CN217451032U - 电子元件作业装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种电子元件作业装置，包括供收料装置、载送机构、测试装置及测试移料机构。载送机构能够在供收料装置及测试装置之间运动。测试装置包括至少一个测试模组，测试模组包括设有测试腔的壳体及设有测试工位的测试板，测试板能够收容于测试腔内，或者测试板至少部分能够从测试腔内抽出。测试移料机构设于测试装置的至少一侧，测试移料机构包括第一取放料组件，第一取放料组件能够做升降运动及沿与测试板抽出方向相交的方向做平移运动，用于将载送机构的电子元件转移至测试工位或将测试工位的电子元件转移至载送机构。如此，能够简化作业流程，提高作业效率，并且空间结构更紧凑。

Description

电子元件作业装置

技术领域

本实用新型涉及测试技术领域，特别是涉及一种电子元件作业装置。

背景技术

电子元件是电子信息产业的核心，制造完成后，需对电子元件的性能进行测试。通常地，采用具有测试模组的测试分选设备对电子元件进行自动测试。然而，在接料和出料的过程中，测试板需要完全抽离测试模组，并搭载左、右电梯上下运动，动作流程复杂，测试效率低，并且空间结构复杂。

实用新型内容

基于此，有必要提供一种电子元件作业装置，简化作业流程，提高作业效率，并且空间结构更紧凑。

一种电子元件作业装置，包括供收料装置、载送机构、测试装置及测试移料机构；

载送机构能够在所述供收料装置及所述测试装置之间运动；

测试装置包括至少一个测试模组，所述测试模组包括设有测试腔的壳体及设有测试工位的测试板，所述测试板能够收容于所述测试腔内，或者所述测试板至少部分能够从所述测试腔内抽出；

测试移料机构设于所述测试装置的至少一侧，包括第一取放料组件，所述第一取放料组件能够做升降运动及沿与所述测试板抽出方向相交的方向做平移运动，用于将所述载送机构的电子元件转移至所述测试工位或将所述测试工位的电子元件转移至所述载送机构。

在其中一个实施例中，所述第一取放料组件包括支架及安装于所述支架的多个第一吸嘴，多个所述第一吸嘴沿与所述测试板抽出方向相交的方向并排设置，用于间隔取放所述电子元件。

在其中一个实施例中，所述第一取放料组件包括支架及安装于所述支架的支撑爪，所述支撑爪设有至少两个，至少两个所述支撑爪沿与所述测试板抽出方向相交的方向相对设置，用于支撑从所述测试腔内抽出的所述测试板。

在其中一个实施例中，所述测试移料机构还包括移料驱动组件及第一移料臂，所述第一移料臂沿与所述测试板抽出方向相交的方向延伸设置，所述第一取放料组件活动地安装于所述第一移料臂，并能够在所述第一移料臂运动，所述移料驱动组件能够驱动所述第一移料臂做升降运动。

在其中一个实施例中，所述移料驱动组件包括至少一个驱动电机及至少两个丝杆模组，至少一个所述驱动电机的两侧分别设有至少一根光轴，每根所述光轴安装有至少一个换向件；至少两个所述丝杆模组分别设于至少一个所述驱动电机的两侧，至少两个所述丝杆模组的丝杆沿所述测试装置的高度方向延伸设置，并通过所述换向件分别与对应的所述光轴连接；所述第一移料臂与至少两个所述丝杆模组的丝杆螺母连接。

在其中一个实施例中，至少两个所述丝杆模组的侧部均设有导轨，所述导轨沿所述丝杆模组的长度方向延伸设置，所述第一移料臂固定有与所述导轨配合的滑块。

在其中一个实施例中，所述测试移料机构还包括第一检测传感器，所述第一检测传感器用于检测所述测试工位有无电子元件；和/或，所述第一检测传感器用于检测所述测试工位的电子元件是否放置到位；所述测试板对应所述测试工位的位置设有第二检测传感器，所述第二检测传感器用于检测所述测试工位的电子元件是否放置到位。

