CN217225257U - 一种半导体测试治具 - Google Patents

Abstract

一种半导体测试治具，包括固定板，固定板的内部中间固定连接有双向同步电机，固定板的两侧中间均转动连接有转轮，转轮的两侧均转动连接有齿轮，齿轮相对一侧中间均固定连接有连接柱，连接柱的两端侧壁分别均匀的设置有固定块与连接块，与现有技术相比，本实用新型的有益效果包括：通过伺服电机运转便于控制其中一端的限位块进行移动，配合另一端的限位块便于调节半导体夹持限位的位置，同时便于对不同规格的半导体进行限位夹持，便于调节限位固定，便于调节使用进行测试；通过双向同步电机运转便于同时控制两个连接柱进行转动，便于对夹持的半导体进行同时转动调节，便于有序、持续的进行转动调节测试，便于提升测试效率与效果。

Description

一种半导体测试治具

技术领域

本实用新型涉及半导体技术领域，具体涉及一种半导体测试治具。

背景技术

现实生活中，随着生产技术的不断提升，用于半导体的测试治具也在不断的发展、提升。

现有技术中，一般的半导体测试治具不便于对半导体进行调节夹持限位，从而影响使用效果与测试，同时不便于调节转动进行测试。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是不便于调节限位与转动测试，为此提供一种半导体测试治具。

本实用新型解决技术问题采用的技术方案是：一种半导体测试治具，其包括：固定板，所述固定板的内部中间固定连接有双向同步电机，所述固定板的两侧中间均转动连接有转轮，所述转轮的两侧均转动连接有齿轮，所述齿轮相对一侧中间均固定连接有连接柱，所述连接柱的两端侧壁分别均匀的设置有固定块与连接块。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述双向同步电机的两端均固定连接有连接杆，所述转轮均固定连接在连接杆的另一端，所述转轮均与齿轮对应匹配且相互之间啮合连接，通过与齿轮啮合连接的转轮便于同时控制齿轮进行转动，便于后续配合调节转动。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述连接柱的内部一端均固定连接有伺服电机，所述伺服电机的输出端均固定连接有丝杆，所述丝杆的另一端均转动连接在连接柱的另一端，所述丝杆上螺纹连接有滑块，通过伺服电机运转便于控制滑块进行移动，便于配合调节对半导体进行夹持测试。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述滑块滑动连接在连接柱的内部中间，所述滑块的侧壁均匀的固定连接有连接块，所述连接块上与伺服电机对应的一侧均转动连接有固定杆，所述固定杆的另一端均固定连接有限位块，通过转动限位块从而便于对半导体进行进一步转动调节，便于进一步提升调节测试效果。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述固定块分别均匀的固定连接在连接柱侧壁远离连接块的一端，所述固定块的顶部中间均螺纹连接有限位杆，所述限位杆的另一端贯穿固定块，所述限位块均转动连接在限位杆的另一端，通过转动限位杆便于控制其中一端限位块进行移动，便于分别控制对半导体进行拿取、放置。

本实用新型具有以下优点：通过伺服电机运转便于控制其中一端的限位块进行移动，配合另一端的限位块便于调节半导体夹持限位的位置，同时便于对不同规格的半导体进行限位夹持，便于调节限位固定，便于调节使用进行测试；通过双向同步电机运转便于同时控制两个连接柱进行转动，便于对夹持的半导体进行同时转动调节，便于有序、持续的进行转动调节测试，便于提升测试效率与效果。

附图说明

图1是本实用新型一优选实施例的俯视剖视结构示意图；

图2是本实用新型一优选实施例的A处放大结构示意图；

图3是本实用新型一优选实施例的B处放大结构示意图。

附图标记说明：1、固定板；2、双向同步电机；3、连接杆；4、转轮；5、齿轮；6、连接柱；7、固定块；8、限位杆；9、限位块； 10、伺服电机；11、丝杆；12、滑块；13、连接块；14、固定杆。

具体实施方式

下面将结合附图对本实用新型的技术方案进行清楚、完整地描述。在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语″中心″、″上″、″下″、″左″、″右″、″竖直″、″水平″、″内″、″外″等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语″第一″、″第二″、″第三″仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相正对地重要性。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语″安装″、″相连″、″连接″应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

下面结合附图对本实用新型作进一步说明。

请结合参阅图1-3，本实用新型一种半导体测试治具，包括固定板1，固定板1的内部中间固定连接有双向同步电机2，固定板1的两侧中间均转动连接有转轮4，转轮4的两侧均转动连接有齿轮5，通过双向同步电机2运转从而便于控制转轮4转动，从而便于同时控制齿轮5转动，从而便于后续配合对半导体测试进行转动调节，便于配合进行测试，便于提升测试效果与效率，齿轮5相对一侧中间均固定连接有连接柱6，连接柱6的两端侧壁分别均匀的设置有固定块 7与连接块13，通过固定块7配合连接块13从而便于对半导体进行调节夹持限位，便于调节使用，便于进行测试。

其中，连接杆3分别固定连接在双向同步电机2的两端，连接杆3的另一端均固定连接有转轮4，齿轮5均与转轮4对应匹配且相互之间啮合连接，通过双向同步电机2运转便于控制转轮4转动，从而便于同时控制齿轮5进行转动，从而便于后后续同时对两侧的半导体进行转动调节，便于配合调节测试，提升测试效果与效率。

其中，伺服电机10均固定连接在连接柱6的内部一端，连接柱 6的另一端均转动连接有丝杆11，丝杆11的另一端均与伺服电机 10的输出端固定连接，滑块12均螺纹连接在丝杆11上，通过伺服电机10运转从而便于后续对连接块13进行位置调节，便于调节对半导体进行限位固定，便于调节使用、测试。

其中，连接柱6的内部中间均滑动连接有滑块12，连接块13 均匀的固定连接在滑块12的侧壁，固定杆14均转动连接在连接块 13上与伺服电机10对应的一侧，限位块9均固定连接在固定杆14 的另一端，通过滑块12移动便于控制限位块9进行移动，从而便于配合调节对不同规格的半导体进行夹持限位，便于调节使用、测试。

其中，连接柱6侧壁远离连接块13的一端分别均匀的固定连接有固定块7，限位杆8均螺纹连接在固定块7的顶部中间，固定块7 均与限位杆8的另一端贯穿连接，限位杆8的另一端均转动连接有限位块9，通过转动限位杆8从而便于控制限位块9进行移动，从而便于对半导体进行分开拿取、放置，便于调节使用。

具体的，本实用新型使用时，同时通过固定连接在连接柱6内部一端的伺服电机10运转，从而便于控制丝杆11上的滑块12在连接柱6内部中间进行移动，从而便于控制滑块12侧壁的固定杆14一端的限位块9进行移动，从而便于配合另一端的限位块9，从而便于调节半导体夹持限位的位置，同时便于对不同规格的半导体进行限位夹持，便于调节限位固定，便于调节使用进行测试；同时通过转动限位杆8便于控制其中一端限位块9进行移动，从而便于对夹持的半导体进行分开拿取、放置，便于调节使用，同时便于通过转动限位块 9便于对夹持的半导体进行进一步的转动调节，便于提升测试效果；然后在测试过程中，通过双向同步电机2运转从而便于控制两个转轮 4转动，从而便于分别同时控制转轮4两侧的齿轮5进行转动，从而便于同时控制两个连接柱6进行转动，便于对夹持的半导体进行同时转动调节，便于有序、持续的进行转动调节测试，便于提升测试效率与效果。

以上仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本实用新型的保护范围。

本实用新型中其他未详述部分均属于现有技术，故在此不再赘述。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的范围。

Claims (5)

1.一种半导体测试治具，包括固定板(1)，其特征在于，所述固定板(1)的内部中间固定连接有双向同步电机(2)，所述固定板(1)的两侧中间均转动连接有转轮(4)，所述转轮(4)的两侧均转动连接有齿轮(5)，所述齿轮(5)相对一侧中间均固定连接有连接柱(6)，所述连接柱(6)的两端侧壁分别均匀的设置有固定块(7)与连接块(13)。

2.如权利要求1所述的一种半导体测试治具，其特征在于，所述双向同步电机(2)的两端均固定连接有连接杆(3)，所述转轮(4)均固定连接在连接杆(3)的另一端，所述转轮(4)均与齿轮(5)对应匹配且相互之间啮合连接。

3.如权利要求1所述的一种半导体测试治具，其特征在于，所述连接柱(6)的内部一端均固定连接有伺服电机(10)，所述伺服电机(10)的输出端均固定连接有丝杆(11)，所述丝杆(11)的另一端均转动连接在连接柱(6)的另一端，所述丝杆(11)上螺纹连接有滑块(12)。

4.如权利要求3所述的一种半导体测试治具，其特征在于，所述滑块(12)滑动连接在连接柱(6)的内部中间，所述滑块(12)的侧壁均匀的固定连接有连接块(13)，所述连接块(13)上与伺服电机(10)对应的一侧均转动连接有固定杆(14)，所述固定杆(14)的另一端均固定连接有限位块(9)。

5.如权利要求4所述的一种半导体测试治具，其特征在于，所述固定块(7)分别均匀的固定连接在连接柱(6)侧壁远离连接块(13)的一端，所述固定块(7)的顶部中间均螺纹连接有限位杆(8)，所述限位杆(8)的另一端贯穿固定块(7)，所述限位块(9)均转动连接在限位杆(8)的另一端。

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