CN217006323U - 电子零件测试装置及其测试板构造 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种电子零件测试装置及其测试板构造，该测试板下表面设有多个凹设浅穴，该凹设浅穴采用每一该座槽底部各朝槽缘外侧扩增一具有几何形状的第一边界的第一凹设浅穴；或在两相邻的行的两座槽间设有具几何形状的第二边界的第二凹设浅穴，该第二边界为一封闭状，在该测试板径向同一行设有多个该第二凹设浅穴；借此使加工较容易，成本可以降低。

Description

电子零件测试装置及其测试板构造

技术领域

本实用新型有关于一种测试装置及其测试板构造，尤指一种使用在电子零件检测中用以搬送待测零件进行测试检查的电子零件测试装置电子零件测试装置及其测试板构造。

背景技术

一般电子零件在制造完成后通常需经过测试以确定其物理特性，例如用于电容类的电子零件测试的公告号码第411735号的「电路元件装卸装置」专利申请案所提供的设备，其以圆盘状的测试板上形成一个或数个元件槽座的同心环座可相对于环心旋转，槽座均匀地以角度间隔并以增量方式旋转，而该旋转增量即是相邻槽座间的角度间隔，该环座以某个角度顷斜，而且当环座旋转时，元件流路向环座倾倒元件，邻接于槽座的外板侧边的固定栅板局限未归位的元件因动力而随机滚落于通过环座旋转路径的弧段的空槽座，随机的滚动使元件归位入槽座中，在旋转环座的路径中有用以连接元件和测试机的电子接触器，被测试过的元件经过一喷出歧管的下方，该喷出歧管板界定了许多喷出孔，而每当环座旋转一增量时喷出孔则与一组槽座相互对齐，喷出管与喷出口相连接，元件被选择性启动的各个气压阀门的空气的鼓风而从槽座喷出，由空气的鼓风和重力作用，喷出的元件经由管子落下并依管路板的导引进入分类储盒中，元件流路能响应于表示栅板缺少元件的检测器的信号而选择性地被引向该栅板，感应器能检测出在座槽中尚未被喷出歧管所喷出的元件。

JA2021—190604「电子零件检查分选装置用的晶片电子零件搬送圆盘」日本特许专利案针对该测试板公开一种搬送圆盘，在输送圆盘的背面形成有同心圆状的凹槽，所述同心圆状的凹槽将以同心圆状形成有多列的通孔群的各自内包；另亦公开在搬送圆盘的背面形成凹槽，该凹槽与在半径方向上形成多列的通孔群的各列并列。

该JA2021—190604日本专利申请案的先前技术虽然借由在搬送圆盘的背面形成凹槽，但其凹槽的面积庞大，并涵盖多个同心圆的整个环状面积，或与半径方向上多列通孔群并列，凹槽的面积庞大不仅造成加工上的费时及高成本，使本来就已相当薄的搬送圆盘更显得强度变弱而容易损坏；另，由于一般测试板常位于一承载底盘上作间歇性旋转磨擦，该凹槽为避免测试板强度变弱，故都仅以极微深度为之，故长期磨擦造成的磨损易使凹槽破坏，失去其完整的凹槽边界；又，由于待测零件通常一次倒入众多，而座槽开口甚微小，为求快速入料于该座槽，仍有待改善之处。

实用新型内容

因此，本实用新型的目的在于提供一种改善先前技术至少一项缺失的电子零件测试装置的测试板构造。

本实用新型的另一目的在于提供一种使用如所述测试板的电子零件测试装置。

依据本实用新型目的的电子零件测试装置的测试板构造，包括：

由非导电材料制成圆形薄片状，其上表面设有在径向相隔间距的多列同心环状设置的镂设的座槽，该座槽每一列环状相隔间距设置多数个，各列径向对应的该座槽间隔排列呈多数行；该测试板下表面每一该座槽底部各径向伸设一段凹设的导沟；该测试板下表面设有多个凹设浅穴，该凹设浅穴包括在每一该座槽底部各朝槽缘外侧扩增一具有几何形状的第一边界的第一凹设浅穴。