在其中一个实施例中，所述电子元件作业装置还包括设于所述供收料装置至少一侧的供收移料机构，所述供收移料机构包括第二取放料组件、第二移料臂及第三移料臂，所述第二移料臂沿所述测试板抽出的方向延伸设置，所述第三移料臂活动地设于所述第二移料臂，并与所述第二移料臂相交设置，且能够在所述第二移料臂上移动；所述第二取放料组件活动地设于所述第三移料臂，并能够在所述第三移料臂上移动。

在其中一个实施例中，所述第二取放料组件包括变距模组及多个第二吸嘴，多个所述第二吸嘴设于所述变距模组上，所述变距模组用于调整相邻两个所述第二吸嘴之间的间距。

在其中一个实施例中，所述供收料装置设有上料工位及收料工位；所述电子元件作业装置还包括预温盘，所述预温盘设于所述供收料装置的至少一侧；所述供收移料机构能够将所述上料工位的电子元件转移至所述预温盘、将所述预温盘的电子元件转移至所述载送机构、将所述载送机构的电子元件转移至所述预温盘、及将所述预温盘的电子元件转移至所述收料工位。

上述的电子元件作业装置，作业时，载送机构将供收料装置上待测的电子元件运送至测试装置所在位置。第一取放料组件做平移运动，直至运动到载送机构的正上方；再向下运动，获取载送机构上待测的电子元件。然后，第一取放料组件带着待测的电子元件向上运动。同时，测试板至少部分从测试腔内抽出，第一取放料组件做平移运动，直至运动至测试工位的正上方；再向下运动，将待测的电子元件放置在测试工位，完成上料动作。上料完成后，测试板返回到测试腔内进行测试。测试完成后，测试板至少部分从测试腔内抽出，第一取放料组件做平移运动和升降运动，将测试工位上已测的电子元件转移至载送机构，载送机构将已测的电子元件运送至供收料装置进行收料，完成收料动作。如此，采用该电子元件作业装置进行作业时，测试板至少部分从测试腔内抽出，第一取放料组件将载送机构上待测的电子元件转移至测试板的测试工位，并将测试工位上已测的电子元件转移到载送机构，这样测试板无需完全抽离测试模组并搭载左、右电梯上下运动，从而简化作业流程，提高作业效率。此外，测试板部分从测试腔内抽出，这样对测试装置的空间要求小，密封难度低，干燥器需求量小，资源耗费小；同时，对测试板重复定位精度要求低。

附图说明

构成本申请的一部分的附图用来提供对本实用新型的进一步理解，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。

为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获取其他的附图。

图1为本实用新型一实施例的电子元件作业装置的俯视图；

图2为图1所示的电子元件作业装置的测试模组在闭合状态的结构示意图；

图3为图1所示的电子元件作业装置的测试模组在打开状态的结构示意图；

图4为图1所示的电子元件作业装置的测试模组的结构分解图；

图5为图1所示的电子元件作业装置的测试移料机构的结构示意图；

图6为图5所示的测试移料机构的第一取放料组件的结构示意图；

图7为图5所示的测试移料机构的第一取放料组件在另一视角的结构示意图；

图8为图1所示的电子元件作业装置的供收移料机构的结构示意图。

附图标号：10、供收料装置；11、上料工位；12、收料工位；20、预温盘；21、预冷盘；22、高温盘；30、载送机构；40、测试装置；41、测试机柜；42、测试模组；421、壳体；422、测试板；4221、测试工位；423、压接机构；424、测试驱动组件；4241、电机；4242、主动轮；4243、第一从动轮；4244、第四从动轮；4245、第七从动轮；4246、第一传动带；4247、第二传动带；4248、第三传动带；4249、第四传动带；43、第二检测传感器；50、供收移料机构；51、第二取放料组件；52、第二移料臂；53、第三移料臂；60、测试移料机构；61、移料驱动组件；611、驱动电机；612、丝杆模组；613、换向件；614、光轴；615、导轨；62、第一取放料组件；621、支架；622、第一吸嘴；623、支撑爪；63、第一移料臂。

具体实施方式

为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本实用新型的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本实用新型。但是本实用新型能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本实用新型内涵的情况下做类似改进，因此本实用新型不受下面公开的具体实施例的限制。

请参阅图1、图2、图3和图5，本实用新型一实施例的电子元件作业装置，包括供收料装置10、载送机构30、测试装置40及测试移料机构60，载送机构30能够在供收料装置10及测试装置40之间运动。测试装置40包括至少一个测试模组42，测试模组42包括设有测试腔的壳体421及设有测试工位4221的测试板422，测试板422能够收容于测试腔内，或者测试板422至少部分能够从测试腔内抽出。测试移料机构60设于测试装置40的至少一侧，测试移料机构60包括第一取放料组件62，第一取放料组件62能够做升降运动及沿与测试板422抽出方向相交的方向做平移运动，用于将载送机构30上的电子元件转移至测试工位4221或将测试工位4221上的电子元件转移至载送机构30。

参阅图1，为了方便理解，采用S₁表示测试板422至少部分从测试腔内抽出的方向，S₂表示与测试板422抽出方向相交的方向。具体在本实施例中，第一取放料组件62能够沿与测试板422抽出方向垂直的方向做平移运动。

上述的电子元件作业装置，作业时，载送机构30将供收料装置10上待测的电子元件运送至测试装置40所在位置。第一取放料组件62做平移运动，直至运动到载送机构30的正上方；再向下运动，获取载送机构30上待测的电子元件。然后，第一取放料组件62带着待测的电子元件向上运动。同时，测试板422至少部分从测试腔内抽出，第一取放料组件62做平移运动，直至运动至测试工位4221的正上方；再向下运动，将待测的电子元件放置在测试工位4221，完成上料动作。上料完成后，测试板422返回到测试腔内进行测试。测试完成后，测试板422至少部分从测试腔内抽出，第一取放料组件62做平移运动和升降运动，将测试工位4221上已测的电子元件转移至载送机构30，载送机构30将已测的电子元件运送至供收料装置10进行收料，完成收料动作。如此，采用该电子元件作业装置进行作业时，测试板422至少部分从测试腔内抽出，第一取放料组件62将载送机构30上待测的电子元件转移至测试板422的测试工位4221，并将测试工位4221上已测的电子元件转移到载送机构30，这样测试板422无需完全抽离测试模组42并搭载左、右电梯上下运动，从而简化作业流程，提高作业效率。此外，测试板422部分从测试腔内抽出，这样对测试装置40的空间要求小，密封难度低，干燥器需求量小，资源耗费小；同时，对测试板422重复定位精度要求低。

在一个实施例中，参阅图1、图5和图6，第一取放料组件62包括支架621及安装于支架621的多个第一吸嘴622，多个第一吸嘴622沿与测试板422抽出方向相交的方向并排设置，用于间隔取放电子元件。如此，采用测试移料机构60进行上料和下料的过程中，多个第一吸嘴622能够间隔取放待测的电子元件和已测的电子元件，这样能够缩短取放料的时间，提高作业效率。

具体在本实施例中，参阅图4和图7，每个测试板422设有两排测试工位4221，每排设有六个测试工位4221。对应地，第一吸嘴622设有十二个，十二个第一吸嘴622沿与测试板422抽出方向相交的方向并排设置。

在一个实施例中，参阅图1、图3和图7，第一取放料组件62包括支架621及安装于支架621的支撑爪623。支撑爪623设有至少两个，至少两个支撑爪623沿与测试板422抽出方向相交的方向相对设置，用于支撑从测试腔内抽出的测试板422。如此，当测试板422至少部分从测试腔内抽出时，至少两个支撑爪623对测试板422起到支撑作用，避免测试板422抽出时出现低头的现象，保证取放料的精度，降低取放料的异常率。

需要说明的是，支撑爪623的数量可根据实际需求进行设置，只要保证支撑爪623能够支撑从测试腔内抽出的测试板422即可。具体在本实施例中，支撑爪623设有两个，两个支撑爪623沿与测试板422抽出方向相交的方向相对设置。

在一个实施例中，参阅图1和图5，测试移料机构60包括第一移料臂63，第一移料臂63沿与测试板422抽出方向相交的方向延伸设置，第一取放料组件62活动地安装于第一移料臂63，并能够在第一移料臂63做平移运动。测试移料机构60还包括移料驱动组件61，移料驱动组件61能够驱动第一移料臂63做升降运动。如此，在第一取放料组件62在移料驱动组件61和第一移料臂63的配合下，能够做升降运动；同时，第一取放料组件62能够在第一移料臂63沿与测试板422抽出方向相交的方向移动，从而将载送机构30上待测的电子元件转移至测试工位4221，或将测试工位4221上已测的电子元件转移至载送机构30，实现待测的电子元件和已测的电子元件的自动转移，提高测试效率，降低劳动强度。

可选地，参阅图5，移料驱动组件61包括至少一个驱动电机611及至少两个丝杆模组612。至少一个驱动电机611的两侧分别设有至少一根光轴614，每根光轴614安装有至少一个换向件613。至少两个丝杆模组612分别设于至少一个驱动电机611的两侧，至少两个丝杆模组612的丝杆沿测试装置40的高度方向延伸设置，并通过换向件613分别与对应的光轴614连接。第一移料臂63与至少两个丝杆模组612的丝杆螺母连接。使用时，驱动电机611带动光轴614进行旋转，通过换向件613带动丝杆进行旋转，进而带动第一移料臂63和第一取放料组件62做升降运动。第一移料臂63安装在至少两个丝杆模组612的丝杆螺母上，能够提高第一移料臂63和第一取放料组件62运动稳定性，并且第一移料臂63的运动精度高。当然，在其它实施例中，也可采用带轮组件替换丝杆模组612。

具体地，上述的换向件613为两个能够相互啮合的锥形齿轮，实现旋转换向。当然，在其它实施例中，换向件613也可为其它器件，不以此为限。

进一步地，参阅图5，至少两个丝杆模组612的侧部均设有导轨615，导轨615沿丝杆模组612的长度方向延伸设置，第一移料臂63固定有与导轨615配合的滑块。如此，第一移料臂63在导轨615和滑块的配合下，能够沿丝杆模组612做升降运动，使得第一移料臂63的运动具有导向性，避免第一移料臂63在运动的过程中出现晃动等不稳定现象，提高第一移料臂63的运动稳定性。

在一个实施例中，测试移料机构60还包括第一检测传感器，第一检测传感器用于检测测试工位4221有无电子元件；和/或，检测测试工位4221的电子元件是否放置到位。当测试板422至少部分从测试腔内抽出后，第一检测传感器检测测试工位4221有无电子元件，以便控制测试移料机构60进行取放料。此外，当第一取放料组件62将待测的电子元件放置在测试工位4221后，第一检测传感器能够检测测试工位4221上待测的电子元件是否放置到位，例如电子元件是否翘起；若电子元件未放置到位，则测试装置40进行报警，提醒测试人员及时将待测的电子元件放好在测试工位4221。

可选地，第一检测传感器为测距传感器。当然，在其它实施例中，第一检测传感器也可为其它类型的检测器件，不以此为限。

在一个实施例中，参阅图4，测试板422对应测试工位4221的位置设有第二检测传感器43，第二检测传感器43用于检测测试工位4221的电子元件是否放置到位。将待测的电子元件放置在测试工位4221，测试板422返回至测试腔内后，第二检测传感器43检测测试工位4221上待测的电子元件是否放置到位，例如检测待测的电子元件是否翘起。若待测的电子元件未放置到位，则测试装置40进行报警，提醒测试人员及时将待测的电子元件放好在测试工位4221。

可选地，第二检测传感器43为分别放置于测试板422两侧的红外发射器和红外接收器。若待测的电子元件未放置到位，例如待测的电子元件翘起，则待测的电子元件阻挡红外发射器发出的光线，红外接收器无法接收到光线，表示待测的电子元件未放置到位，并进行报警处理。

在一个实施例中，参阅图1和图8，电子元件作业装置还包括设于供收料装置10至少一侧的供收移料机构50。供收移料机构50包括第二取放料组件51、第二移料臂52及第三移料臂53，第二移料臂52沿测试板422抽出的方向延伸设置，第三移料臂53活动地设于第二移料臂52，并与第二移料臂52相交设置，且能够在第二移料臂52上移动。第二取放料组件51活动地设于第三移料臂53，并能够在第三移料臂53上移动。如此，第二取放料组件51在第二移料臂52及第三移料臂53的配合下，能够沿测试板422抽出的方向及与测试板422抽出方向相交的方向移动，将供收料装置10上待测的电子元件转移到载送机构30上，或者将载送机构30上已测的电子元件转移到供收料装置10，提高作业效率，降低劳动强度。

在本实施例中，参阅图1和图8，第二移料臂52沿测试板422抽出的方向延伸设置，第三移料臂53沿与测试板422抽出方向相交的方向延伸设置，第二取放料组件51能够在第三移料臂53沿与测试板422抽出方向相交的方向移动。

进一步地，参阅图8，第二取放料组件51包括变距模组及多个第二吸嘴，多个第二吸嘴设于变距模组上，变距模组用于调整相邻两个第二吸嘴之间的间距。可以理解的是，该第二取放料组件51为变距吸嘴结构。如此，能够适应不同参数料盘中电子元件的同取同放，提高作业效率。需要说明的是，变距模组为现有技术，在此不再详述。

在一个实施例中，参阅图1，供收料装置10设有上料工位11及收料工位12。电子元件作业装置还包括预温盘20，预温盘20设于供收料装置10的至少一侧。供收移料机构50能够将上料工位11的电子元件转移至预温盘20、将预温盘20的电子元件转移至载送机构30、将载送机构30的电子元件转移至预温盘20、及将预温盘20的电子元件转移至收料工位12。

参阅图1，测试时，供收移料机构50将上料工位11上待测的电子元件转移到预温盘20上进行预温处理。待测的电子元件完成预温处理后，供收移料机构50将预温盘20上待测的电子元件转移到载送机构30上。载送机构30将待测的电子元件运送至测试装置40所在位置，测试移料机构60将载送机构30上待测的电子元件转移到测试装置40的测试工位4221上进行测试。待测试完成后，测试移料机构60将测试工位4221上已测的电子元件转移到载送机构30上，载送机构30将已测的电子元件运送到预温盘20所在位置，供收移料机构50将载送机构30上已测的电子元件转移到预温盘20上进行回温处理。已测的电子元件完成回温处理后，供收移料机构50将预温盘20上已测的电子元件转移到供收料装置10的收料工位12。如此，完成电子元件的测试。由于供收移料机构50在上料工位11、收料工位12、预温盘20和载送机构30取放料，载送机构30往返于预温盘20和测试装置40之间输送电子元件和已测电子元件，测试移料机构60对载送机构30和测试工位4221进行取放料，实现待测的电子元件和已测的电子元件的交换输送，这样能够提高待测的电子元件和已测的电子元件的流转效率。此外，通过载送机构30实现待测的电子元件和已测的电子元件的移送，无需在预温盘20和测试装置40之间设置入料梭和出料梭，这样能够简化电子元件作业装置的结构，达到节省成本的目的。

参阅图1，具体地，预温盘20包括预冷盘21和高温盘22，预冷盘21和高温盘22并排设于供收料装置10至少一侧。测试前，根据测试需求，供收移料机构50将电子元件转移至预冷盘21进行降温处理，或者将电子元件转移至高温盘22进行升温处理。测试完成后，供收移料机构50将载送机构30上已测的电子元件转移至高温盘22进行回温处理。

在一个实施例中，参阅图1，测试装置40包括测试机柜41。测试机柜41设有至少两层容置空间，每层容置空间收容有至少两个沿与测试板422抽出方向相交的方向间隔设置的测试模组42。每个测试模组42设有多个测试工位4221。如此，充分利用测试机柜41的高度空间收容多个测试模组42，有利于缩减测试装置40的体积，减小测试装置40的占用面积。此外，可同时在多个测试工位4221放置电子元件进行测试，有利于提高测试产能。

具体到本实施例中，测试机柜41设有八层容置空间，每层容置空间收容有两个沿与测试板422抽出方向相交的方向间隔设置的测试模组42。并且，每个测试模组42设有十二个测试工位4221。如此，该测试装置40总共有192个测试工位4221，这样多个测试工位4221可同时进行测试，有利于提高测试产能。

在一个实施例中，参阅图2、图3和图4，测试模组42还包括测试驱动组件424，测试驱动组件424用于带动测试板422从测试腔内抽出，或带动测试板422返回至测试腔内。测试模组42还包括压接机构423，压接机构423设于测试腔内，并对应测试工位4221设置，且能够沿靠近或远离测试工位4221的方向移动。需要测试时，测试驱动组件424带动测试板422至少部分从测试腔内抽出，测试移料机构60将待测的电子元件放置于测试工位4221后，测试驱动组件424带动测试板422返回至测试腔内。然后，压接机构423下压，对待测的电子元件进行压接测试。待测试完成后，压接机构423向上运动，测试驱动组件424带动测试板422至少部分从测试腔内抽出。如此，实现电子元件自动测试，提高测试效率，降低劳动强度。

可选地，参阅图4，测试驱动组件424包括设于测试板422前侧的电机4241，电机4241的输出轴驱动连接有主动轮4242。电机4241的一侧设有第一传动轴，沿第一传动轴的高度方向间隔安装有第一从动轮4243、第二从动轮及第三从动轮，主动轮4242和第一从动轮4243环绕有第一传动带4246。测试板422右侧的后端设有第四从动轮4244，第三从动轮和第四从动轮4244上环绕有第二传动带4247。测试板422左侧的前端设有第二传动轴，沿第二传动轴的高度方向间隔地安装有第五从动轮及第六从动轮，第五从动轮与第二从动轮上环绕有第三传动带4248。测试板422左侧的后端设有第七从动轮4245，第六从动轮与第七从动轮4245上环绕有第四传动带4249。测试板422的左侧固定在第二传动带4247的一侧，测试板422的右侧固定在第四传动带4249的一侧。如此，保证测试板422左右两侧能够同步运动。

需要说明的是，测试板422的前端是指测试板422远离测试移料机构60的一端，测试板422的后端是指测试板422靠近测试移料机构60的一端。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方工位或工位置关系为基于附图所示的方工位或工位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方工位、以特定的方工位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“上”、“下”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种电子元件作业装置，其特征在于，包括供收料装置(10)、载送机构(30)、测试装置(40)及测试移料机构(60)；

载送机构(30)能够在所述供收料装置(10)及所述测试装置(40)之间运动；

测试装置(40)包括至少一个测试模组(42)，所述测试模组(42)包括设有测试腔的壳体(421)及设有测试工位(4221)的测试板(422)，所述测试板(422)能够收容于所述测试腔内，或者所述测试板(422)至少部分能够从所述测试腔内抽出；

测试移料机构(60)设于所述测试装置(40)的至少一侧，所述测试移料机构(60)包括第一取放料组件(62)，所述第一取放料组件(62)能够做升降运动及沿与所述测试板(422)抽出方向相交的方向做平移运动，用于将所述载送机构(30)上的电子元件转移至所述测试工位(4221)或将所述测试工位(4221)上的电子元件转移至所述载送机构(30)。

2.根据权利要求1所述的电子元件作业装置，其特征在于，所述第一取放料组件(62)包括支架(621)及安装于所述支架(621)的多个第一吸嘴(622)，多个所述第一吸嘴(622)沿与所述测试板(422)抽出方向相交的方向并排设置，用于间隔取放所述电子元件。

