CN108732799B - 承载治具 - Google Patents

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    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
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Abstract

本发明提供一种承载治具,用以承载掩膜板,包括一升降机构;一平移机构,所述平移机构与所述升降机构固定连接;所述掩膜板嵌设于所述平移机构内;所述平移机构通过平移使得所述掩膜板移动。有益效果:本发明提供的承载治具,使得掩膜板相对显示器移动,实现掩膜板对显示器局部区域亮度的测试,从而精确推断出漏光来自的像素区域。

Description

承载治具
技术领域
本发明涉及显示领域,尤其涉及一种承载治具。
背景技术
目前,液晶显示器的对比度是一个非常重要的画质参数。在与OLED的竞争中,需要利用局部背光调节和高对比度等方案,来弥补液晶显示面板与OLED对比度的差距。除局部背光调节技术以外,单纯的液晶面板在亮度不变的背光系统上,其全白最亮画面的亮度与最暗画面的亮度的比值是一个很重要的参数,用来衡量液晶面板的画质好坏。对比度从5000:1向6000:1、7000:1和8000:1的产品进阶过程中,分析和判断暗画面亮度过高的原因,是很重要的一种推断并改进影响因子的方法。
常见的影响液晶显示器暗态漏光亮度的因子,包括显示区域液晶的初始状态,黑矩阵遮光的位置与好坏等。但现有技术无法在较暗的画面下进行像素级的测量,现有技术只能测量一个区域的漏光强度的总和。
综上所述,现有测试设备存在无法精确测量漏光区域的问题。
发明内容
本发明提供一种承载治具,用以调节掩膜板与显示器的相对位移,能够精确测试漏光区域,从而推断出漏光来自的像素区域,进而解决显示的技术问题。
为解决上述问题,本发明提供的技术方案如下:
本发明提供一种承载治具,用于承载显示面板局部亮度测试用的掩膜板;其特征在于,所述承载治具包括:1、一种承载治具,用于承载掩膜板;其特征在于,所述承载治具包括:一升降机构,包括升降件;一平移机构,包括横向托板和纵向托板;其中,所述横向托板与所述升降机构固定连接,所述纵向托板与所述横向托板固定连接。
根据本发明一优选实施例,所述横向托板包括第一托板和第二托板,所述第一托板和所述第二托板平行设置,所述第一托板和所述第二托板均与所述升降机构固定连接。
根据本发明一优选实施例,所述纵向托板包括第三托板和第四托板,所述第三托板与所述第四托板平行设置。
根据本发明一优选实施例,所述第一托板和所述第二托板均设置有内嵌槽,所述纵向托板贯插于所述内嵌槽中。
根据本发明一优选实施例,所述第一托板和所述第二托板的表面均间隔设置有限位孔,所述限位孔中设置有螺丝,所述螺丝用以固定所述掩膜板。
根据本发明一优选实施例,所述第三托板和所述第四托板通过所述内嵌槽贯插于所述第一托板和所述第二托板之间,所述第三托板与所述第四托板用于在所述内嵌槽中平行移动
根据本发明一优选实施例,所述升降机构上设置有导轨或者滑动槽,所述第一托板的端部与所述第二托板的端部均用于在所述导轨或者所述滑动槽内滑动。
根据本发明一优选实施例,所述第一托板、所述第二托板、所述第三托板以及所述第四托板形成一个方形开口,所述掩膜板嵌设于所述方形开孔内。
根据本发明一优选实施例,所述第一托板、所述第二托板、所述第三托板以及所述第四托板的上表面均设置有第一阶梯槽,所述掩膜板的下表面设置有相适配的第二阶梯槽,所述第一托板、所述第二托板、所述第三托板以及所述第四托板的边缘与所述掩膜板的边缘配合连接。
根据本发明一优选实施例,所述横向托板和所述纵向托板的表面均设置有长度刻度。
本发明的有益效果为:本发明提供一种承载治具,用于承载显示面板局部亮度测试用的掩膜板,承载治具通过水平移动,使得掩膜板相对显示器移动,能够使掩膜板精确测量漏光区域,推断出漏光来自的像素区域,从而确定暗态漏光问题的主要原因,进而解决显示的技术问题。
附图说明
为了更清楚地说明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明承载治具的结构示意图。
图2为本发明承载治具的局部结构示意图。
图3为本发明承载治具的又一局部结构示意图。
图4为本发明承载治具的另一局部结构示意图。
具体实施方式
以下各实施例的说明是参考附加的图示,用以例示本发明可用以实施的特定实施例。本发明所提到的方向用语,例如[上]、[下]、[前]、[后]、[左]、[右]、[内]、[外]、[侧面]等,仅是参考附加图式的方向。因此,使用的方向用语是用以说明及理解本发明,而非用以限制本发明。在图中,结构相似的单元是用以相同标号表示。
本发明针对现有的显示器漏光测量设备,由于现有测量设备仅能测量一个区域的漏光强度的总和,其探测面积多达几千个子像素面积,无法精确推断漏光来自的像素区域,进而难以确定漏光问题的主要原因,本实施例能够解决该缺陷。
