CN219244841U - 一种ntc热敏电阻芯片测试机 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种NTC热敏电阻芯片测试机，包括机箱、旋转机构、旋转台、测试治具、芯片上料装置、恒温油槽、测试机构、去油机构、风干机构、下料机构、固定柱、支撑台和顶升凸块，工作时芯片上料装置驱动芯片进入测试治具，旋转台转动时会带着测试治具转动，测试治具带着芯片经过恒温油槽、测试机构、去油机构、风干机构、下料机构，恒温油槽提供恒温的测试环境，测试机构测试芯片阻值是否合格，去油机构去除芯片、测试治具表面的油，下料机构将芯片从测试治具取出下料，机械化作业，测试速度快，而且测试治具在进入和离开恒温油槽时，顶升凸块驱动测试治具升起避免测试治具撞上恒温油槽侧壁，结构设计巧妙合理，满足生产实际需要。

Description

一种NTC热敏电阻芯片测试机

技术领域

本实用新型涉及机械设备领域，具体涉及一种NTC热敏电阻芯片测试机。

背景技术

NTC热敏电阻又称负温度系数热敏电阻，是一类电阻值随温度增大而减小的一种传感器电阻，广泛用于各种电子元件中，如温度传感器、可复式保险丝及自动调节的加热器等。NTC热敏电阻主要由芯片和引线组成，芯片的好坏直接决定NTC热敏电阻的品质，现有NTC热敏电阻芯片的测试方法是人工拿着芯片在恒温环境下使用电阻测试仪进行，缺点是效率极其低下。

实用新型内容

针对现有技术存在上述缺点，本实用新型提供了一种NTC热敏电阻芯片测试机，具体技术方案如下：

一种NTC热敏电阻芯片测试机，包括机箱、旋转机构、旋转台、测试治具、芯片上料装置、恒温油槽、测试机构、去油机构、风干机构、下料机构、固定柱、支撑台和顶升凸块，机箱内安装旋转机构，机箱上方安装芯片上料装置，芯片上料装置驱动芯片进入测试治具，旋转机构驱动旋转台转动，旋转台外周侧安装多个测试治具，测试治具带着芯片经过恒温油槽、测试机构、去油机构、风干机构、下料机构，固定柱穿过旋转台中心，固定柱上方安装支撑台，支撑台外侧安装顶升凸块，顶升凸块位置与恒温油槽位置相对应，顶升凸块驱动测试治具升起避免测试治具撞上恒温油槽侧壁。

作为本实用新型的一种优选方案，所述芯片上料装置包括振动盘、直振轨道、直振器、上料固定架、翻转机构、翻转架、第一气缸、真空吸嘴、芯片夹爪和夹爪前移机构，振动盘驱动芯片有序进入直振轨道，直振轨道下方安装直振器，机箱上方安装上料固定架，上料固定架靠近振动盘，上料固定架中安装翻转机构，翻转机构驱动翻转架翻转换位,翻转架前侧安装第一气缸，第一气缸驱动真空吸嘴靠近直振轨道，真空吸嘴吸取直振轨道中的芯片转移到芯片夹爪，夹爪前移机构驱动芯片夹爪前移靠近测试治具。

作为本实用新型的一种优选方案，所述翻转机构包括第一连杆、扇形齿轮、圆柱齿轮、翻转轴，第一连杆连接扇形齿轮中部，扇形齿轮铰接安装于上料固定架，扇形齿轮啮合圆柱齿轮，圆柱齿轮固定连接翻转轴一端，翻转轴另一端固定连接翻转架。

作为本实用新型的一种优选方案，所述测试治具包括治具座、治具板、第一轴承、第一拉簧、夹板、第二轴承和第二拉簧，治具座固定安装在旋转台外周侧，治具座前方滑动安装治具板，治具板上方安装第一轴承，第一拉簧上端勾住治具板而下端勾住治具座，第一轴承在顶升凸块上滚动时治具板被顶起，治具板前方滑动安装夹板，夹板有两块分别位于左右侧，每块夹板前方安装第二轴承，左右侧夹板之间安装第二拉簧。

