CN216791594U - 超微距摄像头模组的解析力测试治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种超微距摄像头模组的解析力测试治具，包括底座和上盖，底座包括座体和设置于座体上的安装工位，安装工位供摄像头模组安装；上盖包括盖体和设置于盖体上的测试件安装位，测试件安装位上浮动设置有测试组件；在测试状态下，上盖盖于底座，使测试组件与安装于安装工位的摄像头模组相抵接。本实用新型通过上盖盖于底座，使得测试组件与摄像头模组相抵接，保证测试组件与摄像头模组之间的距离较小，即可用于超微距摄像头模组的测试，测试过程方便快捷；测试组件浮动设置于测试件安装位，使得测试组件在测试件安装位上能上下浮动，保证了测试组件在测试时的平行度，确保摄像头模组对焦合格，保证测试良率。

Description

超微距摄像头模组的解析力测试治具

技术领域

本实用新型涉及摄像头模组解析力测试技术领域，具体涉及一种超微距摄像头模组的解析力测试治具。

背景技术

随着科技的发展，摄像头模组广泛应用在车载、智能家电、智能手机、监控装置及电脑等领域，随着移动终端摄像头功能的日益增加，在移动终端上设置具有放大镜功能、显微镜功能的超微距镜头，成为当前移动终端的发展趋势。

现有手机、平板电脑等移动终端整机的摄像头解析力测试，一般使用自动化测试设备，具体是通过解析力测试设备调节分辨率测试卡到移动终端的位置，使移动终端拍摄分辨率测试卡，以计算不同视场的SFR(英文：spatial frequency response，中文：空间频率响应，简称：SFR)值，根据SFR值的大小评估摄像头的解析力情况。现有的解析力测试设备，分辨率测试卡离与摄像头模组镜头最小距离为50mm，而超微距摄像头模组在解析力测试时需要保证摄像头模组镜头与分辨率测试卡距离在2～5mm范围，允许的偏差范围为±0.1mm，无法满足超微距摄像头模组测试。

实用新型内容

针对上述不足，本实用新型的目的在于提供一种超微距摄像头模组的解析力测试治具，以能够满足超微距摄像头模组的解析力测试。

本实用新型实施例提供.一种超微距摄像头模组的解析力测试治具，包括：

底座，所述底座包括座体和设置于所述座体上的安装工位，所述安装工位供摄像头模组安装；

上盖，所述上盖包括盖体和设置于所述盖体上的测试件安装位，所述测试件安装位上浮动设置有测试组件；

在测试状态下，所述上盖盖于所述底座，使所述测试组件与所述安装工位上的所述摄像头模组相抵接。

进一步地，所述测试件安装位为镂空结构，用于避让测试组件。

进一步地，所述测试件安装位具有形成镂空结构的侧壁，所述侧壁朝所述测试件安装位的中部延伸出多个安装部，每个所述安装部上均开设有供弹性件安装的沉孔；所述测试组件嵌于所述测试件安装位，所述测试组件与所述安装部之间通过所述弹性件弹性连接。

进一步地，所述测试组件包括测试卡压板、测试卡以及浮动安装块；所述测试卡压板和所述浮动安装块固定连接在一起，所述测试卡夹于所述测试卡压板与所述浮动安装块之间；

所述测试卡压板的四角在对应所述沉孔的位置形成避让，使所述弹性件的一端抵于所述沉孔内，另一端抵于所述浮动安装块的表面；其中，所述盖体在所述测试件安装位的相邻位置设置有供固定件固定的固定孔，所述固定件的顶部位于所述浮动安装块背离所述弹性件的一面并相对所述安装部位置不变以形成所述弹性件活动的空间。

进一步地，所述测试卡压板开设有供光源通过的第一通孔；所述浮动安装块开设有供光源通过的第二通孔，所述第一通孔和所述第二通孔同轴设置。

进一步地，所述摄像头模组具有一基准面，所述浮动安装块靠近所述摄像头模组的一面设有朝向所述基准面凸出的固定部。

进一步地，所述测试卡压板形成供所述测试卡安装的凹陷部；所述浮动安装块设置有用于抵接所述测试卡的凸台。

进一步地，所述安装工位包括供所述摄像头模组放置的主工位和用于实现通电的电连工位，所述电连工位上设置有探针；所述摄像头模组的底部电路板背面还设有连接器，在测试状态下所述连接器与所述探针电连接。

