CN217818424U - 一种检验圆锥孔锥度的专用片型塞规 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了塞规量具技术领域的一种检验圆锥孔锥度的专用片型塞规，旨在解决环形塞规使用不便和耗时长的技术问题，该塞规包括上大下小的本体，在所述本体上沿其长度方向的两侧分别设有第一锥度检验面、第二锥度检验面，所述第一锥度检验面和第二锥度检验面镜像对称，且两者所对应的锥度值为待测圆锥孔的极限锥度值，同时所述本体的高度等于待测圆锥孔的深度。本实用新型结构简单，操作方便，可快速完成石墨电极圆锥孔锥度值的检验，剔除不符合锥度值要求的石墨电极，适用于石墨电极的在线检测。

Description

一种检验圆锥孔锥度的专用片型塞规

技术领域

本实用新型涉及塞规量具技术领域，具体涉及一种检验圆锥孔锥度的专用片型塞规。

背景技术

石墨电极接头是石墨电极的配件和石墨电极配套使用，如图1所示，从外形上看，石墨电极整体呈圆柱状，其两端设有同轴的圆锥孔。成品的石墨电极需要检验其两端圆锥孔的锥度值是否满足要求，如果锥度值过大，则无法与石墨电极接头进行装配，如果尺寸过小，在与石墨电极接头进行装配时会出现间隙。而现有检验方法为采用螺纹塞规进行测量，但是采用该方法步骤繁琐，耗时长（螺纹塞规的旋入与旋出），不适于在线对各个产品进行检测。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型的目的在于提供一种检验圆锥孔锥度的专用片型塞规，以解决环形塞规使用不便和耗时长的技术问题。

本实用新型所采用的技术方案为：

设计一种检验圆锥孔锥度的专用片型塞规，包括上大下小的本体，在所述本体上沿其长度方向的两侧分别设有第一锥度检验面、第二锥度检验面，所述第一锥度检验面和第二锥度检验面镜像对称，且两者所对应的锥度值为待测圆锥孔的极限锥度值，同时所述本体的高度等于待测圆锥孔的深度。

优选的，所述极限锥度值为最大锥度值。

优选的，所述极限锥度值为最小锥度值。

优选的，所述本体上设有若干减重孔。

优选的，所述本体包括左伸缩板、右伸缩板、上伸缩板、下伸缩板、横向连接板和纵向连接板，所述左伸缩板、右伸缩板、上伸缩板和下伸缩板均包括固定部和连接于固定部两端的伸缩部，且两伸缩部相对于固定部的可伸缩量相同，所述伸缩部的尺寸大于或等于固定部的尺寸；所述左伸缩板、右伸缩板的顶端分别对应与上伸缩杆的两端可拆卸连接，所述左伸缩板、右伸缩板的底端分别对应与下伸缩杆的两端可拆卸连接，所述横向连接杆的两端分别与左伸缩板、右伸缩板的固定部的中部转动连接，所述纵向连接板的两端分别与上伸缩板、下伸缩板的固定部的中部固定连接；所述左伸缩板的左侧设有所述第一锥度检验面，所述右伸缩板的右侧设有所述第二锥度检验面。

优选的，所述上伸缩板、下伸缩板的两端设有卡槽，所述左伸缩板、右伸缩板上设有与卡槽相配合的卡扣。

与现有技术相比，本实用新型的有益技术效果是：

1、本实用新型结构简单，操作方便，可快速完成石墨电极圆锥孔锥度值的检验，剔除不符合锥度值要求的石墨电极，适用于石墨电极的在线检测。

2、本实用新型中将配套使用的通规和止规设置成一体化结构，便于塞规的存储与携带。

附图说明

图1为石墨电极的结构示意图；

图2为+1′规的结构示意图之一；

图3为0规的结构示意图之一；

图4为+1′规的结构示意图之二；

图5为0规的结构示意图之二；

图6为左伸缩板的结构示意图；

图7为上伸缩板的结构示意图；

1为本体，2为第一锥度检验面，3为第二锥度检验面，4为减重孔，11为左伸缩板，12为右伸缩板，13为上伸缩板，14为下伸缩板，15为横向连接板，16为纵向连接板，21为固定部，22为伸缩部，23为卡槽，24为卡扣。

具体实施方式

下面结合附图和实施例来说明本实用新型的具体实施方式，但以下实施例只是用来详细说明本实用新型，并不以任何方式限制本实用新型的范围。以下实施例中所涉及的单元模块零部件、结构、机构等器件，如无特别说明，则均为常规市售产品。

实施例1：一种检验圆锥孔锥度的专用片型塞规，该塞规是一种没有刻度的专用量具，只能判断产品是否在规定的检验极限范围内，该量规两件为一套，包括0规和+1′规。

如图2所示，+1′规包括上大下小的本体1，本体1的高度H等于待测圆锥孔的深度，在本体1的左侧设有第一锥度检验面2、右侧设有第二锥度检验面3，第一锥度检验面2和第二锥度检验面3均为平面并镜像对称，且两者所对应的锥度值为待测圆锥孔的最大锥度值，也就是（D+-d-）/H，D+为待测圆锥孔大径端的上极限尺寸、d-为待测圆锥孔小径端的下极限尺寸。