作为本实用新型的一种优选方案，所述夹板底部安装有顶针，治具板上方安装有导针，顶针通过导线电连接导针。

作为本实用新型的一种优选方案，所述测试机构包括电阻测试仪、测试仪放置台、测试气缸、探针，电阻测试仪放置在测试仪放置台上方，测试仪放置台安装在支撑台上，电阻测试仪通过导线电连接探针，测试气缸驱动探针下降接触导针。

作为本实用新型的一种优选方案，所述去油机构包括初始接油槽、吸油盒、负压管和第二气缸，初始接油槽对接恒温油槽，吸油盒底部接通负压管，第二气缸驱动吸油盒上移套入测试治具。

作为本实用新型的一种优选方案，所述风干机构包括一级风干盒和二级风干盒。

作为本实用新型的一种优选方案，所述下料机构包括下料气缸、顶松块和收纳盒，下料气缸驱动顶松块打开测试治具，测试治具松开芯片，芯片掉落到下方的收纳盒内。

有益效果：本实用新型NTC热敏电阻芯片测试机可实现自动化测试芯片，工作时芯片上料装置驱动芯片进入测试治具，旋转机构驱动旋转台转动，旋转台转动时会带着测试治具转动，测试治具带着芯片经过恒温油槽、测试机构、去油机构、风干机构、下料机构，恒温油槽提供恒温的测试环境，测试机构测试芯片阻值是否合格，去油机构去除芯片、测试治具表面的油，风干机构风干芯片、测试治具，下料机构将芯片从测试治具取出下料，机械化作业，测试速度快，而且测试治具在进入和离开恒温油槽时，顶升凸块驱动测试治具升起避免测试治具撞上恒温油槽侧壁，结构设计巧妙合理，满足生产实际需要。

附图说明

图1是本实用新型的立体图；

图2是本实用新型另一视角的立体图；

图3是本实用新型的旋转台、测试治具、支撑台、顶升凸块相配合的立体图；

图4是本实用新型的旋转机构、旋转台相配合的立体图；

图5是本实用新型的芯片上料装置的立体图；

图6是本实用新型的芯片上料装置隐藏部分零件后的立体图；

图7是本实用新型的芯片上料装置隐藏部分零件后另一视角的立体图；

图8是本实用新型的治具打开机构的立体图；

图9是本实用新型的测试治具的立体图；

图10是本实用新型的测试治具另一视角的立体图；

图11是本实用新型的测试治具与顶升凸块相配合的立体图；

图12是本实用新型的测试机构的立体图；

图13是本实用新型的去油机构的立体图；

图14是本实用新型的风干机构的立体图；

图15是本实用新型的下料机构的立体图。

具体实施方式

下面结合附图，对本实用新型的具体实施方式做进一步说明：

在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的位置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以视具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

如图1～4所示，一种NTC热敏电阻芯片测试机，包括机箱1、旋转机构2、旋转台3、测试治具4、芯片上料装置5、恒温油槽6、测试机构7、去油机构8、风干机构9、下料机构10、固定柱11、支撑台12和顶升凸块13，机箱1内安装旋转机构2，旋转机构2为分割器可驱使旋转台3间隙转动，机箱1上方安装芯片上料装置5，芯片上料装置5驱动芯片进入测试治具4，旋转台3外周侧安装多个测试治具4，测试治具4带着芯片经过恒温油槽6、测试机构7、去油机构8、风干机构9、下料机构10，恒温油槽6为现有技术内部装有加热机构能使油保持在一个恒温状态可让芯片浸入其中，固定柱11穿过旋转台3中心，固定柱11上方安装支撑台12，同时为了支撑台12更稳固可加装L型支架连接支撑台12和机箱1的工作台，支撑台12外侧安装顶升凸块13，顶升凸块13位置与恒温油槽6位置相对应，顶升凸块13有两块对着恒温油槽6的两侧壁，当测试治具4转动到顶升凸块13的位置时，顶升凸块13驱动测试治具4升起避免测试治具4撞上恒温油槽侧壁(图3中顶升凸块13对应处的测试治具4应该是升起，只是此图没表示出来)。

