JP7349066B2 - 欠陥分類方法、欠陥分類装置及びガラス物品の製造方法 - Google Patents
欠陥分類方法、欠陥分類装置及びガラス物品の製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP7349066B2 JP7349066B2 JP2019227239A JP2019227239A JP7349066B2 JP 7349066 B2 JP7349066 B2 JP 7349066B2 JP 2019227239 A JP2019227239 A JP 2019227239A JP 2019227239 A JP2019227239 A JP 2019227239A JP 7349066 B2 JP7349066 B2 JP 7349066B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- defect
- classification
- image data
- classifier
- depth
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
- G06T7/0004—Industrial image inspection
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
- B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
- B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
- B07C5/34—Sorting according to other particular properties
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/22—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring depth
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/958—Inspecting transparent materials or objects, e.g. windscreens
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F18/00—Pattern recognition
- G06F18/20—Analysing
- G06F18/21—Design or setup of recognition systems or techniques; Extraction of features in feature space; Blind source separation
- G06F18/214—Generating training patterns; Bootstrap methods, e.g. bagging or boosting
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F18/00—Pattern recognition
- G06F18/20—Analysing
- G06F18/24—Classification techniques
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06N—COMPUTING ARRANGEMENTS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS
- G06N20/00—Machine learning
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
- G01N2021/8854—Grading and classifying of flaws
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
- G01N2021/8887—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges based on image processing techniques
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/20—Special algorithmic details
- G06T2207/20081—Training; Learning
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
- G06T2207/30108—Industrial image inspection
- G06T2207/30121—CRT, LCD or plasma display
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Data Mining & Analysis (AREA)
- Immunology (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Pathology (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Software Systems (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Evolutionary Computation (AREA)
- Artificial Intelligence (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
- Computing Systems (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Bioinformatics & Computational Biology (AREA)
- Bioinformatics & Cheminformatics (AREA)
- Evolutionary Biology (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Description
12 第一分類器
13 第二分類器
D 欠陥の深さ
F 欠陥
G ガラス板
S41 撮像工程
S43 分類工程
S431 第一判定工程
S432 第二判定工程
Claims (9)
- ガラス物品に含まれる欠陥を画像データとして検出し、前記画像データに基づいて前記欠陥の種別を欠陥分類装置によって分類する方法であって、
前記欠陥の種別は、第一分類と、第二分類とを含み、
前記欠陥分類装置は、前記第一分類に係る第一教師データを機械学習することにより作成した第一分類器と、前記第二分類に係る第二教師データを機械学習することにより作成した第二分類器とを備え、
前記画像データに基づいて前記欠陥が前記第一分類に属するか否かを前記第一分類器によって判定する第一判定工程と、
前記欠陥が前記第一分類に属さないと判定された場合に、前記画像データに基づいて前記欠陥が前記第二分類に属するか否かを前記第二分類器によって判定する第二判定工程と、を備え、
前記第一分類に係る前記第一教師データ及び前記第二分類に係る前記第二教師データは、前記ガラス物品の所定の深さに形成される前記欠陥の前記画像データを含み、
前記第一判定工程の前に、前記ガラス物品から検出された前記画像データにおける前記欠陥の深さが前記所定の深さであるか否かを判定する深さ判定工程を備え、
