CN2798082Y - 金刚石光电分级仪 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种金刚石光电分级仪,它主要由光电转换板、显示器、样品放置架、光源组成。所述的光电转换板与显示器通过导线连接,将光电信号显示在显示器上;所述的光源安装在样品放置架的一侧,光电转换板安装在样品放置架的另一侧且接收光源穿过样品放置架的光线。本实用新型利用了已有的测光仪的光电转换和显示功能,增加了金刚石的放置平台和光源,依据不同金刚石透光率的不同,测定金刚石的等级,具有检测准确、快速、误差率低、检测费用低廉的优点。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种检测仪器,特别是涉及一种金刚石光电分级仪。
背景技术
目前,金刚石的等级测定方法是根据金刚石的抗压强度、抗冲击强度和扫描晶体完整率来界定的。抗压强度是用强度仪对金刚石单晶的所能承受的压力进行测试,这种测试属破坏性试验,测试中金刚石晶体会被破坏,且强度仪的压头容易损坏,直接影响到测定的精度,因而误差较大;而抗冲击强度和扫描晶体完整率的测定则需用较为昂贵的仪器进行。这种等级测定方法都是由人工操作,误差率大,成本较高。
发明内容
本实用新型的目的在于提供一种晶体质量等级测定准确快速、误差率小、检测成本低廉的金刚石光电分级仪。
为达到上述目的,本实用新型的解决方案是:
本实用新型是一种金刚石光电分级仪,它主要由光电转换板、显示器、样品放置架、光源和取样器组成;所述的光电转换板与显示器通过导线连接,将光电信号显示在显示器上;所述的光源安装在样品放置架的一侧,光电转换板安装在样品放置架的另一侧且能接收光源穿过样品放置架的光线;所述的取样器可插入样品放置架内。
所述的样品放置架的两侧壁上分别具有对称设置的光线投射窗。
所述的取样器为一具有中空内腔的容器,其两侧壁上分别具有对称设置的光线投射窗,该光线投射窗与样品放置架的两侧壁上的光线投射窗相对应;在容器的上部设有进料口。
所述的取样器为一玻璃片。
所述的取样器为一玻璃管。
采取上述方案后,本实用新型利用了已有的测光仪的光电转换和显示功能(光电转换板和显示器),增加了金刚石的放置平台和光源,依据不同金刚石透光率的不同,测定金刚石的等级,具有检测准确、快速、误差率低、检测费用低廉的优点。
下面结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步的说明。
附图说明
图1为本实用新型结构原理图;
图2是本实用新型的结构示意图;
图3是本实用新型取样器的轴测图;
图4是本实用新型的另一种检测示意图;
图5是本实用新型的另一种取样器检测示意图。
具体实施方式
如图2所示,本实用新型是一种金刚石光电分级仪,它主要由光电转换板1、显示器2、样品放置架3、光源4、取样器5和壳体6组成。
光电转换板1、显示器2、样品放置架3、光源4皆安装在壳体6内。
所述的光电转换板1与显示器2可选用普通测光仪的光电转换板与显示器,光电转换板1与显示器2通过导线连接。
所述的样品放置架3的两侧壁上分别具有对称设置的光线投射窗31,其上覆盖有玻璃。
如图3所示,所述的取样器5外形与样品放置架3内腔的形状相适配,可容易的插入样品放置架3内或从样品放置架3中抽出,该取样器5为一具有中空内腔的长方形容器(也可以是其它形状),其两侧壁上分别具有对称设置的光线投射窗51,该光线投射窗51与样品放置架3的两侧壁上的光线投射窗31相对应,以便光线能穿过样品放置架3上的光线投射窗31和取样器5上的光线投射窗51,投射到光电转换板1。为了方便进料,在取样器5的上部设有进料口52,该进料口52也可设置在取样器5的其它部位,只要进料方便且测试时不会从取样器5漏出便可。
如图2所示,所述的光源4安装在样品放置架3的一侧,光电转换板1安装在样品放置架3的另一侧,以便接收光源4穿过样品放置架3两侧壁上的光线投射窗31的光线,并将该光信号通过光电转换为电信号,显示在显示器2上。
本实用新型的取样器5’也可为一玻璃片5’(如图4所示)。
测试方法一(如图2所示):将多个金刚石晶粒通过取样器5的进料口52放入取样器5的空腔内,通过振动器夯实金刚石晶粒,使其密度固定,再将装有金刚石颗粒的取样器5插入样品放置架3内,打开光源4进行测试。
测试方法二(如图4所示):将单晶粒或固定数量的金刚石晶粒10放在玻璃片7上,将装有金刚石10的玻璃片7插入样品放置架3内,打开光源4进行测试。
测试方法三(如图5所示):将单晶粒或固定数量的金刚石晶粒10呈单排放置在玻璃管8内,将装有金刚石晶粒10的玻璃管8插入样品放置架3内,打开光源4使光线沿管的径向照射玻璃管进行测试。本方案中玻璃管也可用金属管或陶瓷管等代替。
本实用新型的工作原理(如图1、图2所示):
金刚石强度取决于晶体形状、粒度、晶面完整性、晶面平滑性、杂质含量和裂纹等因素。
金刚石是光学透明的。对单个晶粒来说,其透过率T:
T=(1-R)(1-kt)
式中,R为晶粒反射率,k为晶粒光吸收常数,t为晶粒沿光方向的尺寸。根据光学知识,我们知道,反射率取决于入射角和晶体的光学折射率。入射角越大,反射率越大。光学折射率越大,反射率越大。光吸收一部分来自晶粒的电子吸收及散射,一部分来自晶粒内部的非均匀性和非同质性。因此,一颗不完善的金刚石,或是反射率加大,或是光吸收加大,最终都是导致透过率下降。本发明正是利用透过率这一特征,测定金刚石等级。
Claims (5)
1、一种金刚石光电分级仪,其特征在于:它主要由光电转换板、显示器、样品放置架、光源和取样器组成;所述的光电转换板与显示器通过导线连接,将光电信号显示在显示器上;所述的光源安装在样品放置架的一侧,光电转换板安装在样品放置架的另一侧且接收光源穿过样品放置架的光线;所述的取样器可插入样品放置架内。
2、根据权利要求1所述的金刚石光电分级仪,其特征在于:所述的样品放置架的两侧壁上分别具有对称设置的光线投射窗。
3、根据权利要求1所述的金刚石光电分级仪,其特征在于:所述的取样器为一具有中空内腔的容器,其两侧壁上分别具有对称设置的光线投射窗,该光线投射窗与样品放置架的两侧壁上的光线投射窗相对应;在容器的上部设有进料口。
4、根据权利要求1所述的金刚石光电分级仪,其特征在于:所述的取样器为一玻璃片。
5、根据权利要求1所述的金刚石光电分级仪,其特征在于:所述的取样器为一玻璃管。
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CN106996967A (zh) * | 2017-04-28 | 2017-08-01 | 成都奥特森科技有限公司 | 磁性矿品位检测方法及检测设备 |
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CN106996967A (zh) * | 2017-04-28 | 2017-08-01 | 成都奥特森科技有限公司 | 磁性矿品位检测方法及检测设备 |
CN106996967B (zh) * | 2017-04-28 | 2023-08-22 | 成都哈工智传科技有限公司 | 磁性矿品位检测方法及检测设备 |
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CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |