CN218412641U - 一种芯片自动测试台 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及芯片测试领域，具体为一种芯片自动测试台。其包括导向柱、载片组件、导向组件、测试组件和支撑座；导向柱竖直设置；载片组件呈圆环形均匀设置多组，且载片组件沿竖直方向滑动设置在导向柱上；导向组件上具有供载片组件穿过的导向通道；测试组件设置在导向组件顶部；支撑座设置在导向组件底部，支撑座上设置有用于驱动导向柱转动以使多组载片组件上放置的芯片依次转动至测试组件处进行测试的驱动装置。本实用新型能连续性测试芯片从而提高测试效率。

Description

一种芯片自动测试台

技术领域

本实用新型涉及芯片测试领域，特别是涉及一种芯片自动测试台。

背景技术

芯片在完成大批量生产后，需要对芯片的基本功能进行测试，如电气性能测试、Hi-pot高电压冲击测试、环境安全可靠度性测试、老化寿命测试、机械性能测试、焊接性能测试等，以此来挑选出不合格的芯片，从而保留合格的芯片。

中国专利公开号CN212160007U公开了一种自动化芯片测试装置，它包括沿长度方向设置有滑槽的测试机体以及配设在所述滑槽上与滑槽活动连接的芯片安装座；其中测试机体沿竖直方向开设导通所述滑槽的上料口和检测口，在所述检测口的上端配设上芯片测试座；其中所述的芯片安装座与行程气缸的推杆连接，在芯片安装座的上端设置下芯片测试座，所述的下芯片测试座具有容置待测芯片、并对待测芯片周向固定的放置口，当所述上芯片测试座与下芯片测试座盖合时，所述的上芯片测试座用于对所述待测芯片测试，该方案旨在达到对芯片进行高效率测试的目的。

上述方案在测试时，在气缸的作用下，使上芯片测试座与下芯片测试座盖合，上芯片测试座能够对待测芯片进行测试，从而完成自动化检测的目的。但是，气缸的动作是间歇性的，导致测试过程是间歇性的，耗费时间，使得上述方案的测试效率有待进一步提高。

实用新型内容

本实用新型目的是针对背景技术中存在的问题，提出一种能连续性测试芯片从而提高测试效率的芯片自动测试台。

本实用新型的技术方案，一种芯片自动测试台，包括导向柱、载片组件、导向组件、测试组件和支撑座；导向柱竖直设置；载片组件呈圆环形均匀设置多组，且载片组件沿竖直方向滑动设置在导向柱上；导向组件上具有供载片组件穿过的导向通道；测试组件设置在导向组件顶部；支撑座设置在导向组件底部，支撑座上设置有用于驱动导向柱转动以使多组载片组件上放置的芯片依次转动至测试组件处进行测试的驱动装置。

优选的，载片组件包括芯片座、连接杆和滑块，连接杆两端分别与芯片座和滑块连接，导向柱上沿竖直方向设置有滑槽，滑槽呈圆环形均匀设置多组，滑槽与滑块一一对应，滑块滑动设置在滑槽处，连接杆贯穿导向通道并与导向通道滑动连接。

优选的，芯片座上部设置有放置槽，放置槽顶端边缘设置有倒角，放置槽水平方向外端呈圆环形设置有多个贯穿的缺口。

优选的，导向组件包括上壳、下壳和连接架，上壳和下壳由上至下依次分布，导向通道位于上壳和下壳之间，导向通道为倾斜设置的椭圆形通道，连接架两端分别与上壳和下壳连接。

优选的，测试组件包括测试板、探针、安装架和测试箱，探针在测试板底部阵列设置多个，测试板设置在安装架上，安装架和测试箱均设置在上壳顶部，探针与测试箱电性连接，探针位于倾斜的导向通道上的最高点一侧。

优选的，支撑座包括底座和支腿，驱动装置设置在底座上，驱动装置位于下壳内侧，底座设置在支腿上。

优选的，底座上设置有控制面板，控制面板与驱动装置控制连接，测试箱与控制面板电性连接。

优选的，驱动装置包括电机和减速器，电机输出端与减速器输入端连接，减速器输出端与导向柱连接。

与现有技术相比，本实用新型具有如下有益的技术效果：

本实用新型能连续性测试芯片从而提高测试效率。在使用时，驱动装置持续驱动导向柱转动，待测试芯片先放在载片组件上，该载片组件逐渐向测试组件处移动，并在移动至测试组件处通过测试组件进行测试，测试完毕后，载片组件转开，取下测试完毕的芯片，根据芯片是否合格来进行后续的分类收集。放芯片、测试芯片和取芯片的过程是连续性的，节省了测试时间，有效提高了测试效率。

附图说明

图1为本实用新型实施例的结构示意图；

图2为本实用新型实施例的局部结构剖视图；

图3为图2中A处的结构放大图。

附图标记：1、芯片座；101、放置槽；1011、倒角；1012、缺口；2、连接杆；3、滑块；4、导向柱；401、滑槽；5、驱动装置；6、测试板；61、探针；7、安装架；8、测试箱；9、上壳；10、下壳；100、导向通道；11、连接架；12、底座；13、控制面板；14、支腿。

具体实施方式

实施例一

如图1-图3所示，本实施例提出的一种芯片自动测试台，包括导向柱4、载片组件、导向组件、测试组件和支撑座；导向柱4竖直设置；载片组件呈圆环形均匀设置多组，且载片组件沿竖直方向滑动设置在导向柱4上；导向组件上具有供载片组件穿过的导向通道100；测试组件设置在导向组件顶部；支撑座设置在导向组件底部，支撑座上设置有用于驱动导向柱4转动以使多组载片组件上放置的芯片依次转动至测试组件处进行测试的驱动装置5。驱动装置5包括电机和减速器，电机输出端与减速器输入端连接，减速器输出端与导向柱4连接，从而能驱动导向柱4沿同一方向持续性的转动。

本实施例能连续性测试芯片从而提高测试效率。在使用时，驱动装置5持续驱动导向柱4转动，待测试芯片先放在载片组件上，该载片组件逐渐向测试组件处移动，并在移动至测试组件处通过测试组件进行测试，测试完毕后，载片组件转开，取下测试完毕的芯片，根据芯片是否合格来进行后续的分类收集。放芯片、测试芯片和取芯片的过程是连续性的，节省了测试时间，有效提高了测试效率。

实施例二

如图2-图3所示，本实施例提出的一种芯片自动测试台，相较于实施例一，本实施例中，载片组件包括芯片座1、连接杆2和滑块3，连接杆2两端分别与芯片座1和滑块3连接，导向柱4上沿竖直方向设置有滑槽401，滑槽401呈圆环形均匀设置多组，滑槽401与滑块一一对应，滑块3滑动设置在滑槽401处，连接杆2贯穿导向通道100并与导向通道100滑动连接，在导向柱4转动时，导向柱4通过滑槽401带动滑块3在绕导向柱4公转过程中上下滑动，连接杆2在导向通道100处滑动，并带动芯片座1绕导向柱4进行公转，芯片座1周期性的转动至测试组件处，以对芯片座1处放置的芯片进行测试。

芯片座1上部设置有放置槽101，放置槽101顶端边缘设置有倒角1011，放置槽101水平方向外端呈圆环形设置有多个贯穿的缺口1012，芯片放置在放置槽101处，倒角1011方便放置过程，缺口1012方便取出过程，芯片取放操作可为人工操作，也可为机械操作，比如机械手操作。

实施例三

如图1-图3所示，本实施例提出的一种芯片自动测试台，相较于实施例二，本实施例中，导向组件包括上壳9、下壳10和连接架11，上壳9和下壳10由上至下依次分布，导向通道100位于上壳9和下壳10之间，导向通道100为倾斜设置的椭圆形通道，连接架11两端分别与上壳9和下壳10连接，连接杆2能沿着倾斜设置的椭圆形通道周期性的滑动，连接杆2的高度周期性变化，但均能维持芯片座1的水平状态。