如图5～7所示，芯片上料装置5包括振动盘51、直振轨道52、直振器53、上料固定架54、翻转机构55、翻转架56、第一气缸57、真空吸嘴58、芯片夹爪59和夹爪前移机构510，振动盘51驱动芯片有序进入直振轨道52，直振轨道52下方安装直振器53，直振器53驱动直振轨道52中芯片前移到达前方，机箱1上方安装上料固定架54，上料固定架54靠近振动盘51，上料固定架54中安装翻转机构55，翻转机构55驱动翻转架56翻转换位,翻转架56前侧安装第一气缸57，第一气缸57驱动真空吸嘴58靠近直振轨道52前端，真空吸嘴58吸取直振轨道52中的芯片，然后翻转架56翻转换位真空吸嘴58将芯片转移到芯片夹爪59，夹爪前移机构510驱动芯片夹爪510前移靠近测试治具4从而把芯片送入测试治具4，芯片夹爪59可由气动手指或其他机构驱动收合，夹爪前移机构510可以是气缸也可以是摆臂机构。

具体的，翻转机构55包括第一连杆551、扇形齿轮552、圆柱齿轮553、翻转轴，第一连杆551连接扇形齿轮552中部，扇形齿轮552铰接安装于上料固定架54，扇形齿轮552啮合圆柱齿轮553，圆柱齿轮553固定连接翻转轴一端，翻转轴另一端固定连接翻转架56，可采用气缸或其他机构作为动力源驱使第一连杆551升降，第一连杆551驱动扇形齿轮552摆动，扇形齿轮552驱动圆柱齿轮553转动，圆柱齿轮553驱动翻转轴转动，翻转轴驱动翻转架56转动。

如图8所示，在芯片上料装置5的上料工位处，为了保证芯片夹爪510能够把芯片送入测试治具4，上料工位处还安装有治具打开机构14，治具打开机构14主要由打开块和连杆组成，连杆带动打开块下移，打开块打开测试治具4后芯片才进入治具。

如图9～11所示，测试治具4包括治具座41、治具板42、第一轴承43、第一拉簧44、夹板45、第二轴承46和第二拉簧47，治具座41固定安装在旋转台3外周侧，治具座41前方通过滑块与滑轨的配合实现滑动安装治具板42，治具板42上方安装横板48，横板48后方安装第一轴承43，第一拉簧44上端勾住治具板42的横板48而下端勾住治具座41，当测试治具4到达顶升凸块13时，第一轴承43在顶升凸块13上滚动时治具板42被顶起从而避开恒温油槽的侧壁，当测试治具4离开顶升凸块13后，在第一拉簧44的复位驱动下，治具板42下移复位芯片可浸泡到油槽里，治具板42前方通过滑块与滑轨的配合实现滑动安装夹板45，夹板45有两块分别位于左右侧，每块夹板45前方安装第二轴承46，左右侧夹板之间安装第二拉簧47，外部的打开机构驱使两个第二轴承46外张时可打开两块夹板45，当失去外力时第二拉簧47驱动夹板45内缩夹住芯片，夹板45底部安装有顶针49，顶针49接触夹住芯片，治具板42上方安装有导针410，顶针49通过导线(为画出)电连接导针410。

如图2和12所示，测试机构7包括电阻测试仪(未画出)、测试仪放置台71、测试气缸72、探针73，电阻测试仪放置在测试仪放置台71上方，测试仪放置台71安装在支撑台上，电阻测试仪通过导线电连接探针73，测试气缸72、探针73位于恒温油槽的上方，测试气缸72驱动探针73下降接触导针410从而接通芯片。

如图13所示，去油机构8包括初始接油槽81、吸油盒82、负压管83和第二气缸84，初始接油槽81对接恒温油槽，刚开始从恒温油槽出来的测试治具4所带的油较多，此时测试治具4转动过程中的油会自然滴落到初始接油槽81，吸油盒82底部接通负压管83，负压管83是连通负压装置的，当测试治具4转动到吸油盒82上方时，第二气缸84驱动吸油盒82上移，测试治具4被套入吸油盒82内，吸走测试治具4残留的油。

如图14所示，风干机构9包括一级风干盒91和二级风干盒92，一级风干盒91和二级风干盒92都由气缸来驱使上移，一级风干盒91和二级风干盒92底部都连接有风管(未画出)，当测试治具4转动到一级风干盒91或二级风干盒92的位置时，一级风干盒91或二级风干盒92上移对测试治具4进行风干，设计二级风干工序的目的是为了保证风干的可靠性。

