CN218331368U - 一种固体颗粒异物探测设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型属于探测设备技术领域，具体涉及一种固体颗粒异物探测设备；其包括探测装置；探测装置包括箱体A、探测主体A、传感器A以及处理器；箱体A上设置有进料口A和出料口A；探测主体A设置在箱体A中，传感器A设置在探测主体A上，且传感器A与处理器信号连接。当物料由进料口A的正上方以自由落体方式下落并撞击到探测主体A，因物料与固体颗粒异物的质量和硬度存有差异，导致探测主体A被撞击后会产生不同的振幅以及振动的频率，且在单位时间内产生的功率不同，传感器A拾取探测主体A被撞击后产生固体声音信号并将其转换为电信号，电信号经模拟电路处理后发送至处理器中进行分析和逻辑判断，以准确的判断物体中是否含有固体颗粒异物。

Description

一种固体颗粒异物探测设备

技术领域

本实用新型属于探测设备技术领域，具体涉及一种固体颗粒异物探测设备。

背景技术

异物探测主要是检测所需物体中是否存有其它异物，以便于将所需物体中的异物筛选出来，提高所需物体的纯净度。

现有技术中，对于异物的探测或筛选的设备和方法较多，例如：X射线异物探测仪、色谱检测仪、电磁异物探测装置以及机械筛网等；其中，

X射线异物探测仪是通过分析物质的密度来区分物料和异物；色谱检测仪则是通过物质表面反射的光谱成分的差异及颜色的差异来区分物料和异物；但是，X射线异物探测仪以及色谱检测仪的检测效率较低，不能同时对大量的物料进行探测，且对用户的技术要求较高，适应工业不同环境能力差，能耗高，导致其使用成本以及维护成本都相应的提高。

电磁异物探测装置的探测效率较高，但是，电磁异物探测装置仅能用于探测金属类异物，对于非金属类的异物则无法进行探测，其局限性较大，导致其使用范围受限。因此，发明一种检测效率高且使用范围广的异物探测设备，是本领域技术人员亟待解决的技术问题。

实用新型内容

为了解决现有技术存在的上述问题，本实用新型提供一种固体颗粒异物探测设备，以解决现有技术中存在的异物探测设备的探测效率低或者局限性较大，而导致异物探测设备的使用范围受限的技术问题。

本实用新型通过以下技术方案具体实现：

一种固体颗粒异物探测设备，包括探测装置；所述探测装置包括箱体A、探测主体A、传感器A以及处理器；

所述箱体A的顶部设置有进料口A，所述箱体A的底部设置有出料口A；

所述探测主体A设置在所述箱体A的内部，所述探测主体A位于所述进料口A与所述出料口A之间，所述传感器A设置在所述探测主体A上，且所述传感器A与所述处理器信号连接；所述传感器A拾取探测主体A被撞击后产生的固体声音信号并将固体声音信号转化为电信号，所述电信号经模拟电路的信号处理后发送至处理器中进行分析和逻辑判断。

为了更好的实现本实用新型，在上述结构中作进一步的优化，所述探测主体A包括多个探测板，多个所述探测板等间距的沿所述箱体A的长度方向或者宽度方向排列设置，且多个所述探测板位于同一水平面内，相邻的两个所述探测板之间存有间隙，所有的所述探测板上均设置有所述传感器A。

为了更好的实现本实用新型，在上述结构中作进一步的优化，所述探测板倾斜设置在所述箱体A内，且多个所述探测板所在的平面平行。

为了更好的实现本实用新型，在上述结构中作进一步的优化，所述探测主体A的数量为多个，多个所述探测主体A依次沿所述箱体A的高度方向排列设置，且多个所述探测主体A所在的平面平行。

为了更好的实现本实用新型，在上述结构中作进一步的优化，所述出料口A的处设置有驱动装置A；所述驱动装置A的动作端设置有推板A和推板B，所述推板A和所述推板B固定连接，所述推板A靠近所述出料口A的一侧与所述推板B靠近所述出料口A的一侧的间距大于所述推板A远离所述出料口A的一侧与所述推板B远离所述出料口A的一侧的间距，所述推板A远离所述出料口A的一侧与所述推板B远离所述出料口A的一侧的间距大于出料口A的宽度；

所述驱动装置A与所述处理器信号连接，通过所述处理器控制所述驱动装置A的动作端向水平方向推动所述推板A和所述推板B动作。

为了更好的实现本实用新型，在上述结构中作进一步的优化，该固体颗粒异物探测设备还包括精选装置，所述精选装置包括箱体B和分料板；

所述箱体B的顶部设置有进料口B，所述箱体B的底部设置有出料口B，所述出料口B处设置有隔板，所述隔板将所述出料口B分隔为物料出口和异物出口，所述箱体B设置在所述箱体A的底部，且所述出料口A与所述进料口B连通；

所述分料板设置在所述箱体B中，所述分料板将所述箱体B的内部空腔分隔为物料通道和异物通道，所述分料板与所述隔板之间形成通孔，所述物料通道和所述异物通道通过所述通孔连通，所述物料通道的出料端与所述物料出口连通；当推板A位于工作位时，所述出料口A与所述物料通道连通，当推板B位于工作位时，所述出料口A与所述异物通道连通。

为了更好的实现本实用新型，在上述结构中作进一步的优化，上述的精选装置还包括分料辊A、探测主体B以及传感器B；

所述分料辊A转动设置在所述异物通道的出料端，且所述分料辊A的圆周侧壁上设置有多个分料槽A，多个所述分料槽A等间距的环绕所述分料辊A的圆周方向设置；

所述探测主体B倾斜设置在所述分料辊A的下方，且所述探测主体B靠近所述通孔的一侧所在的高度低于所述探测主体B远离所述通孔的一侧所在的高度，所述传感器B设置在所述探测主体B上，且所述传感器B与所述处理器信号连接；

所述探测主体B的下方设置有驱动装置B和挡板，所述挡板的一侧与所述探测主体B远离所述分料辊A的一侧铰接，所述驱动装置B位于所述挡板远离所述通孔的一侧，所述驱动装置B的动力输出端与所述挡板铰接，且所述驱动装置B与所述处理器信号连接；当所述挡板处于工作状态A时，所述挡板的上边缘以及所述挡板的下边缘分别与所述探测主体B的下边缘以及所述隔板的上边缘衔接，所述挡板封堵所述异物出口，所述异物通道的出料端与所述物料出口连通；当所述挡板处于工作状态B时，所述异物通道的出料端与所述异物出口连通。

为了更好的实现本实用新型，在上述结构中作进一步的优化，该固体颗粒异物探测设备还包括用于分散物料的散料装置，所述散料装置包括箱体C、抛料辊以及多个消能板；

所述箱体C的顶部设置有进料口C，所述箱体C的底部设置有出料口C，所述箱体C设置在所述箱体A的顶部，所述出料口C与所述进料口A连通；

所述抛料辊转动设置在所述箱体C内，所述抛料辊的圆周侧壁上设置有多个拨片，且所述抛料辊位于所述进料口C的下方；

所述消能板的截面形状为折线形，多个所述消能板依次沿所述抛料辊轴线方向排列设置，相邻的两个所述消能板之间围成折线形通道。

为了更好的实现本实用新型，在上述结构中作进一步的优化，所述散料装置还包括进料斗，所述进料斗设置在所述进料口C处，且所述进料口C处设置有分料辊B，所述分料辊B的径向方向的截面形状与所述进料口C的形状相匹配，所述分料辊B的圆周侧壁上设置有多个分料槽B，多个所述分料槽B等间距的环绕所述分料辊B的圆周方向设置。

为了更好的实现本实用新型，在上述结构中作进一步的优化，所述箱体C内设置有格栅板，所述格栅板倾斜设置在所述箱体C内，所述格栅板靠近所述进料口C的一侧与所述分料辊B之间的间距大于所述格栅板远离所述进料口C的一侧与所述分料辊B之间的间距。

综上所述，本实用新型具有以下技术效果：

该固体颗粒异物探测设备能够同时对大量的物料进行探测，以提高该固体颗粒异物探测设备的探测效率，该固体颗粒异物探测设备中的处理器通过物料与固体颗粒异物撞击探测主体时会产生不同特征的固体声音信号来判断物料中是否有固体颗粒异物的存在，以准确的完成物料中固体颗粒异物的探测，且该固体颗粒异物探测设备能够用于各种不同种类的固体颗粒异物的探测，从而使该固体颗粒异物探测设备的使用范围更加的广泛。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本实用新型一种固体颗粒异物探测设备的结构示意图；