进一步地，所述上盖还包括压头；在测试状态下，所述压头与所述电连工位对应设置，且所述压头抵于所述连接器。

进一步地，在测试状态下，所述测试件安装位与所述主工位位置相对应。

本实施例提供的超微距摄像头模组的解析力测试治具，其有益效果在于：

(1)将上盖盖于底座，保证测试组件与摄像头模组之间的距离在超微距摄像头模组的解析力测试的范围内，即可用于超微距摄像头模组的测试，测试过程方便快捷；

(2)测试组件浮动设置于测试件安装位上，使得测试组件在测试件安装位上具有一定范围的上下浮动，保证了测试组件在测试时的平行度，确保摄像头模组对焦合格，保证测试良率；

(3)该解析力测试治具结构简单，制作成本低，不需要额外购买测试设备配合即可满足超微距摄像头模组的解析力测试，解析力测试具有较佳效果。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型实施例中摄像头模组的结构示意图。

图2为图1中摄像头模组的侧视图。

图3为本实用新型实施例中底座和上盖的分离示意图。

图4为图2中上盖的仰视图。

图5为图4中上盖的局部分解示意图。

图6为图5中测试压板的结构示意图。

图7为图5中浮动安装块的侧视图。

图8为图3中底座的结构示意图。

图9为图8中a的局部放大示意图。

图10为本实用新型实施例中摄像头模组安装于底座的结构示意图。

图中，10-底座，11-座体，12-安装工位，121-主工位，122-电连工位，123- 探针，20-上盖，21-盖体，22-测试件安装位，221-侧壁，222-安装部，223- 沉孔，23-测试组件，231-测试卡压板，2311-通孔，2312-凹陷部，232-测试卡， 233-浮动安装块，2331-第二通孔，2332-固定部，2333-凸台，24-弹性件，25- 固定件，26-固定孔，30-摄像头模组，31-基准面，32-连接器。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1至图3，本实用新型实施例提供一种超微距摄像头模组的解析力测试治具，包括底座10和上盖20，底座10包括座体11和设置于座体 11上的安装工位12，安装工位12供摄像头模组30安装及固定。

请参阅图3至图5，上盖20包括盖体21和设置于盖体21上的测试件安装位22，测试件安装位22上设置有测试组件23。在待机状态下，底座10和上盖20为脱离状态，便于将摄像头模组30放置于安装工位12上。当待测试的摄像头模组30安装后，将上盖20盖于底座10，以切换至测试状态。在摄像头模组30测试完成后，将上盖20打开，即可取出测试完毕后的摄像头模组30，并放置新的需要测试的摄像头模组30。在测试状态下，上盖20盖于底座10，使测试组件23与摄像头模组30相抵接，以执行测试组件23对摄像头模组30的检测。在实际使用的过程中，安装工位12可与测试电脑连接，来辅助摄像头模组30进行解析力测试。

具体地，测试件安装位22为镂空结构，用于避让测试组件23，供测试光源通过。

具体地，请参阅图5，测试组件23包括测试卡压板231、测试卡232以及浮动安装块233；测试卡压板231和浮动安装块233固定连接在一起，测试卡232夹于测试卡压板231与浮动安装块233之间。测试卡232为分辨率测试卡(又称为分辨率解析卡)，测试卡232上印有测试图案，用于测试摄像头模组的解析力。值得一提的是，测试卡232与浮动安装块233应相互平行设置，确保在测试状态下，测试卡232与摄像头模组30平行，使得摄像头模组30对焦合格，保证测试良率。

在本实施例中，请结合图6，测试卡压板231和浮动安装块233的两侧均设置有螺丝孔(图未标)，测试卡压板231和浮动安装块233通过螺丝组合在一起。在其他实施例中，测试卡压板231和浮动安装块233可通过粘合、焊接或者卡合等方式使测试卡压板231和浮动安装块233组合在一起。还可通过一体成型的方式将测试卡压板231和浮动安装块233组合在一起。

具体地，测试件安装位22具有形成镂空结构的侧壁221，侧壁221朝测试件安装位22的中部延伸出多个安装部222，安装部222上开设有供弹性件 24安装的沉孔223，使得浮动安装块233与安装部222之间能弹性浮动，即测试组件23与安装部222之间能相对浮动。弹性件24可以为弹簧、橡胶或海绵等具有弹性的物体。优选地，弹性件24为弹簧。在上盖20盖于底座10 时，由于弹性件24具有伸缩性，测试组件23可相对于测试件安装位22在一定范围内上下浮动，当摄像头模组30的高度尺寸不同时，可以克服不同摄像头模组30之间的高度差，从而避免摄像头模组30尺寸对测试距离的影响。同时，在测试的时候，可以保证测试组件23的平行度，确保摄像头模组30 对焦合格，保证了测试良率。