如图15所示，下料机构10包括下料气缸101、顶松块102和收纳盒103，下料气缸101驱动顶松块102下移撑开两个第二轴承46从而打开测试治具，测试治具松开芯片，芯片掉落到下方的收纳盒103内，下料气缸101、顶松块102、收纳盒103有多组可分拣出不同测试结果的芯片。

以上内容是结合具体的优选实施方式对本实用新型所作的进一步详细说明，不能认定本实用新型的具体实施只局限于这些说明，对于本实用新型所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本实用新型的保护范围。

Claims (9)

1.一种NTC热敏电阻芯片测试机，其特征在于：包括机箱、旋转机构、旋转台、测试治具、芯片上料装置、恒温油槽、测试机构、去油机构、风干机构、下料机构、固定柱、支撑台和顶升凸块，机箱内安装旋转机构，机箱上方安装芯片上料装置，芯片上料装置驱动芯片进入测试治具，旋转机构驱动旋转台转动，旋转台外周侧安装多个测试治具，测试治具带着芯片经过恒温油槽、测试机构、去油机构、风干机构、下料机构，固定柱穿过旋转台中心，固定柱上方安装支撑台，支撑台外侧安装顶升凸块，顶升凸块位置与恒温油槽位置相对应，顶升凸块驱动测试治具升起避免测试治具撞上恒温油槽侧壁。

2.根据权利要求1所述的一种NTC热敏电阻芯片测试机，其特征在于：所述芯片上料装置包括振动盘、直振轨道、直振器、上料固定架、翻转机构、翻转架、第一气缸、真空吸嘴、芯片夹爪和夹爪前移机构，振动盘驱动芯片有序进入直振轨道，直振轨道下方安装直振器，机箱上方安装上料固定架，上料固定架靠近振动盘，上料固定架中安装翻转机构，翻转机构驱动翻转架翻转换位,翻转架前侧安装第一气缸，第一气缸驱动真空吸嘴靠近直振轨道，真空吸嘴吸取直振轨道中的芯片转移到芯片夹爪，夹爪前移机构驱动芯片夹爪前移靠近测试治具。

3.根据权利要求2所述的一种NTC热敏电阻芯片测试机，其特征在于：所述翻转机构包括第一连杆、扇形齿轮、圆柱齿轮、翻转轴，第一连杆连接扇形齿轮中部，扇形齿轮铰接安装于上料固定架，扇形齿轮啮合圆柱齿轮，圆柱齿轮固定连接翻转轴一端，翻转轴另一端固定连接翻转架。

4.根据权利要求1所述的一种NTC热敏电阻芯片测试机，其特征在于：所述测试治具包括治具座、治具板、第一轴承、第一拉簧、夹板、第二轴承和第二拉簧，治具座固定安装在旋转台外周侧，治具座前方滑动安装治具板，治具板上方安装第一轴承，第一拉簧上端勾住治具板而下端勾住治具座，第一轴承在顶升凸块上滚动时治具板被顶起，治具板前方滑动安装夹板，夹板有两块分别位于左右侧，每块夹板前方安装第二轴承，左右侧夹板之间安装第二拉簧。

5.根据权利要求4所述的一种NTC热敏电阻芯片测试机，其特征在于：所述夹板底部安装有顶针，治具板上方安装有导针，顶针通过导线电连接导针。

6.根据权利要求5所述的一种NTC热敏电阻芯片测试机，其特征在于：所述测试机构包括电阻测试仪、测试仪放置台、测试气缸、探针，电阻测试仪放置在测试仪放置台上方，测试仪放置台安装在支撑台上，电阻测试仪通过导线电连接探针，测试气缸驱动探针下降接触导针。

7.根据权利要求1所述的一种NTC热敏电阻芯片测试机，其特征在于：所述去油机构包括初始接油槽、吸油盒、负压管和第二气缸，初始接油槽对接恒温油槽，吸油盒底部接通负压管，第二气缸驱动吸油盒上移套入测试治具。

8.根据权利要求1所述的一种NTC热敏电阻芯片测试机，其特征在于：所述风干机构包括一级风干盒和二级风干盒。

9.根据权利要求1所述的一种NTC热敏电阻芯片测试机，其特征在于：所述下料机构包括下料气缸、顶松块和收纳盒，下料气缸驱动顶松块打开测试治具，测试治具松开芯片，芯片掉落到下方的收纳盒内。

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