依据本实用新型目的的另一电子零件测试装置的测试板构造，包括：由非导电材料制成圆形薄片状，其上表面设有在径向相隔间距的多列同心环状设置的镂设的座槽，该座槽每一列环状相隔间距设置多数个，各列径向对应的该座槽间隔排列呈多数行；该测试板下表面每一该座槽底部各径向伸设一段凹设的导沟；该测试板下表面设有多个凹设浅穴，该凹设浅穴包括在两相邻的行的两座槽间设有具几何形状的第二边界的第二凹设浅穴；该第二边界为一封闭状，在该测试板径向同一行设有多个该第二凹设浅穴。

依据本实用新型目的的又一电子零件测试装置的测试板构造，包括：由非导电材料制成圆形薄片状，其上表面设有在径向相隔间距的多列同心环状设置的镂设的座槽，该座槽每一列环状相隔间距设置多数个，各列径向对应的该座槽间隔排列呈多数行；该测试板下表面每一该座槽底部各径向伸设一段凹设的导沟；该测试板下表面设有多个凹设浅穴，该凹设浅穴包括在该座槽底部各朝槽缘外侧扩增的第一凹设浅穴、位于两座槽间的第二凹设浅穴。

依据本实用新型再一目的的电子零件测试装置的测试板构造，包括：由非导电材料制成圆形薄片状，其中间设有供固定的固定孔，上表面则设有在径向相隔间距的多列同心环状设置的镂设的座槽，该座槽每一列环状相隔间距设置多数个，各列径向对应的该座槽间隔排列呈多数行；该测试板下表面每一该座槽底部各径向伸设一段凹设的导沟；该测试板下表面设有耐磨材料所形成的一膜层，该膜层的表面设有该座槽、该导沟及多个凹设浅穴。

依据本实用新型又再一目的的电子零件测试装置的测试板构造，包括：由非导电材料制成圆形薄片状，其中间设有供固定的固定孔，上表面则设有在径向相隔间距的多列同心环状设置的镂设的座槽，该座槽每一列环状相隔间距设置多数个，各列径向对应的该座槽间隔排列呈多数行；该测试板下表面每一该座槽底部各径向伸设一段凹设的导沟；在该测试板上表面间歇旋转流路方向的该座槽前侧设有一导引部，该导引部与该座槽相连通以将待测零件导引入该座槽。

依据本实用新型另一目的的电子零件测试装置，使用如所述测试板。

本实用新型实施例的电子零件测试装置及其测试板构造，由于形成于该测试板下表面的凹设浅穴面积范围较小，不像先前技术必须涵盖多个同心圆的整个环状面积，或与半径方向上多列通孔群并列，故可以采用加工工具作快速而有效率的加工完成，并降低成本，若在该测试板下表面以耐磨材料形成膜层，由于形成该膜层后，再于已具有该膜层的该测试板加工形成该座槽、该导沟、及该凹设浅穴，故在形成该膜层时无须绕过该座槽、该导沟、及该凹设浅穴，使加工较容易；另，亦可在该测试板上表面间歇旋转流路方向的该座槽前侧设有该导引部，使待测零件落置于该座槽更容易。

附图说明

图1是一种电子零件测试装置的测试板位于一承载底盘的立体示意图，用以说明本实用新型实施例。

图2是该电子零件测试装置的测试板上表面所设座槽的示意图。

图3是该电子零件测试装置的该承载底盘的一个区块的示意图。

图4是该电子零件测试装置的测试板构造中各凹设浅穴实施例示意图。

图5是该电子零件测试装置的测试板构造中凹设浅穴实施例的放大示意图。

图6是该电子零件测试装置的测试板构造中凹设浅穴另一实施例的放大示意图。

图7是该电子零件测试装置的测试板构造中该凹设浅穴实施例对应下方该承载底盘的示意图。

图8是该电子零件测试装置的测试板构造中下表面膜层与该凹设浅穴实施例的示意图。

图9是该电子零件测试装置的测试板构造的座槽设置导引部的示意图。

图10是该电子零件测试装置的测试板构造的座槽设置导引部的部分剖面示意图。

【符号说明】

1：测试板

11：固定孔

12：座槽

121：上表面

122：下表面

123：导引部

124：开口

125：周缘

13：导沟

2：承载底盘

21：入料吸沟

22：吸孔

23：隔肋

24：轴环

25：轴孔

3：凹设浅穴

31：第一凹设浅穴

311：第一边界

312：第一列距

313：第一行距

32：第二凹设浅穴

321：第二边界

322：第二列距

323：第二行距

324：邻距

4：膜层

H：待测零件

H1：端部

d：间距

具体实施方式

请参阅图1、2所示，本实用新型实施例以用于电容类的的待测零件进行测试的电子零件测试装置的测试板1来作说明，但该测试板1并不拘限于电容类电子零件的实施；该测试板1由非导电材料制成圆形薄片状，其上设有供固定的固定孔 11，在间歇旋转进行搬送待测零件H作业时的上表面121则设有在径向相隔间距的多列(本实施例设有8列)同心环状设置的镂设矩形的座槽12，该座槽12每一列环状相隔间距设置多数个，各列径向对应的该座槽12直线间隔排列呈多数行；每一个座槽12可供容纳上、下分别各设有电极的一待测零件H，例如电容类的电子零件，该待测零件H以电极分别位于上、下端方式落置于该座槽12中；该测试板1设于一承载底盘2上，并可受驱动在该承载底盘2的上表面121进行旋转。

请参阅图2、3所示，该承载底盘2可由多个分别独立但可相互对接组并的不同大小扇形的区块所组构而成，或为一全圆形的圆盘状，该承载底盘2上设有在径向相隔间距的多列(本实施例设有8列)同心环状设置的凹设环弧状的入料吸沟 21，每一入料吸沟21中设有沿该入料吸沟21底部间隔排列的多个镂空的吸孔22；所述吸孔22可连通负压源抽真空，使入料吸沟21内形成负压的真空状态；径向直线排列的每二个该入料吸沟21间形成隔肋23，该隔肋23在径向相隔间距呈多列 (本实施例设有7列)同心环状，在所述电容类的的待测零件H进行测试的电子零件测试装置中，该承载底盘2对应作为检查测试的部位处，其对应进行测试检查部位的隔肋23上，设有多个具绝缘材质构成的轴环24，每一轴环24上设有一轴孔25，该轴孔25中供安装检查用端子(图中未示)，每一座槽12在测试板1间歇旋转时将经过同一圆形环列的各该轴孔25处，使载于该座槽12中的待测零件H 被测试检查。

请参阅图2～5，该测试板1的下表面122每一该座槽12底部各径向朝外圆周伸设一段凹设的导沟13，各该导沟13分别与该承载底盘2的该入料吸沟21在该测试板1进行间歇旋转时导通，以由该承载底盘2中该吸孔22导入负压抽真空时，负压可经由该入料吸沟21对各该座槽12中容置的待测零件H进行吸附；该测试板1的下表面122对应该承载底盘2中该隔肋23处设有多个凹设浅穴3，所述凹设浅穴3在每一该座槽12底部各朝槽缘111外侧扩增一具有几何形状的第一边界 311的第一凹设浅穴31，该第一边界311例如圆形或图6所示的矩形，该第一边界 311为一封闭状，仅与该第一凹设浅穴31所设部位处的一个该座槽12及一个该导沟13相通；相邻不同列的环形路径上的两个该座槽12底部的该第一凹设浅穴31 的该第一边界311间保持一第一列距312而不相交叠及导通，相邻不同行间的两个该座槽12底部的该第一凹设浅穴31的该第一边界311间保持一第一行距313而不相交叠及导通；

在两相邻的行的两座槽12间设有具几何形状的第二边界321的第二凹设浅穴 32，该第二边界321例如圆形，并以圆形为较佳，该第二边界321为一封闭状，该第二凹设浅穴32的面积大小仅对应在该隔肋23的宽度范围内，并与邻侧的该座槽 12对应在同一列的环形路径上，在该测试板1径向同一行设有多个该第二凹设浅穴32；相邻不同列的环形路径上的两个该第二凹设浅穴32的该第二边界321间保持一第二列距322而不相交叠及导通，相邻不同行间的两个该第二凹设浅穴32的该第二边界321间保持一第二行距323而不相交叠及导通；相邻不同行间的该第二凹设浅穴32的第二边界321与该第一凹设浅穴31的第一边界311间保持一邻距 324而不相交叠及导通；

该测试板1的下表面122每一该座槽12底部处的多个该第一凹设浅穴31以形成同心圆状作环列布设，多个该第二凹设浅穴32亦形成同心圆状作环列布设，一个较佳的实施例是同一列中各该第一凹设浅穴31中心所环列围设成的圆形路径，与同一列中各该第二凹设浅穴32中心所环列围设成的圆形路径是在同一个半径上，即是在相同的一个圆形路径上，并且每一该圆形路径如图7所示，正对应该承载底盘2上多列中的一列位于同心环状的该隔肋23处。

所述该第一凹设浅穴31、该第二凹设浅穴32的凹设浅穴是用以容纳该测试板 1的下表面122长期操作下与该承载底盘2间磨擦所产生的粉屑，以避免阻塞该座槽12底部孔径，另一方面，由于该凹设浅穴3对应设于该该承载底盘2中该隔肋 23处，故可帮助该测试板1与该隔肋23减少磨擦；如图8所示，一个该测试板1 可行的实施例，在该测试板1的下表面122可以加工出以耐磨材料所形成的一膜层 4，该膜层4例如铬或铁氟龙类的耐磨材料，所述膜层4可以配合图3中该隔肋23 位置及同心环状而形成环状，或在该环状上再形成分别各相间隔一间距的多段的区块，而在本实施例中，采用以形成在该测试板1的下表面122整面该膜层4后，再于已具有该膜层4的表面加工形成该座槽12、该导沟13、该第一凹设浅穴31及该第二凹设浅穴32。

请参阅图9～10，为了帮助待测零件H在该测试板1作间歇旋转时落入该座槽 12中，可以在该测试板1上表面121间歇旋转流路方向的该座槽12前侧设有一导引部123，该导引部123仅与一个该座槽12相连通，多个该座槽12所对应设置的各该导引部123间互不相通，以将落置于作间歇旋转的该测试板1上表面121的该待测零件H导引入一个特定的该座槽12；该导引部123自该座槽12上方的开口 124的周缘125外的该测试板1水平的上表面121向该座槽12倾斜，在与该座槽 12上方的该开口124的该周缘125相接处低于该开口124的该周缘125一段间距d，以确保被导引的该待测零件H在斜向滑动位移时是进入特定的该座槽12，并以具由长方体形状的该待测零件H长轴端部H1朝该开口124的方向被导入。

本实用新型实施例的电子零件测试装置的测试板构造及其制造方法，由于形成于该测试板1的下表面122的凹设浅穴3面积范围较小，不像先前技术必须涵盖多个同心圆的整个环状面积，或与半径方向上多列通孔群并列，故可以采用加工工具作快速而有效率的加工完成，并降低成本，若在该测试板1的下表面122以耐磨材料形成膜层4，由于形成该膜层4后，再于已具有该膜层4的该测试板1加工形成该座槽12、该导沟13、及该凹设浅穴3，故在形成该膜层4时无须绕过该座槽12、该导沟13、及该凹设浅穴3，使加工较容易；另，亦可在该测试板1上表面121 间歇旋转流路方向的该座槽12前侧设有该导引部123，使待测零件H落置于该座槽12更容易。

以上所述，仅为本实用新型的实施例而已，当不能以此限定本实用新型实施的范围，凡是依本实用新型申请专利范围及专利说明书内容所作的简单的等效变化与修饰，皆仍属本实用新型专利涵盖的范围内。

Claims (15)

1.一种电子零件测试装置的测试板构造，包括：

由非导电材料制成圆形薄片状，其上表面设有在径向相隔间距的多列同心环状设置的镂设的座槽，该座槽每一列环状相隔间距设置多数个，各列径向对应的该座槽间隔排列呈多数行；每一个座槽可供容纳上、下分别各设有电极的一待测零件，该测试板下表面每一该座槽底部各径向伸设一段凹设的导沟；

其特征在于：该测试板下表面设有多个凹设浅穴，该凹设浅穴包括在该座槽底部各朝槽缘外侧扩增一具有几何形状的第一边界的第一凹设浅穴。

2.如权利要求1所述的电子零件测试装置的测试板构造，其中，该第一边界为一封闭状，仅与该第一凹设浅穴所设部位处的一个该座槽及一个该导沟相通。

3.如权利要求1所述的电子零件测试装置的测试板构造，其中，相邻不同列的环形路径上的两个该座槽底部的该第一凹设浅穴的该第一边界间保持一第一列距而不相交叠及导通，相邻不同行间的两个该座槽底部的该第一凹设浅穴的该第一边界间保持一第一行距而不相交叠及导通。

4.如权利要求1所述的电子零件测试装置的测试板构造，其中，该第一边界为圆形或矩形其中之一。

5.一种电子零件测试装置的测试板构造，包括：

由非导电材料制成圆形薄片状，其上表面设有在径向相隔间距的多列同心环状设置的镂设的座槽，该座槽每一列环状相隔间距设置多数个，各列径向对应的该座槽间隔排列呈多数行；每一个座槽可供容纳上、下分别各设有电极的一待测零件，该测试板下表面每一该座槽底部各径向伸设一段凹设的导沟；

其特征在于：该测试板下表面设有多个凹设浅穴，该凹设浅穴包括在两相邻的行的两座槽间设有具几何形状的第二边界的第二凹设浅穴；该第二边界为一封闭状，在该测试板径向同一行设有多个该第二凹设浅穴。

6.如权利要求5所述的电子零件测试装置的测试板构造，其中，相邻不同列的环形路径上的两个该第二凹设浅穴的该第二边界间保持一第二列距而不相交叠及导通，相邻不同行间的两个该第二凹设浅穴的该第二边界间保持一第二行距而不相交叠及导通。

7.如权利要求5所述的电子零件测试装置的测试板构造，其中，相邻不同行间的该第二凹设浅穴的该第二边界与该第一凹设浅穴的该第一边界间保持一邻距而不相交叠及导通。

8.一种电子零件测试装置的测试板构造，包括：

由非导电材料制成圆形薄片状，其上表面设有在径向相隔间距的多列同心环状设置的镂设的座槽，该座槽每一列环状相隔间距设置多数个，各列径向对应的该座槽间隔排列呈多数行；每一个座槽可供容纳上、下分别各设有电极的一待测零件，该测试板下表面每一该座槽底部各径向伸设一段凹设的导沟；

其特征在于：该测试板下表面设有多个凹设浅穴，该凹设浅穴包括在该座槽底部各朝槽缘外侧扩增的第一凹设浅穴、位于两座槽间的第二凹设浅穴。

9.如权利要求8所述的电子零件测试装置的测试板构造，其中，该同一列中各该第一凹设浅穴中心所环列围设成的圆形路径，与同一列中各该第二凹设浅穴中心所环列围设成的圆形路径是在同一个半径上。

10.一种电子零件测试装置的测试板构造，包括：

由非导电材料制成圆形薄片状，其中间设有供固定的固定孔，上表面则设有在径向相隔间距的多列同心环状设置的镂设的座槽，该座槽每一列环状相隔间距设置多数个，各列径向对应的该座槽间隔排列呈多数行；该测试板下表面每一该座槽底部各径向伸设一段凹设的导沟；

其特征在于：该测试板下表面设有耐磨材料所形成的一膜层，该膜层的表面设有该座槽、该导沟及多个凹设浅穴。

11.如权利要求10所述的电子零件测试装置的测试板构造，其中，该凹设浅穴是在每一该座槽底部各朝槽缘外侧扩增一具有几何形状的第一边界的第一凹设浅穴。

12.如权利要求10所述的电子零件测试装置的测试板构造，其中，该凹设浅穴是在两相邻的行的两座槽间设有具几何形状的第二边界的第二凹设浅穴；该第二边界为一封闭状，在该测试板径向同一行设有多个该第二凹设浅穴。

13.一种电子零件测试装置的测试板构造，包括：

由非导电材料制成圆形薄片状，其中间设有供固定的固定孔，上表面则设有在径向相隔间距的多列同心环状设置的镂设的座槽，该座槽每一列环状相隔间距设置多数个，各列径向对应的该座槽间隔排列呈多数行；该测试板下表面每一该座槽底部各径向伸设一段凹设的导沟；

其特征在于：在该测试板上表面间歇旋转流路方向的该座槽前侧设有一导引部，该导引部与该座槽相连通以将待测零件导引入该座槽。

14.如权利要求13所述的电子零件测试装置的测试板构造，其中，该导引部自该座槽上方开口周缘外的该测试板水平表面向该座槽倾斜，在与该座槽上方的开口周缘相接处低于该开口周缘一段间距。

15.一种电子零件测试装置，其特征在于：使用如权利要求1～14中任一权利要求所述的测试板。

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