图2是本实用新型一种固体颗粒异物探测设备的内部结构图；

图3是本实用新型一种固体颗粒异物探测设备中探测装置纵向方向的剖视图；

图4是本实用新型一种固体颗粒异物探测设备中探测装置的结构示意图；

图5是本实用新型一种固体颗粒异物探测设备中探测主体A的结构示意图；

图6是本实用新型一种固体颗粒异物探测设备中精选装置纵向方向的剖视图；

图7是图4中A部的局部放大图；

图8是本实用新型一种固体颗粒异物探测设备中精选装置的结构示意图；

图9是本实用新型一种固体颗粒异物探测设备中分料辊的结构示意图；

图10是本实用新型一种固体颗粒异物探测设备中散料装置纵向方向的剖视图；

图11是本实用新型一种固体颗粒异物探测设备中抛料辊的结构示意图；

图12是采用示波器实时采集本发明一种固体颗粒异物探测装置中传感器探测的固体声音信号图；

图13是采用示波器实时采集本发明一种固体颗粒异物探测装置中传感器探测的固体声音信号图；

图14是是采用示波器实时采集本发明一种固体颗粒异物探测装置中传感器探测的固体声音信号图；

图15是是采用示波器实时采集本发明一种固体颗粒异物探测装置中传感器探测的固体声音信号图。

附图标记：

1、探测装置；11、箱体A；111、进料口A；112、出料口A；12、探测主体A；121、探测板；13、安装支脚；14、驱动装置A；151、推板A；152、推板B；

2、精选装置；21、箱体B；211、进料口B；212、出料口B；2121、物料出口；2122、异物出口；22、分料板；23、分料辊A；231、分料槽A；24、探测主体B；251、物料通道；252、异物通道；26、安装孔；27、隔板；28、驱动装置B；29、挡板；

3、散料装置；31、箱体C；311、进料口C；312、出料口C；32、抛料辊；33、消能板；34、进料斗；35、分料辊B；351、分料槽B；36、格栅板。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将对本实用新型的技术方案进行详细的描述。显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所得到的所有其它实施方式，都属于本实用新型所保护的范围。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有说明，″多个″的含义是两个或两个以上；术语″上″、″下″、″左″、″右″、″内″、″外″、″前端″、″后端″、″头部″、″尾部″等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语″第一″、″第二″、″第三″等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本实用新型的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语″安装″、″相连″、″连接″应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言，可视具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

实施例一：

如图3至图5所示：

一种固体颗粒异物探测设备，其包括探测装置1；其中，

探测装置1包括箱体A11、探测主体A12、传感器A以及处理器；

箱体A11的顶部设置有进料口A111，箱体A11的底部设置有出料口A112；

探测主体A12设置在箱体A11的内部，探测主体A12位于进料口A111与出料口A112之间，传感器A设置在探测主体A12上，且传感器A与处理器信号连接。

该固体颗粒异物探测设备可以以进料口A111的正上方的投放面为初始势能面，投料面与水平面平行，所有的物料由投放面放下，使物料以自由落体的方式下落，由进料口A111进入箱体A11内，并撞击探测主体A12；

所有的物料的初始势能一致，在下落高度相同的情况下，所有的物料产生的势能是相同的，而固体颗粒异物的质量、硬度和成分与物料的质量、硬度和成分不同，使得固体颗粒异物与物料产生的势能不同，固体颗粒异物与物料撞击探测主体A12时产生的固体声音信号也不相同；上述的处理器通过分析固体颗粒异物与物料撞击探测主体A12时产生不同特征的固体声音信号来判断物料中是否有固体颗粒异物的存在，以准确的完成物料中固体颗粒异物的探测。

此外，该固体颗粒异物探测设备能够用于对各种形态(颗粒、粉末、液体以及气体等)的物料进行探测，以探测物料中是否含有金属、陶瓷以及岩石等不同种类的固体颗粒异物的探测，以使该固体颗粒异物探测装置的使用范围更加的广泛。

需要说明的是，上述的固体声音信号指的是探测主体A12被撞击后产生的的振幅、探测主体A12的振动频率以及探测主体A12在单位时间内产生的功率；探测主体A12的振动频率的范围为2KHz-60KHz；

由于固体颗粒异物与物料的成分和硬度不同，当有的固体颗粒异物与物料的质量相同的情况下，固体颗粒异物撞击探测主体A12时产生的振幅的大小或者振动频率的高低会与物料撞击探测主体A12时产生的振幅的大小或者振动频率的高低相同或者相近；

但是，固体颗粒异物撞击探测主体A12后在单位时间内产生的功率与物料撞击探测主体A12后在单位时间内产生的功率不同，处理器通过多种数据进行分析对比，以更加准确的判断物料中是否有固体颗粒异物的存在，从而有效的提高该固体颗粒异物探测设备的探测的准确性。

结合图12至图15所示，其中，

图12至图15中的信号1为传感器在工作时实时探测的固体声音信号，信号2是信号1经处理后得到的电压幅度信号；

由图12中A部分以及图13中的B部分可以看出，当有固体颗粒异物撞击探测板2时，其在时间轴上产生的绝对电压幅度差值与物料撞击探测主体A12在时间轴上产生的绝对电压幅度差值明显不同，处理器通过该信号判断物料中存有固体颗粒异物；

且通过图12中A部分以及图13中的B部分也能判断出，固体颗粒异物撞击力较大，因此，可以推断出固体颗粒异物的质量和硬度等级都大于物料；

将信号2显示的电压幅度信号与同时间轴对应的信号1进行对比，由图14中的C部分与图15中的D部分能够很明显的看出，固体颗粒异物撞击探测主体A12时产生的绝对电压幅度差值与物料撞击探测主体A12时产生的绝对电压幅度差值基本一致；但是，可以明显的看出，固体颗粒异物撞击探测主体A12时，时间轴上产生的功率密度较大，将信号1经放大滤波、整流、积分电路处理后得到示波器上显示的信号2，在时域内能够明显的得知物料与固体异物撞击探测主体A12时产生的信号幅度差，以使处理器通过该信号准确的判断物料中存有固体颗粒异物。

优选的，上述的初始势能面与进料口A111之间的距离为3-30cm，该距离范围内物体与固体颗粒异物撞击探测主体A12时产生的固定声音信号具有明显的差异，以使该固体颗粒异物探测装置能够更加准确的完成物料中固体颗粒异物的探测。

优化的，上述的探测主体A12包括多个探测板121；其中，

多个探测板121等间距的沿箱体A11的长度方向或者宽度方向排列设置，相邻的两个探测板121之间存有间隙，使得物料能够通过相邻的两个探测板121之间的间隙向出料口A112的方向移动，所有的探测板121上均设置有传感器A，且多个探测板121位于同一水平面内，使得物料的掉落点相同；

当物料与杂物由同一高度落至探测板121上时，物料与杂物产生的势能不同，其撞击探测板121上时产生的固体声音信号也不相同，以便于该固体颗粒异物探测设备能够更加准确的探测出物料中是否存有固体颗粒异物。

优选的，探测板121上设置有便于安装传感器A的安装支脚13，以使传感器A的安装更加的方便。

优化的，上述的探测板121倾斜设置在箱体A11内，且多个探测板121所在的平面平行；

当有物料掉落至探测板121上时，物料会顺着倾斜的探测板121滑动并穿过相邻的两个探测板121之间的间隙向出料口A112的方向移动，以避免物料停留在探测板121上，使得后续掉落的物料无法撞击到探测板121，而导致探测结果受到影响的情况发生。

优选的，探测板121所在的平面与水平面的夹角为30°-80°，其中，当探测板21所在的平面与水平面的夹角为45°时，该固体颗粒异物探测装置的探测效率以及准确率最高。

优化的，上述的探测主体A12的数量为多个，多个探测主体A12依次沿箱体A11的高度方向排列设置，且多个探测主体A12所在的平面平行，以提高该固体颗粒异物探测设备的探测精度。

需要说明的是，相邻两个探测主体A12中的探测板121的倾斜方向相反。

优化的，上述的出料口A112的两侧分别设置有驱动装置A14；其中，

驱动装置A14的动作端设置有推板A151和推板B152，推板A151和推板B152固定连接，推板A151靠近出料口A112的一侧与推板B152靠近出料口A112的一侧的间距大于推板A151远离出料口A112的一侧与推板B152远离出料口A112的一侧的间距，推板A151远离所述出料口A112的一侧与所述推板B152远离所述出料口A112的一侧的间距大于出料口A112的宽度；

驱动装置A14与上述的处理器信号连接，通过处理器控制驱动装置A14的动作端向水平方向推动所述推板A151和所述推板B152动作。

当处理器控制驱动装置A14将推板A151推送至工作位时，推板A151靠近出料口A112的一侧与出料口A112的边缘衔接；此时，由出料口A112排出的物料便会顺着推板A151向远离驱动装置A14的方向滑出；

当处理器控制驱动装置A14将推板B152拉动至工作位时，推板B152靠近出料口A112的一侧与出料口A112A的边缘衔接；此时，由出料口A112排出的物料便会顺着推板B152向靠近驱动装置A14的方向滑出。

具体的，当上述的处理器判断掉落的物料中没有固体颗粒异物时，处理器会控制驱动装置A14动作，使推板A151则会移动至工作位，由出料口A112排出的物料便会顺着推板A151向远离驱动装置A14的方向滑落；

当上述的处理器判断掉落的物料中存有固体颗粒异物时，处理器会控制驱动装置A14动作，使推板B152移动至工作位，由出料口A112排出的物料便会顺着推板B152向靠近驱动装置A14的方向滑落，以完成固体颗粒异物的筛选，从而使该固体颗粒异物探测设备的使用更加的方便。

需要说明的是，上述的驱动装置A14驱动推板A151以及推板B152向水平方向移动便可以实现物料与固体颗粒异物的分离，上述的设置方式能够减小其占用空间，以缩小该固体颗粒异物探测设备的体积，且使推板A151与推板B152的反应速度更快，从而有效的避免物料与固体颗粒异物分离不彻底的情况发生。

优化的，上述的箱体A11内设置有导流板；其中，

导流板位于出料口A112的正上方，导流板的两侧的高度低于导流板的中部的高度，且导流板的正投影的面积大于出料口A112的面积；

当该固体颗粒异物探测设备进行工作的过程中，位于出料口A112上方的物料在下落时会受到导流板的阻碍，并顺着导流板向导流板的两侧滑落；

导流板能够减缓物料的掉落时间，为驱动装置A14的动作提供反应时间，以避免该固体颗粒异物探测设备探测出的固体颗粒异物下落过快而随着物料一同向远离驱动装置A14的方向滑落。

需要说明的是，该固体颗粒异物探测设备主要用于颗粒状物料的探测。

实施例二：

如图3至图9所示：

作为实施例一的进一步优化，该固体颗粒异物探测设备还包括精选装置2；其中，

精选装置2包括箱体B21和分料板22；

箱体B21的顶部设置有进料口B211，箱体B21的底部设置有出料口B212，出料口B212处设置有隔板27，隔板27将出料口B212分隔为物料出口2121和异物出口2122，箱体B21设置在箱体A11的底部，且上述的出料口A112与进料口B211连通，使得探测装置1排出的物料可以通过出料口A112与进料口B211进入箱体B21中；

上述的分料板22设置在箱体B21中，分料板22将箱体B21的内部空腔分隔为物料通道251和异物通道252，分料板22与隔板27之间形成通孔，物料通道251和异物通道252通过通孔连通，物料通道251的出料端与物料出口2121连通。

当推板A151位于工作位时，也即上述的处理器判断掉落的物料中没有固体颗粒异物时，所有物料便会顺着推板A151滑落至物料通道251中，并经过物料通道251向物料出口2121连通，以便于对物料进行收集；

而当推板B152位于工作位时，也即上述的处理器判断掉落的物料中有固体颗粒异物时，该部分物料便会顺着推板B152滑落至异物通道252中，以完成固体颗粒异物的分离。

优化的，上述的精选装置2还包括分料辊A23、探测主体B24以及传感器B；其中，

分料辊A23转动设置在异物通道252的出料端，异物通道252的出料端的形状与分料辊A23的径向方向的截面形状相匹配，且分料辊A23的圆周侧壁上设置有多个分料槽A231，多个分料槽A231等间距的环绕分料辊A23的圆周方向设置；

