CN218726568U - 一种可测量玻璃基板缺陷位置的工具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种可测量玻璃基板缺陷位置的工具，包括框架，所述框架的中部设置有幕布，所述幕布用于显示玻璃基板的投影，在投影中寻找玻璃基板的缺陷，所述幕布为层状结构，其第一层底膜为成像PVC材质，第二层为PET材质，第三层是成像PVC表层，最外层是高清光学金属涂层；所述框架的上表面相邻的两边缘位置处分别设置有横向软尺和竖向软尺；本实用新型在光源的照射下，缺陷会投影在高清幕布上，检验人员能快速的将缺陷进行分类，且因幕布上有横向和纵向的尺子，将尺子移动到缺陷位置即可快速得出缺陷在玻璃基板上的位置。
Description
技术领域
本实用新型涉及玻璃基板检测设备技术领域，具体涉及一种可测量玻璃基板缺陷位置的工具。
背景技术
随着电子技术的不断发展，越来越多的TFT－LCD(Thin Film Transistor-LiquidCrystal Display，液晶显示屏)被广泛应用在各类电子产品中，TFT－LCD显示屏通常由TFT－LCD玻璃基板制造。
TFT－LCD玻璃基板作为一种无缺陷玻璃，在其生产过程中，有着细致、严格的品质管控要求，这些品质管理要求直接决定玻璃基板的产品品质。玻璃基板是构成液晶显示器件的一个基本部件，是平板显示产业中的关键基础性材料之一。
而玻璃的缺陷是衡量玻璃质量的重要指标，玻璃基板中存在的缺陷常有：气泡、结实、划伤、条纹以及亮线等。由于缺陷的存在，会使玻璃基板光学均匀性差、机械强度下降、应力大以及玻璃制品不美观且易破裂等。所以玻璃检测后准确得出缺陷位置，反馈制造部门进行优化以提升产品质量是至关重要的，且将缺陷玻璃基板进行研磨工序加工前在暗房提前进行判废，避免了缺陷产品加工成成品后，在成品工序才检验出缺陷进行产品判废而造成的加工损失。
现有暗房缺陷检测设备检测出产品缺陷后，由于非高清幕布，且没有能衡量缺陷位置的工具，无法对缺陷进行分类和确定缺陷位置，从而不能向制造部门提供准确的缺陷信息，为其对策缺陷提供方向。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种可测量玻璃基板缺陷位置的工具，可精确检测出缺陷又可判断出缺陷的位置，给检验人员操作带来方便，也可保证测试精度。
本实用新型的目的可以通过以下技术方案实现：
一种可测量玻璃基板缺陷位置的工具，包括框架，所述框架的中部设置有幕布，所述幕布用于显示玻璃基板的投影，在投影中寻找玻璃基板的缺陷，所述幕布为层状结构，其第一层底膜为成像PVC材质，第二层为PET材质，第三层是成像PVC表层，最外层是高清光学金属涂层；所述框架的上表面相邻的两边缘位置处分别设置有横向软尺和竖向软尺。
作为本实用新型进一步的方案：所述框架为铝制材质制成，框架的表面喷有钢琴烤漆。
作为本实用新型进一步的方案：所述框架的上表面上下部均设置有凹槽，位于上部凹槽内设置有第一横杆，位于下部的凹槽内转动设置有第二横杆，竖向软尺的两端分别连接在第一横杆和第二横杆上，且第一横杆和第二横杆上固定连接有手柄二。
作为本实用新型进一步的方案：所述框架的上表面左右侧均设置有凹槽，位于左侧凹槽内设置有第二竖杆，位于右侧的凹槽内转动设置有第一竖杆，横向软尺的两端分别连接在第一竖杆和第二竖杆上，且第一竖杆和第二竖杆上固定连接有手柄一。
作为本实用新型进一步的方案：所述框架上滑动设置有横向激光器和竖向激光器，所述横向激光器的激光方向朝向竖向软尺，竖向激光器的激光方向朝向横向软尺。
本实用新型的有益效果：当存在缺陷的玻璃基板经过暗房位置时，在光源的照射下，缺陷会投影在高清幕布上，检验人员能快速的将缺陷进行分类，且因幕布上有横向和纵向的尺子，将尺子移动到缺陷位置即可快速得出缺陷在玻璃基板上的位置。本发明工具满足既给检验人员操作带来方便，也可保证检验精度的需求。
附图说明
下面结合附图对本实用新型作进一步的说明。
图1是本实用新型的整体结构示意图。
图中：1、幕布；2、框架；3、第一竖杆；4、第二竖杆；5、手柄一；6、横向软尺；7、第一横杆；8、第二横杆；9、手柄二；10、竖向软尺；11、横向激光器；12、竖向激光器。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1所示，本实用新型为一种可测量玻璃基板缺陷位置的工具，包括框架2，所述框架2的中部设置有幕布1，所述幕布1用于显示玻璃基板的投影，在投影中寻找玻璃基板的缺陷，所述幕布1为层状结构，其第一层底膜为成像PVC材质，第二层为PET材质，第三层是成像PVC表层，最外层是高清光学金属涂层，具有清晰度较高，表面刻度清晰耐磨的优点；所述框架2的上表面相邻的两边缘位置处分别设置有横向软尺6和竖向软尺10，通过横向软尺6和竖向软尺10对玻璃基板缺陷位置进行精准定位。
框架2为铝制材质制成，框架2的表面喷有钢琴烤漆，钢琴烤漆可有效保护幕布1不被破损。
框架2的上表面上下部均设置有凹槽，位于上部凹槽内设置有第一横杆7，位于下部的凹槽内转动设置有第二横杆8，竖向软尺10的两端分别连接在第一横杆7和第二横杆8上，且第一横杆7和第二横杆8上固定连接有手柄二9，通过转动手柄二9带动第一横杆7和第二横杆8转动，从而调节竖向软尺10的位置，可以使得竖向软尺10能够精准的对玻璃基板缺陷的纵向位置进行定位。
框架2的上表面左右侧均设置有凹槽，位于左侧凹槽内设置有第二竖杆4，位于右侧的凹槽内转动设置有第一竖杆3，横向软尺6的两端分别连接在第一竖杆3和第二竖杆4上，且第一竖杆3和第二竖杆4上固定连接有手柄一5，同理通过手柄一5带动第一竖杆3和第二竖杆4进行转动，从而调节横向软尺6的位置，可以使得横向软尺6能够精准的对玻璃基板缺陷的纵向位置进行定位。
框架2上滑动设置有横向激光器11和竖向激光器12，所述横向激光器11的激光方向朝向竖向软尺10，竖向激光器12的激光方向朝向横向软尺6，通过设置激光器对横向软尺6和竖向软尺10上的尺寸进行读取，当确定玻璃基板缺陷位置时，通过移动横向激光器11和竖向激光器12，使得两组激光器发射的激光射线交点处于玻璃基板的缺陷位置重合，再通过激光在横向软尺6和竖向软尺10上的刻度位置，即可精准的读取出玻璃基板缺陷的位置，且不需要对软尺进行调节，使得对玻璃布缺陷的定位更为方便快捷，操作也更为简单。
以上对本实用新型的一个实施例进行了详细说明，但所述内容仅为本实用新型的较佳实施例，不能被认为用于限定本实用新型的实施范围。凡依本实用新型申请范围所作的均等变化与改进等，均应仍归属于本实用新型的专利涵盖范围之内。
Claims (5)
1.一种可测量玻璃基板缺陷位置的工具，其特征在于，包括框架(2)，所述框架(2)的中部设置有幕布(1)，所述幕布(1)用于显示玻璃基板的投影，在投影中寻找玻璃基板的缺陷，所述幕布(1)为层状结构，其第一层底膜为成像PVC材质，第二层为PET材质，第三层是成像PVC表层，最外层是高清光学金属涂层；所述框架(2)的上表面相邻的两边缘位置处分别设置有横向软尺(6)和竖向软尺(10)。
2.根据权利要求1所述的一种可测量玻璃基板缺陷位置的工具，其特征在于，所述框架(2)为铝制材质制成，框架(2)的表面喷有钢琴烤漆。
3.根据权利要求1所述的一种可测量玻璃基板缺陷位置的工具，其特征在于，所述框架(2)的上表面上下部均设置有凹槽，位于上部凹槽内设置有第一横杆(7)，位于下部的凹槽内转动设置有第二横杆(8)，竖向软尺(10)的两端分别连接在第一横杆(7)和第二横杆(8)上，且第一横杆(7)和第二横杆(8)上固定连接有手柄二(9)。
4.根据权利要求1所述的一种可测量玻璃基板缺陷位置的工具，其特征在于，所述框架(2)的上表面左右侧均设置有凹槽，位于左侧凹槽内设置有第二竖杆(4)，位于右侧的凹槽内转动设置有第一竖杆(3)，横向软尺(6)的两端分别连接在第一竖杆(3)和第二竖杆(4)上，且第一竖杆(3)和第二竖杆(4)上固定连接有手柄一(5)。
5.根据权利要求1所述的一种可测量玻璃基板缺陷位置的工具，其特征在于，所述框架(2)上滑动设置有横向激光器(11)和竖向激光器(12)，所述横向激光器(11)的激光方向朝向竖向软尺(10)，竖向激光器(12)的激光方向朝向横向软尺(6)。
Priority Applications (1)
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2022
- 2022-10-10 CN CN202222666119.5U patent/CN218726568U/zh active Active
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