CN217332663U - 一种半导体制冷片重复电流启动停止测试的老化装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种半导体制冷片重复电流启动停止测试的老化装置，涉及半导体制冷片老化测试技术领域，包括框架整体，所述框架整体的安装台顶面安装有测试台，所述测试台顶面两侧的凹槽内安装有弹簧，所述测试台顶面安装有限位板，且限位板的两端分别与弹簧固定，所述限位板底面阵列有压板，所述压板底面的凹槽内安装有温度传感器，所述测试台背面设有存储箱，所述存储箱内部安装有置物板，所述存储箱顶面的凹槽内设有推板，可对多个待测试的半导体制冷片同时进行测试，方便工作人员将产品限位，便于接线测试，提高了检测效率，同时可对多个产品同时进行上下料，结构简单，成本低，降低劳动力，提高了测试效率。

Description

一种半导体制冷片重复电流启动停止测试的老化装置

技术领域

本实用新型涉及半导体制冷片老化测试技术领域，尤其涉及一种半导体制冷片重复电流启动停止测试的老化装置。

背景技术

根据专利号为CN201921597720.5，一种基于恒温平台的半导体制冷片老化测试治具，其包括：恒温平台、电源、温度监控记录仪和电控装置，所述半导体制冷片设置在恒温平台上，所述电控装置线性连接在电源与半导体制冷片之间进行半导体制冷片的间歇性供电，所述温度监控记录仪的探头与半导体制冷片的表面相连接进行温度监测。本实用新型所述的基于恒温平台的半导体制冷片老化测试治具，满足各种环境温度的设定，使得测试更加真实，通电一定时间，然后再断电一段时间使其冷却，并设定目标循环测试次数，实现半导体制冷片的自动老化测试，降低人工成本，提升产品出厂的品质。

上述专利设备在对半导体制冷片进行老化测试时无法实现产品的自动上下料，并且在对产品检测时产品容易偏移，不方便工作人员对产品进行测试。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种半导体制冷片重复电流启动停止测试的老化装置。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：一种半导体制冷片重复电流启动停止测试的老化装置，包括框架整体，所述框架整体的安装台顶面安装有测试台，所述测试台顶面两侧的凹槽内安装有弹簧，所述测试台顶面安装有限位板，且限位板的两端分别与弹簧固定，所述限位板底面阵列有压板，所述压板底面的凹槽内安装有温度传感器，所述测试台背面设有存储箱，所述存储箱内部安装有置物板，所述存储箱顶面的凹槽内设有推板。

优选的，所述弹簧中部设有电磁铁，且电磁铁与测试台顶面的凹槽内螺栓固定，且电磁铁与限位板的两端相互磁吸。

优选的，所述存储箱与测试台背面相互贴合，且存储箱放置于框架整体安装台顶面的凹槽内，且存储箱与测试台高度平齐。

优选的，所述存储箱内螺栓固定有气缸，且气缸的伸缩端与置物板底面螺栓固定。

优选的，所述存储箱顶面的凹槽内安装有丝杆，且推板的两端分别套接于丝杆的表面，一侧所述丝杆的一端通过联轴器连接有电机。

优选的，所述电机通过螺栓与框架整体内的一面固定，所述两个丝杆之间设有传动带，且传动带的两端分别套接于丝杆的表面。

优选的，所述框架整体的安装台顶面放置有回收箱，且回收箱与测试台的正面相抵。

有益效果

本实用新型中，通过将待测试的半导体制冷片依次放入测试台顶面，工作人员将电磁铁打开，由上往下将限位板下压，限位板对弹簧挤压直到限位板的两端与电磁铁磁吸固定，通过限位板底面的压板对产品进行夹持固定，工作人员将线路与待测试产品连接，控制框架整体对应的控制面板可对产品进行同时的测试，压板底面安装有温度传感器，可实时检测产品的温度，并通过框架整体内部的显示器直接观察测试情况，测试后将电磁铁关闭，通过弹簧回弹的作用下可将压板弹出，工作人员将产品回收即可，如有不合格的产品直接将不合格的产品手动取出即可，实现了可对多个待测试的半导体制冷片同时进行测试，方便工作人员将产品限位，便于接线测试，提高了检测效率。

