CN111351804A - 一种超薄玻璃条纹检测设备 - Google Patents
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 80
- 239000011521 glass Substances 0.000 title claims abstract description 48
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 10
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 10
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 claims description 8
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 5
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 claims description 4
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000010959 steel Substances 0.000 claims description 3
- 230000007547 defect Effects 0.000 abstract description 14
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 7
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 4
- 238000009776 industrial production Methods 0.000 abstract description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 14
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 14
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 2
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 2
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 206010063385 Intellectualisation Diseases 0.000 description 1
- 206010040925 Skin striae Diseases 0.000 description 1
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 1
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 1
- 238000010309 melting process Methods 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 239000006060 molten glass Substances 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);zirconium(4+) Chemical compound [O-2].[O-2].[Zr+4] RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 238000010183 spectrum analysis Methods 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 238000000825 ultraviolet detection Methods 0.000 description 1
- 230000004304 visual acuity Effects 0.000 description 1
- 229910001928 zirconium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/958—Inspecting transparent materials or objects, e.g. windscreens
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
- G01N2021/0106—General arrangement of respective parts
- G01N2021/0112—Apparatus in one mechanical, optical or electronic block
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
- G01N2021/0187—Mechanical sequence of operations
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
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Abstract
本发明公开一种超薄玻璃条纹检测设备，涉及显示器玻璃基板的质量检测技术领域，包括机架、检测托架和回转机构；所述检测托架用于固定试样，所述检测托架竖直地设置在所述机架的上部，所述检测托架的底部通过所述回转机构与所述机架的上表面转动连接。本发明可满足工业生产中大批量、大尺寸玻璃的高效率条纹缺陷检测要求；而且本发明结构简单，操作方便，在满足实际生产要求的条件下，检测的效率与准确性较高。
Description
技术领域
本发明涉及显示器玻璃基板的质量检测技术领域，特别是涉及一种超薄玻璃条纹检测设备。
背景技术
随着科技的发展，TFT-LCD(薄膜晶体管液晶显示器)在电视、笔记本电脑显示器等领域的应用愈加广泛，同时，作为电子信息产业的支柱与核心基础，正以其辐射范围广、拉动效应显著等特点极大地推动着新材料、新装备、智能化等领域地蓬勃发展。
一般地，一块TFT-LCD通常是由上下两层玻璃基板和基板中间的夹层所组成的，在整个结构中，上下两层玻璃基板尤为重要，任何不合格的缺陷都会对显示器成像造成严重影响，但在实际生产过程中，由于各种各样的原因，可能产生的缺陷可以多达一百多种，有玻璃体本身的缺陷、有成型过程中的缺陷等等，具体的例如结石、气泡等，在众多缺陷中存在一种对玻璃及整个TFT-LCD影响十分严重的缺陷—条纹。
条纹，属于玻璃自身缺陷。条纹是玻璃基体内含有一种呈玻璃态的夹杂物，而其与玻璃基体在密度、光学性质、热特性、机械特性、色泽等方面缺陷均不同。
根据经验与扩散理论，如果在玻璃熔融状态时，玻璃液的粘度达到均匀一致，任何局部区域的熔融物之间都不存在粘度差时玻璃体将不会产生条纹缺陷，但是玻璃的融化过程是一个混合的、复杂的过程，条纹产生的原因也有很多，常见的有原料成分的波动、窑炉内压力、温度分布、液面控制等等方面的工艺条件和操作制度不合理，理想状态下的绝对均匀一致是很难达到的，因此产生条纹缺陷是难以避免的。
具体地，条纹缺陷可以大致分为以下几类：
1)集中条纹，集中条纹的条纹源和条纹区域比较集中；
2)分散条纹，这类条纹广泛地、无规律地分布在玻璃体中；
3)分层条纹，在玻璃厚度方向上出现的有层次的条纹；
条纹的存在会严重降低玻璃的质量，因此，业内也常用条纹的数量与各方面性质作为各种玻璃质检的标准，一般地，较为明显的粗条纹可以用肉眼直接观测，对于非肉眼可见条纹则需要借助科学的方法进行定量、定性的检测，条纹检测的方法有很多，具体地有以下几种方法：
1)偏光显微镜岩相分析法，该方法是几种检测方法中最为精准的一种，对玻璃大部分、各类条纹都能进行鉴定，具体地它可以进行条纹应力测定、条纹折射指数测定和条纹中结晶痕迹的确定，但是由于各方面条件的限制，该方法仅适用于对小尺寸玻璃在实验室中的取样检测，不适用于工业和生产上的大批量、大尺寸玻璃的条纹检测工作。
2)紫外线检测法，这种方法具体操作是将试样放置在特定波长的紫外光照射下，观察试样发生的荧光测定的。这种方法适用于确定含有氧化锆的条纹，这种方法的优点是设备简单，可利用实验室已有显微镜进行检测，但是同样不适用于工业和生产上的大批量、大尺寸玻璃的条纹检测工作。
3)电子束探射分析，这种方法指的是扫描电子显微镜和电子探针，基本原理是将一束很细的电子流射向试样表面，靶区内的原子受电子轰击后发射出具有自身特征的X射线，对其做光谱分析，确定其波长、强度便能确定其表面的各种成分。这种方法的检测精度较高，但是仅仅适用于暴露在玻璃表面的条纹，而且这种分析方法的试样制备过程复杂，检测设备费用较高，一般只适用于专业研究机构。
4)直接观测法，如上述内容中所言，对于较为粗大的条纹可以被肉眼直接识别，但是对于不是较为明显的条纹而言，可以通过提高视觉灵敏度的方法进行识别。具体的，可以在有强光作为背景的玻璃上贴上7～10mm宽的不透明黑色纸条，呈“井”字形每间隔10～14mm排列，检测人员在适当的距离观察被检测玻璃，透过被测玻璃观察其表面上的黑色网格，当看到黑色纸边缘有“破裂”或者带有“尾刺”时即为条纹效果。除此之外，另一种方法是用一点光源把被检玻璃投影到一个屏幕上，若玻璃存在条纹缺陷，在屏幕上就会出现不均匀的亮暗现象，该方法被叫做投影法。
因此，亟需提供一种新的基于投影法来实现的超薄玻璃条纹检测设备，以解决现有技术中所存在的上述问题。
发明内容
本发明的目的是提供一种超薄玻璃条纹检测设备，以解决上述现有技术存在的问题，具有结构简单、操作方便等特点，可实现大尺寸、多角度、全方位地对试样进行检测。
为实现上述目的，本发明提供了如下方案：本发明提供一种超薄玻璃条纹检测设备，包括机架、检测托架和回转机构；所述检测托架用于固定试样，所述检测托架竖直地设置在所述机架的上部，所述检测托架的底部通过所述回转机构与所述机架的上表面转动连接。
优选的，所述机架为矩形框架机构，所述机架的上表面的中部设置有固定板，用于安装所述回转机构。