更具体地，测试组件23中测试卡压板231的四角在对应沉孔223的位置形成避让，使弹性件24的一端抵于沉孔223内，另一端抵于浮动安装块233 的表面。在本实施例中，测试件安装位22近似为矩形，安装部222上的沉孔 233分别位于测试件安装位22的四个对角，因此测试卡压板231在四角的位置形成避让，使得浮动安装块233与沉孔233通过弹性件24弹性连接。为了防止弹性件24在浮动安装块233与弹性件24的接触部发生位移，浮动安装块233靠近弹性件24的一表面可对应开设有凹孔(图未示)，供弹性件24 伸入，以限位和固定弹性件24的两端。

具体地，盖体21在测试件安装位22的相邻位置设置有供固定件25固定的固定孔26，固定件25在固定于固定孔26内时，固定件25的顶部位于浮动安装块233背离弹性件24的一面并相对安装部位置不变以形成弹性件24 活动的空间，在使用的过程中，盖体21由于重力的作用具有向下的力，固定件25起到防止浮动安装块233掉落的作用。当上盖20盖于底座10时，摄像头模组30抵于浮动安装块233，使浮动安装块233向上浮动。由于摄像头模组30的高度在生产的过程中存在一定偏差，通过浮动安装块233可以克服摄像头模组30的高度差所带来的不兼容的问题。优选地，固定件25为带垫片的螺丝，螺丝固定于固定孔26上。在实际使用的过程中，固定件25是对浮动安装块233的周缘进行固定。在本实施例中，座体11示例性地设置有两个用于安装摄像头模组30的安装工位12，因此盖体21上对应设置有两组测试组件23。为了节约空间和组装时的成本，可采用相邻两个浮动安装块233之间共用固定件25，即固定件25同时抵于相邻的两个浮动安装块233背离弹性件24的一面。在其他实施例中，座体11上安装工位12的数量可根据实际需求设置。

具体地，测试卡压板231开设有供测试光源通过的第一通孔2311；浮动安装块233开设有供光源通过的第二通孔2331，第一通孔2311和第二通孔 2331同轴设置。测试光源通过测试卡压板231的第一通孔2311照到测试卡上，供测试时使用。摄像头模组30通过第二通孔2331对准测试卡232进行测试。测试卡压板231和浮动安装块233均采用透明的亚克力或有机玻璃制作，以使测试时光源能够照到测试卡232。

具体地，请参阅图1和图2，摄像头模组30具有一基准面31。请结合图 4、图5及图7，浮动安装块233靠近摄像头模组30的一面设有朝向所述基准面凸出的固定部2332。在测试状态下，基准面31与固定部2332相接触。因摄像头模组30具有一定的高度，凸出的固定部2332可以避免浮动安装块 233压伤摄像头模组30。优选地，固定部2332的材质可选择使用软脂材料，避免固定部2332与摄像头模组30接触压伤。在本实施例中，固定部2332对立设置于第二通孔2331的两侧。

具体地，请结合图4、图5、图6和图7，测试压板231形成供测试卡232 安装的凹陷部2312，该凹陷部2312对测试卡232进行定位，防止测试卡232 横向移动产生偏移。浮动安装块233设置有用于抵接测试卡232的凸台2333，凸台2333抵于测试卡232，以辅助测试卡压板231固定测试卡232。

值得一提的是，沉孔233内弹性件24与其抵靠的顶端到浮动安装块233 凸出的固定部2332底部的距离是确保测试卡232与摄像头模组30测试焦距的关键。通过弹性件24的弹性设置，以及固定件25抵靠浮动安装块233，使浮动安装块233上下弹性浮动，以实现不同焦距的摄像头模组30测试。

具体地，请参阅图8至图10，安装工位12包括供摄像头模组30放置的主工位121和用于实现通电的电连工位122，电连工位122上设置有探针123，探针123连接有PCB板(图未示)，用于测试摄像头模组30。在测试状态下，测试件安装位22与主工位121位置相对应，使得摄像头模组30上的摄像头正对测试组件23。摄像头模组30的底部电路板背面设有连接器32(如图1 和图2所示)，其中，在测试状态下连接器32与探针123电连接，从而实现摄像头模组30与探针123的电连接。

更具体地，上盖20还包括压头27(如图3和图4所示)，用于压紧连接器32。在测试状态下，压头27与电连工位122对应设置，且压头27抵于连接器32，确保连接器32与电连工位122内探针123连接到位，同时防止在使用的过程中连接器32松动。