本实用新型中，通过将半导体制冷片累积有序的放入置物板顶面，在需要对置物板上的产品进行检测时，启动存储箱内的气缸，气缸的伸缩端推动置物板上升，使置物板最上方的半导体制冷片与测试台平齐，此时通过电机带动丝杆转动，推板将最上方的产品推出至测试台顶面，产品位于测试台顶面后推板归位，通过限位板底面的压板对产品夹持后，将线路与产品连接开始对产品进行测试，测试后限位板上升，再次将置物板最上方的产品与测试台平齐，推板将下一批产品推出至测试台上，将测试台测试后的产品挤出，测试后的产品落入回收箱中等待集体回收，实现了可对多个产品同时进行上下料，结构简单，成本低，降低劳动力，提高了测试效率。

附图说明

图1为本实用新型的轴测图；

图2为本实用新型的立体图；

图3为本实用新型的剖视图；

图4为本实用新型的存储箱整体图。

图例说明：

1、框架整体；2、测试台；3、弹簧；4、电磁铁；5、限位板；6、压板；7、温度传感器；8、存储箱；9、气缸；10、置物板；11、丝杆；12、电机；13、传动带；14、推板；15、回收箱。

具体实施方式

为了使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施例和附图，进一步阐述本实用新型，但下述实施例仅仅为本实用新型的优选实施例，并非全部。基于实施方式中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得其它实施例，都属于本实用新型的保护范围。

下面结合附图描述本实用新型的具体实施例。

具体实施例：

参照图1-4，一种半导体制冷片重复电流启动停止测试的老化装置，包括框架整体1，框架整体1的安装台顶面安装有测试台2，测试台2顶面两侧的凹槽内安装有弹簧3，测试台2顶面安装有限位板5，限位板5的两端分别与弹簧3固定，弹簧3中部设有电磁铁4，电磁铁4与测试台2顶面的凹槽内螺栓固定，电磁铁4与限位板5的两端相互磁吸，限位板5底面阵列有压板6，压板6底面的凹槽内安装有温度传感器7，通过将待测试的半导体制冷片依次放入测试台2顶面，工作人员将电磁铁4打开，由上往下将限位板5下压，限位板5对弹簧3挤压直到限位板5的两端与电磁铁4磁吸固定，通过限位板5底面的压板6对产品进行夹持固定，工作人员将线路与待测试产品连接，控制框架整体1对应的控制面板可对产品进行同时的测试，压板6底面安装有温度传感器7，可实时检测产品的温度，并通过框架整体1内部的显示器直接观察测试情况，测试后将电磁铁4关闭，通过弹簧3回弹的作用下可将压板6弹出，工作人员将产品回收即可，如有不合格的产品直接将不合格的产品手动取出即可。

测试台2背面设有存储箱8，存储箱8与测试台2背面相互贴合，存储箱8放置于框架整体1安装台顶面的凹槽内，存储箱8与测试台2高度平齐，存储箱8内部安装有置物板10，存储箱8内螺栓固定有气缸9，气缸9的伸缩端与置物板10底面螺栓固定，通过将半导体制冷片累积有序的放入置物板10顶面，在需要对置物板10上的产品进行检测时，启动存储箱8内的气缸9，气缸9的伸缩端推动置物板10上升，使置物板10最上方的半导体制冷片与测试台2平齐，存储箱8顶面的凹槽内设有推板14，存储箱8顶面的凹槽内安装有丝杆11，推板14的两端分别套接于丝杆11的表面，一侧丝杆11的一端通过联轴器连接有电机12，电机12通过螺栓与框架整体1内的一面固定，两个丝杆11之间设有传动带13，传动带13的两端分别套接于丝杆11的表面，此时通过电机12带动丝杆11转动，推板14将最上方的产品推出至测试台2顶面，产品位于测试台2顶面后推板14归位，通过限位板5底面的压板6对产品夹持后，将线路与产品连接开始对产品进行测试，框架整体1的安装台顶面放置有回收箱15，回收箱15与测试台2的正面相抵，测试后限位板5上升，再次将置物板10最上方的产品与测试台2平齐，推板14将下一批产品推出至测试台2上，将测试台2测试后的产品挤出，测试后的产品落入回收箱15中等待集体回收。

