CN218331846U - 一种带位置感应的芯片检测治具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种带位置感应的芯片检测治具，包括治具底座和安装在治具底座的检测基座，检测基座上设有限位凹槽，所述治具底座与限位凹槽对应的位置处设有用于检测芯片位置情况的位置检测装置。本实用新型通过在治具底座与限位凹槽对应的位置处设置位置检测装置，可以检测到芯片的对准情况和摆放位置情况，从而提高治具的检测精度和芯片的合格率。
Description
技术领域
本实用新型涉及检测治具的技术领域，尤其是涉及一种带位置感应的芯片检测治具。
背景技术
随着现代科学技术的发展，芯片制造的工艺复杂程度不断增加，Debug芯片制造缺陷的方法更新速度远远跟不上，部分工艺瑕疵导致的制造不良是必然存在的，只有经过测试，才能保证出货质量。然而目前市面上大部分芯片检测治具检测芯片时都是把芯片放置在检测装置上后检测压板直接下压进行检测，在检测芯片的时候并不能检测到芯片的对准情况和摆放位置情况，降低了检测精度的同时也容易将芯片压坏，造成损失。
实用新型内容
为了解决上述背景技术中提出的技术缺陷，本实用新型的目的是提供一种带位置感应的芯片检测治具，可以检测到芯片的对准情况和摆放位置情况，提高治具检测精度和减少芯片被机器损坏等问题。
本实用新型采用如下技术方案：一种带位置感应的芯片检测治具，包括治具底座和安装在治具底座的检测基座，所述检测基座上设有贯穿检测基座的限位凹槽，所述治具底座与限位凹槽对应的位置处设有用于检测芯片位置情况的位置检测装置。
通过采取上述技术方案，检测治具可以通过位置检测装置检测到芯片是否对准检测孔，摆放位置是否平整，进而提高芯片的检测精度，降低芯片的损坏率。
进一步的，所述位置检测装置包括红外线发射器与红外线接收器，所述红外线发射器与红外线接收器分别设于限位凹槽两端。
通过采取上述技术方案，红外线发射器发射的红外线通过限位凹槽横穿芯片上方被红外线接收器接收到，且红外线装置具有低能耗、低成本、抗干扰强等优点，极大的提高了本实用新型的实用性。
进一步的，所述治具底座上设有安装槽，所述检测基座可拆卸式安装于治具底座安装槽内。
通过采取上述技术方案，更换不同类型尺寸的检测基座时，可通过安装槽拆卸检测基座进行更换，操作轻松简便，检测基座与治具底座可拆卸式连接，简化了检测不同型号尺寸芯片时需更换检测基座的流程。
进一步的，所述检测基座设有检测槽，所述限位凹槽穿过检测槽。
通过采取上述技术方案，芯片放置于检测槽中，能被红外线发射器发射到限位凹槽中的红外线所检测到。
进一步的，所述检测槽内设有检测孔，所述治具底座内与检测孔对应的位置处设有电路板，所述电路板上设有若干与检测孔对应的检测触点。
通过采取上述技术方案，放置在检测槽中的芯片可以通过检测孔被电路板上的检测触点检测到。
进一步的，所述检测基座两端设有取物槽，所述取物槽与检测槽连接。
通过采取上述技术方案，检测治具检测完芯片后，可以在取物槽将芯片取出。
进一步的，所述治具底座设有缓冲杆。
通过采取上述技术方案，检测压板下压时缓冲杆会起到一个缓冲作用，减小检测压板的一个震动效果，避免造成事故。
综上所述，本实用新型的有益效果为:本实用新型通过在检测基座两侧安装红外线发射器与接收器，在红外线发射器与接收器之间设置限位凹槽，当红外线接收器检测到芯片没有摆放平整时便会发信号给检测压板，检测压板便不会下压，降低了芯片的损坏率，也提高了检测治具的检测精度，进而节约时间和成本。
上述说明仅是本实用新型的技术方案的概述，为了能够更清楚了解本实用新型的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本实用新型的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。
附图说明
图1是本实施例的结构示意图；
图2是本实施例的俯视图；
图3是本实施例的分解图图；
图4是本实施例检测基座的结构示意图。
图中的附图标记说明：1、治具底座；2、检测基座；21、取物槽；3、限位凹槽；4、位置检测装置；41、红外线发射器；42、红外线接收器；5、安装槽；6、检测槽；61、检测孔；7、电路板；8、缓冲杆。
具体实施方式
为了使本实用新型的内容能更容易被清楚的理解，下面根据具体实施例并结合附图，对本实用新型作进一步说明。
需要说明的是，本文所使用的术语“中心”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。
除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以通过具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
如图1至图3所示，一种带位置感应的芯片检测治具，包括治具底座1和安装在治具底座1的检测基座2，芯片可安装在检测基座2内与电路接通进行检测；为了使芯片提高芯片的检测精度、避免芯片在检测过程中损坏，本实施例在检测基座2上设置了贯穿检测基座2的限位凹槽3，并在检测底座与限位凹槽3对应的位置处设置位置检测装置4，使芯片检测时，可在限位凹槽3与位置检测装置4的作用下对芯片的安装位置进行检测，保证芯片的准确安装，从而提高芯片的检测精度及降低芯片检测时的损坏率。
具体的，如图2所示,本实施例的限位凹槽3呈长条通道状，治具底座1与限位凹槽3对应的位置处设有用于检测芯片位置情况的位置检测装置4，检测治具可以通过位置检测装置4检测到芯片是否对准检测孔61，摆放位置是否平整，当位置检测装置4检测到芯片位置摆放合适时，检测压板接收到位置检测装置4传来的信号便会下压，开始检测芯片质量，进而提高芯片的检测精度，降低芯片的损坏率。