前記第一判定工程は、前記深さ判定工程において、前記欠陥の深さが前記所定の深さであると判定された場合に実行されることを特徴とする欠陥分類方法。 - ガラス物品に含まれる欠陥を画像データとして検出し、前記画像データに基づいて前記欠陥の種別を欠陥分類装置によって分類する方法であって、
前記欠陥の種別は、第一分類と、第二分類とを含み、
前記欠陥分類装置は、前記第一分類に係る第一教師データを機械学習することにより作成した第一分類器と、前記第二分類に係る第二教師データを機械学習することにより作成した第二分類器とを備え、
前記画像データに基づいて前記欠陥が前記第一分類に属するか否かを前記第一分類器によって判定する第一判定工程と、
前記欠陥が前記第一分類に属さないと判定された場合に、前記画像データに基づいて前記欠陥が前記第二分類に属するか否かを前記第二分類器によって判定する第二判定工程と、を備え、
前記第一教師データに係る前記画像データは、泡に関する画像データのみを含み、
前記第二教師データに係る前記画像データは、白金異物に関する画像データのみを含むことを特徴とする欠陥分類方法。 - 前記第一分類に係る前記第一教師データ及び前記第二分類に係る前記第二教師データは、前記ガラス物品の所定の深さに形成される前記欠陥の前記画像データを含み、
前記第一判定工程の前に、前記ガラス物品から検出された前記画像データにおける前記欠陥の深さが前記所定の深さで
あるか否かを判定する深さ判定工程を備え、
前記第一判定工程は、前記深さ判定工程において、前記欠陥の深さが前記所定の深さであると判定された場合に実行される請求項2に記載の欠陥分類方法。 - 前記泡に関する前記画像データは、前記泡の形状及び/又は色に関する情報を含む請求項2又は3に記載の欠陥分類方法。
- 前記白金異物に関する前記画像データは、前記白金異物の形状及び/又は色に関する情報を含む請求項2から4のいずれか一項に記載の欠陥分類方法。
- 前記第一分類器の正解率が、前記第二分類器の正解率よりも高い請求項1から5のいずれか一項に記載の欠陥分類方法。
- ガラス物品の製造方法であって、
前記ガラス物品に含まれる欠陥の画像データを取得する撮像工程と、
前記画像データに基づいて、請求項1から6のいずれか一項に記載の欠陥分類方法によって前記欠陥の種別を分類する工程と、を備えることを特徴とするガラス物品の製造方法。 - ガラス物品に含まれる欠陥を画像データとして検出し、前記画像データに基づいて前記欠陥の種別を分類する装置であって、
前記欠陥の種別は、第一分類と、第二分類とを含み、
前記第一分類に係る第一教師データを機械学習することにより作成された第一分類器であって、前記画像データに基づいて前記欠陥が前記第一分類に属するか否かを判定する第一分類器と、
前記第二分類に係る第二教師データを機械学習することにより作成された第二分類器であって、前記欠陥が前記第一分類に属さないと判定された場合に、前記画像データに基づいて前記欠陥が前記第二分類に属するか否かを判定する第二分類器と、を備え、
前記第一分類に係る前記第一教師データ及び前記第二分類に係る前記第二教師データは、前記ガラス物品の所定の深さに形成される前記欠陥の前記画像データを含み、
前記ガラス物品から検出された前記画像データにおける前記欠陥の深さが前記所定の深さであるか否かを判定する深さ判定手段を備え、
前記深さ判定手段において、前記欠陥の深さが前記所定の深さであると判定された場合に前記第一分類器を用いるように構成されることを特徴とする欠陥分類装置。 - ガラス物品に含まれる欠陥を画像データとして検出し、前記画像データに基づいて前記欠陥の種別を分類する装置であって、
前記欠陥の種別は、第一分類と、第二分類とを含み、
前記第一分類に係る第一教師データを機械学習することにより作成された第一分類器であって、前記画像データに基づいて前記欠陥が前記第一分類に属するか否かを判定する第一分類器と、
前記第二分類に係る第二教師データを機械学習することにより作成された第二分類器であって、前記欠陥が前記第一分類に属さないと判定された場合に、前記画像データに基づいて前記欠陥が前記第二分類に属するか否かを判定する第二分類器と、を備え、
前記第一教師データに係る前記画像データは、泡に関する画像データのみを含み、
前記第二教師データに係る前記画像データは、白金異物に関する画像データのみを含むことを特徴とする欠陥分類装置。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019227239A JP7349066B2 (ja) | 2019-12-17 | 2019-12-17 | 欠陥分類方法、欠陥分類装置及びガラス物品の製造方法 |
PCT/JP2020/043010 WO2021124775A1 (ja) | 2019-12-17 | 2020-11-18 | 欠陥分類方法、欠陥分類装置及びガラス物品の製造方法 |
CN202080071666.XA CN114556414A (zh) | 2019-12-17 | 2020-11-18 | 缺陷分类方法、缺陷分类装置以及玻璃物品的制造方法 |
KR1020227010768A KR20220113348A (ko) | 2019-12-17 | 2020-11-18 | 결함 분류 방법, 결함 분류 장치, 및 유리 물품의 제조 방법 |
TW109141471A TW202132766A (zh) | 2019-12-17 | 2020-11-26 | 缺陷分類方法、缺陷分類裝置以及玻璃物品的製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019227239A JP7349066B2 (ja) | 2019-12-17 | 2019-12-17 | 欠陥分類方法、欠陥分類装置及びガラス物品の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2021096151A JP2021096151A (ja) | 2021-06-24 |
JP7349066B2 true JP7349066B2 (ja) | 2023-09-22 |
Family
ID=76431082
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019227239A Active JP7349066B2 (ja) | 2019-12-17 | 2019-12-17 | 欠陥分類方法、欠陥分類装置及びガラス物品の製造方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7349066B2 (ja) |
KR (1) | KR20220113348A (ja) |
CN (1) | CN114556414A (ja) |
TW (1) | TW202132766A (ja) |
WO (1) | WO2021124775A1 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2023095756A1 (ja) * | 2021-11-29 | 2023-06-01 | 日本電気硝子株式会社 | ガラス板の製造方法 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004354251A (ja) | 2003-05-29 | 2004-12-16 | Nidek Co Ltd | 欠陥検査装置 |
JP2009103508A (ja) | 2007-10-22 | 2009-05-14 | Hitachi Ltd | 欠陥分類方法及びその装置 |
JP2012026982A (ja) | 2010-07-27 | 2012-02-09 | Panasonic Electric Works Sunx Co Ltd | 検査装置 |
