CN218531887U - 一种半导体元器件分类收集机构 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种半导体元器件分类收集机构，包括底架、设置在底架上且沿横向延伸的送料轨道、设置在送料轨道前方的吹气机构、设置在送料轨道后方且能够与送料轨道对接的移动料管组件，所述移动料管组件包括竖架、可滑动地设置在竖架上的分类滑架、以及用于驱动分类滑架上下移动的升降机构。通过自动控制升降机构调整分类滑架的高度，使和元器件性能级别相对应的等级层升降至与送料轨道的衔接处，等待等级层中的料管接收元器件；然后通过吹气机构推动元器件沿送料轨道和限位盖板所形成的导引轨迹移动，使元器件自动收集至对应的料管中。

Description

一种半导体元器件分类收集机构

技术领域

本实用新型涉及元器件检测技术领域，特别涉及一种半导体元器件分类收集机构。

背景技术

元器件自动生产线产出元器件成品后，需要对元器件进行多项性能测试，控制系统会根据性能测试的结果将元器件判定为不合格品或多种类别的合格品，然而现有技术对不合格品会统一报废处理，不会再对元器件进行重新检测或维修，从而导致一些元器件无法再处理后变成合格品，造成资源浪费，也提高了生产成本高。另外，一种类别的合格品代表一种性能参数范围的元器件，不同参数范围的元器件的售价不同，所以需要亟需设计分类收集结构，对元器件进行分类收集，以便于后续处理。

实用新型内容

鉴于上述现有技术的不足之处，本实用新型的目的在于提供一种半导体元器件分类收集机构，旨在自动对元器件进行分类回收至对应的料管中，便于后续处理。

为了达到上述目的，本实用新型采取了以下技术方案：

一种半导体元器件分类收集机构，包括底架、设置在底架上且沿横向延伸的送料轨道、设置在送料轨道前方的吹气机构、设置在送料轨道后方且能够与送料轨道对接的移动料管组件，所述移动料管组件包括竖架、可滑动地设置在竖架上的分类滑架、以及用于驱动分类滑架上下移动的升降机构，所述分类滑架上设有多个等级层，每个等级层上设置有一根横向延伸的料管，所述吹气机构用于将送料轨道上的元器件吹入对应的料管中。

作为上述技术方案的进一步改进，所述送料轨道上设有多个沿送料轨道长度方向均匀排布的气槽。

作为上述技术方案的进一步改进，所述分类滑架包括滑动基板和设置在滑动基板上的前管夹和后管夹，前管夹和后管夹上均设有数量相同且一一对应的等级层。

作为上述技术方案的进一步改进，所述前管夹的每个等级层处设有用于感应是否装有料管的微动开关。

作为上述技术方案的进一步改进，所述前管夹的每个等级层处设有用于固定料管的弹性压条。

作为上述技术方案的进一步改进，所述升降机构包括固定的竖架顶部的电机支架、朝下设置在电机支架上的驱动电机、竖直设置在驱动电机下方的丝杆、套在丝杆上的丝杆螺母，丝杆螺母通过接头与滑动基板连接，所述丝杆的顶端与设置在竖架上的上轴座转动连接；所述驱动电机的主轴与丝杆的顶端传动连接，所述丝杆的底端与设置在竖架上的下轴座转动连接。

作为上述技术方案的进一步改进，所述竖架上固设有竖向延伸的导轨，所述滑动基板通过滑块与导轨滑动连接。

作为上述技术方案的进一步改进，所述竖架上设有上传感器和位于上传感器下方的下传感器，所述分类滑架上设置有触片，所述触片能够触发上传感器和下传感器。

作为上述技术方案的进一步改进，所述送料轨道的进料端设置有接料工位，接料工位的两侧设置有用于检测接料工位上是否有元器件的第一对射传感器，所述送料轨道的出料端设置有用于检测元器件是否从送料轨道和分类滑架之间经过的第二对射传感器。