本实施例的位置检测装置4包括红外线发射器41与红外线接收器42，红外线发射器41与红外线接收器42分别设于限位凹槽3两端，其位置相对水平，红外线发射器41与红外线接收器42均与同一控制器连接，控制器控制整个位置检测装置4的运转和停机，芯片摆放位置合适时，红外线发射器41发射的红外线可以通过限位凹槽3横穿芯片上方被红外线接收器42接收到，当芯片摆放位置有偏差时，芯片便会遮挡住红外线，红外线接收器42接收不到红外线便不会下发信号给检测压板。
如图3所示,治具底座1上设有安装槽5，检测基座2可拆卸式安装于治具底座1，安装槽5呈内凹结构，更换不同类型尺寸的检测基座2时，放松固定在检测基座2上的螺丝，便可通过安装槽5拆卸检测基座2进行更换，操作轻松简便，易于取放；检测基座2的边缘顶部设置有若干安装孔，在安装孔上松紧螺丝便可进行拆卸或固定检测基座2，使检测治具整体结构达到一个稳固状态，当需要检测不同型号尺寸的芯片时，更换一个与之相配的检测基座2便可，简化了检测流程，提高了本实用新型的适用性。
如图3和图4所示,检测基座2设有检测槽6，限位凹槽3水平穿过检测槽6，检测槽6形状大小与芯片相对应，芯片放置于检测槽6中，能被红外线发射器41发射到限位凹槽3中的红外线检测到摆放位置。
如图3所示,检测槽6内设有检测孔61，治具底座1内与检测孔61对应的位置处设有电路板7，电路板7上设有若干与检测孔61对应的检测触点，电路板7与电源通电，电路板7上的检测触点与检测孔61位置对应，芯片放置在检测槽6后便可通过检测孔61被电路板7上的检测触点检测到。
如图4所示,本实施例的检测基座2两端设有用于取出芯片的取物槽21，取物槽21与检测槽6连接，检测治具检测完芯片后，在取物槽21捏住放置在检测槽6的芯片两端取出芯片，便可进行下一个芯片检测。
如图1所示,本实施例的治具底座1设有缓冲杆8，缓冲杆8上方由橡胶包裹着，检测压板下压时缓冲杆8起到一个缓冲作用，当检测压板压到缓冲杆8时，便会降低下降的速度，减小检测压板的一个震动效果，避免因压柱下降太快损坏芯片或造成事故。
本申请实施方式的原理为：在检测基座2上设置红外线发射器41与红外线接收器42，在红外线发射器41与接收器之间设置贯通整个检测基座2的限位凹槽3，当红外线发射器41发射的红外线穿过芯片被红外线接收器42接收到时，检测压板便会下压，当红外线接收器42接收不到红外线时，便会发一个信号给检测压板，检测压板便不会下压。
本具体实施方式的实施例均为本申请的较佳实施例，并非依此限制本申请的保护范围，其中相同的零部件用相同的附图标记表示。故：凡依本申请的结构、形状、原理所做的等效变化，均应涵盖于本申请的保护范围之内。
Claims (7)
1.一种带位置感应的芯片检测治具，包括治具底座(1)和安装在治具底座(1)的检测基座(2)，其特征在于：所述检测基座(2)上设有贯穿检测基座(2)的限位凹槽(3)，所述治具底座(1)与限位凹槽(3)对应的位置处设有用于检测芯片位置情况的位置检测装置(4)。
2.根据权利要求1所述一种带位置感应的芯片检测治具，其特征在于：所述位置检测装置(4)包括红外线发射器(41)与红外线接收器(42)，所述红外线发射器(41)与红外线接收器(42)分别设于限位凹槽(3)两端。
3.根据权利要求1所述一种带位置感应的芯片检测治具，其特征在于：所述治具底座(1)上设有安装槽(5)，所述检测基座(2)可拆卸式安装于治具底座(1)安装槽(5)内。
4.根据权利要求1所述一种带位置感应的芯片检测治具，其特征在于：所述检测基座(2)内设有检测槽(6)，所述限位凹槽(3)穿过检测槽(6)。
5.根据权利要求4所述的一种带位置感应的芯片检测治具，其特征在于：所述检测槽(6)内设有检测孔(61)，所述治具底座(1)内与检测孔(61)对应的位置处设有电路板(7)，所述电路板(7)上设有若干与检测孔(61)对应的检测触点。
6.根据权利要求1所述一种带位置感应的芯片检测治具，其特征在于：所述检测基座(2)两端设有用于取出芯片的取物槽(21)，所述取物槽(21)与检测槽(6)连接。
7.根据权利要求1所述一种带位置感应的芯片检测治具，其特征在于：所述治具底座(1)设有缓冲杆(8)。
Priority Applications (1)
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| CN202222032873.3U CN218331846U (zh) | 2022-08-03 | 2022-08-03 | 一种带位置感应的芯片检测治具 |
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| CN218331846U true CN218331846U (zh) | 2023-01-17 |
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ID=84873617
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| CN202222032873.3U Active CN218331846U (zh) | 2022-08-03 | 2022-08-03 | 一种带位置感应的芯片检测治具 |
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2022
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