JP2015038441A (ja) | 2013-08-19 | 2015-02-26 | 株式会社Screenホールディングス | 分類器取得方法、欠陥分類方法、欠陥分類装置およびプログラム |
JP2017054239A (ja) | 2015-09-08 | 2017-03-16 | 株式会社Screenホールディングス | 画像分類装置および画像分類方法 |
CN106645180A (zh) | 2017-02-06 | 2017-05-10 | 东旭科技集团有限公司 | 检查基板玻璃缺陷的方法、现场终端及服务器 |
CN109635856A (zh) | 2018-11-29 | 2019-04-16 | 上海集成电路研发中心有限公司 | 一种产线缺陷图像智能分类系统及分类方法 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6067777B2 (ja) | 2015-04-27 | 2017-01-25 | AvanStrate株式会社 | フラットパネルディスプレイ用ガラス基板及びその製造方法、ならびに液晶ディスプレイ |
-
2019
- 2019-12-17 JP JP2019227239A patent/JP7349066B2/ja active Active
-
2020
- 2020-11-18 KR KR1020227010768A patent/KR20220113348A/ko active Search and Examination
- 2020-11-18 CN CN202080071666.XA patent/CN114556414A/zh active Pending
- 2020-11-18 WO PCT/JP2020/043010 patent/WO2021124775A1/ja active Application Filing
- 2020-11-26 TW TW109141471A patent/TW202132766A/zh unknown
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004354251A (ja) | 2003-05-29 | 2004-12-16 | Nidek Co Ltd | 欠陥検査装置 |
JP2009103508A (ja) | 2007-10-22 | 2009-05-14 | Hitachi Ltd | 欠陥分類方法及びその装置 |
JP2012026982A (ja) | 2010-07-27 | 2012-02-09 | Panasonic Electric Works Sunx Co Ltd | 検査装置 |
JP2015038441A (ja) | 2013-08-19 | 2015-02-26 | 株式会社Screenホールディングス | 分類器取得方法、欠陥分類方法、欠陥分類装置およびプログラム |
JP2017054239A (ja) | 2015-09-08 | 2017-03-16 | 株式会社Screenホールディングス | 画像分類装置および画像分類方法 |
CN106645180A (zh) | 2017-02-06 | 2017-05-10 | 东旭科技集团有限公司 | 检查基板玻璃缺陷的方法、现场终端及服务器 |
CN109635856A (zh) | 2018-11-29 | 2019-04-16 | 上海集成电路研发中心有限公司 | 一种产线缺陷图像智能分类系统及分类方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2021096151A (ja) | 2021-06-24 |
TW202132766A (zh) | 2021-09-01 |
CN114556414A (zh) | 2022-05-27 |
KR20220113348A (ko) | 2022-08-12 |
WO2021124775A1 (ja) | 2021-06-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5169194B2 (ja) | 板ガラス欠陥検出装置、板ガラスの製造方法 | |
US9835442B2 (en) | Methods for determining a shape of a substantially cylindrical specular reflective surface | |
CN1220875C (zh) | 一种外观检验程序的编程设备及外观检测设备 | |
KR100742195B1 (ko) | 액정표시장치용 유리기판 및 그 기본유리의 제조방법과기본유리 검사장치 | |
CN108445020B (zh) | 一种玻璃基板缺陷聚集识别方法 | |
JP2006519373A (ja) | 気泡評価 | |
JP6788837B2 (ja) | ガラス板の検査方法及びその製造方法並びにガラス板の検査装置 | |
JP7349066B2 (ja) | 欠陥分類方法、欠陥分類装置及びガラス物品の製造方法 | |
TWI502186B (zh) | A bright spot detection device for filtering foreign matter noise and its method | |
JP5294427B2 (ja) | ガラスびん検査装置 | |
CN113421230A (zh) | 基于目标检测网络的车载液晶屏导光板缺陷视觉检测方法 | |
CN103630552A (zh) | 板状体的缺陷检查方法以及缺陷检查装置 | |
KR101269248B1 (ko) | 기판 검사 장치 및 이의 측정 운용 시스템 | |
JP2012237585A (ja) | 欠陥検査方法 | |
WO2017049863A1 (zh) | 液晶滴注系统及控制方法 | |
JP2007057278A (ja) | 枚葉片断裁評価装置及び枚葉片断裁配置決定方法 | |
JP2009161396A (ja) | ガラス物品の製造方法、ガラス物品及びガラス熔融面監視システム | |
CN110998298B (zh) | 板状玻璃的制造方法 | |
Lin et al. | Automatic inspection and strategy for surface defects in the PI coating process of TFT‐LCD panels | |
CN218726568U (zh) | 一种可测量玻璃基板缺陷位置的工具 | |
CN215179799U (zh) | 浮法玻璃缺陷检测装置 | |
TWM457889U (zh) | 面板瑕疵檢測之裝置 | |
JP7510215B2 (ja) | コンタクトレンズの欠陥分析及び追跡システム | |
TWI776275B (zh) | 影像辨識裝置以及影像辨識方法 | |
TWI386643B (zh) | 晶圓缺陷標示系統 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20220823 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20230620 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20230727 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20230810 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20230823 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7349066 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |