CN217818423U - 一种可同时测量圆度、垂直度和同轴度的专用片型塞规 - Google Patents
一种可同时测量圆度、垂直度和同轴度的专用片型塞规 Download PDFInfo
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Abstract
本实用新型公开了塞规量具技术领域的一种可同时测量圆度、垂直度和同轴度的专用片型塞规，旨在解决环形塞规使用不便和耗时长的技术问题，包括上大下小的本体以及设置于所述本体顶端的基准板，所述本体的高度大于所述待测圆锥孔的深度，所述基准板的上表面为水平基准面，且基准板的长度大于待测圆锥孔的大径端的直径，在所述本体长度方向的两侧均设有与待测圆锥孔相适配的锥度测量面；所述基准板上表面设有凸起，所述凸起上设有垂直基准面。本实用新型结构简单，使用方便，可同时快速完成石墨电极圆度、垂直度和同轴度的检测，适用于石墨电极的在线检测。
Description
技术领域
本实用新型涉及塞规量具技术领域，具体涉及一种可同时测量圆度、垂直度和同轴度的专用片型塞规。
背景技术
石墨电极接头是石墨电极的配件和石墨电极配套使用，如图1所示，从外形上看，石墨电极整体呈圆柱状，其两端设有同轴的圆锥孔。成品的石墨电极需要检验其两端圆锥孔与石墨电极之间的同轴度，圆锥孔与石墨电极端面的垂直度以及石墨电极外圆周壁的圆度；现有检验方法为采用螺纹塞规进行测量，但是采用该方法步骤繁琐，耗时长（螺纹塞规的旋入与旋出），不适于在线对各个产品进行检测。
实用新型内容
有鉴于此，本实用新型的目的在于提供一种可同时测量圆度、垂直度和同轴度的专用片型塞规，以解决环形塞规使用不便和耗时长的技术问题。
本实用新型所采用的技术方案为：
设计一种可同时测量圆度、垂直度和同轴度的专用片型塞规，包括上大下小的本体以及设置于所述本体顶端的基准板，所述本体的高度大于所述待测圆锥孔的深度，所述基准板的上表面为水平基准面，且基准板的长度大于待测圆锥孔的大径端的直径，在所述本体长度方向的两侧均设有与待测圆锥孔相适配的锥度测量面；所述基准板上表面设有凸起，所述凸起上设有垂直基准面。
优选的，所述凸起有两个，并以两锥度测量面的镜像对称面镜像对称。
优选的，所述垂直基准面为圆弧面，且所述圆弧面与标准石墨电极外圆周面同轴。
优选的，所述垂直基准面设置于两个凸台相背离的一侧。
优选的，所述基准板上设有测距孔。
优选的，所述本体上设有若干减重孔。
与现有技术相比，本实用新型的有益技术效果是：
本实用新型结构简单，使用方便，可同时快速完成石墨电极圆度、垂直度和同轴度的检测，适用于石墨电极的在线检测。
附图说明
图1为石墨电极的结构示意图；
图2为本实用新型的结构示意图；
图3为本实用新型的俯视图；
图4为本实用新型的使用状态参考图之一；
图5为本实用新型的使用状态参考图之二；
1为本体，2为基准板，3为水平基准面，4为锥度测量面，5为凸起，6为垂直基准面，7为减重孔，8为测距孔，9为石墨电极。
具体实施方式
下面结合附图和实施例来说明本实用新型的具体实施方式，但以下实施例只是用来详细说明本实用新型，并不以任何方式限制本实用新型的范围。以下实施例中所涉及的单元模块零部件、结构、机构等器件，如无特别说明，则均为常规市售产品。
实施例：如图2-图3所示，一种可同时测量圆度、垂直度和同轴度的专用片型塞规，包括上大下小、左右对称的本体1以及设置于本体1顶端的基准板2，本体1的高度H大于待测圆锥孔的深度，基准板2的上表面为水平基准面3，且基准板2的长度大于待测圆锥孔的大径端的直径，在本体1长度方向的两侧均设有与待测圆锥孔相适配的锥度测量面4。
基准板2的上表面设有两个凸起5，两个凸起5以两锥度测量面4的镜像对称面镜像对称，两个凸起5相背离的一侧设有垂直基准面6，垂直基准面6为圆弧面，且该圆弧面与标准石墨电极外圆周面同轴。
为了减轻塞规的重量，以便于携带，本体1上设有若干减重孔7。
为了便于测量水平基准面3与石墨电极端面件的距离，基准板2上设有测距孔8。
上述片型塞规的操作使用方法如下：
如图4-图5所示，测量时，两锥度测量面4与石墨电极9圆锥孔小径端内螺纹紧密接触无间隙，配合游标深度尺测量得到塞规水平基准面3与石墨电端面之间距离A，以及电极外圆周面到塞规垂直基准面6之间距离B，在被测电极端面360°圆周范围内依次间隔90°测量测量四次，共得到4组数据A1～A4和B1～B4，再根据公式计算得到被测石墨电极9的圆度、垂直度、同轴度数值。
圆度=［（A1+A3）－（A2+A4）］／12
同轴度=［MAX（｜B1-B3︱，｜B2-B4︱）］／2
垂直度=｜（A1+A4）－（A2+A3）︱×0.707
最后说明的是，以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案而非限制，本领域普通技术人员对本实用新型的技术方案所做的其他修改或者等同替换，只要不脱离本实用新型技术方案的精神和范围，均应涵盖在本实用新型的权利要求范围当中。
Claims (6)
1.一种可同时测量圆度、垂直度和同轴度的专用片型塞规，其特征在于：包括上大下小的本体以及设置于所述本体顶端的基准板，所述本体的高度大于待测圆锥孔的深度，所述基准板的上表面为水平基准面，且基准板的长度大于待测圆锥孔的大径端的直径，在所述本体长度方向的两侧均设有与待测圆锥孔相适配的锥度测量面；所述基准板上表面设有凸起，所述凸起上设有垂直基准面。
2.根据权利要求1所述的可同时测量圆度、垂直度和同轴度的专用片型塞规，其特征在于：所述凸起有两个，并以两锥度测量面的镜像对称面镜像对称。
3.根据权利要求2所述的可同时测量圆度、垂直度和同轴度的专用片型塞规，其特征在于：所述垂直基准面为圆弧面，且所述圆弧面与标准石墨电极外圆周面同轴。
4.根据权利要求3所述的可同时测量圆度、垂直度和同轴度的专用片型塞规，其特征在于：所述垂直基准面设置于两个凸台相背离的一侧。
5.根据权利要求1所述的可同时测量圆度、垂直度和同轴度的专用片型塞规，其特征在于：所述基准板上设有测距孔。
6.根据权利要求1所述的可同时测量圆度、垂直度和同轴度的专用片型塞规，其特征在于：所述本体上设有若干减重孔。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202221321918.2U CN217818423U (zh) | 2022-05-30 | 2022-05-30 | 一种可同时测量圆度、垂直度和同轴度的专用片型塞规 |
Applications Claiming Priority (1)
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Publications (1)
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Family
ID=83988718
Family Applications (1)
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| CN202221321918.2U Active CN217818423U (zh) | 2022-05-30 | 2022-05-30 | 一种可同时测量圆度、垂直度和同轴度的专用片型塞规 |
Country Status (1)
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2022
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