上述的探测主体B24倾斜设置在分料辊A23的下方，且探测主体B24靠近通孔的一侧所在的高度低于探测主体B24远离通孔的一侧所在的高度，传感器B设置在探测主体B24上，且传感器B与处理器信号连接；

探测主体B24的下方设置有驱动装置B28和挡板29，挡板29的一侧与探测主体B24远离分料辊A23的一侧铰接，驱动装置B28位于挡板29远离通孔的一侧，驱动装置B28的动力输出端与挡板29铰接，且驱动装置B28与处理器信号连接。

进入异物通道252内的物料可以在分料辊A23的作用下分批的送至探测主体B24上，上述的处理器通过分析固体颗粒异物与物料撞击探测主体B24时产生不同的固体声音信号来判断物料中是否有固体颗粒异物的存在，以准确的完成物料中固体颗粒异物的探测。

具体的，当由异物通道252的出料端排出的部分物料中没有固体颗粒异物时，上述的挡板29便始终保持工作状态A，此时，挡板29的上边缘以及挡板29的下边缘分别与探测主体B24的下边缘以及隔板27的上边缘衔接，挡板29封堵异物出口2122的位置处，异物通道252的出料端与物料出口2121连通，以便于将没有固体颗粒异物的物料通过物料出口2121向外排出；

当掉落的物料中存有固体颗粒异物时，上述的处理器便会控制驱动装置B28动作，以带动挡板29绕着其铰接处向下转动，使挡板29处于工作状态B，此时，异物通道252的出料端与异物出口2122连通，含有固体颗粒异物的少量物料便会通过异物出口2122向外排出，以便于完成固体颗粒异物的筛选。

上述的精选装置2能够对探测装置1探测出的固体颗粒异物作进一步的筛选，将物料与固体颗粒异物作进一步的分离，使得异物通道252中的大部分物料能够与固体颗粒异物分离，并由物料出口2121向外排出，固体颗粒异物仅伴随少量的物料由异物出口2122向外排出，以更好的实现对固体颗粒异物的筛选。

优选的，上述的箱体B21对应探测板B24的位置设置有便于安放传感器的安装孔26，以使传感器B的安装更加的方便。

实施例三：

如图1至图11所示

作为实施例一以及实施例二的进一步优化，该固体颗粒异物探测设备还包括用于分散物料的散料装置3；其中，

散料装置3包括箱体C31、抛料辊32以及多个消能板33；

箱体C31的顶部设置有进料口C311，箱体C31的底部设置有出料口C312，箱体C31设置在箱体A11的顶部，出料口C312与进料口A111连通；

抛料辊32转动设置在箱体C31内，抛料辊32的圆周侧壁上设置有多个拨片，且抛料辊32位于进料口C311的下方；

消能板33的截面形状为折线形，多个消能板33依次沿抛料辊32轴线方向排列设置，上述的多个探测板121的排列方向与消能板33的排列方向相同，相邻的两个消能板33之间围成折线形通道。

上述的散料装置3能够增大物料的覆盖面，且使物料的分布更加的均匀，以使探测装置1能够同时对大量的物料进行探测，且能够更加准确的实现固体颗粒异物的探测，从而有效的提高该固体颗粒异物探测设备的探测精度。

当使用者将物料由出料口C312倒入箱体C31中时，物料会落至抛料辊32上，转动的抛料辊32会将物料向远离抛料辊32的方向进行抛散，使得物料的覆盖面积增大，以减小物料的密度；

随后，被抛散的物料便会落至消能板33上，使物料通过折线形通道的出口端滑出，并进入箱体A11中；

折线形的消能板33吸收物料的动能，使得所有的物料的初始势能相同，以使处理器能够通过分析物料与固体颗粒异物在下落时产生不同的势能，并撞击探测板后产生的固体声音信号来判断物料中是否有固体颗粒异物的存在。

优化的，上述的散料装置3还包括进料斗34；其中，

进料斗34设置在进料口C311处，且进料口C311处设置有分料辊B35，分料辊B35的径向方向的截面形状与进料口C311的形状相匹配，分料辊B35的圆周侧壁上设置有多个分料槽B351，多个分料槽B351等间距的环绕分料辊B35的圆周方向设置；

物料可以通过分料辊B35分批的送入箱体C31中，以控制进入箱体C31中的物料的总量，减小该固体颗粒异物探测设备的探测压力，从而有效的提高该固体颗粒异物探测设备的探测精度提高。

需要说明的是，上述的分料辊B35与上述的分料辊A23的结构完全相同。

优化的，上述的箱体C31内设置有格栅板36，格栅板36倾斜设置在箱体C31内，格栅板36靠近进料口C311的一侧与分料辊B35之间的间距大于格栅板36远离进料口C311的一侧与分料辊B35之间的间距；

该固体颗粒异物探测设备在工作的过程中，抛料辊32可以将物料向远离抛料辊32的方向抛散，一部分物料可以通过格栅板36上的穿孔向远离抛料辊32的方向移动，而另一部分则会内格栅板36阻挡，而被阻挡的物料则会掉落至靠近抛料辊32的位置处，使物料的覆盖面积更加的广泛，以进一步的减小物料的密度。

优选的，该固体颗粒异物探测设备的外部包覆有防护壳，防护壳将探测装置1、精选装置2以及散料装置3包覆在内部，以更好的实现对该固体颗粒异物探测设备的保护。

需要说明的是，上述的防护壳上设置有三个驱动电机，三个驱动电机分别与分料辊A23、分料辊B35以及抛料辊32传动连接，以驱动分料辊A23、分料辊B35以及抛料辊32转动。

以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种固体颗粒异物探测设备，其特征在于：包括探测装置(1)；所述探测装置(1)包括箱体A(11)、探测主体A(12)、传感器A以及处理器；

所述箱体A(11)的顶部设置有进料口A(111)，所述箱体A(11)的底部设置有出料口A(112)；

所述探测主体A(12)设置在所述箱体A(11)的内部，所述探测主体A(12)位于所述进料口A(111)与所述出料口A(112)之间，所述传感器A设置在所述探测主体A(12)上，且所述传感器A与所述处理器信号连接；所述传感器A拾取探测主体A(12)被撞击后产生的固体声音信号并将固体声音信号转化为电信号，所述电信号经模拟电路的信号处理后发送至处理器中进行分析和逻辑判断。

2.根据权利要求1所述的固体颗粒异物探测设备，其特征在于：所述探测主体A(12)包括多个探测板(121)，多个所述探测板(121)等间距的沿所述箱体A(11)的长度方向或者宽度方向排列设置，且多个所述探测板(121)位于同一水平面内，相邻的两个所述探测板(121)之间存有间隙，所有的所述探测板(121)上均设置有所述传感器A。

3.根据权利要求2所述的固体颗粒异物探测设备，其特征在于：所述探测板(121)倾斜设置在所述箱体A(11)内，且多个所述探测板(121)所在的平面平行。

4.根据权利要求3所述的固体颗粒异物探测设备，其特征在于：所述探测主体A(12)的数量为多个，多个所述探测主体A(12)依次沿所述箱体A(11)的高度方向排列设置，且多个所述探测主体A(12)所在的平面平行。

5.根据权利要求4所述的固体颗粒异物探测设备，其特征在于：所述出料口A(112)的处设置有驱动装置A(14)；所述驱动装置A(14)的动作端设置有推板A(151)和推板B(152)，所述推板A(151)和所述推板B(152)固定连接，所述推板A(151)靠近所述出料口A(112)的一侧与所述推板B(152)靠近所述出料口A(112)的一侧的间距大于所述推板A(151)远离所述出料口A(112)的一侧与所述推板B(152)远离所述出料口A(112)的一侧的间距，所述推板A(151)远离所述出料口A(112)的一侧与所述推板B(152)远离所述出料口A(112)的一侧的间距大于出料口A(112)的宽度；

所述驱动装置A(14)与所述处理器信号连接，通过所述处理器控制所述驱动装置A(14)的动作端向水平方向推动所述推板A(151)和所述推板B(152)动作。

6.根据权利要求1所述的固体颗粒异物探测设备，其特征在于：还包括精选装置(2)，所述精选装置(2)包括箱体B(21)和分料板(22)；

所述箱体B(21)的顶部设置有进料口B(211)，所述箱体B(21)的底部设置有出料口B(212)，所述出料口B(212)处设置有隔板(27)，所述隔板(27)将所述出料口B(212)分隔为物料出口(2121)和异物出口(2122)，所述箱体B(21)设置在所述箱体A(11)的底部，且所述出料口A(112)与所述进料口B(211)连通；

所述分料板(22)设置在所述箱体B(21)中，所述分料板(22)将所述箱体B(21)的内部空腔分隔为物料通道(251)和异物通道(252)，所述分料板(22)与所述隔板(27)之间形成通孔，所述物料通道(251)和所述异物通道(252)通过所述通孔连通，所述物料通道(251)的出料端与所述物料出口(2121)连通；当推板A(151)位于工作位时，所述出料口A(112)与所述物料通道(251)连通，当推板B(152)位于工作位时，所述出料口A(112)与所述异物通道(252)连通。

7.根据权利要求6所述的固体颗粒异物探测设备，其特征在于：所述精选装置(2)还包括分料辊A(23)、探测主体B(24)以及传感器B；

所述分料辊A(23)转动设置在所述异物通道(252)的出料端，且所述分料辊A(23)的圆周侧壁上设置有多个分料槽A(231)，多个所述分料槽A(231)等间距的环绕所述分料辊A(23)的圆周方向设置；

所述探测主体B(24)倾斜设置在所述分料辊A(23)的下方，且所述探测主体B(24)靠近所述通孔的一侧所在的高度低于所述探测主体B(24)远离所述通孔的一侧所在的高度，所述传感器B设置在所述探测主体B(24)上，且所述传感器B与所述处理器信号连接；

所述探测主体B(24)的下方设置有驱动装置B(28)和挡板(29)，所述挡板(29)的一侧与所述探测主体B(24)远离所述分料辊A(23)的一侧铰接，所述驱动装置B(28)位于所述挡板(29)远离所述通孔的一侧，所述驱动装置B(28)的动力输出端与所述挡板(29)铰接，且所述驱动装置B(28)与所述处理器信号连接；

当所述挡板(29)处于工作状态A时，所述挡板(29)的上边缘以及所述挡板(29)的下边缘分别与所述探测主体B(24)的下边缘以及所述隔板(27)的上边缘衔接，所述挡板(29)封堵所述异物出口(2122)，所述异物通道(252)的出料端与所述物料出口(2121)连通；当所述挡板(29)处于工作状态B时，所述异物通道(252)的出料端与所述异物出口(2122)连通。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的固体颗粒异物探测设备，其特征在于：还包括用于分散物料的散料装置(3)，所述散料装置(3)包括箱体C(31)、抛料辊(32)以及多个消能板(33)；

所述箱体C(31)的顶部设置有进料口C(311)，所述箱体C(31)的底部设置有出料口C(312)，所述箱体C(31)设置在所述箱体A(11)的顶部，所述出料口C(312)与所述进料口A(111)连通；

所述抛料辊(32)转动设置在所述箱体C(31)内，所述抛料辊(32)的圆周侧壁上设置有多个拨片，且所述抛料辊(32)位于所述进料口C(311)的下方；

所述消能板(33)的截面形状为折线形，多个所述消能板(33)依次沿所述抛料辊(32)轴线方向排列设置，相邻的两个所述消能板(33)之间围成折线形通道。

9.根据权利要求8所述的固体颗粒异物探测设备，其特征在于：所述散料装置(3)还包括进料斗(34)，所述进料斗(34)设置在所述进料口C(311)处，且所述进料口C(311)处设置有分料辊B(35)，所述分料辊B(35)的径向方向的截面形状与所述进料口C(311)的形状相匹配，所述分料辊B(35)的圆周侧壁上设置有多个分料槽B(351)，多个所述分料槽B(351)等间距的环绕所述分料辊B(35)的圆周方向设置。

10.根据权利要求9所述的固体颗粒异物探测设备，其特征在于：所述箱体C(31)内设置有格栅板(36)，所述格栅板(36)倾斜设置在所述箱体C(31)内，所述格栅板(36)靠近所述进料口C(311)的一侧与所述分料辊B(35)之间的间距大于所述格栅板(36)远离所述进料口C(311)的一侧与所述分料辊B(35)之间的间距。

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