3.根据权利要求1所述的电子元件作业装置，其特征在于，所述第一取放料组件(62)包括支架(621)及安装于所述支架(621)的支撑爪(623)，所述支撑爪(623)设有至少两个，至少两个所述支撑爪(623)沿与所述测试板(422)抽出方向相交的方向相对设置，用于支撑从所述测试腔内抽出的所述测试板(422)。

4.根据权利要求1所述的电子元件作业装置，其特征在于，所述测试移料机构(60)还包括第一移料臂(63)，所述第一移料臂(63)沿与所述测试板(422)抽出方向相交的方向延伸设置，所述第一取放料组件(62)活动地安装于所述第一移料臂(63)，并能够在所述第一移料臂(63)运动；所述测试移料机构(60)还包括移料驱动组件(61)，所述移料驱动组件(61)能够驱动所述第一移料臂(63)做升降运动。

5.根据权利要求4所述的电子元件作业装置，其特征在于，所述移料驱动组件(61)包括至少一个驱动电机(611)及至少两个丝杆模组(612)，至少一个所述驱动电机(611)的两侧分别设有至少一根光轴(614)，每根所述光轴(614)安装有至少一个换向件(613)；至少两个所述丝杆模组(612)分别设于至少一个所述驱动电机(611)的两侧，至少两个所述丝杆模组(612)的丝杆沿所述测试装置(40)的高度方向延伸设置，并通过所述换向件(613)分别与对应的所述光轴(614)连接；所述第一移料臂(63)与至少两个所述丝杆模组(612)的丝杆螺母连接。

6.根据权利要求5所述的电子元件作业装置，其特征在于，至少两个所述丝杆模组(612)的侧部均设有导轨(615)，所述导轨(615)沿所述丝杆模组(612)的长度方向延伸设置，所述第一移料臂(63)固定有与所述导轨(615)配合的滑块。

7.根据权利要求1所述的电子元件作业装置，其特征在于，所述测试移料机构(60)还包括第一检测传感器，所述第一检测传感器用于检测所述测试工位(4221)有无电子元件；和/或，所述第一检测传感器用于检测所述测试工位(4221)的电子元件是否放置到位；

所述测试板(422)对应所述测试工位(4221)的位置设有第二检测传感器(43)，所述第二检测传感器(43)用于检测所述测试工位(4221)的电子元件是否放置到位。

8.根据权利要求1至7任一项所述的电子元件作业装置，其特征在于，所述电子元件作业装置还包括设于所述供收料装置(10)至少一侧的供收移料机构(50)，所述供收移料机构(50)包括第二取放料组件(51)、第二移料臂(52)及第三移料臂(53)，所述第二移料臂(52)沿所述测试板(422)抽出的方向延伸设置，所述第三移料臂(53)活动地设于所述第二移料臂(52)，并与所述第二移料臂(52)相交设置，且能够在所述第二移料臂(52)上移动；所述第二取放料组件(51)活动地设于所述第三移料臂(53)，并能够在所述第三移料臂(53)上移动。

9.根据权利要求8所述的电子元件作业装置，其特征在于，所述第二取放料组件(51)包括变距模组及多个第二吸嘴，多个所述第二吸嘴设于所述变距模组上，所述变距模组用于调整相邻两个所述第二吸嘴之间的间距。

10.根据权利要求8所述的电子元件作业装置，其特征在于，所述供收料装置(10)设有上料工位(11)及收料工位(12)；

所述电子元件作业装置还包括预温盘(20)，所述预温盘(20)设于所述供收料装置(10)的至少一侧；

所述供收移料机构(50)能够将所述上料工位(11)的电子元件转移至所述预温盘(20)、将所述预温盘(20)的电子元件转移至所述载送机构(30)、将所述载送机构(30)的电子元件转移至所述预温盘(20)、及将所述预温盘(20)的电子元件转移至所述收料工位(12)。

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