如图3所示，0规与+1′规的结构基体相同，区别之处在于：第一锥度检验面2和第二锥度检验面3所对应的锥度值为待测圆锥孔的最小锥度值，也就是（D--d+）/H，D-为待测圆锥孔大径端的下极限尺寸、d+为待测圆锥孔小径端的上极限尺寸。

为了减轻塞规的重量，以便于携带，本体1上设有若干减重孔4。

实施例2：一种检验圆锥孔锥度的专用片型塞规，该塞规是一种没有刻度的专用量具，只能判断产品是否在规定的检验极限范围内，该量规两件为一套，包括0规和+1′规，并且0规和+1′规采用一体化设计，也就是该塞规可在0规和+1′规之间转换。

如图4-图7所示，该塞规包括上大下小的本体1，本体1的高度H等于待测圆锥孔的深度，本体1包括左伸缩板11、右伸缩板12、上伸缩板13、下伸缩板14、横向连接板15和纵向连接板16，左伸缩板11、右伸缩板12、上伸缩板13和下伸缩板14均具有两个可固定的长度，并包括固定部21和连接于固定部21两端的伸缩部22，且两伸缩部22相对于固定部21的可伸缩量相同；左伸缩板11、右伸缩板12的顶端分别对应与上伸缩杆13的两端可拆卸连接，左伸缩板11、右伸缩板12的底端分别对应与下伸缩杆14的两端可拆卸连接，横向连接杆15的两端分别与左伸缩板11、右伸缩板11的固定部21的中部转动连接，两个纵向连接板16的两端分别与上伸缩板13、下伸缩板14的固定部21的中部固定连接；左伸缩板11的左侧设有第一锥度检验面2，右伸缩板12的右侧设有第二锥度检验面3。

在本实施例中，伸缩部22由一大一小两个矩形板组成，固定部21也是矩形板，其内部设有矩形腔，伸缩部22较小的一端伸入固定部21的矩形腔内，且伸缩部22较大的一端的截面尺寸等于固定部21的尺寸。

本实施例中，左伸缩板11、右伸缩板12、上伸缩板13、下伸缩板14之间的可拆卸连接是这样实现的，上伸缩板13和下伸缩板14的左右两端均设有卡槽23，左伸缩板11和右伸缩板12的两端设有与卡槽23相配合的卡扣24。

当下伸缩板14处于伸长状态，左伸缩板11、右伸缩板12和上伸缩板13处于缩短状态时，该塞规为0规；当下伸缩板14处于缩短状态，左伸缩板11、右伸缩板12和上伸缩板13处于伸长状态时，该塞规为+1′规。

上述片型塞规的操作使用方法如下：

在检验石墨电极圆锥孔的锥度值是否满足要求时，需要0规和+1′规配合使用；检测时，+1′规大头与电极圆锥孔大径端紧密接触无间隙，两小径端之间有间隙；0规与电极圆锥孔小径端紧密接触无间隙，两大径端之间有间隙。则说明电极圆锥孔的锥度在规定的极限锥度范围内，是合格的，反之说明产品不合格。

最后说明的是，以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案而非限制，本领域普通技术人员对本实用新型的技术方案所做的其他修改或者等同替换，只要不脱离本实用新型技术方案的精神和范围，均应涵盖在本实用新型的权利要求范围当中。

Claims (6)

1.一种检验圆锥孔锥度的专用片型塞规，其特征在于：包括上大下小的本体，在所述本体上沿其长度方向的两侧分别设有第一锥度检验面、第二锥度检验面，所述第一锥度检验面和第二锥度检验面镜像对称，且两者所对应的锥度值为待测圆锥孔的极限锥度值，同时所述本体的高度等于待测圆锥孔的深度。

2.根据权利要求1所述的检验圆锥孔锥度的专用片型塞规，其特征在于：所述极限锥度值为最大锥度值。

3.根据权利要求1所述的检验圆锥孔锥度的专用片型塞规，其特征在于：所述极限锥度值为最小锥度值。

4.根据权利要求2或3所述的检验圆锥孔锥度的专用片型塞规，其特征在于：所述本体上设有若干减重孔。

5.根据权利要求1所述的检验圆锥孔锥度的专用片型塞规，其特征在于：所述本体包括左伸缩板、右伸缩板、上伸缩板、下伸缩板、横向连接板和纵向连接板，所述左伸缩板、右伸缩板、上伸缩板和下伸缩板均包括固定部和连接于固定部两端的伸缩部，且两伸缩部相对于固定部的可伸缩量相同，所述伸缩部的尺寸大于或等于固定部的尺寸；所述左伸缩板、右伸缩板的顶端分别对应与上伸缩杆的两端可拆卸连接，所述左伸缩板、右伸缩板的底端分别对应与下伸缩杆的两端可拆卸连接，所述横向连接杆的两端分别与左伸缩板、右伸缩板的固定部的中部转动连接，所述纵向连接板的两端分别与上伸缩板、下伸缩板的固定部的中部固定连接；所述左伸缩板的左侧设有所述第一锥度检验面，所述右伸缩板的右侧设有所述第二锥度检验面。

6.根据权利要求5所述的检验圆锥孔锥度的专用片型塞规，其特征在于：所述上伸缩板、下伸缩板的两端设有卡槽，所述左伸缩板、右伸缩板上设有与卡槽相配合的卡扣。

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