如图1~4所示,为本发明的实施例的结构示意图。本优选实施例的承载治具,包括一升降机构11,一平移机构,包括横向托板13和纵向托板14;其中,所述横向托板与所述升降机构固定连接,所述纵向托板13与所述横向托板14固定连接;掩膜板12嵌设于所述平移机构内。
所述升降机构11上设置有升降件111,所述横向托板13包括第一托板131和第二托板132,所述纵向托板14包括第三托板141和第四托板142;其中所述第一托板131与第二托板132平行设置,所述第三托板141与所述第四托板142平行设置,所述第一托板131、所述第二托板142、所述第三托板143及所述第四托板144一起形成一个方形开孔,所述掩膜板12嵌设于所述方形开孔内。
其中,所述第一托板131的端部1311和所述第二托板132的端部1321与所述升降机构11固定连接,具体地,所述升降机构11表面设置有导轨112,所述第一托板的端部1311与所述第二托板的端部1321在所述导轨内滑动。
所述横向托板13的内部挖空,形成内嵌槽1301,所述内嵌槽的开口方向与所述纵向托板14的长度方向一致,所述纵向托板14贯插于所述第一托板131与所述第二托板14之间,所述纵向托板在所述内嵌槽1301内移动。
所述横向托板13的上表面间隔设置有限位孔1302,所述限位孔中设置有螺丝。所述螺丝用以固定所述掩模版12的位置,当所述掩膜板12移动到目标位置时,通过拧紧该螺丝,防止所述掩膜板12的移动。
所述第一托板131、第二托板132、第三托板133以及第四托板134的上表面边缘均设置有第一阶梯槽135,所述第一阶梯槽135沿所述131、所述132、所述133以及所述134的长度方向设置;所述掩膜板12的下表面边缘设置有相适配的第二阶梯槽121;所述第一托板131、第二托板132、第三托板133、以及第四托板134的边缘与所述掩膜板12的边缘配合连接。
具体地,所述掩膜板12与待测量的显示器垂直距离过高时,可通过所述升降机构11上的升降件111下降高度,将所述掩膜板12下降到与待测量的显示器的上表面平齐。
所述掩膜板12在水平方向的移动依靠于所述平移机构的移动。其中,所述掩膜板12在横向方向的移动依靠于所述第三托板141与所述第四托板142通过在所述第一托板131与所述第二托板132的内嵌槽1301内平行移动来实现的。具体地,所述掩膜板12的两相对面的所述第二阶梯槽121分别与所述第三托板141和所述第四托板142的第一阶梯槽135配合连接,所述第三托板141与第四托板142以及所述掩膜板12相对静止,一起沿着横向支撑板13的长度方向移动,所述掩膜板12的另外两相对面的第二阶梯槽121分别在所述第一托板131与所述第二托板的所述第一阶梯槽135上滑动,从而实现掩膜板12在横向方向的移动。
所述掩膜板12在纵向方向的移动依靠于所述横向托板13在所述升降机构11上的移动来实现。具体地,所述第一托板131的端部1311与所述第二托板132的端部1321在所述升降机构11上的导轨112内平行滑动,所述第一托板131与第二托板132以及所述掩膜板12相对静止,一起沿着纵向支撑板14的长度方向移动。其中,所述掩膜板12的两相对面的第二阶梯槽121分别在所述第三托板141与第四托板142的第一阶梯槽135上滑动。
进一步地,所述平移机构上设置有长度刻度标记,具体地,所述横向托板13表面和所述纵向托板14表面均设置有在其长度方向上的长度刻度标记。所述掩膜板12在移动的过程中,可通过所对应的横向托板13与纵向托板14上的刻度标记,得到所述掩膜板12的精确坐标,通过放大镜观察掩模开孔区122和显示器子像素的相对位置关系,调节所述掩膜板12与显示器的相对位置,直到待测量区域完全处于掩模开孔区122。
通过设置阶梯槽结构,可以有效限定所述掩膜板12与所述平移机构的位置关系,通过平移机构的移动来调节所述掩膜板12与显示器的相对位移。所述掩膜板12嵌设在所述平移机构形成的方形开孔内,与直接将所述掩膜板12设置于所述平移机构的表面相比,本优选实施例,能够使得所述掩膜板12与待测试的显示器的上表面平齐,有利于减少因两者之间距离过远造成对光探测器的发光特性的影响。
所述横向托板和所述纵向托板上均设置有长度刻度,误差不超过5微米,从而精确计算移动过程中所述掩膜板12的坐标位置;通过放大镜观察掩模开孔区122和显示器子像素的相对位置关系,调节所述掩膜板12与显示器的相对位置,直到待测量区域完全处于所述掩模开孔区122。
有益效果:本发明提供一种承载治具,用于承载显示面板局部亮度测试用的掩膜板,承载治具通过水平移动,使得掩膜板相对显示器移动,能够使掩膜板精确测量漏光区域,推断出漏光来自的像素区域,从而确定暗态漏光问题的主要原因,进而解决显示的技术问题。
综上所述,虽然本发明已以优选实施例揭露如上,但上述优选实施例并非用以限制本发明,本领域的普通技术人员,在不脱离本发明的精神和范围内,均可作各种更动与润饰,因此本发明的保护范围以权利要求界定的范围为准。

