CN218271946U - 一种电子元件外观检测机构及外观检测装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型属于外观检测领域,尤其涉及一种电子元件外观检测机构及外观检测装置。包括旋转台组件,所述旋转台组件上设有用于放置电子元件的旋转台;设置于所述旋转台组件上的遮光罩,所述遮光罩侧壁形成有检测口,所述遮光罩顶部设置有环形光源,所述遮光罩侧面设置有条形光源,所述环形光源和所述条形光源用于照射所述电子元件;连接到所述遮光罩的移动组件,所述移动组件用于移动所述遮光罩靠近或远离所述旋转台;摄像头,所述摄像头用于从所述检测口对所述电子元件进行外观检测。本实用新型可实现对电子元件的侧面进行外观检测,能够屏蔽检测过程中的背景干扰,具有检测效率高、生产成本低、检测精度高的优点。
Description
技术领域
本实用新型属于外观检测领域,尤其涉及一种电子元件外观检测机构及外观检测装置。
背景技术
电子元件是电子电路中的基本元素,通常有两个以上的引线,用于焊接到印刷电路板上组成电子产品,为了确保电路的稳定可靠,需对电子元件进行检测。现有的电子元件外观检测装置,为了对电子元件侧面进行检测,大多设置了多个检测机构,或者在同一个检测机构中应用了多个摄像头从不同的方向对电子元件的侧面进行拍摄,对于前者,电子元件需要在多个检测机构之间移动以完成检测,检测效率低下,对于后者,多个摄像头的设置,提高了装置的生产成本。同时,现有的电子元件外观检测机构的摄像头在对电子元件进行拍摄时容易拍摄到电子元件以外的零部件,影响检测精度。
因此,亟需一种支持检测效率高、生产成本低、检测精度高的外观检测机构及外观检测装置。
发明内容
本实用新型的目的在于针对现有技术的不足,提供一种电子元件外观检测机构及外观检测装置,可实现对电子元件的侧面进行外观检测,能够屏蔽检测过程中的背景干扰,具有检测效率高、生产成本低、检测精度高的优点。
为了实现上述目的,本实用新型采用了以下技术方案:
一种电子元件外观检测机构,包括:
旋转台组件,所述旋转台组件上设有用于放置电子元件的旋转台;
设置于所述旋转台组件上的遮光罩,所述遮光罩侧壁形成有检测口,所述遮光罩顶部设置有环形光源,所述遮光罩侧面设置有条形光源,所述环形光源和所述条形光源用于照射所述电子元件;
连接到所述遮光罩的移动组件,所述移动组件用于移动所述遮光罩靠近或远离所述旋转台;
摄像头,所述摄像头用于从所述检测口对所述电子元件进行外观检测。
进一步的,所述移动组件包括滑轨和设置于所述滑轨上的滑块,所述滑块连接有用于驱动所述滑块在所述滑轨上移动的第一驱动机构,所述遮光罩连接到所述滑块。
进一步的,所述移动组件还包括第一支架,所述滑轨竖直设置于所述第一支架上,所述第一驱动机构能够驱动所述遮光罩在竖直方向上靠近或远离所述旋转台。
进一步的,靠近所述滑轨的上下两端分别设有与所述第一支架相对固定的第一感应器和第二感应器,所述第一感应器和所述第二感应器与所述第一驱动机构电连接,用于限制所述滑块在所述滑轨上的滑动范围。
进一步的,所述移动组件还包括连接到所述滑块上的移动板,所述移动板与所述滑轨相垂直,所述移动板底部与所述遮光罩 、所述环形光源相对固定。
优选的,所述遮光罩呈筒状,所述环形光源设置于所述遮光罩内。
进一步的,所述旋转台组件包括第二驱动机构和与所述第二驱动机构的动力输出端传动连接的传动轮,所述旋转台设置于所述传动轮上,放置于所述旋转台上的所述电子元件将在所述第二驱动机构的驱动下转动。
优选的,靠近所述旋转台组件设置有第二支架,所述条形光源设置于所述第二支架上,从所述检测口对放置于所述旋转台上的所述电子元件的侧面进行照射。
优选的,靠近所述第二支架设置有第三支架,所述摄像头设置于所述第三支架上,从所述检测口对放置于所述旋转台上的所述电子元件的侧面进行拍摄。
本实用新型还提供一种外观检测装置,包括控制机构和所述的一种电子元件外观检测机构,所述控制机构与所述外观检测机构电连接,用于控制所述旋转台组件、所述移动组件和所述摄像头。
本实用新型的有益效果:
本实用新型通过设置旋转台组件,电子元件能够放置于旋转台上旋转,摄像头能够对旋转台上的电子元件进行外观检测,仅需一个摄像头即可完成对电子元件的侧面检测,降低了生产成本,提高了检测效率;通过设置环形光源,用于在电子元件顶部形成均匀光线,通过设置条形光源,用于在电子元件侧面形成高亮平行光线,便于摄像头对电子元件进行拍摄;通过设置遮光罩,屏蔽了电子元件以外的背景干扰,形成一个较为稳定的背景,提高检测精度;通过设置移动组件,用于移动遮光罩靠近或远离旋转台,便于电子元件移入移出旋转台;通过设置第一感应器和第二感应器,便于限制移动组件上的滑块的移动范围;本实用新型可实现对电子元件的侧面进行外观检测,能够屏蔽检测过程中的背景干扰,具有检测效率高、生产成本低、检测精度高的优点。
附图说明
附图1是本实用新型的遮光罩远离旋转台时的结构示意图;
附图2是本实用新型的遮光罩靠近旋转台时的结构示意图;
附图3是本实用新型的遮光罩远离旋转台时的结构示意图;
附图4是本实用新型的移动组件、遮光罩和环形光源的爆炸结构示意图;
附图5是本实用新型的旋转台组件的爆炸结构示意图;
图中标识:1-旋转台组件、110-旋转台、120-第二驱动机构、130-传动轮、140-传动带、150-调节件;2-遮光罩、210-检测口;3-环形光源;4-条形光源;5-移动组件、510-滑轨、520-滑块、530-第一驱动机构、540-第一支架、550-第一感应器、560-第二感应器、570-移动板;6-摄像头;7-第二支架;8-第三支架。
具体实施方式
下面详细描述本实用新型的实施例,所述实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,旨在用于解释本实用新型,而不能理解为对本实用新型的限制。
在本实用新型的描述中,需要理解的是,术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。
此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中,“多个”的含义是两个或两个以上,除非另有明确具体的限定。
在本实用新型实施例中,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或成一体;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
参阅附图1至附图5,图示为本实用新型所提供一种电子元件外观检测机构及外观检测装置的一个具体实施例。
参阅附图1和附图3,外观检测机构包括:
旋转台组件1,旋转台组件1上设有用于放置电子元件的旋转台110;
设置于旋转台组件1上的遮光罩2,遮光罩2侧壁形成有检测口210,遮光罩2顶部设置有环形光源3,遮光罩2侧面设置有条形光源4,环形光源3和条形光源4用于照射电子元件;
连接到遮光罩2的移动组件5,移动组件5用于移动遮光罩2靠近或远离旋转台110;
摄像头6,摄像头6用于从检测口210对电子元件进行外观检测。
参阅附图1和附图2,在上述实施例中,使用时,移动组件5连接有遮光罩2,移动组件5移动遮光罩2远离旋转台110,电子元件被送入旋转台110中,移动组件5移动遮光罩2靠近旋转台110,将电子元件罩入到遮光罩2中。遮光罩2的顶部设置有环形光源3,遮光罩2的侧面设置有条形光源4,摄像头6从遮光罩2的检测口210对电子元件进行拍摄以进行外观检测。具体的,环形光源3在电子元件顶部产生高亮的环形光,形成的光线均匀环绕电子元件,便于摄像头6通过拍摄电子元件的表面从而检测电子元件表面的字符;条形光源4在电子元件的侧面产生高亮条形光,在电子元件的侧面形成一个高亮区域,便于摄像头6通过拍摄电子元件的表面从而检测出电子元件是否存在凹凸、划痕、针孔等瑕疵。在检测过程中,旋转台110将步进式转动电子元件,在旋转台110每次转动之后,摄像头6都会对旋转之后的电子元件进行拍摄检测。实施例中,旋转台110每次转动11.25°,转动32次后便完成对电子元件的360°检测,因此仅需一个摄像头6即可完成对电子元件的侧面检测,降低了生产成本,提高了检测效率;由于遮光罩2的设置,屏蔽了电子元件以外的背景干扰,形成一个较为稳定的背景,提高检测精度。
参阅附图4,在上述实施例中,移动组件5包括滑轨510和设置于滑轨510上的滑块520,滑块520连接有用于驱动滑块520在滑轨510上移动的第一驱动机构530,遮光罩2连接到滑块520。实施例中,第一驱动机构530驱动滑块520在滑轨510上滑动,遮光罩2连接到滑块520,因此第一驱动机构530将使遮光罩2移动以靠近或远离旋转台110。
参阅附图4,在上述实施例中,移动组件5还包括第一支架540,滑轨510竖直设置于第一支架540上,第一驱动机构530能够驱动遮光罩2在竖直方向上靠近或远离旋转台110。实施例中,第一驱动机构530为气缸或电缸,竖直向上固定于第一支架540上,设置于滑块520的下方,第一驱动机构530的活塞杆连接到滑块520,驱动着遮光罩2在竖直方向上来回移动。
在上述实施例中,靠近滑轨510的上下两端分别设有与第一支架540相对固定的第一感应器550和第二感应器560,第一感应器550和第二感应器560与第一驱动机构530电连接,用于限制滑块520在滑轨510上的滑动范围。实施例中,第一感应器550和第二感应器560均为按钮开关,分别设置于滑轨510的上下两端,当滑块520在第一驱动机构530的驱动下往上移动至与第一感应器550相抵接时,第一驱动机构530将停止向上推动滑块520;相反,当滑块520在第一驱动机构530的驱动下往下移动至与第二感应器560相抵接时,第一驱动机构530将停止向下拉动滑块520;通过设置第一感应器550和第二感应器560,限制滑块520在滑轨510上的滑动范围。
参阅附图4,在上述实施例中,移动组件5还包括连接到滑块520上的移动板570,移动板570与滑轨510相垂直,移动板570底部与遮光罩2 、环形光源3相对固定。其中,遮光罩2呈筒状,环形光源3设置于遮光罩2内。实施例中,环形光源3设置于筒状的遮光罩2内的顶部,移动板570从遮光罩2的顶部固定住遮光罩2和环形光源3,且固定孔位均匀分布在遮光罩2和环形光源3上,使移动板570与遮光罩2和环形光源3之间的固定更加稳定。
参阅附图5,在上述实施例中,旋转台组件1包括第二驱动机构120和与第二驱动机构120的动力输出端传动连接的传动轮130,旋转台110设置于传动轮130上,放置于旋转台110上的电子元件将在第二驱动机构120的驱动下转动。实施例中,第二驱动机构120为电机,第二驱动机构120传动连接传动轮130,旋转台110在第二驱动机构120的驱动下,以每次转动11.25°。具体的,在第二驱动机构120的动力输出端与传动轮130之间通过传动带140实现传动,在传动带140上还设有调节件150,用于调节传动带140松紧程度。
参阅附图3,在上述实施例中,靠近旋转台组件1设置有第二支架7,条形光源4设置于第二支架7上,从检测口210对放置于旋转台110上的电子元件的侧面进行照射。实施例中,条形光源3固定于遮光罩2上,而条形光源4则固定设置于靠近旋转台组件1的位置,被支撑于第二支架7之上的条形光源4与电子元件高度相近,使条形光源4所产生的高亮光线能直接平行照射向电子元件的侧面,当第一驱动机构530驱动遮光罩2罩住旋转台110上的电子元件时,条形光源3所产生的光线能够通过检测口210照射到电子元件上。
参阅附图3,在上述实施例中,靠近第二支架7设置有第三支架8,摄像头6设置于第三支架8上,从检测口210对放置于旋转台110上的电子元件的侧面进行拍摄。实施例中,第三支架8支撑摄像头6的高度与电子元件所在的高度相近,便于摄像头6从对电子元件的侧面进行拍摄,其中,摄像头6为工业相机。
本实施例还提供一种外观检测装置,包括控制机构和上述的电子元件外观检测机构,控制机构与外观检测机构电连接,用于控制旋转台组件1、移动组件5和摄像头6。实施例中,控制机构为PLC控制器,设置于外观检测装置内且与本实施的电子元件外观检测机构电连接,具体的,本实施例的外观检测装置还包括进料机构、平移机构和下料机构,在PLC控制器的控制下,平移机构将电子元件从进料机构移动到本实施例的外观检测机构进行外观检测,检测过程中,PLC控制器控制第二驱动机构120以每次转动11.25°的方式转动旋转台110使电子元件转动,每次转动过后,摄像头6对电子元件进行拍摄识别检测,PLC控制器接收摄像头6发送的检测结果并进行筛选;最后,平移机构将电子元件从旋转台110移动到下料机构,以完成对电子元件的外观检测。
综上所述,本实施例提供一种电子元件外观检测机构及外观检测装置,通过设置旋转台组件1,电子元件能够放置于旋转台110上旋转,摄像头6能够对旋转台110上的电子元件进行外观检测,仅需一个摄像头6即可完成对电子元件的侧面检测,降低了生产成本,提高了检测效率;通过设置环形光源3,用于在电子元件顶部形成均匀光线,通过设置条形光源4,用于在电子元件侧面形成高亮平行光线,便于摄像头6对电子元件进行拍摄;通过设置遮光罩2,屏蔽了电子元件以外的背景干扰,形成一个较为稳定的背景,提高检测精度;通过设置移动组件5,用于移动遮光罩2靠近或远离旋转台110,便于电子元件移入移出旋转台110;通过设置第一感应器550和第二感应器560,便于限制移动组件5上的滑块520的移动范围;本实施例可实现对电子元件的侧面进行外观检测,能够屏蔽检测过程中的背景干扰,具有检测效率高、生产成本低、检测精度高的优点。
以上所述的实施例,只是本实用新型的较优选的具体方式之一,本领域的技术员在本实用新型技术方案范围内进行的通常变化和替换都应包含在本实用新型的保护范围内。
Claims (10)
1.一种电子元件外观检测机构,其特征在于,包括:
旋转台组件(1),所述旋转台组件(1)上设有用于放置电子元件的旋转台(110);
设置于所述旋转台组件(1)上的遮光罩(2),所述遮光罩(2)侧壁形成有检测口(210),所述遮光罩(2)顶部设置有环形光源(3),所述遮光罩(2)侧面设置有条形光源(4),所述环形光源(3)和所述条形光源(4)用于照射所述电子元件;
连接到所述遮光罩(2)的移动组件(5),所述移动组件(5)用于移动所述遮光罩(2)靠近或远离所述旋转台(110);
摄像头(6),所述摄像头(6)用于从所述检测口(210)对所述电子元件进行外观检测。
2.根据权利要求1所述的一种电子元件外观检测机构,其特征在于,所述移动组件(5)包括滑轨(510)和设置于所述滑轨(510)上的滑块(520),所述滑块(520)连接有用于驱动所述滑块(520)在所述滑轨(510)上移动的第一驱动机构(530),所述遮光罩(2)连接到所述滑块(520)。
3.根据权利要求2所述的一种电子元件外观检测机构,其特征在于,所述移动组件(5)还包括第一支架(540),所述滑轨(510)竖直设置于所述第一支架(540)上,所述第一驱动机构(530)能够驱动所述遮光罩(2)在竖直方向上靠近或远离所述旋转台(110)。
4.根据权利要求3所述的一种电子元件外观检测机构,其特征在于,靠近所述滑轨(510)的上下两端分别设有与所述第一支架(540)相对固定的第一感应器(550)和第二感应器(560),所述第一感应器(550)和所述第二感应器(560)与所述第一驱动机构(530)电连接,用于限制所述滑块(520)在所述滑轨(510)上的滑动范围。
5.根据权利要求2所述的一种电子元件外观检测机构,其特征在于,所述移动组件(5)还包括连接到所述滑块(520)上的移动板(570),所述移动板(570)与所述滑轨(510)相垂直,所述移动板(570)底部与所述遮光罩(2) 、所述环形光源(3)相对固定。
6.根据权利要求5所述的一种电子元件外观检测机构,其特征在于,所述遮光罩(2)呈筒状,所述环形光源(3)设置于所述遮光罩(2)内。
7.根据权利要求1所述的一种电子元件外观检测机构,其特征在于,所述旋转台组件(1)包括第二驱动机构(120)和与所述第二驱动机构(120)的动力输出端传动连接的传动轮(130),所述旋转台(110)设置于所述传动轮(130)上,放置于所述旋转台(110)上的所述电子元件将在所述第二驱动机构(120)的驱动下转动。
8.根据权利要求1所述的一种电子元件外观检测机构,其特征在于,靠近所述旋转台组件(1)设置有第二支架(7),所述条形光源(4)设置于所述第二支架(7)上,从所述检测口(210)对放置于所述旋转台(110)上的所述电子元件的侧面进行照射。
9.根据权利要求8所述的一种电子元件外观检测机构,其特征在于,靠近所述第二支架(7)设置有第三支架(8),所述摄像头(6)设置于所述第三支架(8)上,从所述检测口(210)对放置于所述旋转台(110)上的所述电子元件的侧面进行拍摄。
10.一种外观检测装置,其特征在于,包括控制机构和权利要求1-9任意一项所述的一种电子元件外观检测机构,所述控制机构与所述外观检测机构电连接,用于控制所述旋转台组件(1)、所述移动组件(5)和所述摄像头(6)。
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CN202222246861.0U CN218271946U (zh) | 2022-08-25 | 2022-08-25 | 一种电子元件外观检测机构及外观检测装置 |
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CN202222246861.0U Active CN218271946U (zh) | 2022-08-25 | 2022-08-25 | 一种电子元件外观检测机构及外观检测装置 |
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