优选的，所述矩形框架机构通过若干铝型材搭建而成，所述固定板采用钢板制成。
优选的，所述回转机构包括回转轴承座，所述回转轴承座通过安装板固定于所述机架的上部，所述检测托架的下部设置有法兰，所述法兰的顶部与所述检测托架的下部固定连接，所述法兰的下部设置有转轴与所述回转轴承座转动连接；所述回转轴承座内部顶层设有推力轴承，所述推力轴承的下部设有隔套，所述隔套的下部设有止推轴承。
优选的，所述回转轴承座的外缘上表面设有角度刻度盘，所述检测托架的下部与所述角度刻度盘相应的位置处设有与所述角度刻度盘相对应的指针。
优选的，所述检测托架为框型结构，由若干铝型材搭建而成；所述检测托架的底部边框边缘上设有若干托块，所述托块的顶部开有V型槽道，用于放置试样；所述检测托架的顶部边框边缘上设有用于夹持试样的夹爪。
优选的，所述检测托架竖向两侧的边框边缘设有若干挡块。
优选的，所述挡块包括T型座和挡片，所述挡片铰接于所述T型座上。
优选的，还包括固定框，所述固定框一端固定在所述机架上，另一端与所述检测托架顶部通过轴承连接。
优选的，所述固定框为由铝型材搭建而成的L型结构，包括竖直支架和水平支架，所述竖直支架的底部固定于所述机架侧面，所述水平支架的一端与所述竖直支架的顶部连接，所述检测托架的顶部通过轴承与所述水平支架相连接。
本发明相对于现有技术取得了以下技术效果：
1、本发明可满足工业生产中大批量、大尺寸玻璃的高效率条纹缺陷检测要求；
2、本发明结构简单，操作方便，在满足实际生产要求的条件下，检测的效率与准确性较高。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明的整体结构示意图。
图2是本发明的正视图。
图3是本发明的侧视图。
图4是本发明中夹爪的结构示意图。
图5是本发明中回转机构的外部示意图。
图6是本发明中回转机构的内部结构示意图。
图7是本发明中挡块的结构示意图；
其中，1、机架，2、检测托架，2-1、挡块，2-1-1、挡片，2-2、夹爪，2-3、托块，3、回转机构，3-1、法兰，3-2、推力轴承，3-3、隔套，3-4、止推轴承，3-5、安装板，3-6、角度刻度盘，3-7、指针，4、固定框。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。
实施例一
如图1-7所示，本实施例提供一种超薄玻璃条纹检测设备，包括机架1、检测托架2和回转机构3；所述检测托架2用于固定试样，所述检测托架2竖直地设置在所述机架1的上部，所述检测托架2的底部通过所述回转机构3与所述机架1的上表面转动连接。
在本实施例中，所述机架1为矩形框架机构，所述机架1的上表面的中部设置有固定板，用于安装所述回转机构3。具体地，如图1所示，机架1的所述矩形框架机构通过14根长短不一的铝型材搭建而成，所述固定板采用钢板制成。
在本实施例中，如图5和6所示，所述回转机构3包括回转轴承座，所述回转轴承座通过安装板3-5固定于所述机架1的上部，具体为安装在机架1上表面的固定板上；所述检测托架2的下部设置有法兰3-1，所述法兰3-1的顶部通过螺栓与所述检测托架2的下部固定连接，所述法兰3-1的下部设置有转轴与所述回转轴承座转动连接。所述回转轴承座内部顶层设有推力轴承3-2，所述推力轴承3-2的下部设有隔套3-3，所述隔套3-3的下部设有止推轴承3-4。推力轴承3-2将检测托架2及附件所产生的所有载荷，通过纵截面为“L”型的隔套3-3传递给最下部的止推轴承3-4，最终通过止推轴承3-4与回转轴承座内部凸缘相配合的结构传递给机架1。
在本实施例中，所述回转轴承座的外缘上表面设有角度刻度盘3-6，所述检测托架2的下部与所述角度刻度盘3-6相应的位置处设有与所述角度刻度盘3-6相对应的指针3-7；指针3-7与角度刻度盘3-6相配合可以指示出检测托架2的工作角度。
在本实施例中，如图1-4所示，所述检测托架2为框型结构，由5根铝型材搭建而成；所述检测托架2的底部边框边缘上设有四个托块2-3，如图5所示，托块2-3的上部开有V型槽道，托块2-3可以将试样在检测托架2上牢牢托住；在检测托架2的上边框铝型材上设有由气缸驱动的夹爪2-2，同样地，夹爪2-2也对试样起到固定作用。
在本实施例中，在检测托架2中左右两边的铝型材上装设有8块挡块2-1；如图7所示，挡块2-1包括T型座与铰接在T型座上的挡片2-1-1，挡片2-1-1的外侧通过铰链等铰接结构T型座旋转相配合，可以对试样起固定作用。
在本实施例中，还包括固定框4，所述固定框4一端固定在所述机架1上，另一端与所述检测托架2顶部通过轴承连接；具体地，固定框4为由两根铝型材搭建而成的L型结构，包括竖直支架和水平支架，竖直支架长于水平支架，所述竖直支架的底部固定于所述机架1侧面，所述水平支架的一端与所述竖直支架的顶部连接，所述检测托架2的顶部通过轴承、短轴与所述水平支架相连接；固定框4与下部的回转机构3共同对检测托架2进行约束。
在具体工作时，需要配合合适的检测光源与投射幕布一同使用，检测光源为现有光源，可根据需要进行选择；将待测试样固定在检测托架2上，在检测光源的照射下，被测试样上的条纹缺陷会在幕布上呈现出或均匀或分散的亮暗条纹，旋转检测托架2，随着转角的变化，幕布上的亮暗条纹也随之变化，当幕布上的投影达到清晰、明显时，可记录下刻度盘上的读数。
