CN218496783U - 一种半导体加工检测机 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种半导体加工检测机，包括底座，所述的底座的右侧上部一体化设置有安装座，安装座的上部设置有侧支柱，侧支柱的下端螺栓连接在安装座的内部，侧支柱的左侧设置有顶板，侧支柱的上端贯穿顶板的内部右侧开设的通孔，顶板的右端上下两侧分别设置有固定螺母。本实用新型升降外壳，丝杆，升降座，T型板，从动锥齿轮，转轴，主动锥齿轮和摇把的设置，能够调整半导体器件的位置，从而调整视野范围内的半导体器件的大小。

Description

一种半导体加工检测机

技术领域

本实用新型属于半导体加工技术领域，尤其涉及一种半导体加工检测机。

背景技术

在半导体件的生产过程中，需要利用检测机对半导体件进行检测，以保证其生产品质，申请号为CN202020831996.1的一种半导体加工用检测装置，包括底座，所述底座上表面安装有调高杆和立板，所述调高杆的伸缩端竖直向上且连接有水平延伸的承载板，所述承载板表面安装有放大镜；所述立板竖直延伸。该检测机在使用时，只是对放大镜位置进行调整，使用人员可能需要调整观看位置才能更清晰地进行观察检测，不便于调整视野范围内的半导体件的大小，并且长时间放置时，放大镜上容易落灰，影响检测效果。

实用新型内容

为了解决上述技术问题，本实用新型提供一种半导体加工检测机，能够调整半导体器件的位置，从而调整视野范围内的半导体器件的大小，并且能够对放大镜上的灰尘进行清理，提高检测效果。

其中本实用新型是通过以下技术方案得以实现的：

一种半导体加工检测机，包括底座，所述的底座的右侧上部一体化设置有安装座，安装座的上部设置有侧支柱，侧支柱的下端螺栓连接在安装座的内部，侧支柱的左侧设置有顶板，侧支柱的上端贯穿顶板的内部右侧开设的通孔，顶板的右端上下两侧分别设置有固定螺母，固定螺母与侧支柱螺纹连接设置，顶板的左端内部开设的安装槽内安装有检测放大镜，其特征在于，底座的上部通过手动旋转升降板结构安装有半导体放置座，顶板的上部安装有旋转清理杆结构；所述的手动旋转升降板结构包括升降外壳，所述的升降外壳的内部轴承连接有丝杆，丝杆的外部通过滚珠螺母安装有升降座，升降座的右侧设置有T型板，T型板的下部左侧螺栓连接有三角形架，三角形架与升降座螺栓连接设置，丝杆的下端键连接有从动锥齿轮，其中升降外壳的左侧下部轴承连接有转轴，转轴的右端键连接有主动锥齿轮，转轴的左端键连接有摇把，主动锥齿轮和从动锥齿轮啮合连接设置。

优选的，所述的旋转清理杆结构包括旋转杆，所述的旋转杆的右端开设的插孔的内部插接有定位柱，旋转杆的上部右侧焊接有旋转帽，旋转帽与定位柱轴承连接设置，旋转杆的左端外壁胶接有清理筒。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果为：

1.本实用新型中，所述的升降外壳，丝杆，升降座，T型板，从动锥齿轮，转轴，主动锥齿轮和摇把的设置，能够调整半导体器件的位置，从而调整视野范围内的半导体器件的大小。

2.本实用新型中，所述的旋转杆，定位柱，旋转帽和清理筒的设置，能够对放大镜上的灰尘进行清理，提高检测效果。

3.本实用新型中，所述的检测放大镜的设置，有利于对半导体器件进行检测。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图。

图2是本实用新型的手动旋转升降板结构的结构示意图。

图3是本实用新型的旋转清理杆结构的结构示意图。

图中：

1、底座；2、侧支柱；3、安装座；4、顶板；5、固定螺母；6、检测放大镜；7、手动旋转升降板结构；71、升降外壳；72、丝杆；73、升降座；74、T型板；75、从动锥齿轮；76、转轴；77、主动锥齿轮；78、摇把；8、半导体放置座；9、旋转清理杆结构；91、旋转杆；92、定位柱；93、旋转帽；94、清理筒。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型进行具体描述，如附图1和附图2所示，一种半导体加工检测机，包括底座1，所述的底座1的右侧上部一体化设置有安装座3，安装座3的上部设置有侧支柱2，侧支柱2的下端螺栓连接在安装座3的内部，侧支柱2的左侧设置有顶板4，侧支柱2的上端贯穿顶板4的内部右侧开设的通孔，顶板4的右端上下两侧分别设置有固定螺母5，固定螺母5与侧支柱2螺纹连接设置，顶板4的左端内部开设的安装槽内安装有检测放大镜6。

其中一种半导体加工检测机，还包括手动旋转升降板结构7，半导体放置座8和旋转清理杆结构9，底座1的上部通过手动旋转升降板结构7安装有半导体放置座8，顶板4的上部安装有旋转清理杆结构9。

其中所述的手动旋转升降板结构7包括升降外壳71，所述的升降外壳71的内部轴承连接有丝杆72，丝杆72的外部通过滚珠螺母安装有升降座73，升降座73的右侧设置有T型板74，T型板74升降时，带动半导体放置座8以及半导体件升降，使得使用人员能够对视野范围内的半导体件的大小进行调节，提高了检测效果，T型板74的下部左侧螺栓连接有三角形架，三角形架与升降座73螺栓连接设置，丝杆72的下端键连接有从动锥齿轮75，其中升降外壳71的左侧下部轴承连接有转轴76，转轴76的右端键连接有主动锥齿轮77，转轴76的左端键连接有摇把78，主动锥齿轮77和从动锥齿轮75啮合连接设置，使用人员通过转动摇把78，使得主动锥齿轮77带动从动锥齿轮75转动，从动锥齿轮75带动丝杆72转动，升降座73带动T型板74沿丝杆72升降。