可理解地，超微距摄像头模组的解析力测试治具包括底座10和上盖20，将摄像头模组30固定于底座10上，将上盖20盖于底座10，保证测试组件 23与摄像头模组30之间的距离在超微距摄像头模组的解析力测试的范围内，即可用于超微距摄像头模组30的测试，测试过程方便快捷。且上盖20上的测试组件23浮动设置于测试件安装位22上，使得测试组件23在测试件安装位22上具有一定范围的上下浮动，保证了测试组件23在测试时的平行度，确保摄像头模组30对焦合格，保证测试良率。同时，该解析力测试治具结构简单，制作成本低，不需要额外购买测试设备配合即可满足超微距摄像头模组的解析力测试。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种超微距摄像头模组的解析力测试治具，其特征在于，包括：

底座(10)，所述底座(10)包括座体(11)和设置于所述座体(11)上的安装工位(12)，所述安装工位(12)供摄像头模组(30)安装；

上盖(20)，所述上盖(20)包括盖体(21)和设置于所述盖体(21)上的测试件安装位(22)，所述测试件安装位(22)上浮动设置有测试组件(23)；

在测试状态下，所述上盖(20)盖于所述底座(10)，使所述测试组件(23)与所述安装工位(12)上的所述摄像头模组(30)相抵接。

2.根据权利要求1所述的超微距摄像头模组的解析力测试治具，其特征在于：所述测试件安装位(22)为镂空结构，用于避让测试组件(23)。

3.根据权利要求2所述的超微距摄像头模组的解析力测试治具，其特征在于：所述测试件安装位(22)具有形成镂空结构的侧壁(221)，所述侧壁(221)朝所述测试件安装位(22)的中部延伸出多个安装部(222)，每个所述安装部(222)上均开设有供弹性件(24)安装的沉孔(223)；所述测试组件(23)嵌于所述测试件安装位(22)，所述测试组件(23)与所述安装部(222)之间通过所述弹性件(24)弹性连接。

4.根据权利要求3所述的超微距摄像头模组的解析力测试治具，其特征在于：所述测试组件(23)包括测试卡压板(231)、测试卡(232)以及浮动安装块(233)；所述测试卡压板(231)和所述浮动安装块(233)固定连接在一起，所述测试卡(232)夹于所述测试卡压板(231)与所述浮动安装块(233)之间；

所述测试卡压板(231)的四角在对应所述沉孔(223)的位置形成避让，使所述弹性件(24)的一端抵于所述沉孔(223)内，另一端抵于所述浮动安装块(233)的表面；其中，所述盖体(21)在所述测试件安装位(22)的相邻位置设置有供固定件(25)固定的固定孔(26)，所述固定件(25)的顶部位于所述浮动安装块(233)背离所述弹性件(24)的一面并相对所述安装部位置不变以形成所述弹性件(24)活动的空间。

5.根据权利要求4所述的超微距摄像头模组的解析力测试治具，其特征在于：所述测试卡压板(231)开设有供光源通过的第一通孔(2311)；所述浮动安装块(233)开设有供光源通过的第二通孔(2331)，所述第一通孔(2311)和所述第二通孔(2331)同轴设置。

6.根据权利要求4所述的超微距摄像头模组的解析力测试治具，其特征在于：所述摄像头模组(30)具有一基准面(31)，所述浮动安装块(233)靠近所述摄像头模组(30)的一面设有朝向所述基准面(31)凸出的固定部(2332)。

7.根据权利要求4所述的超微距摄像头模组的解析力测试治具，其特征在于：所述测试卡压板(231)形成供所述测试卡(232)安装的凹陷部(2312)；所述浮动安装块(233)设置有用于抵接所述测试卡(232)的凸台(2333)。

8.根据权利要求1所述的超微距摄像头模组的解析力测试治具，其特征在于：所述安装工位(12)包括供所述摄像头模组(30)放置的主工位(121)和用于实现通电的电连工位(122)，所述电连工位(122)上设置有探针(123)；所述摄像头模组(30)的底部电路板背面还设有连接器(32)，在测试状态下所述连接器(32)与所述探针(123)电连接。

9.根据权利要求8所述的超微距摄像头模组的解析力测试治具，其特征在于：所述上盖(20)还包括压头(27)；在测试状态下，所述压头(27)与所述电连工位(122)对应设置，且所述压头(27)抵于所述连接器(32)。

10.根据权利要求8所述的超微距摄像头模组的解析力测试治具，其特征在于：在测试状态下，所述测试件安装位(22)与所述主工位(121)位置相对应。

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