作为上述技术方案的进一步改进，所述送料轨道设有两个且左右并列设置，每个送料轨道的后方对应设置有一个移动料管组件，两个移动料管组件呈对称设置。

有益效果：

与现有技术相比，本实用新型提供的半导体元器件分类收集机构能够与检测设备上的抓取机构配合回收元器件，自动控制升降机构调整分类滑架的高度，使和元器件性能级别相对应的等级层升降至与送料轨道的衔接处，等待等级层中的料管接收元器件；然后通过吹气机构推动元器件沿送料轨道和限位盖板所形成的导引轨迹移动，使元器件自动收集至对应的料管中。

附图说明

图1为半导体元器件分类收集机构的立体图。

图2为图1中A区域的局部放大图。

图3为一个移动料管组件与送料轨道连接示意图。

图4为升降机构的立体图。

图5为分类滑架的立体图。

图6为送料轨道的立体图。

图7为侧轨的立体图。

图8为半导体元器件分类收集机构配置防护罩后的结构示意图。

主要元件符号说明：1-底架、2-送料轨道、20-接料工位、21-气槽、22-限位盖板、23-主轨、24-侧轨、241-进气孔、242-导气凹槽、3-吹气机构、31-吹气头、4-移动料管组件、41-竖架、42-分类滑架、421-前管夹、422-后管夹、423-滑动基板、43-升降机构、431-电机支架、432-驱动电机、433-丝杆、434-丝杆螺母、435-上轴座、436-下轴座、437-接头、44-等级层、45-微动开关、46-弹性压条、51-导轨、52-滑块、61-上传感器、62-下传感器、63-触片、71-防护罩、72-门板、73-观察窗口、81-第一对射传感器、82-第二对射传感器。

具体实施方式

本实用新型提供一种半导体元器件分类收集机构，为使本实用新型的目的、技术方案及效果更加清楚、明确，以下参照附图并举实施例对本实用新型进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型的保护范围。

请参阅图1至图8，本实用新型提供一种半导体元器件分类收集机构，包括底架1、设置在底架1上且沿横向延伸的送料轨道2、设置在送料轨道2上方的限位盖板22，设置在送料轨道2前方的吹气机构3、设置在送料轨道2后方且能够与送料轨道2对接的移动料管组件4，所述移动料管组件4包括竖架41、可滑动地设置在竖架41上的分类滑架42、以及用于驱动分类滑架42上下移动的升降机构43，所述分类滑架42上设有多个等级层44，每个等级层44上设置有一根横向延伸的料管92，所述吹气机构3用于将送料轨道2上的元器件吹入对应的料管92中。

本实用新型提供的半导体元器件分类收集机构主要应用于半导体元件的分类收集，在本实施例中，分类滑架42上的等级层44设有八层，每一层代表一个元器件性能的区间，即将元器件的品质划分为八个性能级别，在控制系统中预先录入筛选判定规则程序，元器件经过检测设备进行性能检测后会将检测结果反馈至控制系统，当元器件被判定为元器件后，再进一步根据元器件的性能等级将元器件自动分配至对应的等级层44中，每个等级层44上设置有一根料管对元器件进行收集储存。

回收元器件时，送料轨道2的前端设有接料工位20，检测设备上的抓取机构将元器件91放置在送料轨道2上的接料工位20处，如果此时送料轨道2所对接的等级层44不与元器件的性能参数范围相匹配，控制系统控制升降机构43驱动分类滑架42移动，调整分类滑架42的高度，将相应的等级层44升降至与送料轨道2的衔接处；然后吹气机构3对元器件91进行吹气，推动元器件91进入限位盖板22和送料轨道2中，并且形成推料气流，由于元器件质量较轻，推料气流能够推动元器件91自动朝料管92移动，元器件91在沿送料轨道2导引方向移动过程中逐渐加速，限位盖板22对元器件91的顶部进行限位，防止元器件91在吹送过程中发生跳动而脱离送料轨道2。当元器件91脱离送料轨道2后，元器件91在惯性的作用下进入料管92中。

与现有技术相比，本实用新型提供的半导体元器件分类收集机构能够与检测设备上的抓取机构配合回收元器件，自动控制升降机构43调整分类滑架42的高度，使和元器件性能级别相对应的等级层44升降至与送料轨道2的衔接处，等待等级层44中的料管92接收元器件；然后通过吹气机构3推动元器件91沿送料轨道2和限位盖板22所形成的导引轨迹移动，使元器件91自动收集至对应的料管92中。

具体的，所述送料轨道2上设有多个沿送料轨道2长度方向均匀排布的气槽21。送料轨道2包括主轨23和侧轨24，主轨23和侧轨24拼合后，形成用于承托元器件底面的凸台25，所述凸台25呈横向延伸，凸台25的两侧形成供元器件的引脚通过的引脚避让槽26。所述侧轨24的侧面上开设有导气凹槽242，所述气槽21均设置在所述侧轨24的上表面并且与导气凹槽242连通，气槽21呈倾斜设置，所述气槽21沿侧轨24的延伸方向间隔排布，侧轨24上开设有与导气凹槽242连通的进气孔241。压缩空气从进气孔241进入导气凹槽242后，从各个气槽21中喷出，使凸台25与限位盖板22之间形成流向料管的助推气流，减少元器件91的移动阻力，使元器件91传送更加顺畅。

进一步的，分类滑架42包括滑动基板423和设置在滑动基板423上的前管夹421和后管夹422，前管夹421和后管夹422上均设有数量相同且一一对应的等级层44。安装料管时，选定等级层44后，料管从后管夹422的后端插入后管夹422中，然后朝前管夹421方向移动，继而插入前管夹421中，是料管92的前端面与前管夹421的前端面齐平。

优选的，所述前管夹421的每个等级层44处设有用于感应是否装有料管的微动开关45。当料管插入等级层44后，料管会持续触发给微动开关45，微动开关45反馈信号至控制系统，代表该等级层44中的料管安装到位，该等级层44能够储存元器件。

优选的，所述前管夹421的每个等级层44处设有用于固定料管92的弹性压条46。弹性压条46利用弹力将料管压在前管夹421中，防止料管92发生自移动。

具体的，所述升降机构43包括固定的竖架41顶部的电机支架431、朝下设置在电机支架431上的驱动电机432、竖直设置在驱动电机432下方的丝杆433、套在丝杆433上的丝杆螺母434，丝杆螺母434通过接头437与滑动基板423连接，所述丝杆433的顶端与设置在竖架41上的上轴座435转动连接；所述驱动电机432的主轴与丝杆433的顶端传动连接，所述丝杆433的底端与设置在竖架41上的下轴座436转动连接。优选的，驱动电机432采用伺服电机，具有正反转功能，驱动电机432通过驱动丝杆433转动，带动丝杆螺母434、接头437以及分类滑架42竖向移动，可以理解的是，控制系统中已预设有驱动电机432运行时长匹配各个等级层44高度的控制程序，控制系统根据元器件的性能数据分析出元器件的性能等级后，元器件91会分配到相应的等级层44中，控制系统控制驱动电机432的运行就能精准地对分类滑架42进行高度调整，使相应的等级层44与送料轨道2对接，元器件吹送至等级层44的料管92中。

进一步的所述竖架41上固设有竖向延伸的导轨51，所述滑动基板423通过滑块52与导轨51滑动连接，确保滑动基板423滑动顺畅，只能沿竖向移动。

优选的，所述竖架41上设有上传感器61和位于上传感器61下方的下传感器62，所述分类滑架42上设置有触片63，当所述触片63触发上传感器61时，代表分类滑架42移动至上极限位置，当所述触片63触发下感应器时，代表分类滑架42移动至下极限位置，设置上极限位置和下极限位置一方面便于驱动电机432确定初始零位，另一方面可以对分类滑架42的升降行程起到限位作用。所述上传感器61和下传感器62优选为槽型光电开关。

优选的，所述送料轨道2的进料端设置有接料工位20，接料工位20的两侧设置有用于检测接料工位20上是否有元器件的第一对射传感器81，检测设备的抓取机构将元器件放在接料工位20上，当第一对射传感器81感应到元器件，代表元器件放置到位，继而控制系统控制吹气机构3对元器件进行吹气。

所述送料轨道2的出料端设置有用于检测元器件是否从送料轨道2和分类滑架42之间经过的第二对射传感器82，如果元器件在设定时长内被第二对射传感器82感应，说明送料轨道2中没有发生卡料。