Claims (8)

1.一种承载治具,用于承载掩膜板;其特征在于,所述承载治具包括:
一升降机构,包括升降件;
一平移机构,包括横向托板和纵向托板;其中,
所述横向托板与所述升降机构固定连接,所述纵向托板与所述横向托板固定连接;
所述横向托板包括第一托板和第二托板,所述纵向托板包括第三托板和第四托板,所述第一托板和所述第二托板均设置有内嵌槽,所述第三托板和所述第四托板通过所述内嵌槽贯插于所述第一托板和所述第二托板之间,所述第三托板与所述第四托板在所述内嵌槽中平行移动。
2.根据权利要求1所述的承载治具,其特征在于,所述第一托板和所述第二托板平行设置,所述第一托板和所述第二托板均与所述升降机构固定连接。
3.根据权利要求2所述的承载治具,其特征在于,所述第三托板与所述第四托板平行设置。
4.根据权利要求3所述的承载治具,其特征在于,所述第一托板和所述第二托板的表面均间隔设置有限位孔,所述限位孔中设置有螺丝,所述螺丝用以固定所述掩膜板。
5.根据权利要求4所述的承载治具,其特征在于,所述升降机构上设置有导轨或者滑动槽,所述第一托板的端部与所述第二托板的端部均用于在所述导轨或者所述滑动槽内滑动。
6.根据权利要求5所述的承载治具,其特征在于,所述第一托板、所述第二托板、所述第三托板以及所述第四托板形成一个方形开口,所述掩膜板嵌设于所述方形开口 内。
7.根据权利要求6所述的承载治具,其特征在于,所述第一托板、所述第二托板、所述第三托板以及所述第四托板的上表面均设置有第一阶梯槽,所述掩膜板的下表面设置有相适配的第二阶梯槽,所述第一托板、所述第二托板、所述第三托板以及所述第四托板的边缘与所述掩膜板的边缘配合连接。
8.根据权利要求1所述的承载治具,其特征在于,所述横向托板和所述纵向托板的表面均设置有长度刻度。
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