本实施方案中，结合附图3所示，所述的旋转清理杆结构9包括旋转杆91，所述的旋转杆91的右端开设的插孔的内部插接有定位柱92，旋转杆91的上部右侧焊接有旋转帽93，旋转帽93与定位柱92轴承连接设置，旋转杆91的左端外壁胶接有清理筒94，转动旋转帽93，从而转动旋转杆91，使得清理筒94对检测放大镜6上部进行擦拭，避免灰尘对检测产生干扰。

本实施方案中，具体的，所述的升降外壳71螺栓连接在底座1的上部左侧，且丝杆72的下端与底座1轴承连接设置。

本实施方案中，具体的，所述的定位柱92螺栓连接在顶板4上侧中部的右侧，且清理筒94设置在检测放大镜6的上部。

本实施方案中，具体的，所述的T型板74的左端贯穿升降外壳71的右侧开设的长方形通槽。

本实施方案中，具体的，所述的半导体放置座8螺栓连接在T型板74的上部。

本实施方案中，具体的，所述的安装座3的内部开设有用于安装侧支柱2的通孔；所述的半导体放置座8采用内部上侧开设有凹槽的长方形PVC塑料座。

本实施方案中，具体的，所述的升降外壳71采用铝合金外壳；所述的升降座73采用内部开设有用于安装滚珠螺母的安装孔的长方形不锈钢座；所述的T型板74采用镂空铝合金板，减轻自身重量的同时对半导体放置座8起到支撑和安装的作用。

本实施方案中，具体的，所述的定位柱92采用倒T型铝合金柱；所述的旋转帽93采用内部开设有用于固定定位柱92的盲孔的圆柱形不锈钢帽；所述的清理筒94采用海绵筒。

工作原理

本实用新型中，使用人员在对半导体件进行检测前，转动旋转帽93，从而转动旋转杆91，使得清理筒94对检测放大镜6上部进行擦拭，避免灰尘对检测产生干扰，检测时，将半导体件放置在半导体放置座8上，通过检测放大镜6检测半导体件是否存在毛刺等瑕疵，使用人员通过转动摇把78，使得主动锥齿轮77带动从动锥齿轮75转动，从动锥齿轮75带动丝杆72转动，升降座73带动T型板74沿丝杆72升降，升降外壳71右侧的长方形通槽对T型板74起到限位作用，使得T型板74沿垂直方向升降，T型板74升降时，带动半导体放置座8以及半导体件升降，使得使用人员能够对视野范围内的半导体件的大小进行调节，提高了检测效果。

利用本实用新型所述的技术方案，或本领域的技术人员在本实用新型技术方案的启发下，设计出类似的技术方案，而达到上述技术效果的，均是落入本实用新型的保护范围。

Claims (5)

1.一种半导体加工检测机，包括底座(1)，所述的底座(1)的右侧上部一体化设置有安装座(3)，安装座(3)的上部设置有侧支柱(2)，侧支柱(2)的下端螺栓连接在安装座(3)的内部，侧支柱(2)的左侧设置有顶板(4)，侧支柱(2)的上端贯穿顶板(4)的内部右侧开设的通孔，顶板(4)的右端上下两侧分别设置有固定螺母(5)，固定螺母(5)与侧支柱(2)螺纹连接设置，顶板(4)的左端内部开设的安装槽内安装有检测放大镜(6)，其特征在于，底座(1)的上部通过手动旋转升降板结构(7)安装有半导体放置座(8)，顶板(4)的上部安装有旋转清理杆结构(9)。

2.如权利要求1所述的半导体加工检测机，其特征在于，所述的手动旋转升降板结构(7)包括升降外壳(71)，所述的升降外壳(71)的内部轴承连接有丝杆(72)，丝杆(72)的外部通过滚珠螺母安装有升降座(73)，升降座(73)的右侧设置有T型板(74)，T型板(74)的下部左侧螺栓连接有三角形架，三角形架与升降座(73)螺栓连接设置，丝杆(72)的下端键连接有从动锥齿轮(75)，其中升降外壳(71)的左侧下部轴承连接有转轴(76)，转轴(76)的右端键连接有主动锥齿轮(77)，转轴(76)的左端键连接有摇把(78)，主动锥齿轮(77)和从动锥齿轮(75)啮合连接设置。

3.如权利要求2所述的半导体加工检测机，其特征在于，所述的升降外壳(71)螺栓连接在底座(1)的上部左侧，且丝杆(72)的下端与底座(1)轴承连接设置。

4.如权利要求1所述的半导体加工检测机，其特征在于，所述的旋转清理杆结构(9)包括旋转杆(91)，所述的旋转杆(91)的右端开设的插孔的内部插接有定位柱(92)，旋转杆(91)的上部右侧焊接有旋转帽(93)，旋转帽(93)与定位柱(92)轴承连接设置，旋转杆(91)的左端外壁胶接有清理筒(94)。

5.如权利要求4所述的半导体加工检测机，其特征在于，所述的定位柱(92)螺栓连接在顶板(4)上侧中部的右侧，且清理筒(94)设置在检测放大镜(6)的上部。

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