本发明中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处。综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。
Claims (10)
1.一种超薄玻璃条纹检测设备，其特征在于：包括机架、检测托架和回转机构；所述检测托架用于固定试样，所述检测托架竖直地设置在所述机架的上部，所述检测托架的底部通过所述回转机构与所述机架的上表面转动连接。
2.根据权利要求1所述的超薄玻璃条纹检测设备，其特征在于：所述机架为矩形框架机构，所述机架的上表面的中部设置有固定板，用于安装所述回转机构。
3.根据权利要求2所述的超薄玻璃条纹检测设备，其特征在于：所述矩形框架机构通过若干铝型材搭建而成，所述固定板采用钢板制成。
4.根据权利要求1所述的超薄玻璃条纹检测设备，其特征在于：所述回转机构包括回转轴承座，所述回转轴承座通过安装板固定于所述机架的上部，所述检测托架的下部设置有法兰，所述法兰的顶部与所述检测托架的下部固定连接，所述法兰的下部设置有转轴与所述回转轴承座转动连接；所述回转轴承座内部顶层设有推力轴承，所述推力轴承的下部设有隔套，所述隔套的下部设有止推轴承。
5.根据权利要求4所述的超薄玻璃条纹检测设备，其特征在于：所述回转轴承座的外缘上表面设有角度刻度盘，所述检测托架的下部与所述角度刻度盘相应的位置处设有与所述角度刻度盘相对应的指针。
6.根据权利要求1或4所述的超薄玻璃条纹检测设备，其特征在于：所述检测托架为框型结构，由若干铝型材搭建而成；所述检测托架的底部边框边缘上设有若干托块，所述托块的顶部开有V型槽道，用于放置试样；所述检测托架的顶部边框边缘上设有用于夹持试样的夹爪。
7.根据权利要求6所述的超薄玻璃条纹检测设备，其特征在于：所述检测托架竖向两侧的边框边缘设有若干挡块。
8.根据权利要求7所述的超薄玻璃条纹检测设备，其特征在于：所述挡块包括T型座和挡片，所述挡片铰接于所述T型座上。
9.根据权利要求8所述的超薄玻璃条纹检测设备，其特征在于：还包括固定框，所述固定框一端固定在所述机架上，另一端与所述检测托架顶部通过轴承连接。
10.根据权利要求9所述的超薄玻璃条纹检测设备，其特征在于：所述固定框为由铝型材搭建而成的L型结构，包括竖直支架和水平支架，所述竖直支架的底部固定于所述机架侧面，所述水平支架的一端与所述竖直支架的顶部连接，所述检测托架的顶部通过轴承与所述水平支架相连接。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202010206854.0A CN111351804A (zh) | 2020-03-23 | 2020-03-23 | 一种超薄玻璃条纹检测设备 |
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|---|---|
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202010206854.0A Pending CN111351804A (zh) | 2020-03-23 | 2020-03-23 | 一种超薄玻璃条纹检测设备 |
Country Status (1)
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|---|---|
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| CB02 | Change of applicant information |
Address after: 310015 No. 66 East Zhoushan Road, Zhejiang, Hangzhou Applicant after: China Building Materials Intelligent Automation Research Institute Co.,Ltd. Address before: 310015 No. 66 East Zhoushan Road, Zhejiang, Hangzhou Applicant before: (CNBM) RESEARCH INSTITUTE FOR AUTOMATION OF LIGHT INDUSTRY Co.,Ltd. |
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| CB02 | Change of applicant information | ||
| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20200630 |
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| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |