CN218241318U - 内存颗粒测试设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开一种内存颗粒测试设备，涉及内存测试技术领域。所述内存颗粒测试设备包括支撑台、多个内存颗粒测试装置、多个料盒和转运机构。其中，所述支撑台上设有上料工位、下料工位和多个测试工位；多个所述内存颗粒测试装置分别设于多个所述测试工位，多个所述内存颗粒测试装置均可对所述内存颗粒进行测试；所述转运机构设于所述支撑台，所述转运机构用于将所述内存颗粒由所述上料工位移动至所述测试工位；多个所述料盒设于所述下料工位上，所述料盒用于储放所述内存颗粒，所述转运机构还用于将所述内存颗粒由所述测试工位移动至所述下料工位。本实用新型技术方案可解决现有内存颗粒测试效率低导致生产效率降低的问题。

Description

内存颗粒测试设备

技术领域

本实用新型涉及内存测试技术领域，特别涉及一种内存颗粒测试设备。

背景技术

内存条是用于储存数据的一个重要计算机部件，由于计算机的广泛普及，内存条的使用也越来越多，如果内存发生故障，会导致程序不能正常运行甚至宕机。DRAM内存颗粒是内存的基本单元，若要确保内存的可靠性，需要首先确保DRAM内存颗粒的可靠性，这就需要对DRAM内存颗粒进行测试。目前，主要是通过专门的测试机台对DRAM内存颗粒进行测试，由于测试周期长，且单次测试对DRAM内存颗粒有所限制，较低的测试效率导致DRAM内存颗粒的生产效率也较低，进一步增加了DRAM内存颗粒的生产成本。

实用新型内容

本实用新型的主要目的是提供一种内存颗粒测试设备，旨在解决现有内存颗粒测试效率低导致生产效率降低的问题。

为实现上述目的，本实用新型提出的内存颗粒测试设备，用于内存颗粒的测试，包括：

支撑台，所述支撑台上设有上料工位、下料工位和多个测试工位；

多个内存颗粒测试装置，分别设于多个所述测试工位，多个所述内存颗粒测试装置均可对所述内存颗粒进行测试；

转运机构，设于所述支撑台，所述转运机构用于将所述内存颗粒由所述上料工位移动至所述测试工位；以及

多个料盒，多个所述料盒设于所述下料工位上，所述料盒用于储放所述内存颗粒，所述转运机构还用于将所述内存颗粒由所述测试工位移动至所述下料工位。

在一实施例中，所述转运机构包括：

支架，固定连接于所述支撑台；

移动组件，安装于所述支架上；

取料组件，相对所述支撑台可移动升降地设于所述移动组件上，所述移动组件用于带动所述取料组件在水平方向上移动，所述取料组件用于取放所述内存颗粒。

在一实施例中，所述移动组件包括沿Y轴方向延伸设置的第一移动件、沿X轴方向延伸设置的第二移动件和滑块，所述第二移动件沿Y轴方向可移动的连接于所述第一移动件，所述滑块沿X轴方向可移动的连接于所述第二移动件，所述取料组件连接于所述滑块。

在一实施例中，所述第一移动件和第二移动件中的任意一者设有沿Y轴方向延伸设置的第一滑轨，另一者设有与所述第一滑轨相适配的第一滑槽；所述第二移动件和滑块中的任意一者设有沿X轴方向延伸设置的第二滑轨，另一者设有与所述第二滑轨相适配的第二滑槽。

在一实施例中，所述内存颗粒测试设备还包括控制模块，所述控制模块设于所述支撑台，且电连接于所述转运机构和多个所述内存颗粒测试装置，所述控制模块用于根据所述内存颗粒测试装置的测试结果，控制所述转运机构将所述内存颗粒移动至不同的所述料盒处。

在一实施例中，所述测试工位与所述下料工位在水平方向上相邻设置。

在一实施例中，所述内存颗粒测试设备还包括定位机构，所述定位机构设于所述支撑台上，所述定位机构用于校准所述内存颗粒，所述转运机构用于将所述内存颗粒由所述上料工位移动至所述定位机构，以及由所述定位机构移动至所述测试工位。

在一实施例中，所述定位机构包括基座和设于所述基座上的限位板，所述限位板上设有与所述内存颗粒外形相适配的限位槽。

在一实施例中，所述内存颗粒测试设备还包括保护壳，所述保护壳罩设于所述支撑台上方。

本实用新型技术方案通过在所述支撑台上设置所述上料工位和多个所述测试工位，再在多个所述测试工位上分别安装所述内存颗粒测试装置，然后在所述支撑台上设置所述转运机构，用于所述内存颗粒在所述上料工位和所述测试工位之间的移动转运，实现了所述内存颗粒由所述上料工位自动转运放置于所述内存颗粒测试装置上，提高了所述内存颗粒测试时的取放效率；多个所述内存颗粒测试装置可同时对均放置于其上的所述内存颗粒后进行测试，同时获得多个所述内存颗粒的测试结果，提高所述内存颗粒的测试效率，综合提高所述内存颗粒的生产效率，进而减小所述内存颗粒的生产成本。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本实用新型内存颗粒测试设备一实施例的结构示意图；

图2为本实用新型内存颗粒测试设备一实施例隐藏保护壳后的结构示意图；

图3为图2中A处的放大示意图；

图4为图2中B处的放大示意图；

图5为本实用新型内存颗粒测试设备一实施例中移动组件的结构示意图；

图6为图5中D出的放大示意图。

附图标号说明：

标号	名称	标号	名称
				10	内存颗粒测试设备	100	支撑台
200	内存颗粒测试装置	300	转运机构
				310	支架	320	移动组件
321	第一移动件	321a	第一滑轨
				322	第二移动件	322a	第一滑槽
322b	第二滑轨	323	滑块
				323a	第二滑槽	330	取料组件
400	料盒	500	定位机构
				510	基座	520	限位板
521	限位槽	600	保护壳

本实用新型目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

需要说明，本实用新型实施例中所有方向性指示（诸如上、下、左、右、前、后……）仅用于解释在某一特定姿态（如附图所示）下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

另外，在本实用新型中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本实用新型要求的保护范围之内。

内存条是用于储存数据的一个重要计算机部件，由于计算机的广泛普及，内存条的使用也越来越多，如果内存发生故障，会导致程序不能正常运行甚至宕机。DRAM内存颗粒是内存的基本单元，若要确保内存的可靠性，需要首先确保DRAM内存颗粒的可靠性，这就需要对DRAM内存颗粒进行测试。目前，主要是通过专门的测试机台对DRAM内存颗粒进行测试，由于测试周期长，且单次测试对DRAM内存颗粒有所限制，较低的测试效率导致DRAM内存颗粒的生产效率也较低，进一步增加了DRAM内存颗粒的生产成本。

为解决上述问题，本实用新型提出一种内存颗粒测试设备，所述内存颗粒测试设备用于内存颗粒的测试。

请参阅图1至图4，在本实施例中，所述内存颗粒测试设备10包括支撑台100、多个内存颗粒测试装置200和转运机构300。其中，所述支撑台100上设有上料工位和多个测试工位；多个所述内存颗粒测试装置200分别设于多个所述测试工位，多个所述内存颗粒测试装置200均可对所述内存颗粒进行测试；所述转运机构300设于所述支撑台100，所述转运机构300用于将所述内存颗粒由所述上料工位移动至所述测试工位。

所述内存颗粒置于所述上料工位，所述内存颗粒测试设备10工作时，所述转运机构300将位于所述上料工位处的所述内存颗粒移动转运至所述测试工位，并将所述内存颗粒置于所述内存颗粒测试装置200上。所述转运机构300在所述上料工位和不同的所述测试工位之间往复，直至所有所述内存颗粒测试装置200上都放置有内存颗粒，或放置的所述内存颗粒的数量已满足要求，再启动放置有所述内存颗粒的所述内存颗粒测试装置200，实现多个所述内存颗粒的同时测试，最终得到多个所述内存颗粒的测试结果。

通过在所述支撑台100上设置所述上料工位和多个所述测试工位，再在多个所述测试工位上分别安装所述内存颗粒测试装置200，然后在所述支撑台100上设置所述转运机构300，用于所述内存颗粒在所述上料工位和所述测试工位之间的移动转运，实现了所述内存颗粒由所述上料工位自动转运放置于所述内存颗粒测试装置200上，提高了所述内存颗粒测试时的取放效率；多个所述内存颗粒测试装置200可同时对均放置于其上的所述内存颗粒后进行测试，同时获得多个所述内存颗粒的测试结果，提高所述内存颗粒的测试效率，综合提高所述内存颗粒的生产效率，进而减小所述内存颗粒的生产成本。

请参阅图2和图5，在一实施例中，所述转运机构300包括支架310、移动组件320和取料组件330；所述支架310固定连接于所述支撑台100，所述移动组件320安装于所述支架310上，所述取料组件330相对所述支撑台100可移动升降地设于所述移动组件320上，所述移动组件320用于带动所述取料组件330在水平方向上移动，所述取料组件330用于取放所述内存颗粒。

可以理解的是，所述支架310对所述移动组件320起固定支撑作用，所述内存颗粒在由所述上料工位移动转运至所述测试工位的过程中，通过所述移动组件320带动所述取料组件330在水平方向上的移动，来是改变所述内存颗粒在水平坐标上的位置。所述取料组件330设置为相对所述支撑台100可移动升降地设于所述移动组件320上，所述取料组件330在所述上料工位处相对所述支撑台100下降，以拿取所述内存颗粒，继而相对所述支撑台100上升至一定位置，使所述取料组件330有足够的空间带动所述内存颗粒转运。所述取料组件330在所述测试工位处相对所述支撑套下降，便于释放所述内存颗粒，以使所述内存颗粒放置在所述内存颗粒测试装置200上。

请参阅图5和图6，所述移动组件320包括沿Y轴方向延伸设置的第一移动件321、沿X轴方向延伸设置的第二移动件322和滑块323，所述第二移动件322沿Y轴方向可移动的连接于所述第一移动件321，所述滑块323沿X轴轴方向可移动的连接于所述第二移动件322，所述取料组件330连接于所述滑块323。

所述第一移动件321沿Y轴方向延伸设置，且所述第二移动件322沿Y轴方向可移动的连接于所述第一移动件321，所述滑块323连接于所述第二移动件322，所述取料组件330连接于所述滑块323，通过所述第二移动件322在Y轴方向的移动，实现所述取料组件330在Y轴方向上的位置改变。所述第二移动件322沿X轴方向延伸设置，且所述滑块323沿X轴轴方向可移动的连接于所述第二移动件322，通过所述滑块323在X轴方向的移动，实现所述取料模块在X轴方向上的位置改变。

具体的，所述第一移动件321上设有沿Y轴方向延伸设置的第一滑轨321a，所述第二移动件322上设有与所述第一滑轨321a相适配的第一滑槽322a，通过所述第一滑槽322a和第一滑轨321a的滑动连接，实现所述第二移动件322沿Y轴方向的移动。

在另一实施例中，所述第一移动件321上设有沿Y轴方向延伸设置的第一滑槽322a，所述第二移动件322上设有与所述第一滑槽322a相适配的第一滑轨321a，通过所述第一滑槽322a和第一滑轨321a的滑动连接，实现所述第二移动件322沿Y轴方向的移动。

同理，所述第二移动件322和滑块323中的任意一者设有沿X轴方向延伸设置的第二滑轨322b，另一者设有与所述第二滑轨322b相适配的第二滑槽323a，通过所述第二滑槽323a和第二滑轨322b的滑动连接，实现所述滑块323沿X轴方向的移动。

请参阅图2，在一实施例中，所述支撑台100上还设有下料工位，所述下料工位上设有多个料盒400，所述料盒400用于储放所述内存颗粒，所述转运机构300还用于将所述内存颗粒由所述测试工位移动至所述下料工位。

第一批所述内存颗粒测试完毕后，需要将所述内存颗粒测试装置200上的所述内存颗粒取走，才能对下一批的所述内存颗粒进行测试，所述料盒400用于触犯测试完毕后的所述内存颗粒，且通过所述转运机构300将所述内存颗粒由所述测试工位移动至所述下料工位，具体的，将测试完毕后的所述内存颗粒由所述内存颗粒测试装置200上取走，再移动转运至所述料盒400内。

进一步的，所述内存颗粒测试设备10还包括控制模块，所述控制模块设于所述支撑台100，且电连接于所述转运机构300和多个所述内存颗粒测试装置200，所述控制模块用于根据所述内存颗粒测试装置200的测试结果，控制所述转运机构300将所述内存颗粒移动至不同的所述料盒400处。

所述料盒400的数量的为多个，可以根据所述内存颗粒测试装置200的测试结果，将不同测试结果的所述内存颗粒分类放入相应的所述料盒400内，起到筛选的作用。通过所述控制模块，实现所述内存颗粒的自动筛选，进一步提升了所述内存颗粒的测试效率。

较优的，在一实施例中，所述测试工位和所述下料工位在水平方向上相邻设置，便于所述转运机构300将测试完毕后的所述内存颗粒由所述内存颗粒测试装置200转运至所述料盒400内。

请参阅图2和图4，在一实施例中，所述内存颗粒测试设备10还包括定位机构500，所述定位机构500设于所述支撑台100上，所述定位机构500用于校准所述内存颗粒，所述转运机构300用于将所述内存颗粒由所述上料工位移动至所述定位机构500，以及由所述定位机构500移动至所述测试工位。

考虑到所述转运机构300在所述上料工位处拿取所述内存颗粒时，由于所述内存颗粒摆放的位置角度是不确定的，当所述内存颗粒转运至所述测试工位，需放置于所述内存颗粒测试装置200上时，可能出现由于所述内存颗粒位置角度的偏差导致所述内存颗粒无法顺利摆放的情况。鉴于此，通过增设所述定位机构500，当所述转运机构300在所述上料工位处拿取所述内存颗粒后，先转运至所述定位机构500处，经由所述定位机构500将所述内存颗粒的位置角度校准后，再转运至所述测试工位，以保证所述内存颗粒的顺利放置。

具体的，所述定位机构500包括基座510和设于所述基座510上的限位板520，所述限位板520上设有与所述内存颗粒外形相适配的限位槽521。所述内存颗粒转运至所述定位机构500上方时，通过将所述内存颗粒放置于所述限位槽521内，由于所述限位槽521的外形相适配，所述内存颗粒放置后所处的位置角度确定，再将其由所述限位槽521内取出，转运至所述测试工位，所述内存颗粒的位置角度确定，使得所述内存颗粒顺利放置于所述内存颗粒测试装置200上。

请参阅图1，在一实施例中，所述内存颗粒测试设备10还包括保护壳600，所述保护壳600罩设于所述支撑台100上方。所述保护框罩设于所述支撑台100上，所述内存颗粒测试装置200以及所述转运机构300位于所述保护壳600内，所述保护壳600对所述内存颗粒测试装置200、转运机构300以及需要测试的所述内存颗粒起保护作用。

以上所述仅为本实用新型的优选实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是在本实用新型的发明构思下，利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims (9)

1.一种内存颗粒测试设备，用于内存颗粒的测试，其特征在于，包括：

支撑台，所述支撑台上设有上料工位、下料工位和多个测试工位；

多个内存颗粒测试装置，分别设于多个所述测试工位，多个所述内存颗粒测试装置均可对所述内存颗粒进行测试；

转运机构，设于所述支撑台，所述转运机构用于将所述内存颗粒由所述上料工位移动至所述测试工位；以及

多个料盒，多个所述料盒设于所述下料工位上，所述料盒用于储放所述内存颗粒，所述转运机构还用于将所述内存颗粒由所述测试工位移动至所述下料工位。

2.如权利要求1所述的内存颗粒测试设备，其特征在于，所述转运机构包括：

支架，固定连接于所述支撑台；

移动组件，安装于所述支架上；

取料组件，相对所述支撑台可移动升降地设于所述移动组件上，所述移动组件用于带动所述取料组件在水平方向上移动，所述取料组件用于取放所述内存颗粒。

3.如权利要求2所述的内存颗粒测试设备，其特征在于，所述移动组件包括沿Y轴方向延伸设置的第一移动件、沿X轴方向延伸设置的第二移动件和滑块，所述第二移动件沿Y轴方向可移动的连接于所述第一移动件，所述滑块沿X轴方向可移动的连接于所述第二移动件，所述取料组件连接于所述滑块。

4.如权利要求3所述的内存颗粒测试设备，其特征在于，所述第一移动件和第二移动件中的任意一者设有沿Y轴方向延伸设置的第一滑轨，另一者设有与所述第一滑轨相适配的第一滑槽；所述第二移动件和滑块中的任意一者设有沿X轴方向延伸设置的第二滑轨，另一者设有与所述第二滑轨相适配的第二滑槽。

5.如权利要求1所述的内存颗粒测试设备，其特征在于，所述内存颗粒测试设备还包括控制模块，所述控制模块设于所述支撑台，且电连接于所述转运机构和多个所述内存颗粒测试装置，所述控制模块用于根据所述内存颗粒测试装置的测试结果，控制所述转运机构将所述内存颗粒移动至不同的所述料盒处。

6.如权利要求1所述的内存颗粒测试设备，其特征在于，所述测试工位与所述下料工位在水平方向上相邻设置。

7.如权利要求1所述的内存颗粒测试设备，其特征在于，所述内存颗粒测试设备还包括定位机构，所述定位机构设于所述支撑台上，所述定位机构用于校准所述内存颗粒，所述转运机构用于将所述内存颗粒由所述上料工位移动至所述定位机构，以及由所述定位机构移动至所述测试工位。

8.如权利要求7所述的内存颗粒测试设备，其特征在于，所述定位机构包括基座和设于所述基座上的限位板，所述限位板上设有与所述内存颗粒外形相适配的限位槽。

9.如权利要求1所述的内存颗粒测试设备，其特征在于，所述内存颗粒测试设备还包括保护壳，所述保护壳罩设于所述支撑台上方。

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