测试组件包括测试板6、探针61、安装架7和测试箱8，探针61在测试板6底部阵列设置多个，测试板6设置在安装架7上，安装架7和测试箱8均设置在上壳9顶部，探针61与测试箱8电性连接，探针61位于倾斜的导向通道100上的最高点一侧。在连接杆2移动至导向通道100的最高点时，芯片座1位置最高，芯片座1上的芯片移动至最高位置，探针61与芯片上的引脚进行接触，实现对芯片的测试，并将测试数据传输至测试箱8，测试箱8处理数据并输出测试结果，随着连接杆2的继续转动，芯片会在测试完毕后立刻与探针61脱离接触。

支撑座包括底座12和支腿14，驱动装置5设置在底座12上，驱动装置5位于下壳10内侧，使得整体结构更加整洁，底座12设置在支腿14上。

底座12上设置有控制面板13，控制面板13与驱动装置5控制连接，测试箱8与控制面板13电性连接，测试箱8将芯片是否合格的测试结果传输至控制面板13。

上面结合附图对本实用新型的实施方式作了详细说明，但是本实用新型并不限于此，在所属技术领域的技术人员所具备的知识范围内，在不脱离本实用新型宗旨的前提下还可以作出各种变化。

Claims (8)

1.一种芯片自动测试台，其特征在于，包括：

导向柱(4)，其竖直设置；

载片组件，其呈圆环形均匀设置多组，且沿竖直方向滑动设置在导向柱(4)上；

导向组件，其上具有供载片组件穿过的导向通道(100)；

测试组件，其设置在导向组件顶部；

支撑座，其设置在导向组件底部，其上设置有用于驱动导向柱(4)转动以使多组载片组件上放置的芯片依次转动至测试组件处进行测试的驱动装置(5)。

2.根据权利要求1所述的一种芯片自动测试台，其特征在于，载片组件包括芯片座(1)、连接杆(2)和滑块(3)，连接杆(2)两端分别与芯片座(1)和滑块(3)连接，导向柱(4)上沿竖直方向设置有滑槽(401)，滑槽(401)呈圆环形均匀设置多组，滑槽(401)与滑块一一对应，滑块(3)滑动设置在滑槽(401)处，连接杆(2)贯穿导向通道(100)并与导向通道(100)滑动连接。

3.根据权利要求2所述的一种芯片自动测试台，其特征在于，芯片座(1)上部设置有放置槽(101)，放置槽(101)顶端边缘设置有倒角(1011)，放置槽(101)水平方向外端呈圆环形设置有多个贯穿的缺口(1012)。

4.根据权利要求2所述的一种芯片自动测试台，其特征在于，导向组件包括上壳(9)、下壳(10)和连接架(11)，上壳(9)和下壳(10)由上至下依次分布，导向通道(100)位于上壳(9)和下壳(10)之间，导向通道(100)为倾斜设置的椭圆形通道，连接架(11)两端分别与上壳(9)和下壳(10)连接。

5.根据权利要求4所述的一种芯片自动测试台，其特征在于，测试组件包括测试板(6)、探针(61)、安装架(7)和测试箱(8)，探针(61)在测试板(6)底部阵列设置多个，测试板(6)设置在安装架(7)上，安装架(7)和测试箱(8)均设置在上壳(9)顶部，探针(61)与测试箱(8)电性连接，探针(61)位于倾斜的导向通道(100)上的最高点一侧。

6.根据权利要求4所述的一种芯片自动测试台，其特征在于，支撑座包括底座(12)和支腿(14)，驱动装置(5)设置在底座(12)上，驱动装置(5)位于下壳(10)内侧，底座(12)设置在支腿(14)上。

7.根据权利要求6所述的一种芯片自动测试台，其特征在于，底座(12)上设置有控制面板(13)，控制面板(13)与驱动装置(5)控制连接，测试箱(8)与控制面板(13)电性连接。

8.根据权利要求1所述的一种芯片自动测试台，其特征在于，驱动装置(5)包括电机和减速器，电机输出端与减速器输入端连接，减速器输出端与导向柱(4)连接。

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