本实用新型的工作原理：通过将待测试的半导体制冷片依次放入测试台2顶面，工作人员将电磁铁4打开，由上往下将限位板5下压，限位板5对弹簧3挤压直到限位板5的两端与电磁铁4磁吸固定，通过限位板5底面的压板6对产品进行夹持固定，工作人员将线路与待测试产品连接，控制框架整体1对应的控制面板可对产品进行同时的测试，压板6底面安装有温度传感器7，可实时检测产品的温度，并通过框架整体1内部的显示器直接观察测试情况，测试后将电磁铁4关闭，通过弹簧3回弹的作用下可将压板6弹出，工作人员将产品回收即可，如有不合格的产品直接将不合格的产品手动取出即可，通过将半导体制冷片累积有序的放入置物板10顶面，在需要对置物板10上的产品进行检测时，启动存储箱8内的气缸9，气缸9的伸缩端推动置物板10上升，使置物板10最上方的半导体制冷片与测试台2平齐，此时通过电机12带动丝杆11转动，推板14将最上方的产品推出至测试台2顶面，产品位于测试台2顶面后推板14归位，通过限位板5底面的压板6对产品夹持后，将线路与产品连接开始对产品进行测试，测试后限位板5上升，再次将置物板10最上方的产品与测试台2平齐，推板14将下一批产品推出至测试台2上，将测试台2测试后的产品挤出，测试后的产品落入回收箱15中等待集体回收。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的仅为本实用新型的优选例，并不用来限制本实用新型，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

Claims (7)

1.一种半导体制冷片重复电流启动停止测试的老化装置，包括框架整体（1），其特征在于：所述框架整体（1）的安装台顶面安装有测试台（2），所述测试台（2）顶面两侧的凹槽内安装有弹簧（3），所述测试台（2）顶面安装有限位板（5），且限位板（5）的两端分别与弹簧（3）固定，所述限位板（5）底面阵列有压板（6），所述压板（6）底面的凹槽内安装有温度传感器（7），所述测试台（2）背面设有存储箱（8），所述存储箱（8）内部安装有置物板（10），所述存储箱（8）顶面的凹槽内设有推板（14）。

2.根据权利要求1所述的一种半导体制冷片重复电流启动停止测试的老化装置，其特征在于：所述弹簧（3）中部设有电磁铁（4），且电磁铁（4）与测试台（2）顶面的凹槽内螺栓固定，且电磁铁（4）与限位板（5）的两端相互磁吸。

3.根据权利要求1所述的一种半导体制冷片重复电流启动停止测试的老化装置，其特征在于：所述存储箱（8）与测试台（2）背面相互贴合，且存储箱（8）放置于框架整体（1）安装台顶面的凹槽内，且存储箱（8）与测试台（2）高度平齐。

4.根据权利要求1所述的一种半导体制冷片重复电流启动停止测试的老化装置，其特征在于：所述存储箱（8）内螺栓固定有气缸（9），且气缸（9）的伸缩端与置物板（10）底面螺栓固定。

5.根据权利要求1所述的一种半导体制冷片重复电流启动停止测试的老化装置，其特征在于：所述存储箱（8）顶面的凹槽内安装有丝杆（11），且推板（14）的两端分别套接于丝杆（11）的表面，一侧所述丝杆（11）的一端通过联轴器连接有电机（12）。

6.根据权利要求5所述的一种半导体制冷片重复电流启动停止测试的老化装置，其特征在于：所述电机（12）通过螺栓与框架整体（1）内的一面固定，所述两个丝杆（11）之间设有传动带（13），且传动带（13）的两端分别套接于丝杆（11）的表面。

7.根据权利要求1所述的一种半导体制冷片重复电流启动停止测试的老化装置，其特征在于：所述框架整体（1）的安装台顶面放置有回收箱（15），且回收箱（15）与测试台（2）的正面相抵。

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