在实际应用中，测试设备的抓取机构上设有两个左右并列的真空吸头，每个真空吸头能够抓取搬运一个元器件，即具有两个抓取工位，为了能够与抓取机构相配合，在本实施例中，所述送料轨道2设有两个且左右并列设置，每个送料轨道2的后方对应设置有一个移动料管组件4，两个移动料管组件4呈对称设置。如果元器件经检测后为元器件，那么抓取机构将元器件放在相应的送料轨道2上，如果元器件经检测后为合格品，则不会将元器件放在送料轨道2上。

进一步的，所述吹气机构3包括两个吹气头31，每个吹气头对应一个送料轨道2，所述吹气头上设有进气口和出气口，出气口的口径小于进气口的口径；通过这样设置，压缩空气从进气口进入吹气头后，能够进一步对压缩空气进行压缩，提高吹气头的吹气强度，更好地推动元器件移动。

为了更好地对移动料管组件4进行防护，两个移动料管组件4的外部设置有防护罩71，防护罩71的后方设有与其铰接的门板72，工作人员打开门板72可取出移动料管组件4上的料管进行更换。另外，所述防护罩71上设置有观察窗口73，工作人员透过观察窗口73可清楚观察分类收集情况。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接或可以相互通讯；可以是直接连接，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

可以理解的是，对本领域普通技术人员来说，可以根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，而所有这些改变或替换都应属于本实用新型的保护范围。

Claims (10)

1.一种半导体元器件分类收集机构，其特征在于，包括底架、设置在底架上且沿横向延伸的送料轨道、设置在送料轨道前方的吹气机构、设置在送料轨道后方且能够与送料轨道对接的移动料管组件，所述移动料管组件包括竖架、可滑动地设置在竖架上的分类滑架、以及用于驱动分类滑架上下移动的升降机构，所述分类滑架上设有多个等级层，每个等级层上设置有一根横向延伸的料管，所述吹气机构用于将送料轨道上的元器件吹入对应的料管中。

2.根据权利要求1所述的半导体元器件分类收集机构，其特征在于，所述送料轨道上设有多个沿送料轨道长度方向均匀排布的气槽。

3.根据权利要求1所述的半导体元器件分类收集机构，其特征在于，所述分类滑架包括滑动基板和设置在滑动基板上的前管夹和后管夹，前管夹和后管夹上均设有数量相同且一一对应的等级层。

4.根据权利要求3所述的半导体元器件分类收集机构，其特征在于，所述前管夹的每个等级层处设有用于感应是否装有料管的微动开关。

5.根据权利要求3所述的半导体元器件分类收集机构，其特征在于，所述前管夹的每个等级层处设有用于固定料管的弹性压条。

6.根据权利要求3所述的半导体元器件分类收集机构，其特征在于，所述升降机构包括固定的竖架顶部的电机支架、朝下设置在电机支架上的驱动电机、竖直设置在驱动电机下方的丝杆、套在丝杆上的丝杆螺母，丝杆螺母通过接头与滑动基板连接，所述丝杆的顶端与设置在竖架上的上轴座转动连接；所述驱动电机的主轴与丝杆的顶端传动连接，所述丝杆的底端与设置在竖架上的下轴座转动连接。

7.根据权利要求6所述的半导体元器件分类收集机构，其特征在于，所述竖架上固设有竖向延伸的导轨，所述滑动基板通过滑块与导轨滑动连接。

8.根据权利要求7所述的半导体元器件分类收集机构，其特征在于，所述竖架上设有上传感器和位于上传感器下方的下传感器，所述分类滑架上设置有触片，所述触片能够触发上传感器和下传感器。

9.根据权利要求7所述的半导体元器件分类收集机构，其特征在于，所述送料轨道的进料端设置有接料工位，接料工位的两侧设置有用于检测接料工位上是否有元器件的第一对射传感器，所述送料轨道的出料端设置有用于检测元器件是否从送料轨道和分类滑架之间经过的第二对射传感器。

10.根据权利要求1-9任一项所述的半导体元器件分类收集机构，其特征在于，所述送料轨道设有两个且左右并列设置，每个送料轨道的后方对应设置有一个移动料管组件，两个移动料管组件呈对称设置。

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