位于弧形板15的正下方；通过受到磁力的磁感应开关的位置，从而得知圆筒10的实时位置；所述套筒7的轴心线穿过弧形板15的圆心点，这确保了圆筒不管移动到什么位置，均位于弧形板15的正下方；所述磁感应开关的信号输出端连接CPU的信号输入端。

所述研磨机构包括第二电机17和砂轮18；所述第二电机17的壳体垂直设置在底板2的上端面；所述第二电机17的输出轴设置有砂轮18；所述第二电机17的信号控制端连接CPU的信号输出端；第二电机17带动砂轮18旋转，从而使旋转的砂轮18对金属样品进行研磨。

所述样品放置台19位于顶板1扇形贯穿孔的一侧，且样品放置台19的轴心线与立柱6轴心线之间的距离等于圆筒10轴心线与立柱6轴心线之间的距离。

实际使用过程：工作人员将待研磨样品放置到样品放置台上，然后通过控制器进行控制，初始状态下，圆筒10位于样品放置台19的正上方；控制电磁铁11动作，磁力推动金属圆柱13向下移动，样品被磁环14吸附在环内，然后断开电磁铁11的电源，弹簧12带动金属圆柱13向上移动复位；第一电机4动作，带动套筒7旋转，横杆9带着圆筒10移动，磁感应开关实时感应圆筒10的位置，待到圆筒10移动至扇形孔的上方后，启动电磁铁11和第二电机17，使样品触压旋转的砂轮18进行研磨，研磨完毕后，关闭电磁铁11 电源和第二电机17，第一电机14动作，带动圆筒10移动至初始位置，工作人员取走样品，研磨作业完毕。

本实用新型中CPU模块的型号是87C196KC。

Claims (6)

1.一种适用于金属样品的磨样装置，其特征在于：包括基座、研磨机构、定位机构、旋转机构、持样机构、控制器、CPU和样品放置台(19)；所述基座包括顶板(1)、底板(2)和支撑杆(3)；所述底板(2)上端面的四角均垂直设置有支撑杆(3)，支撑杆(3)的顶端设置有顶板(1)；所述研磨机构设置在底板(2)的上端面；所述定位机构、旋转机构、控制器和样品放置台(19)均设置在顶板(1)的上端面；所述持样机构设置在旋转机构上；所述顶板(1)在垂直方向上设置有扇形贯穿孔；所述控制器的信号输出端连接CPU的信号输入端。

2.根据权利要求1所述的适用于金属样品的磨样装置，其特征在于：所述旋转机构包括第一电机(4)、主动齿轮(5)、立柱(6)、套筒(7)、从动齿轮(8)和横杆(9)；所述第一电机壳体和立柱(6)均垂直设置在顶板(1)的上端面；所述第一电机(4)的输出轴设置有主动齿轮(5)；所述套筒(7)下端开口，且其套设在立柱(6)上，套筒(7)外圆周面上设置有从动齿轮(8)；所述主动齿轮(5)与从动齿轮(8)啮合传动连接；所述横杆(9)设置在套筒(7)的外壁上；所述第一电机(4)的信号控制端连接CPU的信号输出端。

3.根据权利要求2所述的适用于金属样品的磨样装置，其特征在于：所述持样机构包括圆筒(10)、电磁铁(11)、弹簧(12)、金属圆柱(13)和磁环(14)；所述圆筒(10)设置在横杆(9)远离套筒(7)的一端，圆筒(10)的下端开口，且圆筒(10)的轴心线为垂直向线；所述电磁铁(11)设置在圆筒(10)内壁顶端；所述金属圆柱(13)设置在圆筒(10)内部，且电磁铁(11)与金属圆柱(13)之间设置有弹簧(12)；所述磁环(14)设置在金属圆柱(13)的底端；所述电磁铁(11)的信号控制端连接CPU的信号输出端。

4.根据权利要求3所述的适用于金属样品的磨样装置，其特征在于：所述定位机构包括弧形板(15)、磁感应开关和支柱(16)；所述支柱(16)垂直设置在顶板(1)的上端面，支柱(16)的数量为两个，且其分别位于顶板(1)扇形贯穿孔的两侧；所述弧形板(15)的两端分别设置在两个不同支柱(16)的顶端；所述弧形板(15)的下端面等距设置有多个磁感应开关；所述圆筒(10)外壁的顶端面设置有磁块，磁块位于弧形板(15)的正下方；所述套筒(7)的轴心线穿过弧形板(15)的圆心点；所述磁感应开关的信号输出端连接CPU的信号输入端。

5.根据权利要求4所述的适用于金属样品的磨样装置，其特征在于：所述研磨机构包括第二电机(17)和砂轮(18)；所述第二电机(17)的壳体垂直设置在底板(2)的上端面；所述第二电机(17)的输出轴设置有砂轮(18)；所述第二电机(17)的信号控制端连接CPU的信号输出端。

6.根据权利要求5所述的适用于金属样品的磨样装置，其特征在于：所述样品放置台(19)位于顶板(1)扇形贯穿孔的一侧，且样品放置台(19)的轴心线与立柱(6)轴心线之间的距离等于圆筒(10)轴心线与立柱(6)轴心线之间的距离。

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